材料现代分析技术考试要点(可缩印).docx

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1、材料现代分析技术考试要点(可缩印) 1、下图为金属镁粉的X射线衍射图谱(注:X射线源为Cu K辐射,其平均波长为1.5418 埃)。查衍射卡片得知镁的(112)晶面间距为1.3663埃,问图中哪个峰是镁(112)晶面的衍射峰,计算过程。图中高角度衍射峰有劈裂,为何? Cu K辐射的波长为=1.5418 埃。依据布拉格方程2d sin = 知道:晶面间距d=1.3663埃; 所以:sin=/2d=0.4057; 所以=34.346; 所以2=68.69,可以知道2=68.7对应的衍射峰是Mg(112)晶面的衍射峰。劈裂是因为波长包含两个所致。 2、比较X射线光电子、特征X射线及俄歇电子的概念。

2、X射线光电子是电子汲取X光子能量后逸出样品所形成的光电子。特征X射线是处于激发态的电子跃迁到低能级释放出的能量以X射线形式释放。俄歇电子是激发态电子跳到基态释放的能量传递给相邻电子,导致相邻同能级电子逸出样品形成俄歇电子。3、在透射电镜中,电子束的波长主要取决于什么?多晶电子衍射花样与单晶电子衍射花样有何不同?多晶电子衍射花样是如何形成的,有何应用?明场像和暗场像有何不同?简述透射电镜样品制备方法。 电子束的波长主要取决于电子加速电压或电子能量。单晶电子衍射花样由规则排列的衍射斑点构成。多晶衍射花样由不同半径的衍射环组成。多晶中晶粒随机排列取向,相当于倒易点阵在空间绕某点旋转,而在倒易空间形成

3、一组圆球,圆球的肯定截面形成圆环。应用可用于确定晶格常数。明场像是直射电子形成的像;暗场像是散射电子形成的像。间接样品的制备:将样品表面的浮凸复制于某种薄膜而获得的。干脆样品的制备:(1)初减薄-制备厚度约100-200um的薄片;(2)、从薄片上切取直径3mm 的圆片;(3)预减薄从圆片的一侧或两侧将圆片中心区域减薄至数um;(4)终减薄。4、简述用于扫描电镜成像的常用信号电子种类。波、能谱仪的工作原理是什么?比较两种谱仪进行微区成分分析时的优缺点。 1、背散射电子;是指被固体样品中的原子核反弹回来的一部分入射电子。 2、二次电子;是指被入射电子轰击出来的核外电子。 3、汲取电子;入射电子进

4、入样品后,经多次非弹性散射,能量损失殆尽(假定样品有足够厚度,没有透射电子产生),最终被样品汲取。 4、俄歇电子;假如原子内层电子能级跃迁过程中释放出来的能量E不以X射线的形式释放,而是用该能量将核外另一电子打出,脱离原子变为二次电子,这种二次电子叫做俄歇电子。波谱仪原理:波谱仪依据不同元素的特征X射线具有不同波长这一特点来对样品成分进行分析,波谱仪通过晶体衍射分光的途径实现对不同波长的X射线分散展谱。波谱仪优点:辨别率高,峰背比高。波谱仪缺点:采集效率低,分析速度慢。能谱仪原理:能谱仪依据不同元素的特征X射线具有不同的能量这一特点来对检测的X 射线进行分散展谱,实现对微区成分分析。能谱仪优点

5、:分析速度快,灵敏度高,谱线重复性好。能谱仪缺点:能量辨别率低,峰背比低,工作条件要求严格。 5、XPS的主要工作原理和应用是什么?以Mg K(波长为9.89埃),为激发源,由谱仪(功函数3eV)测得固体中某元素X射线光电子动能980.5eV,求此元素的电子结合能。h =4.1357*10-15 eVs; c=2.998*108m/s。答:XPS的主要原理为光电效应原理。XPS 主要用于分析表面化学元素的组成,化学态及其分布,特殊是原子的价态,表面原子的电子密度,能级结构。应用有元素及其化学态的定性分析、定量分析,化学结构分析。 激发光子能量: hv=hc/=4.1357*10-15eVs*2.998*108m/s/9.89*10-10m=1253.6eV. 电子结合能为1253.6-3-980.5=270.1eV 6、什么是拉曼散射,斯托克斯线和反斯托克斯线,拉曼位移? 单色光照耀物体时有一部分比入射光强度小10-7量级的非弹性散射光含有与入射光不

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