《X射线荧光光谱分析原始记录(GBT21114)9535.pdf》由会员分享，可在线阅读，更多相关《X射线荧光光谱分析原始记录(GBT21114)9535.pdf（1页珍藏版）》请在taowenge.com淘文阁网|工程机械CAD图纸|机械工程制图|CAD装配图下载|SolidWorks_CaTia_CAD_UG_PROE_设计图分享下载上搜索。
1、 2021 年 7 月 25 日发布 2021 年 8 月 01 日实施 X 射线荧光光谱分析原始记录 ZLJC-018-JL-H09 版本号：02 NO：产品名称：编 号：检验依据：样品数量：样品状态：符合检验要求（符合 不符合）设备状态：正常 异常 环境条件：温度：，湿度：%RH。仪器设备：101-1 恒温干燥箱（编号：ZLJC-H-009）、FA2004N 电子天平（编号：ZLJC-H-007）、DY511 熔样机（编号：ZLJC-H-025）、AdvantX4200 荧光光谱仪（编号:ZLJC-H-001）标准物质：处理方式 10501250熔铸 熔剂 67%Li2B4O7+33%Li
2、BO2 50%Li2B4O7+50%LiBO2 样品处理过程 及稀释比（样品：熔剂）（样品预烧过程）熔剂使用前在 700下灼烧 10h 以上，然后储存在干燥器中备用；试样在（102525）灼烧到恒量，放入干燥器，冷却到室温，称取试料于熔样皿中，精确到0.0001g，并记录质量 m1=m2=1：10 1：22.5 分析类型 定量 分析项目 氧化铝（Al2O3）二氧化硅（SiO2）三氧化二铁（Fe2O3）氧化钙（CaO）氧化镁（MgO）酌烧减量（LOI）仪器分析记录 Cx（%）1 2 分析结果 A（%）1 2 平均值（%）数值修约值（%）计算公式：A XCLOI)1(%备注：标准曲线及测量条件见：附标准曲线 检验：检验日期：年 月 日 审核：审核日期：年 月 日