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1、ICT-33C 集成电路测试仪操作指南北京无线电仪器厂电话：010-63161086操 作 指 南目录一、操作指南1开箱验机2操作部件介绍3测试电压选择4基本操作5编程操作6缓冲区编辑7微机通讯操作8其它操作9查看软件版本编号10操作注意事项二、产品介绍1工作原理2系统主要构成3主要参数4功能综述5适用范围6测试容量7软件升级三、维护保养四、售后服务五、测试容量清单重要提示：1本机使用220V15%、50HZ交流电源。2当用本机对EEPROM、串行EEPROM、FLASH ROM、单片机片内ROM器件进行好坏判别或写入时，将会改变被测器件内部的数据，因此对正在使用中的这类器件进行好坏判别前，最
2、好能先备份；而对这类器件进行数据显示或读入、比较时则不会改变其数据。3EEPROM、FLASHROM、串行EEPROM器件、892051（输入2051）、891051（输入1051）单片机不能进行型号识别；892051、891051进行好坏测试时只能用“写入”键进行。4当按下“好坏判别”键时，若显示“12”或“OU-数字”或“VCC数字”时，放好被测器件后，须再次按下“好坏判别”键。5在进行各项测试之前，首先要确认测试电压与被测器件是否匹配，否则有可能损坏被测器件。选择的原则是9.0V及15V测试电压仅CMOS40、CMOS45、数码管、光耦系列可选，其它系列只能选3.3V及5.0V测试电压。
3、仪器开机时黙认测试电压为5.0V。6用户收到仪器后，应尽快将软盘中的文件复制到微机中。7在以下内容中，ICT33C即代表ICT33C集成电路测试仪。一、操作指南1开箱验机 请你小心取出ICT33C主机，将包装箱内的物品与装箱清单核对，若有短缺请及时与制造商联系。ICT33C装箱清单a ICT33C主机-一台b 产品说明书-一本c 特殊器件测试板-一块d 产品保修单-一份e 连接插针-两根f 通讯光盘一张g 通讯电缆一根h. 电源线一根将电源线接于仪器后部插座内，打开仪器的电源开关，此时仪器应有以下反应：1. 液晶显示屏显示“CHECP”并伴有一声高音提示。2. 测试电源指示灯、FAIL指示灯亮
4、。仪器进入自检状态：A. 自检正常，有两声低音提示，显示屏显示“PLEASE”，可进行正常测试操作。B. 自检失败，有两声低音提示，显示“1”数值。 自检失效时，不能进行各项操作，此时请确认以下内容：a. 锁紧插座上无集成电路。b. 锁紧插座任意两脚之间无短路线。c. 电源电压在规定范围内。如果以上各点均正常，即表明仪器损坏，请及时与厂商联系。2、产品操作部件介绍（1） 产品操作部件名称请见图一 图二测试电压指示灯PASS指示灯FAIL指示灯锁紧插座控制棒图一键盘主机电源指示灯锁紧插座保险管微机通讯接口220V电源插座测试电源正极散热孔电源开关图二（2） 操作键功能1“09”键为数字键，用于输
5、入被测器件型号、引脚数目。2“好坏判别/查空”键为多功能键。若输入的型号为EPROM、单片机（8031除外）器件，则它使仪器对被测器件进行查空操作；在其它型号时，它使仪器对被测器件进行好坏判别。若第一次按下了数字键，则至少要在输入三位型号数字后，输入该键才能被仪器接受；若在没有输入型号数字的时候输入该键，则仪器将对前一次输入的器件型号进行好坏测试。此功能用于测试多只相同的器件。3型号判别”键为功能键，用于判别被测器件的型号，在未输入任何数字的前提下才是有效。4“代换查询”键为功能键，用于查询是否有相同逻辑功能相同引脚排列的器件，至少在输入三位型号数字后，输入该键才能被仪器接受。5“老化/比较”
6、键为多功能键，用于对被测器件进行连续老化测试，至少在输入三位型号数字后才能被仪器接受。当输入的型号是EPROM、EEPROM、FLASH ROM、单片机器件（8031除外）时，它将被测器件内部的数据与机内RAM中的数据进行比较。6“读入”键为功能键，当输入的型号是EPROM、EEPROM、FLASH ROM、单片机器件时才有效，它将被测器件内部的数据读入到机内RAM中并保存。7“写入”键为功能键，与“读入”键相似，它将机内RAM中的数据写入到被测器件中并自动校验。8“编辑/退出”键为多功能键，它可对机内RAM中的数据进行编辑（填充、复制、查找、修改）；当对单片机及具有数据软件保护功能的FLAS
7、H ROM器件进行写入时，该键也是加密功能键；当在进行老化测试时，按该键可退出老化测试。9“F1/上”键为多功能键，当开机后或测试完成后，该键可选择测试电压；而在RAM数据编辑时，该键使地址减1。10“F2/下”键为多功能键，当开机后或测试完成后，按该键进入与微机通讯状态；而在RAM数据编辑时，该键使地址加1。11“清除”键为功能键，用于结束错误操作，或清除已输入的型号。（3） 锁紧插座操作方法：当操作杆竖立时为松开状态，可放上或取下被测器件；当操作杆平放时为锁紧状态，可对被测器件进行测试。（4） 特殊器件测试板使用方法：当测试8255，6821，Z80PIO等器件时，将被测器件放上特殊器件板
8、相应插座（1或2），再将特殊器件板插入锁紧插座（注意器件缺口向下），再次按下“好坏判别”或“老化”键即可。3. 测试电压选择开机后或测试完成后，按下“F1/上”键即进入测试电压循环选择，每按一次就换一档测试电压，确定后按“F1/上”键以外的其它任意键即退出。4. 基本操作（以74LS00为例）（1） 器件好坏判别：a 输入7400，显示“7400”。b 将被测器件74LS00放上锁紧插座并锁紧，如图三所示。c 按下“好坏判别”键。* 若显示“PASS”，同时伴有高音提示，表示器件逻辑功能完好，黄色LED灯点亮。* 若显示“FAIL”，同时伴有低音提示，表示器件逻辑功能失效，红色LED灯点亮。d
9、 若要测试多只相同器件，再次按下“好坏判别”键即可。e 存储器的测试时间较长，测试过程中仪器不接受任何命令输入。图三（2） 器件老化测试：a 输入7400，显示“7400”。b 将被测器件74LS00放上锁紧插座并锁紧。c 按下“老化”键，仪器即对被测器件进行连续老化测试，若用户想退出老化测试状态，只要按下“编辑/退出”键即可。d 对多只相同型号的器件进行老化测试时，每换一只器件都要重新输入型号。（3） 器件型号判别：a 将被测器件放上锁紧插座并锁紧，按“型号判别”键，显示“P”，提示用户输入被测器件引脚数目，如有14只引脚，即输入14，显示“P 14”。b 再次按下“型号判别”键。* 若被测
10、器件逻辑功能完好，并且其型号在本仪器测试容量以内，仪器将直接显示被测器件的型号，例如7400。* 若被测器件逻辑功能失效，或其型号不在本仪器测试容量以内，仪器将显示FAIL。c 进行型号判别时，输入的器件引脚数目必须是两位数，如8只引脚输入08。d 由于本仪器是以被测器件的逻辑功能来判定其型号，因此当各系列中还有其它逻辑功能与被测器件逻辑功能完全相同的其它型号时，仪器显示的被测器件型号可能与实际型号不一致，这取决于该型号在测试软件中的存放顺序。出现这类情况时，说明仪器显示的型号与被测器件具有相同的逻辑功能。e 当型号被判别出后，该型号仅供显示用，并未存入仪器内部，要判别器件的好坏，仍须输入一次
11、型号。（4） 器件代换查询：a 先输入原器件的型号，如7400，再按“代换查询”键。* 若在各系列存在可代换的型号，则仪器将依次显示这些型号，如7403，每按一次“代换查询”键，就换一种型号显示，直到显示“NODEVICE”。* 若不存在可代换的型号，则直接显示“NODEVICE”。b仪器认为那些逻辑功能一致且引脚排列一致的器件为可互换的器件，并未考虑器件的其它参数，此功能请用户参考使用。（5） EPROM查空操作a 输入被测器件的型号，将其放上锁紧插座并锁紧。b 按“好坏判别/查空”键，仪器将对被测器件进行全空检查（是否全为FF）。若是全空，显示“EPY”；否则显示地址、数据，再显示“NO
12、EPY”。5. 编程操作 编程操作是将仪器内部RAM缓冲区的数据写入（烧写）到被测ROM器件中（写入操作）；或将被测ROM器件中的数据读入到仪器内部RAM缓冲区（读入操作）。目前本机可读写128K以内EPROM、串并行EEPROM、FLASH ROM、单片机片内ROM等器件，并可不断升级。（1）全片读入：将被测器件的全部数据读入到仪器内部。a 输入被测器件的型号，将其放上锁紧插座并锁紧，按“读入”键；b 此时仪器进入读/存状态，读入完成后显示“END”。（2）部分读入：将被测器件的部分数据读入到仪器内部（单片机及串行EEPROM无此操作）。a 输入被测器件的型号，将其放上锁紧插座并锁紧。b 按
13、“F1/上”键，显示“F1”，输入被测器件的五位起始地址；按“F2/下”键， 显 示“F2”，输入被测器件的五位结束地址；再按“F1/上”键，显示“F1”， 输 入存放于机内RAM缓冲区的起始地址，再按“读入”键。c 此时仪器进入读/存状态，读入完成后显示“END”。d 例如将EPROM器件27010中地址02789H至1ABFEH的数据读入到仪器内部 0365AH开始的RAM单元中，操作顺序为：27010F102789F21ABFEF10365A读入。（3）全片写入：将被测器件的全部空间写完。a测器件的型号，将其放上锁紧插座并锁紧。b按“写入”键，显示“UP1L1”，表示编程电压UP为一档（
14、12.5V），编程速度L为一档（高速）。c 若用户对这两个参数不作修改，再次按下“写入”键即进入写入状态，显示器显示写入的进程。d 若用户对编程电压和编程速度要作修改，在显示“UP1L1”时按“F1/上”键，显示“UP”，表示修改编程电压，此时输入新的编程电压档数即可（1，2有效，2表示编程电压为21V）；按“F2/下”键，显示“L1H 9L”，表示修改编程速度，此时输入新的编程速度即可（1至9有效，数字越大速度越低）。修改完成后再次按下“写入”键，即进入写入状态。e 写入完成后，仪器自动进行校验，若完全正确，显示“PASS”；若不正确，显示出错的地址、数据，再显示“FAIL”。f 仅EPRO
15、M器件写入时可修改编程电压及速度，其它如EEPROM、FLASH、单片机片内器件编程电压及速度均是固定的。（4）部分写入：将被测器件的部分空间写入。a输入被测器件的型号，将其放上锁紧插座并锁紧。b按“上”键，显示“”，输入被测器件要写入的五位起始地址；按“下”键，显示“”，输入五位结束地址；再按“上”键，显示“”，输入五位机内缓冲区的起始地址，再按“写入”键，请参阅“全片写入”。c操作过程中若地址输入有误，请用“编辑退出”键来结束操作。（5）人工比较：将被测器件的数据与机内RAM缓冲区的数据进行比较。a输入被测器件的型号并将其放上锁紧插座锁紧。b按“老化/比较”键（全片比较）或“F1/上”键（
16、部分比较，按前述输入首末地址再按“老化/比较”键），仪器即开始进行比较，若全部相同，显示“PASS”；若不相同，显示出错的地址，数据，再显示“FAIL”。（6）单片机ROM加密：对单片机及FLASH ROM器件进行写入时，当写入完成后，显示“LOC 12”，提示是否需要加密（FLASH ROM器件为数据保护）。若要加密，按“编辑/退出”键即可；若不加密，按“编辑/退出”键以外的任意键即可。6缓冲区编辑 本机提供了强大的缓冲区编辑功能，用户可方便地对缓冲区进行填充（将指定范围的数据填充为指定的数据），复制（将指定范围的数据复制到指定的地址），查找（在指定的范围查找指定的字符），显示修改指定地址的
17、数据。 本机RAM缓冲区的有效地址范围为00000H1FFFFH共128K，输入地址时必须输入五位（如00235H）。（1） 开机后或测试完成后，按“编辑/退出”键，显示“PED1，2，3，4”，其中1代表填充，2代表复制，3代表查找，4代表显示修改。（2） 按1（填充）：显示“F1”，输入五位起始地址，再按“F2/下”键，显示“F2”，输入五位结束地址，显示“FULL”，输入两位填充的数据，仪器即开始进行填充，完成后回到显示“PED1，2，3，4”。（3） 按2（复制）：显示“F1”，输入要复制的五位起始地址，再按“F2/下”键，显示“F2”，输入五位结束地址，再按“F1/上”键，显示“F1
18、”，输入五位目标地址，仪器即开始把指定首末地址的数据复制到目标地址开始的单元中。（4） 按3（查找）：显示“F1”，输入要查找范围的五位起始地址，再按“F2/下”键，显示“F2”，输入五位结束地址，显示“FIND”，输入要查找的两位关键字符，仪器即开始进行查找，若找到，显示地址及数据，若要继续查找，按“F2/下”键即继续查找；若要退出，按“F2/下”键以外的任意键即可；若找不到或超出指定范围，显示“PED1，2，3，4”。（5） 按4（显示修改）：显示“PE”，输入五位欲显示修改的地址，仪器即显示该地址的数据，若要修改，直接输入两位新的数据即可，此时可用“F1/上”和“F2/下”键来使地址减1
19、或加1，用“编辑/退出”键来重新输入地址。例如：设RAM缓冲区00367H、00368H、1ABCDH单元的数据分别是1AH、29H、9FH，现要改为78H、9BH、4DH，操作顺序为：按“编辑/退出”键，显示“PED1，2，3，4”；按“4”，显示“PE”；输入00367，显示“003671A”；输入78，显示“0036778”；按“F2/下”，显示“0036829”；输入9B，显示“003689B”；按“编辑/退出”，显示“PE”，输入1ABCD，显示“1ABCD9F”；输入4D，显示“1ABCD4D”，完成。（6） 若要退出编辑状态，连按两次“编辑/退出”键即可。7微机通讯操作 本机可通
20、过串行口与微机相连，将机内RAM缓冲区的数据传送到微机（SEND）。传送波特率固定为9600KB，最大传送量为128K， 串口可选择COM1或COM2。（1） 软件的安装：将随机提供的光盘内的文件（使用说明书除外）全部拷贝到微机内即可（最好先建一子目录）。光盘内包含有通讯软件PORTEXPERT（端口专家，茅煦鹏先生作品，E-MAIL：XPMAOSTART.COM.NET），MCS51汇编软件ASM51，Z80汇编软件ASMZ80，OBJ文件转换为二进制文件ABS51，缓冲区编辑软件EMP.EXE等。通讯软件要求运行于WIN95以上环境。（2） 传送前的准备：用通讯电缆将ICT33C主机与微机
21、串口相连（COM1或COM2，由通讯软件设置），再开启微机和ICT33C主机电源。（3） 微机向ICT33C传送文件：a 在ICT33C主机上按“F2/下”键，显示“1RE 2SEN”（1。接收；2。发送），再按“1”，显示“1REV。”，即进入接收待机状态；在微机上运行PORTEXPERT文件（注意端口设置及波特率是否为9600），点“文件”菜单下的“发送文件”，再输入欲发送文件的路径及文件名，点“打开”即开始传送文件。b 传送完成后，ICT33C显示“1REV END”，或显示“PLEASE”，表示传送成功。（4） MCS51汇编软件ASM51的运行格式为ASM51+源文件名，运行结束后自
22、动生成后缀为.LST的列表文件和.OBJ的目标文件，若要供编程用，还必须用ABS51+目标文件（不输OBJ）进行转换，生成后缀为.BIN的文件才行。例如要汇编源文件TY.ASM，先运行ASM51 TY.ASM，再运行ABS51 TY即可。Z80的运行方式相同。若用户觉得在ICT33C上编辑RAM缓冲区不太直观，也可在微机上运行EMP.EXE来编辑，完成后再传送到ICT33C上进行写入。8其它操作在进行好坏判别和老化测试时，第一次按下“好坏判别”或“老化”键后，有可能出现下面三种情况：（1） 显示“12”，并伴有长高音提示，表示用户应将被测器件退后一格放上锁紧插座，如图四所示：图四锁紧后再次按下
23、“好坏判别”或“老化”键。主要是光耦和数码管器件有这种情况。（2） 显示“VCC数字”，并伴有长高音提示，表示用户应将被测器件退后一格放上锁紧插座，再用随仪器提供的连结插针将锁紧插座的第40脚与被测器件的某一脚连通（该脚数即是显示的数字），如图五所示：图五锁紧后再次按下“好坏判别”或“老化”键。主要是TTL74系列的少量器件有这种情况。被测器件（3） 显示“OU数字”，并伴有长高音提示，表示用户应将被测器件放上特殊器件测试板上某一插座（即显示的数字），再将特殊器件测试板插入锁紧插座，如图六所示，锁紧后再次按下“好坏判别”或“老化”键。8255，6821，Z80PIO有这种情况。图六9查看软件版
24、本编号软件版本编号表示测试软件的新旧程度，用户可查看本机的软件版本号与本厂网站上最新的软件版本号比较，决定是否需要进行升级：在开机后或测试完成后，输入，再按“读入”键，此时显示的BBH+5位数字既是软件版本编号。10操作注意事项（1） 仪器操作时请参阅“维护保养”一节的内容。（2） 输入器件型号时，应省去字母及其它标记，只输入数字。由于种种原因，少部分器件输入的型号与实际型号不一致，主要有：a8032，8051，8052，8751H，87C51，87C52，89C51，89C52在进行好坏判别时统一输入8031；进行ROM读写比较时，8751H（编程电压21V）输入8753，其余按实际型号输入
25、。bZ80 PIO输入801，Z80 CTC输入802。cMC1413：2003 MC1416：2004 MC14160：40160 MC14161：40161 MC14162：40162 MC14163：40163 2902：324。 d89c2051：2051 89c1051：1051。e其它请参阅附录。（3）进行键盘操作时，若仪器以高音回答，说明操作有效；若以低音回答，说明是误操作。但任何误操作均不会损坏仪器。(4) 安放被测器件时，一定要注意其缺口方向和安放位置。(5) 仪器关机后，必须等五秒以上才能再次开机，否则有可能不能复位。二、产品介绍1工作原理：ICT33C集成电路测试仪是以器
26、件预期响应法为指导思想，以单片机智能化为结构的多功能测试仪器。它以MCS51单片机为核心，配合大规模软件和外围扩展系统来全面模拟被测器件的综合功能。仪器的设计基础立足于这样的原则：在数字集成电路众多参数中，逻辑功能是最重要，最根本，最能说明问题的参数。2系统主要构成：（1） CPU：MCS51系列产品89C52；主频：11.059M。（2） 程序存储器：128K EPROM。（3） RAM缓冲区：128K静态RAM。（4） 显示器：8位液晶显示器。（5） 操作键盘：20位轻触式按键键盘。（6） 输出：七只LED+八位液晶显示+声音提示。（7） 机箱：全塑结构机箱。3主要参数：（1） 电源电压：
27、AC220V15%，50HZ。（2） 整机功耗：15VA。（3） 测试电压：3.3V，5.0V，9.0，15V。（4） 编程电压：12.5V，21V。（5） 最大测试脚数：DIP封装40脚；SOP封装20脚（须另购适配器）。（6） 型号输入位数：36位。（7） 适用温度：040。（8） 测试规范：输入短路测试；输出短路测试；100%功能测试。（9） 输出高电平VOH：大于2.8V（VT=5.0V）。（10） 输出低电平VOL：小于0.7V（VT=5.0V）。（11） 输入高电平VIH：大于4.5V（VT=5.0V）。（12） 输入低电平VIL：小于0.2V（VT=5.0V）。4.功能综述（1）
28、 器件好坏判别：当不知被测器件的好坏时，仪器可判别其逻辑功能好坏。（2） 器件型号识别：当不知被测器件的型号时，仪器可依据其逻辑功能来判断其型号。（3） 器件老化测试：当怀疑被测器件的稳定性时，仪器可对其进行连续老化测试。（4） 器件代换查询：仪器可显示有无逻辑功能一致，引脚排列一致的器件型号。（5） 内部RAM缓冲区修改：仪器可对内部缓冲区进行多种编辑。（6） 微机通讯：仪器可通过串行口接受来自微机的数据。（7） ROM器件读入：仪器可将128K以内的ROM器件内的数据读入并保存。（8） ROM器件写入：仪器可将内部缓冲区的数据写入到128K以内的ROM器件中。5适用范围ICT33C具有以下
29、主要用途：（1） 维修各类电子产品，判断其集成电路故障。（2） 破译被抹去型号集成电路的真实型号。（3） 烧写各类EPROM、EEPROM、FLASH ROM、单片机片内ROM。（4） 开发各类智能电子产品，调试程序。（5） 检验新购器件的质量。6测试容量ICT33C可测器件包含以下各大系列：（1） TTL74、54系列。（2） TTL75、55系列。（3） CMOS40、45、14系列。（4） 单片机系列。（5） EPROM、EEPROM、RAM、FLASH系列。（6） 光耦合器，数码管系列。（7） 常用微机外围电路系列。（8） 其它常用电路及用户提供系列。ICT33C可测器件详细清单请见附
30、录。若用户需测试不在测试范围内的器件，只要它是数字器件，我厂可免费编制测试程序（需用户提供逻辑功能资料和一只样品）。软件升级ICT33C可通过更换程序存储器27C010来使测试软件不断升级和完善，升级的操作步骤为：（1） 与我厂联系，将最新的测试软件传送到你的电子邮箱，并将其下载到你的微机。（2） 将保存在你的微机里的最新测试软件传送到ICT33C主机。（3） 用一只EPROM器件27C010（确保擦除干净）在ICT33C上进行写入，确保写入正确。（4） 切断ICT33C的电源，松开4只固定螺钉，轻轻移开上盖板（不要取下，移至能够更换27C010即可）；拔掉机上的27C010（在右下角），换上
31、新的27C010即可。（5） 盖好上盖板，紧固4只固定螺钉，开机正常，升级即告成功；若开机不正常，请检查操作是否有误或27C010写入是否正确。（6） 换下的27C010请妥善保存，以便下次升级时使用。三、维护保养ICT33C测试仪是精心设计和制造的，以下建议将帮助你延长仪器的使用寿命，使它运转自如，与故障无缘。（1） 仪器安装地点应避免潮湿，粉尘，阳光直射，发热装置及剧烈振动场所。（2） 仪器严禁进水或其它液体。切勿将异物特别是金属物品掉入仪器散热孔内，保持机体的整洁。（3） 切勿将仪器存放于环境温度高于50的场合；工作电源电压应在220V15%以内。（4） 为了延长锁紧插座的使用寿命，操作
32、时要轻巧，被测器件引脚不能严重弯曲，引脚上不能有杂物；当锁紧插座处于锁紧状态或测试电源指示灯亮时，不能放上或取下被测器件。四、售后服务凡在制造商和代理商处购买的ICT33C产品均享受相同的售后服务权利。（1） 仪器自出售之日起三十日内，如有产品质量问题，免费更换新机。属用户使用不当（如插错电源，进水，外观机械性损伤）的情况不在此范围内。（2） 机内元件（不含机壳、锁紧插座、面板）终身免费维修。（3） 测试软件免费升级。（4） 若有需要，制造厂免费对用户进行使用技能培训（用户自理交通、食宿费用）。（5） 产品有小的变化和软件升级，恕不另行通知用户，用户可登录本厂网站或电话查询。五、测试容量清单附
33、后。可 测 器 件 清 单CMOS40系列 40004001400240064007400840094010401140124013401440154016401740184019402040214022402340244025402640274028402940304031403240334034403540384039404040414042404340444045404840494050405140524053405440554056406040614063406640674068406940704071407240734075407640774078408140824083408540
34、8640894093409440954096409740984099401004010140102401034010440105401064010740108401094011040147401604016140162401634016440174401754017640192401934019440195CMOS MC140系列 MC140系列请输入与40系列相对应的型号，如MC14013为4013，MC140195为40195，其余以此类推。CMOS45系列 4501450245034504450645084510 4511451245134514451545164517 45184519
35、 45204521452245264527 4528452945304531 453245344536453745384539454145434544 4547 45494551455345544555455645574558 455945604561456245664568456945724580 45814582458345844585459745984599CMOS MC145系列 MC145系列请输入与45系列相对应的型号，如MC14513为4513，MC145195为45195，其余以此类推。光耦合器系列（括号内的数值是实际输入的型号） 50750725073617 627 637
36、521-1521-2521-3521-46216226240363111817 827837847810812818 5112504880885066074829 849 2008200920182019504614 714 509519532632503613 713 50853102703483621283083183602621057011111211311411511611711872351212702712722732742752762770170757036315350688158358457336185515055155258257258558608652308558608652
37、30231 2551195710116N135 6N1367157168908504N45(445)4N46(446)4N36(436) 4N37(437)4N25(425)4N26(426)4N27(427) 4N29(429) 4N30(430) 4N31(431)4N32(432)4N33(433)4N38(438)4N32(432)4N33(433)4N38(438) 4N28(428)4N35(435)TTL74/54系列 74/540074/540174/540274/540374/540474/540574/540674/540774/540874/540974/541074/5
38、41174/541274/541374/541474/541574/541674/541774/541874/541974/542074/542174/542274/542374/542474/542574/542674/542774/542874/543074/543174/543274/543374/543474/543574/543774/543874/543974/544074/544174/544274/544374/544474/544574/544674/544774/544874/544974/545074/545174/545374/545474/545574/546074/
39、546374/546474/546574/546874/546974/547074/547274/547374/547474/547574/547674/547774/547874/548074/543674/545874/548174/548274/548374/548474/548574/548674/548974/549074/549174/549274/549374/549474/549574/549674/549774/5410074/5410474/5410574/5410774/5410974/5411074/5411174/5411274/5411374/5411474/541
40、1674/5412174/5412274/5412374/5412574/5412674/5412874/5413174/5413274/5413374/5413474/5413574/5413674/5413774/5413874/5413974/5414074/5414174/5414274/5414574/5414774/5414874/5415074/5415174/5415274/5415374/5415474/5415574/5415674/5415774/5415874/5415974/5416074/5416174/5416274/5416374/5416474/5416574
41、/5416674/5416774/5416874/5416974/5417074/5417274/5417374/5417474/5417574/5417674/5417774/5417874/5417974/5418074/5418174/5418274/5418374/5418474/5418574/5418974/5419074/5419174/5419274/5419374/5419474/5419574/5419674/5419774/5419874/5419974/5423074/5423174/5423774/5423874/5424074/5424174/5424274/542
42、4374/5424474/5424574/5424674/5424774/5424874/5424974/5425074/5425174/5425274/5425374/5425674/5425774/5425974/5426074/5426174/5426574/5426674/5427374/5427474/5427574/5427674/5427874/5427974/5428074/5428174/5428274/5428374/5428474/5428574/5428674/5428774/5428874/5428974/5429074/5429174/5429274/5429374/5429474/5429574/5429674/5429774/5429874/5429974/543007