一致性测试软件.docx

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1、力科USB 2.0 全都性测试软件操作手册2023年5月Lecroy Corporation700 Chestnut Ridge Road Chestnut Ridge, NY 109776499Tel: (845) 578 6020, Fax: (845) 578 5985网址: lecroy 2023 年力科公司版权全部,侵权必究。LeCroy, ActiveDSO, ProBus, SMART Trigger, JitterTrack, WavePro, WaveMaster, WaveSurfe和r册商标。本文中的信息代替此前全部版本。技术数据如有变更,恕不另行通告。Waverunne

2、r 均为力科公司注制造商厂经过 ISO 9000质量治理体系认证。如需查看证书,请访问 lecroy 。弃的电子设备。的电子设备。电子设备。子设备。设备。备。 本电子产品应依据各个国家和地区规定的不同法规进展回收和处理。很多国家制止以标准废品回收方本电子产品应依据各个国家和地区规定的不同法规进展回收和处理。很多国家制止以标准废品回收方式处理废弃的电子设备。如需了解与正确处理和回收力科产品有关的更多信息,请访问网址: w w w. le cr oy.c o m/r ec yc le。USB2-OM-E Rev D 903076名目引言7主机测试7设备测试7集线器测试7设备清单8USB 测试夹具8

3、安装10USB-IF 测试脚本10测试台计算机10MATLAB10USB 测试向导和 HS 测试工具10高速信号质量12主机和集线器下行高速信号质量12设备和集线器上行高速信号质量12高速分组参数13高速暂停恢复复位定时14设备高速暂停恢复复位14集线器高速暂停恢复复位定时14主机和集线器断开连接15集线器高速上行继电器16集线器高速下行继电器17接收灵巧敏度18全速和低速测试21设备要求21标准USB 产品21标准测试设备21集线器和主机下跌测试22自行供电的集线器或主机22总线供电的集线器23测试标准23衰落测试23测试步骤24测试标准24测试结果24报告结果24主机低速下行信号质量25主

4、机全速下行信号质量25涌入电流26集线器下行低速信号质量27集线器全速下行信号质量28设备和集线器全速上行信号质量测试28引言USB2 是一种自动测试套件,它执行 USB-IF 要求全部测试,确定 USB2.0 主机、集线器和设备物理层是否满足标准。该套件由软件和选配的测试夹具组成,其中软件在力科 WavePro 7000A 系列、WaveMaster、SDA 或 WaveRunner 6000A系列X-Stream 数字化示波器上运行, 测试夹具则可以耦合到USB 电信号中。软件和夹具相结合,可以对USB2.0 主机、集线器和设备执行下述测量。主机测试l HS 信号质量l HS 分组参数l

5、HS 啁啾定时l HS 暂停/恢复/复位l HS 断开l FS 下行信号质量l LS 下行信号质量设备测试l HS 信号质量l 带线缆设备的HS 远端l 不带线缆设备的HS 近端l HS 分组参数l HS 啁啾定时l HS 暂停/恢复/复位l HS 接收灵巧敏度l FS 上行信号质量l LS 上行信号质量(只适用于USB 1.1 设备)l 涌入电流集线器测试l HS 信号质量(上行/下行)l 带线缆设备的HS 远端l 不带线缆设备的HS 近端l HS 分组参数l HS 啁啾定时l HS 暂停/恢复/复位l HS 接收灵巧敏度l HS 下行继电器l HS 上行继电器l FS 信号质量(上行/下行

6、)l LS 信号质量(上行/下行)l 涌入电流除了上述测试之外,还可以使用数字伏特计执行J/K 和 SE0_NAK 测试。该测试适用于主机、设备和集线器。针对设备的接收灵巧敏度测试需要使用数据发生器来产生“ IN”分组。尽管也可以使用其它仪器,但本手册在测试中使用了安捷伦81130A 脉冲发生器和泰克DG2040A。从菜单条中选择 Analysis,然后从下拉菜单中选择 USB2,调用 USB 套件。一旦被调用, USB2.0 测式菜单将消灭在仪器显示的底部。该菜单既用于掌握各种测量模式,又用于引导操作人员完成测试程序的各个步骤。Next、Previous 和 Reset 按钮在每项测量之间导

7、航。从Mode 和 Test 掌握功能中选择具体测量工程。由于软件遵守测试程序,因此会对每个测试和模式自动调用设置面板。这些设置文件与测试软件一起供给,自动安装在D:ApplicationsUSB2Setups 名目下。除了设置名目,在D:ApplicationsUSB2Results 下还会建立一个结果名目。“Results”名目包括涌入和信号质量测量得到的测量结果文件。设备清单USB 测试要求大量的探头及其它USB 设备。高速接收灵巧敏度测试要求使用数字码型发生器。高速、全速和低速USB 测试要求以下设备:n WaveRunner 6200A、WavePro 7200A 或更好设备、Wav

8、eMaster 8300A 或更好设备或SDAn USB测试套件(力科TF-USB)n 2 GHz以上带宽的有源差分探头(力科D350ST-SP, 2只)n 2 GHz有源探头(力科HFP2500, 2只)n 1 GHz以下带宽的有源探头 (HFP1000)或无源探头(PP006A)或同等设备n 电流探头(力科CP015)n 认证高速USB集线器(自行供电)n 自行供电全速集线器 (5个)n 5米长的USB电缆 (6条)n 低速触发设备(USB鼠标)n 全速触发设备(USB 机)USB 测试夹具要求使用USB 测试夹具(TF-USB)执行全都性测试。夹具由几个段组成,以连接到被测的电信号上。夹

9、具上标明白每个段,另外每个段的端口上都贴有标签。仪器显示画面及本手册中的程序将指明某项测试使用的段和端口。夹具要求 5V 电源方能运行,电源和夹具一起供给。USB 测试夹具带有方形针脚,为连接差分探头和单端探头供给连接点。这些针脚连接到“+”和“-” 信号线上,另外还供给一对接地针脚。图示内容:探头连接针脚,显示了接地针脚GROUND PINS: 接地针脚图示内容:USB 2.0 测试夹具(部件编号TF-USB)安装注:主计算机或示波器中必需安装USB-IF 高速测试脚本,以使 MATLAB 脚本正确运行。USB-IF 会定期更这些脚本,以便包含任何标准变化。请检验使用的脚本是最版本的脚本。U

10、SB-IF 测试脚本测试套件使用USB-IF为分析示波器采集的数据特地编写的测试脚本。测试软件使用这些脚 本,其安装在D:ApplicationsUSB2Setups名目下。可以使用下面的链接,从UFB-IF网站中 下载USBHSET.exe软件: :/ usb.org/developers/tools/USBHSET.exe。主计算机机和示波器上的 USB-IF软件是从 USB-IF网站中下载的同一代码。下载文件USBHSET.exe,执行这个文件,在示波器上安装软件。测试台计算机要求使用装有 USB2.0掌握器卡的主计算机运行 USB全都性测试。这台计算机必需运行Windows 2023

11、Professional或Windows XP,并且已经安装上述USB-IF测试套件。力科测试套件中的指令将提示您对各种测试在主计算机上执行USB高速测试工具内的特定功能。在力科某些型号的示波器上,可以使用仪器反面的四个USB端口作为测试台计算机。但最好使用与示波器分开的外部主计算机运行全部测试。假设想确定示波器是否有相应的端口,从Explorer 选择USB-IF Test SuiteUSB HS Electrical Toolkit HSElectricalTestTool.exe。假设存在USB2.0端口,那么将消灭下面的主菜单:图示内容:USB-IF HS电接口测试工具主菜单注:假设您

12、正在使用USB鼠标,那么鼠标会失效(会发出警示声音)。使用键盘上的键扫瞄HS 电接口测试工具菜单。在退出Test Tool菜单后,鼠标会恢复正常功能。假设没有消灭这个窗口或消灭错误信息,则说明示波器没有USB 2.0 端口,必需使用外部主计算机。MATLAB力科USB2.0测试套件适用于X-Stream 4.3.1版,不再要求全面安装MATLAB软件。MATLAB脚本用来执行信号质量测试。USB 测试向导和HS 测试工具力科USB测试软件(USB2)供给了一个“测试向导”,引导您完成主机、集线器和设备的全都性测试过程。从示波器的Analysis菜单中选择USB2,激活USB测试向导。以下图中显

13、示的向导对话框页面要求您设置Mode和Test掌握功能,引导您完成测试。这些测 试必需一步一步地进展,不能跳步。认真阅读指令,并相应地进展操作,可以保证成功地执行测试。在Test菜单中选择了一项测试后,指令将复位到第1步。使用Next按钮,连续执行 下一步。使用Back按钮,重执行上一步。使用Reset按钮,从第1步重进展测试。图示内容:设备测试:高速近端信号质量上图是设备测试高速近端信号质量的4个步骤中第1步的实例。第一条指令告知您把USB设备、主机和电缆连接到USB夹具上。在以下图中,USB设备(摄像机)连接到测试夹具的设备SQ电缆上(左),主机连接到init input J24上(右)。

14、图示内容:USB Device Under Test: USB被测设备From USB Host: 从USB端口第2步指导您连接示波器和测试夹具之间的探头。图示内容:第2步,共4步:连接探头图示内容:D350ST-SP差分探头连接到测试夹具上某些测试要求连接有源单端探头。以下图显示了典型的单端探头连接。确保探头下面的触针插口连接到测试夹具的接地针脚上。图示内容:有源探头连接实例第3步指导您设置生成测试信号的HS电接口测试工具。图示内容:第3步,共4步:EL_2-EL_7信号质量图示内容:设备高速信号质量测试使用的HS电接口测试工具设置高速信号质量主机和集线器下行高速信号质量1. 在“Mode”

15、掌握功能中选择Host 或Hub,在USB Test Wizard(USB测试向导)的“Test” 掌握功能中选择 HS Downstream Signal Quality。2. 依据菜单右侧的说明操作。如以下图所示,主机端口连接到测试夹具的“SQ Host”段上。3. 差分探头连接到夹具这一段的方形针脚上。图示内容:USB 测试夹具的SQ Host 段应如以下图所示,消灭捕获的波形。光标(图中的虚竖线)必需放在显示的分组的任一侧。在需要时,使用示波器前面板上的CURSORS 旋纽,调整光标的位置。USB-IF 信号质量测试脚本处理光标之间的波形,获得眼图和抖动测量结果。设备和集线器上行高速信

16、号质量在 USB 测试向导中,选择相应的模式(仪器或集线器)和测试(设备信号质量或集线器上行信号质量)。设备或集线器上行端口通过测试夹具的SQ Device段连接到主计算机上。注:对没有线缆的设备,应选择Device HS Upstream NE Signal Quality。对有线缆的设备, 应选择 Device HS Upstream FE Signal Quality。图示内容:设备或集线器上行信号质量测试使用的连接。主计算机连接到init端口上(红圈),设备或集线器上行端口连接到测试电缆上(蓝圈)。应如以下图所示,消灭捕获的波形(图中所示的是设备测试)。光标(图中的虚竖线)必需放在显

17、示的分组的任一侧。在需要时,使用示波器前面板上的CURSORS 旋纽,调整光标的位置。USB-IF 信号质量测试脚本处理光标之间的波形,获得眼图和抖动测量结果。图示内容:集线器和设备上行高速信号质量高速分组参数分组参数表示主机、集线器和设备之间的定时测量。USB2.0在双向分组中传送数据。这些 分组的定时对正确通信至关重要。这一测试中测量包头的同步字段、EOP(包尾)的宽度及包间定时。1. 在“Mode”掌握功能中选择Host、Hub或Device,在USB测试向导的“Test”掌握功能中选择HS Packet Parameters。2. 把主机端口连接到测试夹具“SQ Device”段的IN

18、IT端口上。3. 把高速设备(对主机或设备测试)或被测集线器(对集线器测试)连接到测试端口上。图示内容:高速分组参数的夹具连接。主计算机连接I到NIT端口上(红圈),设备和集线器连接到测试电缆上(蓝圈)4. 依据USB Test Wizard菜单中的说明操作,采集波形。捕获的曲线应类似于以下图。上面显示画面中心的突发脉冲包含三个分组。这一测试测量中心分组的同步字段和EOP宽度以及三个分组之间的两个时间间隔。图示内容:主机高速分组参数曲线。所示的图形是主机测试图,但集线器和设备测试的波形外观与这个波形一样。高速啁啾定时高速USB端口还必需兼容全速操作(12 Mb/s)。使用K和J啁啾序列检测高速

19、操作。全速操作使用更高的阻抗负荷。在支持HS的主机确认复位时,支持HS的设备必需应答Chirp K,以说明支持HS。然后主机应答Chirp J/K序列,说明也支持HS。这一测试测量HS质询的定时和电压。测试夹具的“SQ Device”段用于啁啾定时测量。图示内容:高速啁啾定时测试使用的夹具连接主。计算机连接到INIT端口上(红圈),设备或集线器连接到测试电缆上(蓝圈)主机高速啁啾定时1. 在“Mode”掌握功能中选择Host,在USB测试向导的“Test”掌握功能中选择HS Chirp Timing。2. 把主机连接到夹具“SQ Device”段的INIT端口上。3. 依据向导菜单中的说明,采

20、集啁啾定时波形。将采集三个波形,如以下图所示。设备和集线器高速啁啾定时1. 在“Mode”掌握功能中选择Device或Hub,在USB测试向导的“Test”掌握功能中选择HS Chirp Timing。2. 把主机连接到夹具“SQ Device”段的INIT端口上。3. 依据向导菜单中的说明,采集啁啾定时波形。啁啾波形应类似于以下图:高速暂停恢复复位定时主机高速暂停恢复复位定时图示内容:暂停恢复复位定时测试使用的夹具连接主。计算机连接到INIT端口上(红圈),设备或集线器连接到测试电缆上(蓝圈)1. 在“Mode”掌握功能中选择Host,在USB测试向导中选择HS Suspend Resume

21、 Reset。2. 把主机连接到“SQ Device”的INIT端口上,把设备或集线器连接到测试夹具“SQ Device”段的测试端口上。3. 依据屏幕上的说明,采集暂停和复位定时波形,如以下图所示。设备高速暂停恢复复位恢复测试测量设备复位到高速操作后的峰到峰值电压。这个电压应位于360 mV和440 mV之间,这是USB2.0标准中指定的范围。由于这一测量的目标是检验进入了高速模式,因此传 送设备的峰到峰值电压可能会略微超出这一范围。1. 在“Mode”掌握功能中选择Device,在USB测试向导中选择HS Suspend Resume Reset。2. 把主机端口连接到测试夹具“SQ De

22、vice”段的INIT端口上,把设备连接到测试夹具“SQDevice”段的测试端口上。3. 依据USB测试向导中的说明,采集暂停、恢复和复位的曲线,并从暂停功能中复位。曲线如以下图所示。集线器高速暂停恢复复位定时恢复测试测量集线器复位到高速操作后的峰到峰值电压。这个电压应位于360 mV和440 mV 之间,这是USB2.0标准中指定的范围。由于这一测量的目标是检验进入了高速模式,因此 传送集线器的峰到峰值电压可能会略微超出这一范围。1. 在“Mode”掌握功能中选择Hub,在“Test“掌握功能中选择HS Suspend Resume Reset。2. 把主机连接到测试夹具“SQ Devic

23、e”段的INIT端口上,把被测集线器的上行端口连接到测试夹具“SQ Device”段的测试端口上。3. 依据USB测试向导中的说明,采集暂停、恢复和复位的曲线,并从暂停功能中复位。曲线如以下图所示。主机和集线器断开连接测试夹具的主机断开连接段1. 在“Mode”掌握功能中选择Host或Hub,在USB测试向导的“Test“掌握功能中选择HS Disconnect。2. 把测试夹具的“Disconnect” INIT电缆连接到被测主机端口上。把“Disconnect”段中的开关S1和S2移离Test和Low位置。3. 依据USB测试向导中的说明,采集和测量断开电压。从USB-IF HS Elec

24、trical Test Tool对话框中读取“disconnect detected”信息。正常曲线和断开连接曲线应如以下图所示。图示内容:断开连接前的初始电压(上面显示了主机曲线)。同一曲线也适用于集线器下行端口。图示内容:断开连接后的电压(上面显示了主机曲线)。同一曲线也适用于集线器下行端口。集线器高速上行继电器图示内容:上行继电器测试使用的集线器和设备夹具连接To hub upstream port: 到集线器上行端口To hub downstream port: 到集线器下行端口To host computer: 到主计算机To certified high speed device:

25、 到认证的高速设备1. 在“Mode”掌握功能中选择Hub,在USB测试向导的“Test“掌握功能中选择HS Upstream Repeater。2. 把主机连接到测试夹具“SQ Device”段的INIT端口上,把集线器上行方向的端口连接到夹具“SQ Device”段的测试端口上。3. 把集线器的下行端口连接到测试夹具“Trigger”段的电缆A上。4. 把认证的高速设备连接到测试夹具“Trigger”段的INIT连接器(J27)上。5. 依据USB测试向导中的说明,采集波形,如以下图所示。图示内容:集线器上行继电器测试中的初始信号采集。大的脉冲是来自集线器的上行信号。图示内容:同步字段失真

26、。使用前面板Zoom掌握功能调整两条缩放曲线,以便包尾脉(冲最右面宽的负脉冲)相互重叠,并放在显示画面的最右边。图示内容:使用Widthlvl参数测量输入和输出EOP之间的宽度差。差分探头中的DC偏置可能会影响这一测量。在执行这一测试前,对探头自动清零。这一测试要求正的EOP;按下“single trigger”按钮,直到显示的曲线有一个正向EOP,如下图。集线器高速下行继电器图示内容:To hub upstream port: 到集线器上行端口To hub downstream port: 到集线器下行端口To host computer: 到主计算机To certified high sp

27、eed device: 到认证的高速设备1. 在“Mode”掌握功能中选择Hub,在USB测试向导的“Test“掌握功能中选择HS Downstream Repeater。2. 把主机连接到测试夹具“SQ Device”段的INIT端口上,把集线器上行方向的端口连接到夹具“SQ Device”段的测试端口上。3. 把集线器的下行端口连接到测试夹具“Trigger”段的电缆A上。4. 把认证的高速设备连接到测试夹具“Trigger”段的INIT连接器上。5. 依据USB测试向导中的说明,采集波形,如以下图所示。图示内容:集线器下行继电器延迟:测得的输入和输出同步字段之间的时延应小36于位外加4

28、ns (Recall Setup菜单,调出HSRcvrSensitivity.lss面板文件。使用“Recall Panel From File”掌握功能中的Browse按钮,从D:ApplicationsUSB2Setups名目中选择文件。按Recall Now按钮,选择这个设置文件。5. 从HS Electrical Test Tool - Device Command菜单中,从Device Command下拉菜单中选择TEST_SE0_NAK。单击EXECUTE,把设备置于TEST_SE0_NAK测试模式。6. 把Test Fixture Test开关(S1)置在Test位置。这会翻开数

29、据发生器,代替主机掌握器。数据发生器仿真主机掌握器发出的“IN”分组。7. 检验被测端口NAK(否认)数据发生器发出的全局部组。调整水平标度,以便在示波器显示屏上能够看到多个分组。在EL_18中记录测试通过/失败结果。8. 在数据发生器上,选择MEMCARD软功能键。假设菜单中没有MEMCARD,按MORE键,直到显示MEMCARD。屏幕上将显示存储器的内容。使用光标和旋转旋钮,选择IN_ADD1.STO设置文件。把光标移动到Perform Operation,旋转旋钮,选择Recall。然后按ENTER键,加载文件。8a 对泰克DG2040:在数据发生器上,选择Edit菜单,然后从File功

30、能中按Load Data & Setup。屏幕上将显示软盘的内容。使用轻触式拨号盘,选择ADD1.PDA设置文件。按OK 加载文件。9. 检验在信令保持在这一幅度时NAK(否认)全局部组。10. 调整每条通道的输出电平,具体如下:选择LEVELS软功能键。假设菜单中没有LEVELS,按MORE键,直到显示LEVELS。然后把光标移动到High电压值的数字值。使用旋转旋钮,或在监测示波器实际电平的同时使用数字键调整输出电平。使用光标箭头按钮,选择要转变的通道。以20 mV步长(在衰减器前面的发生器上)降低数据发生器分组的幅度,同时在示波器上监测设备的NAK响应。应对两条通道进展调整,以便OUTP

31、UT1和OUTPUT2匹配,数据发生器 读数会说明是否匹配。降低幅度,直到NAK分组开头变得具有间歇性特点。这时,提高幅 度,以便NAK分组不会间歇消灭,这刚好高于静噪前的最低接收灵巧敏度。10a. 泰克DG2040:选择Setup菜单。然后从Level Condition功能中按High。最好使用键盘, 以50 mV步长调整输出电平,同时在示波器上监测实际电平。使用Up和Down箭头按钮,选择要转变的通道。泰克DG2040:以50 mV步长(在衰减器前)降低信号幅度,同时在示波器上监测NAK响应。应对两条通道进展调整,以便CH0和CH1匹配,数据发生器读数会说明是否匹配。降低幅度, 直到NA

32、K分组开头变得具有间歇性特点。这时,提高幅度,以便NAK分组不会间歇消灭, 这刚好高于静噪前的最低接收灵巧敏度。11. 使用示波器显示屏下方(缩放)窗口中的光标,测量数据发生器发出的分组的零到正数峰 值,如以下图所示。使用上面的光标位置旋钮,把光标1放在波形的零电平上;使用下方光标 掌握旋钮,把标光标2放在波形的正峰值上。光标应位于较宽脉冲的高地上,避开由于过冲 而使读数膨胀。示波器屏幕左下角的“zoom(C1)波”形框会说明电压差。在EL_17记录这个值。图示内容:测量数据发生器分组上的零到正数峰值12. 再次使用下方光标掌握旋钮,把光标2移动到示波器屏幕下方窗口中的波形的负峰值上, 把光标

33、放在较宽的高地上,避开过冲。在示波器显示屏左下方的波形信息框中,读取电压差。 在EL_17中记录这个值。接收机必需连续NAK超过+/- 150 mV的分组,才能通过测试。在EL_17中记录测试通过/失败结果。图示内容:测量数据发生器分组上的零到负数峰值13. 现在进一步以小的步长降低数据发生器发出的分组的幅度,同时在输出之间保持平衡, 直到接收机停顿响应NAK。这是接收机的静噪电平。14. 使用第12步和第13步中介绍的方法,测量数据发生器发出的分组的零到正数峰值和零到负数峰值。在EL_16中记录测量结果。只要接收机停顿NAK低于+/- 100 mV的数据发生器分组,那么就视为通过测试。在EL

34、_16中记录测试通过/失败结果。注:在某些设备中,由于反射信号过高,可能很难准确地测量数据发生器中IN分组的零到峰值。此外,在带有线缆的设备上,在测试夹具上测得的IN分组的零到峰值幅度可能始终高于设备接收机看到的值。在这些状况下,建议在PCB设备接收机针脚四周执行测量。全速和低速测试具有HS功能的全部设备、主机和集线器都必需支持全速(12 Mb/s)数据速率。全都性测试要求测试这一速率及测试高速(480 Mb/s)速率。全速全都性测试要求执行互通测试和电接口测试。力科USB 2.0测试解决方案满足了全速操作的电接口测试要求。这些测试包括信号质量、涌入电流、衰落/下跌。该软件还支持低速电接口测试

35、,这种测试只适用于集线器/主机下行 端口和低速设备。下面几节具体介绍了主机、集线器和设备的全速和低速电接口测试。设备要求标准 USB 产品如需FS/LS电接口测试和互通测试中推举使用的标准USB产品的最清单,请参阅 usb.org中供给的“USB-IF全速和低速电接口和互通全都性测试程序”。由于产品使用寿命有限,因此测试中批准使用的产品会定期变化,所以应定期获得最的设备清单。下面列出了执行全速电接口测试要求的标准设备:工程数量1100 mA负荷电路板(仅适用1*2于总线供电的集线器)500 mA负荷电路板1*3衰落测试电路板14SQiDD电路板15全速集线器(自行供电)56高速集线器(自行供电

36、)175 m USB电缆6* 可能会要求其它负荷电路板,具体视产品中的下行端口数量而定。测试夹具只为测试4端口集线器/主机供给了足够的负荷。力科测试夹具中包含上表中的前5项。以下图显示了这些测试使用的夹具的各个段。图示内容:FS/LS信号质量测试夹具的各个段SIGNAL QUALITY FIXTURES (SQIDD): 信号质量夹具(SQIDD) 100 AND 500 mA LOADS: 100和500 mA负荷CURRENT LOOP FOR INRUSH TESTS: 涌入测试的电流环路DROOP TEST:标准测试设备工程衰落测试说明/型号数量示波器WaveMaster 8300/8

37、500/8600, SDA6000/5000/3000,WavePro7300/7200, WaveRunner 62001有源探头HFP25002有源探头HFP10001电流探头CP0151万用表Keithley 2023万用表或同等仪器1USB主机系统*(某些力科示波器可以执行这一功能。参阅“安装”局部)硬件配置:Intel D865GLC MATX主板, Intel P4 HTCPU, 512 MB DDR333, (2) 120 GB UATA/100 HD, 8MB高速缓存, 16x DVD-ROM驱动器, 1.44 MB软驱, IOGEAR GIC250U USB OHCI主机PC

38、I适配器1* 如需最的推举设备信息,请访问 usb.org。集线器和主机下跌测试注:下跌测试使用伏特计和测试夹具进展。这一测试中不使用示波器。USB测试向导中没有包含下跌测试。设置伏特计,测量负荷中的电压下跌,如以下图所示。把集线器或主机的输出端口连接到泰克测试夹具的四个负荷上。确认每个负荷上的三个位置开关都位于中心(OFF)位置。注:在测试总线供电的集线器时,只要求使用测试夹具的上行端口(B插头)。图示内容:下跌测试设备设置hub or system: 集线器或系统USB port 1: USB端口1 USB port 2: USB端口2100 mA or 500 mA loads: 100

39、 mA或500 mA负荷“B” Plug: “B”插头upstream USB port (measured with bus-powered hub only): 上行USB端口(只用于总线供电的集线器测量)USB port N: USB端口N1m, 22 Ga cables: 1m, 22 Ga电缆图示内容:SQiDD电路板连接CONNECT TO HUB DOWNSTREAM PORT: 连接到集线器下行端口100 And 500 mA LOADS: 100和500 mA负荷VBUSPROBING PINS: VBUS探测针脚CONNECT TO LOAD: 连接到负荷自行供电的集线器或

40、主机1. 把负荷切换到500 mA位置,一次一个端口,检验电压位于4.75和5.25 V之间。2. 必要时重复检验集线器或主机的全部端口。VDROP = VNL - VLOADED其中:VNL = USB端口开路时下行USB连接器上的VBUS (没有负荷)及VLOADED = 下行USB连接器上的VBUS,全部USB端口上的负荷相应为100 mA或500 mA总线供电的集线器1. 把负荷切换到100 mA位置,一次一个端口,检验电压高于4.4 V。2. 必要时重复检验集线器全部端口:V= VVDROPUPSTREAMDOWNSTREAM其中:V= 集线器上行连接上的VUPSTREAMBUS及V

41、= 其中一个集线器下行端口上的VDOWNSTREAMBUS测试标准USB 2.0标准第7.2.2节要求自行供电的下行USB端口供给4.75-5.25 V的V,而总线供电的BUS集线器必需把V保持在4.40 V以上。下跌测试评估无负荷条件和全负荷条件(相应的100或BUS500 mA)下的V。自行供电的集线器、系统和笔记本电脑在全部负荷条件下,必需供给BUS4.75-5.25 V的电压。在全部下行端口上存在100 mA负荷时,总线供电的集线器在上行端口和下行端口之间的V 必需= 100 mV。这保证了它们将为下行设备供给4.4 V的电压,因DROP为上行供电电压为4.75 V,减去通过集线器传送时下跌的100 mV及通过上行电缆传送时下跌的250 mV。假设集线器没有使用线缆(USB电缆有一个B插头),那么电压下跌是测得的上行电压电平与最低测得下行值之差。带有线缆的总线供电的集线器(USB电缆没有B插头)在上 行连接器及下行端口之间的V

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