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1、材料分析化学期末考试试题A一、名词解释共20分，每题2分。1.辐射的发射2.俄歇电子3.背散射电子4.溅射5.物相鉴定6.电子透镜7.质厚衬度8.蓝移9.伸缩振动10.差热分析二、填空题共20分，每题2分。1.电磁波谱可分为三个部分，即长波部分、中间部分和短波部分，其中中间部分包括、和，统称为光学光谱。2.光谱分析方法是基于电磁辐射与材料互相作用产生的特征光谱波长与强度进行材料分析的方法。光谱按强度对波长的分布曲线特点或按胶片记录的光谱表观形态可分为光谱、光谱和光谱3类。3.分子散射是入射线与线度即尺寸大小远小于其波长的分子或分子聚集体互相作用而产生的散射。分子散射包括与两种。4.X射线照射固
2、体物质(样品)，可能发生的互相作用主要有、和等。5.多晶体粉晶X射线衍射分析的基本方法为和。6.根据入射电子的能量大小，电子衍射可分为电子衍射和电子衍射。依据电子束能否穿透样品，电子衍射可分为电子衍射与电子衍射。7.衍射产生的充分必要条件是。8.透射电镜的样品可分为样品和样品。9.单晶电子衍射花样标定的主要方法有和。10.扫描隧道显微镜、透射电镜、X射线光电子能谱、差热分析的英文字母缩写分别是、。三、判定题，表述对的在括号里打“，错的打“共10分，每题1分1.干预指数是对晶面空间方位与晶面间距的标识。晶面间距为d110/2的晶面其干预指数为220。2.倒易矢量r*HKL的基本性质为：r*HKL
3、垂直于正点阵中相应的HKL晶面，其长度r*HKL等于(HKL)之晶面间距dHKL的2倍。倒数3.分子的转动光谱是带状光谱。4.二次电子像的分辨率比背散射电子像的分辨率低。高5.一束X射线照射一个原子列一维晶体，只要镜面反射方向上才有可能产生衍射。6.俄歇电子能谱不能分析固体外表的H和He。7.低能电子衍射LEED不合适分析绝缘固体样品的外表构造。8.d-d跃迁受配位体场强度大小的影响很大，而f-f跃迁受配位体场强度大小的影响很小。9.红外辐射与物质互相作用产生红外吸收光谱必须有分子极化率的变化。10.样品粒度和气氛对差热曲线没有影响。四、单项选择题共10分，每题1分。1.原子吸收光谱是。A、线
4、状光谱B、带状光谱C、连续光谱2.下列方法中，可用于测定方解石的点阵常数。A、X射线衍射线分析B、红外光谱C、原子吸收光谱D紫外光谱子能谱3.合金钢薄膜中极小弥散颗粒(直径远小于1m)的物相鉴定，能够选择。A、X射线衍射线分析B、紫外可见吸收光谱C、差热分析D、多功能透射电镜4.几种高聚物组成之混合物的定性分析与定量分析，能够选择。A、红外光谱B、俄歇电子能谱C、扫描电镜D、扫描隧道显微镜5.下列晶面不属于100晶带。A、001B、100C、010D、0016.某半导体的外表能带构造测定，能够选择。A、红外光谱B、透射电镜C、X射线光电子能谱D紫外光电子能谱7.要分析钢中碳化物成分和基体中碳含
5、量，一般应选用电子探针仪，A、波谱仪型B、能谱仪型8.要测定聚合物的熔点，能够选择。A、红外光谱B、紫外可见光谱C、差热分析D、X射线衍射9.下列分析方法中，不能分析水泥原料的化学组成。A、红外光谱B、X射线荧光光谱C、等离子体发射光谱D、原子吸收光谱10.要分析陶瓷原料的矿物组成，优先选择。A、原子吸收光谱B、原子荧光光谱C、X射线衍射D、透射电镜五、简答题共40分，每题8分1.简述分子能级跃迁的类型，比拟紫外可见光谱与红外光谱的特点。2.简述布拉格方程及其意义。3.为什么扫描电镜的分辨率和信号的种类有关？试将各种信号的分辨率高低作一比拟。4.要在观察断口形貌的同时，分析断口上粒状夹杂物的化
6、学成分，选择什么仪器？简述具体的分析方法。5.简述影响红外吸收谱带的主要因素。B一、名词解释共20分，每题2分。11.弯曲振动12.二次离子13.系统消光14.衍射衬度15.复型16.物相分析17.暗场像18.质厚衬度19.特征振动频率20.差示扫描量热法二、填空题共20分，每题2分。11.电磁波谱可分为、和3个部分。12.光谱分析方法是基于电磁辐射与材料互相作用产生的特征光谱波长与强度进行材料分析的方法。吸收光谱与发射光谱按发生作用的物质微粒不同可分为光谱和光谱等。13.X射线等谱域的辐射照射晶体，电子是散射基元。晶体中的电子散射包括和两种。14.电子束与固体物质样品互相作用可能产生的信息主
7、要有、和。15.单晶体X射线衍射分析的基本方法为和。16.电子能谱分析法是基于电磁辐射或运动实物粒子照射或轰击材料产生的电子能谱进行材料分析的方法，最常用的主要有、和三种。17.红外辐射与物质互相作用产生红外吸收光谱，必须有分子偶极矩的变化。只要发生偶极矩变化的分子振动，才能引起可观测到的红外吸收光谱带，称这种分子振动为，反之则称为。18.电子透镜有和两种类型。19.透射电镜的两种基本操作是和。20.紫外光电子能谱、原子吸收光谱、波谱仪、差示扫描量热法的英文字母缩写分别是、。三、判定题，表述对的在括号里打“，错的打“共10分，每题1分五、干预指数表示的晶面并不一定是晶体中的真实原子面，即干预指
8、数表示的晶面上不一定有原子分布。六、倒易矢量r*HKL的基本性质为：r*HKL垂直于正点阵中相应的HKL晶面，其长度r*HKL等于(HKL)之晶面间距dHKL的倒数。七、二次电子像的分辨率比背散射电子像的分辨率高。八、一束X射线照射一个原子列一维晶体，只要镜面反射方向上才有可能产生衍射。九、低能电子衍射LEED合适于分析所有固体样品的外表构造。十、俄歇电子能谱合适于分析所有固体样品的外表化学成分。十一、X射线光电子能谱可用于固体外表元素的定性、定量和化学状态分析。十二、d-d跃迁和f-f跃迁受配位体场强度大小的影响都很大。十三、分子的振-转光谱是连续光谱。十四、无论测试条件怎样，同一样品的差热
9、分析曲线都应是一样的。四、单项选择题共10分，每题1分。11.电子光谱是。A、线状光谱B、带状光谱C、连续光谱12.下列方法中，可用于测定Ag的点阵常数。A、X射线衍射线分析B、红外光谱C、原子吸收光谱D紫外光谱子能谱13.某薄膜(样品)中极小弥散颗粒(直径远小于1m)的物相鉴定，能够选择。A、X射线衍射线分析B、紫外可见吸收光谱C、差热分析D、多功能透射电镜14.几种高聚物组成之混合物的定性分析与定量分析，能够选择。A、红外光谱B、俄歇电子能谱C、扫描电镜D、扫描隧道显微镜15.下列晶面属于110晶带。A、110B、011C、101D、01116.某半导体的外表能带构造测定，能够选择。A、红
10、外光谱B、透射电镜C、X射线衍射D紫外光电子能谱17.要分析铁中碳化物成分和基体中碳含量，一般应选用。A、波谱仪型电子探针仪B、能谱仪型电子探针仪C、原子发射光谱D、原子吸收光谱18.要测定聚合物的熔点，能够选择。A、红外光谱B、扫描电镜C、差热分析D、X射线衍射19.下列分析方法中，不能分析固体外表元素的含量。A、俄歇电子能谱B、X射线光电子能谱C、紫外光电子能谱20.要鉴定某混合物中的硫酸盐矿物，优先选择。A、原子吸收光谱B、原子荧光光谱C、红外光谱D、透射电镜五、简答题共40分，每题8分6.X射线照射固体物质时可能产生哪些信息？据此建立了哪些分析方法？7.从原理及应用方面指出X射线衍射、透射电透中的电子衍射在材料构造分析中的异同点8分8.简述波谱仪和能谱仪在进行微区化学成分分析时的优缺点8分9.简述有机、无机化合物电子光谱的主要类型8分10.简述差热分析中放热峰和吸热峰产生的原因。8分答案A