《材料现代分析方法(1).docx》由会员分享，可在线阅读，更多相关《材料现代分析方法(1).docx（3页珍藏版）》请在taowenge.com淘文阁网|工程机械CAD图纸|机械工程制图|CAD装配图下载|SolidWorks_CaTia_CAD_UG_PROE_设计图分享下载上搜索。
1、材料现代分析方法(1) 材料现代分析方法重点（彭美勋部分） 名词说明部分 1，石墨单色器与分光晶体 石墨单色器：利用衍射方法过滤杂色X射线的晶体单色器，比较滤波片更有效的消退x射线背底。 2，明场像与暗场像 明场像：在电子显微镜中，用透过样品的非散射电子以及在物镜孔径角区域内的散射电子的电子束对样品所形成的像 暗场像：在电子显微镜中，仅利用透过样品的散射电子束对样品所形成的像。 3，质厚衬度与衍射衬度以及原子序数衬度 质量衬度：由于样品不同微区间存在原子序数或厚度的差异而形成的 衍射衬度：由样品各衍射束强度差异形成的衬度。影响因素主要是晶体取向和结构振幅 原子序数衬度：由于试样表面物质原子序数
2、或化学成分差别而引起的衬度 4，wds与eds Wds：波谱仪 Eds：能谱仪 能谱仪的优点有：分析速度快，灵敏度高，谱线重复性好。缺点有：能量辨别率低，峰背比低。工作条件要求严格。 波谱仪的优点有：波长辨别率很高。 5，二次电子与背散射电子 二次电子成：在单电子激发过程中被入射电子轰击出来的核外电子 背散射电子成：被固体样品原子反射回来的一部分入射电子 5.1，二次电子像与背散射电子像 答：二次电子象：是表面形貌衬度，它是利用对样品表面形貌改变敏感的物理信号作为调整信号得到的一种象衬度 背散射电子像：背散射电子像的形成，就是因为样品表面上平均原子序数Z大的部位而形成较亮的区域，产生较强的背散
3、射电子信号；而平均原子序数较低的部位则产生较少的背散射电子，在荧光屏上或照片上就是较暗的区域，这样就形成原子序数衬度。 6，物相定性分析与物相定量分析 物相定性分析：鉴定试样中各种组成的构成，包括的元素、根或官能团等的分析。 物相定量分析：测定试样中各种组分(如元素、根或官能团等)含量的操作。 6.1，单晶衍射和多晶衍射 单晶衍射：每一个斑点对应一个衍射面 多晶衍射：每一个圆环是一系列等间距的衍射面 问答部分 7，扫描电子显微镜与透射电子显微镜异同 答：相同之处：都是电真空设备，运用绝大部分部件原理相同，例如电子枪，磁透镜，各种限制原理，消象散，合轴等等。 不同之处： 1、结构差异：主要体现在样品在电子束光路中的位置不同。透射电镜的样品在电子束中间，电子源在样品上方放射电子。；扫描电镜的样品在电子束末端，电子源在样品上方放射的电