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1、仪器分析仪器分析仪器分析仪器分析第十三章第十三章 原子吸收分光光度法原子吸收分光光度法第一节第一节 原子吸取分光光度法的基本原理原子吸取分光光度法的基本原理仪器分析仪器分析仪器分析仪器分析第十三章第十三章 原子吸收分光光度法原子吸收分光光度法光谱项光谱项(spectral term)描述核外原子量子能级的形式描述核外原子量子能级的形式n M LJ 主量子数主量子数 （价电子所处电子层）（价电子所处电子层）总角量子数总角量子数（电子的轨道形态，相应的（电子的轨道形态，相应的符号：符号：S S、P P、D D等）等）内量子数（光谱支项）内量子数（光谱支项）光谱项的多重性光谱项的多重性（分裂能级数目
2、）（分裂能级数目）原子的量子能级和能级图原子的量子能级和能级图仪器分析仪器分析仪器分析仪器分析第十三章第十三章 原子吸收分光光度法原子吸收分光光度法原子能级图原子能级图光谱学中将原子全部各种可能的能级光谱学中将原子全部各种可能的能级状态用图解形式表示。状态用图解形式表示。纵坐标纵坐标 表示原子的能量表示原子的能量E E，单位是电子伏特，单位是电子伏特(eV)(eV)或波数或波数(cm-1)(cm-1)。横线横线 用光谱支项表示原子实际所处的能级。用光谱支项表示原子实际所处的能级。仪器分析仪器分析仪器分析仪器分析第十三章第十三章 原子吸收分光光度法原子吸收分光光度法原子从基态激发到能量最低的激发
3、态（称为第一原子从基态激发到能量最低的激发态（称为第一激发态），为共振激发，产生的谱线称为共振吸激发态），为共振激发，产生的谱线称为共振吸取线。取线。共振线是元素全部谱线中最灵敏的谱线。常用元共振线是元素全部谱线中最灵敏的谱线。常用元素最灵敏的第一共振吸取线作为分析线。原子吸取素最灵敏的第一共振吸取线作为分析线。原子吸取线一般位于光谱的紫外区和可见区。线一般位于光谱的紫外区和可见区。仪器分析仪器分析仪器分析仪器分析第十三章第十三章 原子吸收分光光度法原子吸收分光光度法原子在各能级的分布原子在各能级的分布理论探讨和试验观测表明，在热平衡状态时，激发态原子数理论探讨和试验观测表明，在热平衡状态时，
4、激发态原子数NjNj与基态原子数与基态原子数NoNo的关系可用玻尔兹曼的关系可用玻尔兹曼 （BoltzmannBoltzmann）方程表示）方程表示一般在原子化温度（一般在原子化温度（3000K）大多数元素的最）大多数元素的最 强共振线都低强共振线都低于于600nm，Nj/No值绝大部分在值绝大部分在10-3（1%）即）即Nj 与与No相比，相比，激发态原子数可以忽视激发态原子数可以忽视。仪器分析仪器分析仪器分析仪器分析第十三章第十三章 原子吸收分光光度法原子吸收分光光度法原子吸取线原子吸取线原子吸取过程原子吸取过程仪器分析仪器分析仪器分析仪器分析第十三章第十三章 原子吸收分光光度法原子吸收分
5、光光度法原子吸取线的轮廓和变宽原子吸取线的轮廓和变宽 若将吸取系数若将吸取系数Kv Kv 对频率对频率v v 作图，称为原子吸取线的轮廓。作图，称为原子吸取线的轮廓。若将透过光强若将透过光强(I0)(I0)对频率对频率v v 作图由图可见在中心频率处透过作图由图可见在中心频率处透过光强度最小。（红线表示部分）光强度最小。（红线表示部分）仪器分析仪器分析仪器分析仪器分析第十三章第十三章 原子吸收分光光度法原子吸收分光光度法半宽度半宽度(half width)指中心频率指中心频率()()的吸取系数一半处谱线轮廓上两的吸取系数一半处谱线轮廓上两点之间的频率差。吸取线的半宽度主要受下列因点之间的频率差
6、。吸取线的半宽度主要受下列因素的影响。素的影响。分两类：分两类：由原子本身的性质确定由原子本身的性质确定,如谱线的自然宽度和同如谱线的自然宽度和同位素效应。位素效应。由外界影响引起，如热变宽、压力变宽、电场变由外界影响引起，如热变宽、压力变宽、电场变宽、磁场变宽、自吸变宽等。宽、磁场变宽、自吸变宽等。仪器分析仪器分析仪器分析仪器分析第十三章第十三章 原子吸收分光光度法原子吸收分光光度法自然宽度（自然宽度（natural width ，）在无外界影响下，谱线固有的宽度。激发态原子的寿命在无外界影响下，谱线固有的宽度。激发态原子的寿命愈短，吸取线的自然宽度愈宽。愈短，吸取线的自然宽度愈宽。多数状况
7、下，可忽视不计。多数状况下，可忽视不计。多普勒变宽（多普勒变宽（Doppler broadening，）由无规则的热运动产生，所以又称为热变宽，是谱线变由无规则的热运动产生，所以又称为热变宽，是谱线变宽的主要因素。宽的主要因素。测定的温度越高，被测元素的原子质量越小，原子的相测定的温度越高，被测元素的原子质量越小，原子的相对热运动越猛烈，热变宽越大。对热运动越猛烈，热变宽越大。仪器分析仪器分析仪器分析仪器分析第十三章第十三章 原子吸收分光光度法原子吸收分光光度法 赫鲁茲马克变宽（赫鲁茲马克变宽（Holtsmark broadening，）又称共振变宽，同种原子间碰撞引起的谱线变宽，它随又称共振
8、变宽，同种原子间碰撞引起的谱线变宽，它随试样原子蒸气浓度增加而增加。试样原子蒸气浓度增加而增加。压力变宽压力变宽(pressure broadening)由于吸光原子与蒸气原子相互碰撞而引起能由于吸光原子与蒸气原子相互碰撞而引起能级略微变更，放射或吸取光量子频率变更而导致级略微变更，放射或吸取光量子频率变更而导致的变宽。的变宽。劳沦茨变宽（劳沦茨变宽（Lorentz broadening，）吸光原子与蒸气中其它原子或分子等相互碰撞而引吸光原子与蒸气中其它原子或分子等相互碰撞而引起的谱线变宽。随原子区内气体压力的增加和温度上起的谱线变宽。随原子区内气体压力的增加和温度上升而增大。升而增大。仪器分
9、析仪器分析仪器分析仪器分析第十三章第十三章 原子吸收分光光度法原子吸收分光光度法原子吸取值与原子浓度的关系原子吸取值与原子浓度的关系积分吸取积分吸取(integrated absorption)透过光强度听从透过光强度听从Lambert定律，数学表达式为定律，数学表达式为仪器分析仪器分析仪器分析仪器分析第十三章第十三章 原子吸收分光光度法原子吸收分光光度法u在原子吸取光谱分析中，把测量气态原子吸取共振线的总在原子吸取光谱分析中，把测量气态原子吸取共振线的总能量称为积分吸取。能量称为积分吸取。u是指在原子吸取光谱中是指在原子吸取光谱中,原子蒸气所吸取的全部能量原子蒸气所吸取的全部能量,即一即一条
10、吸取曲线下面所包括的整个面积。积分吸取与基态原子条吸取曲线下面所包括的整个面积。积分吸取与基态原子数的关系式为：数的关系式为：这是原子吸取法的重要理论基础，如能精确测量积分吸这是原子吸取法的重要理论基础，如能精确测量积分吸取，即可求得原子浓度。取，即可求得原子浓度。积分吸取系数积分吸取系数Kv Kv 基态原子数基态原子数N N 仪器分析仪器分析仪器分析仪器分析第十三章第十三章 原子吸收分光光度法原子吸收分光光度法峰值吸取法峰值吸取法(peak absorption)接受锐线光源，通过测定吸取线中心频率的峰值吸取系接受锐线光源，通过测定吸取线中心频率的峰值吸取系数计算待测元素的原子数。数计算待测
11、元素的原子数。K0N峰值吸取测量的吸光度与试样中被测组分的浓度呈线性峰值吸取测量的吸光度与试样中被测组分的浓度呈线性仪器分析仪器分析仪器分析仪器分析第十三章第十三章 原子吸收分光光度法原子吸收分光光度法用峰值吸取代替积分吸取进行定量的必要条件用峰值吸取代替积分吸取进行定量的必要条件 锐线光源的放射线与原子吸取线的锐线光源的放射线与原子吸取线的中心频率完全一样。中心频率完全一样。锐线光源放射线的半宽度比吸取线锐线光源放射线的半宽度比吸取线的半宽度更窄，一般为吸取线半宽度的半宽度更窄，一般为吸取线半宽度的的1/51/51/10 1/10。仪器分析仪器分析仪器分析仪器分析第十三章第十三章 原子吸收分
12、光光度法原子吸收分光光度法其次节其次节 原子吸取分光光度计原子吸取分光光度计Z-5000Z-5000原子吸取光谱仪（塞曼偏振）原子吸取光谱仪（塞曼偏振）仪器分析仪器分析仪器分析仪器分析第十三章第十三章 原子吸收分光光度法原子吸收分光光度法原子吸取分光光度计的主要部件原子吸取分光光度计的主要部件锐线光源、原子化器、单色器和检测系统锐线光源、原子化器、单色器和检测系统仪器分析仪器分析仪器分析仪器分析第十三章第十三章 原子吸收分光光度法原子吸收分光光度法作用：作用：放射被测元素基态原子所吸取的特征共振线，称放射被测元素基态原子所吸取的特征共振线，称为锐线光源（为锐线光源（narrow-line so
13、urce）。）。光源的基本要求：光源的基本要求：放射辐射波长的半宽度要明显小于吸取线的半放射辐射波长的半宽度要明显小于吸取线的半宽度，辐射强度大，稳定性好，背景信号低，运宽度，辐射强度大，稳定性好，背景信号低，运用寿命长等。用寿命长等。光源光源仪器分析仪器分析仪器分析仪器分析第十三章第十三章 原子吸收分光光度法原子吸收分光光度法空心阴极灯空心阴极灯（hollow cathode lamp，HCL）空心阴极灯放射的光空心阴极灯放射的光谱主要是阴极元素的光谱，谱主要是阴极元素的光谱，因此用不同的被测元素作因此用不同的被测元素作阴极材料，可制成各种被阴极材料，可制成各种被测元素的空心阴极灯。测元素的
14、空心阴极灯。缺点是测一种元素换缺点是测一种元素换一个灯，运用不便。一个灯，运用不便。仪器分析仪器分析仪器分析仪器分析第十三章第十三章 原子吸收分光光度法原子吸收分光光度法原子化器原子化器(atomizer)作用：作用：供应能量，使试样干燥，蒸发并转化为所供应能量，使试样干燥，蒸发并转化为所需的基态原子蒸气。被测元素由试样转入气相，需的基态原子蒸气。被测元素由试样转入气相，并转化为基态原子的过程，称为原子化过程。并转化为基态原子的过程，称为原子化过程。仪器分析仪器分析仪器分析仪器分析第十三章第十三章 原子吸收分光光度法原子吸收分光光度法火焰原子化法火焰原子化法（flame atomization
15、）由化学火焰供应能量，使被测元素原子化。常用的是预混由化学火焰供应能量，使被测元素原子化。常用的是预混合型原子化器，它包括雾化器、雾化室和燃烧器三部分。合型原子化器，它包括雾化器、雾化室和燃烧器三部分。仪器分析仪器分析仪器分析仪器分析第十三章第十三章 原子吸收分光光度法原子吸收分光光度法雾化器（雾化器（nebulizer）将试液雾化。并使雾滴匀整化。将试液雾化。并使雾滴匀整化。雾滴越小，火焰中生成的基态原子就越多。雾滴越小，火焰中生成的基态原子就越多。雾化室的作用，一是使较大雾粒沉降，凝合从废液口解雾化室的作用，一是使较大雾粒沉降，凝合从废液口解除；二是使雾粒与燃气，助燃气匀整混合形成气溶胶，
16、除；二是使雾粒与燃气，助燃气匀整混合形成气溶胶，再进入火焰原子化；三是起缓冲稳定混合气气压的作用，再进入火焰原子化；三是起缓冲稳定混合气气压的作用，以便使燃烧气产生稳定的火焰。以便使燃烧气产生稳定的火焰。燃烧器（燃烧器（burner）的作用是产生火焰，使进入火焰的试）的作用是产生火焰，使进入火焰的试样气溶胶蒸发和原子化，常用的是单缝燃烧器。样气溶胶蒸发和原子化，常用的是单缝燃烧器。仪器分析仪器分析仪器分析仪器分析第十三章第十三章 原子吸收分光光度法原子吸收分光光度法石墨炉原子化器石墨炉原子化器（graphite furnace atomizer）它是一个电加热器，利它是一个电加热器，利用电能加
17、热盛放试样的石用电能加热盛放试样的石墨容器，使之达到高温以墨容器，使之达到高温以实现试样的蒸发和原子化。实现试样的蒸发和原子化。仪器分析仪器分析仪器分析仪器分析第十三章第十三章 原子吸收分光光度法原子吸收分光光度法氢化物发生原子化器氢化物发生原子化器（hydrogen generation atomizer）确定酸度下，用强还原剂确定酸度下，用强还原剂KBH4KBH4或或NaBH4NaBH4将将AsAs、SbSb、BiBi、SnSn、GeGe、SeSe、PbPb、TiTi元素还原成极易挥发与易受热分元素还原成极易挥发与易受热分解的氢化物。解的氢化物。载气将这些氢化物送入石英管后，在低温下即可进
18、行载气将这些氢化物送入石英管后，在低温下即可进行原子化检测。原子化检测。特点：原子化温度低，基体干扰和化学干扰小。特点：原子化温度低，基体干扰和化学干扰小。仪器分析仪器分析仪器分析仪器分析第十三章第十三章 原子吸收分光光度法原子吸收分光光度法冷蒸气发生器原子化器冷蒸气发生器原子化器（cold atom atomizercold atom atomizer）低温原子化方法（一般低温原子化方法（一般700900700900C C）；特地用）；特地用于汞的测定于汞的测定酸性溶液中，酸性溶液中，SnCl2 SnCl2将无机汞化物还原为金属汞，将无机汞化物还原为金属汞，它在常温常压下易形成汞原子蒸气。用
19、载气将汞它在常温常压下易形成汞原子蒸气。用载气将汞蒸气导入石英吸取管中进行测定。蒸气导入石英吸取管中进行测定。特点：常温测量；灵敏度、精确度较高（可达特点：常温测量；灵敏度、精确度较高（可达10-8g10-8g）仪器分析仪器分析仪器分析仪器分析第十三章第十三章 原子吸收分光光度法原子吸收分光光度法作用：将所需的共振吸取线与邻近干扰线分别。作用：将所需的共振吸取线与邻近干扰线分别。为了防止原子化时产生的辐射不加选择地都进入为了防止原子化时产生的辐射不加选择地都进入检测器以及避开光电倍增管的疲惫，单色器通常检测器以及避开光电倍增管的疲惫，单色器通常配置在原子化器后。配置在原子化器后。单色器中的关键
20、部件是色散元件，现多用光栅。单色器中的关键部件是色散元件，现多用光栅。单色器单色器仪器分析仪器分析仪器分析仪器分析第十三章第十三章 原子吸收分光光度法原子吸收分光光度法 主要由检测器、放大器、对数变换器、显示装主要由检测器、放大器、对数变换器、显示装置所组成。置所组成。检测器的作用是将单色器分出的光信号进行光检测器的作用是将单色器分出的光信号进行光电转换，常用光电倍增管。电转换，常用光电倍增管。检测系统检测系统仪器分析仪器分析仪器分析仪器分析第十三章第十三章 原子吸收分光光度法原子吸收分光光度法原子吸取分光光度计的类型原子吸取分光光度计的类型2 2双光束原子吸取分光光度计双光束原子吸取分光光度
21、计 1 1单光束原子吸取分光光度计单光束原子吸取分光光度计仪器分析仪器分析仪器分析仪器分析第十三章第十三章 原子吸收分光光度法原子吸收分光光度法第三节第三节 试验方法试验方法仪器分析仪器分析仪器分析仪器分析第十三章第十三章 原子吸收分光光度法原子吸收分光光度法试样取样及处理试样取样及处理 分析线分析线(analytical line)(analytical line)通常选择共振吸取线作为分析线，因共振吸取通常选择共振吸取线作为分析线，因共振吸取线是最灵敏的吸取线。线是最灵敏的吸取线。狭缝宽度狭缝宽度 在原子吸取分光光度法中，谱线重叠干扰的几在原子吸取分光光度法中，谱线重叠干扰的几率小，因此，
22、允许运用较宽的狭缝，有利于增加率小，因此，允许运用较宽的狭缝，有利于增加灵敏度，提高信噪比。灵敏度，提高信噪比。测定条件的选择测定条件的选择仪器分析仪器分析仪器分析仪器分析第十三章第十三章 原子吸收分光光度法原子吸收分光光度法空心阴极灯的工作电流空心阴极灯的工作电流 在保证放电稳定和足够光强的条件下，尽量在保证放电稳定和足够光强的条件下，尽量选用低的工作电流。选用低的工作电流。原子化条件的选择原子化条件的选择 在火焰原子化法中，火焰的选择和调整是保证在火焰原子化法中，火焰的选择和调整是保证原子化效率的关键之一。原子化效率的关键之一。石墨炉原子化法中，原子化程序要经过干燥、石墨炉原子化法中，原子
23、化程序要经过干燥、灰化、原子化和净化几个阶段，各阶段的温度与灰化、原子化和净化几个阶段，各阶段的温度与持续时间，均要通过试验选择。持续时间，均要通过试验选择。仪器分析仪器分析仪器分析仪器分析第十三章第十三章 原子吸收分光光度法原子吸收分光光度法原子吸取光谱分析的干扰有光谱干扰、物理干扰、原子吸取光谱分析的干扰有光谱干扰、物理干扰、化学干扰、电离干扰和背景吸取等。化学干扰、电离干扰和背景吸取等。干扰及其抑制干扰及其抑制仪器分析仪器分析仪器分析仪器分析第十三章第十三章 原子吸收分光光度法原子吸收分光光度法电离干扰电离干扰（ionization interference）现象：现象：待测元素在原子化
24、过程中发生电离，使参与待测元素在原子化过程中发生电离，使参与吸取的基态原子数削减而造成吸光度下降。吸取的基态原子数削减而造成吸光度下降。消退方法：消退方法：加入消电离剂（易电离元素）加入消电离剂（易电离元素）仪器分析仪器分析仪器分析仪器分析第十三章第十三章 原子吸收分光光度法原子吸收分光光度法基体干扰基体干扰（mareix interference）现象：现象：试样在处理、转移、蒸发和原子化过程中，由试样在处理、转移、蒸发和原子化过程中，由于试样物理特性的变更引起吸光度下降。于试样物理特性的变更引起吸光度下降。消退方法：消退方法：可通过限制试液与标准溶液的组成尽量一样的方可通过限制试液与标准溶
25、液的组成尽量一样的方法来抑制。法来抑制。仪器分析仪器分析仪器分析仪器分析第十三章第十三章 原子吸收分光光度法原子吸收分光光度法光学干扰光学干扰（optical interference）原子光谱对分析线的干扰。包括光谱线干扰和非原子光谱对分析线的干扰。包括光谱线干扰和非吸取线干扰。吸取线干扰。现象现象 光谱线干扰是试样中共存元素的吸取线与待测元素光谱线干扰是试样中共存元素的吸取线与待测元素的分析线相近（吸取线重叠）而产生的干扰。的分析线相近（吸取线重叠）而产生的干扰。消退方法：消退方法：另选波长或用化学方法分别干扰元素。另选波长或用化学方法分别干扰元素。仪器分析仪器分析仪器分析仪器分析第十三章
26、第十三章 原子吸收分光光度法原子吸收分光光度法非吸取线干扰是一种背景吸取（非吸取线干扰是一种背景吸取（background absorption）。）。现象：现象：原子化过程中生成的气体分子、氧化物、盐类原子化过程中生成的气体分子、氧化物、盐类等对共振线的吸取及微小固体颗粒使光产生散射等对共振线的吸取及微小固体颗粒使光产生散射而引起的干扰。而引起的干扰。消退方法：消退方法：邻近线法、连续光源（在紫外光区通常用氘灯）邻近线法、连续光源（在紫外光区通常用氘灯）法、塞曼（法、塞曼（Zeeman）效应法等。）效应法等。仪器分析仪器分析仪器分析仪器分析第十三章第十三章 原子吸收分光光度法原子吸收分光光度
27、法化学干扰化学干扰（chemical interference）现象：现象：在溶液或气相中由于待测元素与其他共存组分在溶液或气相中由于待测元素与其他共存组分之间发生化学反应而影响待测元素化合物的离解之间发生化学反应而影响待测元素化合物的离解和原子化。和原子化。消退方法：消退方法：加入释放剂、加爱护剂、适当提高火焰温度等。加入释放剂、加爱护剂、适当提高火焰温度等。仪器分析仪器分析仪器分析仪器分析第十三章第十三章 原子吸收分光光度法原子吸收分光光度法被测元素浓度含量或变更一个单位，吸光度的变更量。被测元素浓度含量或变更一个单位，吸光度的变更量。火焰原子吸取法中常用火焰原子吸取法中常用“特征浓度特征
28、浓度”表达式：表达式：灵敏度灵敏度（sensitivity）非火焰法非火焰法(石墨炉石墨炉)中常用中常用“特征质量特征质量”表示表示 ：仪器分析仪器分析仪器分析仪器分析第十三章第十三章 原子吸收分光光度法原子吸收分光光度法信号等于空白溶液的测量信号的标准偏差信号等于空白溶液的测量信号的标准偏差3 3倍时所对应的倍时所对应的的浓度（的浓度（ug/mlug/ml）或质量（）或质量（g g或或ugug）来表示。）来表示。计算公式为：计算公式为：检出限检出限（detection limit）仪器分析仪器分析仪器分析仪器分析第十三章第十三章 原子吸收分光光度法原子吸收分光光度法定量分析方法定量分析方法n
29、标准曲线法：标准曲线法：（A Ac c）(同分光光度法同分光光度法)n标准加入法：（增量法）标准加入法：（增量法）n 当试样基体影响较大，又没有纯净的基体空白，当试样基体影响较大，又没有纯净的基体空白，或测定纯物质中极微量的元素时，可以接受此法。或测定纯物质中极微量的元素时，可以接受此法。n待测溶液的浓度可用计算法和作图法待测溶液的浓度可用计算法和作图法仪器分析仪器分析仪器分析仪器分析第十三章第十三章 原子吸收分光光度法原子吸收分光光度法c cx x+0+0，c cx x+c cs s ，c cx x +2+2c cs s ，c cx x+3+3c cs s ，c cx x+4+4c cs s
30、分分别别测测得得吸吸光光度度为为：A A0 0，A A1 1，A A2 2，A A3 3，A A4 4。如将直线外推至与横坐如将直线外推至与横坐标相交，此时浓度标相交，此时浓度c cx x即即为试样中被测元素的浓为试样中被测元素的浓度。度。外推作图法外推作图法仪器分析仪器分析仪器分析仪器分析第十三章第十三章 原子吸收分光光度法原子吸收分光光度法内标法内标法比照品溶液和试样溶液中分别加入确定量的比照品溶液和试样溶液中分别加入确定量的内标，同时测定这两种溶液的吸光度比值，内标，同时测定这两种溶液的吸光度比值，As/AAs/A内，内，Ax/AAx/A内。绘制内。绘制As/AAs/A内内 c c标准曲
31、线。标准曲线。依据试样溶液的依据试样溶液的Ax/AAx/A内，从标准曲线上即可内，从标准曲线上即可求出试样中待测元素的浓度。求出试样中待测元素的浓度。仪器分析仪器分析仪器分析仪器分析第十三章第十三章 原子吸收分光光度法原子吸收分光光度法小小 结结仪器分析仪器分析仪器分析仪器分析第十三章第十三章 原子吸收分光光度法原子吸收分光光度法基本概念基本概念光谱项、原子能级图、共振吸取线、半光谱项、原子能级图、共振吸取线、半宽度、热变宽、压力变宽、积分吸取、宽度、热变宽、压力变宽、积分吸取、峰值吸取、空心阴极灯、原子化器、特峰值吸取、空心阴极灯、原子化器、特征浓度、特征质量征浓度、特征质量仪器分析仪器分析
32、仪器分析仪器分析第十三章第十三章 原子吸收分光光度法原子吸收分光光度法吸取线轮廓吸取线轮廓具有确定频率范围和形态的谱线，它可用具有确定频率范围和形态的谱线，它可用谱线的半宽度来表征。谱线的半宽度来表征。吸取线轮廓是由自然变宽、热变宽、压力吸取线轮廓是由自然变宽、热变宽、压力变宽等原子本身的性质和外界因素影响而变宽等原子本身的性质和外界因素影响而产生的。产生的。仪器分析仪器分析仪器分析仪器分析第十三章第十三章 原子吸收分光光度法原子吸收分光光度法峰值吸取代替积分吸取峰值吸取代替积分吸取必需满足条件：必需满足条件：放射线轮廓小于吸取线轮廓放射线轮廓小于吸取线轮廓 放射线与吸取线频率的中心频率重合放
33、射线与吸取线频率的中心频率重合仪器分析仪器分析仪器分析仪器分析第十三章第十三章 原子吸收分光光度法原子吸收分光光度法原子吸取分光光度计原子吸取分光光度计主要组成：主要组成：锐线光源锐线光源 原子化器原子化器 分光系统分光系统 检测系统检测系统仪器分析仪器分析仪器分析仪器分析第十三章第十三章 原子吸收分光光度法原子吸收分光光度法干扰与消退干扰与消退干扰效应主要有：电离干扰、物理干扰、干扰效应主要有：电离干扰、物理干扰、光学干扰及非吸取线干扰（背景干扰）、光学干扰及非吸取线干扰（背景干扰）、化学干扰等。化学干扰等。消退方法有：加入缓冲剂、爱护剂、消电消退方法有：加入缓冲剂、爱护剂、消电离剂、配位剂等；接受标准加入法和变更离剂、配位剂等；接受标准加入法和变更仪器条件（如辨别率、狭缝宽度）或背景仪器条件（如辨别率、狭缝宽度）或背景扣除等。扣除等。仪器分析仪器分析仪器分析仪器分析第十三章第十三章 原子吸收分光光度法原子吸收分光光度法定量方法定量方法定量关系式：定量关系式：A A=KcKc常用的方法：常用的方法：标准曲线法、标准加入法、内标法。标准曲线法、标准加入法、内标法。