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1、关于采用紫外可见光谱法求取禁带宽度第一页，讲稿共三十六页哦一一 半导体禁带求导公式半导体禁带求导公式第二页，讲稿共三十六页哦通常(ahv)是有单位的，(eV)1/2.cm-1/2或(eV)1/2.cm-1/2。由上述公式可知，（ahv）1/2 和(ahv)2 只与hv成线性关系，能用于估算Eg。由朗伯-比尔定律知，A=abc，a是吸光系数，b是比色皿或者薄膜样品厚度，c是浓度。b，c是固定值，a=A/bc=A/K。禁带公式可写成如下形式：第三页，讲稿共三十六页哦第四页，讲稿共三十六页哦n nK值的大小对Eg没有影响，以hv为横坐标，以 或 为纵坐标，作图，再做切线，即可得到Eg。hv用1024
2、/波长代替。前者为直接半导体禁带宽度值，后者为间接半导体禁带宽度值。A(Absorbance)即为紫外可见漫反射中的吸光度。第五页，讲稿共三十六页哦Kubelka-Munk公式公式A=-lg(R)（1）F(r)=(1-R)2/2R=a/s（2）R为反射率,a吸收系数，s反射系数 求禁带宽度：利用第一个公式求每个吸光度对应的R，用E1240/波长，做横坐标，利用第二个公式求F（R），再用 做纵坐标，做图，再做切线，即得带隙图谱 第六页，讲稿共三十六页哦二 求半导体禁带实例 将紫外可见分光漫反射数据导入到excell，然后进行数据处理，下面用第一个公式进行数据处理：第七页，讲稿共三十六页哦第八页，
3、讲稿共三十六页哦第九页，讲稿共三十六页哦第十页，讲稿共三十六页哦n n下面用下面用Kubelka-Munk公式处理：公式处理：第十一页，讲稿共三十六页哦第十二页，讲稿共三十六页哦第十三页，讲稿共三十六页哦三 关于K值大小对结果的影响第十四页，讲稿共三十六页哦同一组数据在不同的处理同一组数据在不同的处理方法下得到的方法下得到的Eg.Eg.以下也是以下也是这一组数据的处理这一组数据的处理第十五页，讲稿共三十六页哦第十六页，讲稿共三十六页哦第十七页，讲稿共三十六页哦 由上图可见，密度，厚度等因素影响由上图可见，密度，厚度等因素影响K K的大小，的大小，但并不影响所求的但并不影响所求的Eg.Eg.第十
4、八页，讲稿共三十六页哦由由UV-vis 光谱求样品的光谱求样品的Eg第十九页，讲稿共三十六页哦一一 半导体禁带求导公式半导体禁带求导公式第二十页，讲稿共三十六页哦通常(ahv)是有单位的，(eV)1/2.cm-1/2或(eV)1/2.cm-1/2。由上述公式可知，（ahv）1/2 和(ahv)2 只与hv成线性关系，能用于估算Eg。由朗伯-比尔定律知，A=abc，a是吸光系数，b是比色皿或者薄膜样品厚度，c是浓度。b，c是固定值，a=A/bc=A/K。禁带公式可写成如下形式：第二十一页，讲稿共三十六页哦第二十二页，讲稿共三十六页哦n nK值的大小对Eg没有影响，以hv为横坐标，以 或 为纵坐标
5、，作图，再做切线，即可得到Eg。hv用1024/波长代替。前者为直接半导体禁带宽度值，后者为间接半导体禁带宽度值。A(Absorbance)即为紫外可见漫反射中的吸光度。第二十三页，讲稿共三十六页哦Kubelka-Munk公式公式A=-lg(R)（1）F(r)=(1-R)2/2R=a/s（2）R为反射率,a吸收系数，s反射系数 求禁带宽度：利用第一个公式求每个吸光度对应的R，用E1240/波长，做横坐标，利用第二个公式求F（R），再用 做纵坐标，做图，再做切线，即得带隙图谱 第二十四页，讲稿共三十六页哦二 求半导体禁带实例 将紫外可见分光漫反射数据导入到excell，然后进行数据处理，下面用第一个公式进行数据处理：第二十五页，讲稿共三十六页哦第二十六页，讲稿共三十六页哦第二十七页，讲稿共三十六页哦第二十八页，讲稿共三十六页哦n n下面用下面用Kubelka-Munk公式处理：公式处理：第二十九页，讲稿共三十六页哦第三十页，讲稿共三十六页哦第三十一页，讲稿共三十六页哦三 关于K值大小对结果的影响第三十二页，讲稿共三十六页哦同一组数据在不同的处理同一组数据在不同的处理方法下得到的方法下得到的Eg.Eg.以下也是以下也是这一组数据的处理这一组数据的处理第三十三页，讲稿共三十六页哦第三十四页，讲稿共三十六页哦第三十五页，讲稿共三十六页哦感感谢谢大大家家观观看看第三十六页，讲稿共三十六页哦