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1、精选优质文档-倾情为你奉上X射线衍射实验报告一、 实验目的（1） 掌握X射线衍射仪的工作原理、操作方法；（2） 掌握X射线衍射实验的样品制备方法；（3） 掌握运用X射线衍射分析软件进行物相分析的原理和实验方法；（4） 熟悉PDF卡片的查找方法和物相检索方法。二、 实验仪器X射线衍射仪，PDF卡。 X射线衍射仪，主要由X射线发生器、X射线测角仪、辐射探测器、辐射探测电路、计算机系统等组成。（1） X射线发生器 X射线管工作时阴极接负高压，阳极接地。灯丝附近装有控制栅，使灯丝发出的热电子在电场的作用下聚焦轰击到靶面上。阳极靶面上受电子束轰击的焦点便成为X射线源，向四周发射X射线。在阳极一端的金属管
2、壁上一般开有四个射线出射窗口。转靶X射线管采用机械泵+分子泵二级真空泵系统保持管内真空度，阳极以极快的速度转动，使电子轰击面不断改变，即不断改变发热点，从而达到提高功率的目的，如下图1。图1 X射线管（2） 测角仪 测角仪圆中心是样品台，样品台可以绕中心轴转动，平板状粉末多晶样品安放在样品台上，样品台可围绕垂直于图面的中心轴旋转；测角仪圆周上安装有X射线辐射探测器，探测器亦可以绕中心轴线转动；工作时，一般情况下试样台与探测器保持固定的转动关系（即-2连动），在特殊情况下也可分别转动；有的仪器中样品台不动，而X射线发生器与探测器连动，如下图2。 图2 测角仪（3）PDF卡的组成如下3图所示图3
3、PDF卡三、 实验原理1、 X射线的产生 实验中通常使用X光管来产生X射线。在抽成真空的X光管内，当由热阴极发出的电子经高压电场加速后，高速运动的电子轰击由金属做成的阳极靶时，靶就发射X射线。发射出的X射线分为两类：（1）如果被靶阻挡的电子的能量不越过一定限度时，发射的是连续光谱的辐射。这种辐射叫做轫致辐射；（2）当电子的能量超过一定的限度时，可以发射一种不连续的、只有几条特殊的谱线组成的线状光谱，这种发射线状光谱的辐射叫做特征辐射。对于特征X光谱分为：（1）K系谱线:外层电子填K层空穴产生的特征X射线K、K（2） L系谱线:外层电子填L层空穴产生的特征X射线L、L如下图4。图4 特征X射线2
4、、 X射线与物质的相互作用 X射线与物质相互作用产生各种复杂过程。就其能量转换而言，一束X射线通过物质分为三部分：散射，吸收，透过物质沿原来的方向传播，如下图5，其中相干散射是产生衍射花样原因。图5 X射线与物质的相互作用3、 晶体点阵结构 晶体结构可以用三维点阵来表示。每个点阵点代表晶体中的一个基本单元，如离子、原子或分子等。空间点阵可以从各个方向予以划分，而成为许多组平行的平面点阵。因此，晶体可以看成是由一系列具有相同晶面指数的平面按一定的距离分布而形成的。各种晶体具有不同的基本单元、晶胞大小、对称性，因此，每一种晶体都必然存在着一系列特定的d值，可以用于表征不同的晶体。 X射线波长与晶面
5、间距相近，可以产生衍射。晶面间距d和X射线的波长的关系可以用布拉格方程来表示:2dsinn。根据布拉格方程，不同的晶面，其对X射线的衍射角也不同。因此，通过测定晶体对X射线的衍射，就可以得到它的X射线粉末衍射图，与数据库中的已知X射线粉末衍射图对照就可以确定它的物相。4、 物相鉴定原理 任何结晶物质均具有特定晶体结构（结构类型，晶胞大小及质点种类，数目，分布）和组成元素。一种物质有自己独特的衍射谱与之对应，多相物质的衍射谱为各个互不相干，独立存在物相衍射谱的简单叠加。 衍射方向是晶胞参数的函数（取决于晶体结构）；衍射强度是结构因子函数（取决于晶胞中原子的种类、数目和排列方式）。任何一个物相都有
6、一套d-I特征值及衍射谱图。因此，可以对多相共存的体系进行全分析。也就是说实验测得的图谱与数据库中的已知X射线粉末衍射图对照，通过两者的匹配性就可以确定它的物相。四、 实验内容1、样品制备 将待测粉末样品在试样架里均匀分布并用玻璃板压平实，使试样面与玻璃表面齐平2、 测试 A、开机(1)打开墙体及主机电源，并按下主机启动按钮。(2)打开冷却循环水系统开关，使冷却水电导率在3以内，水温在20-24度范围内。(3)按下控制面板上的开真空按钮，使真空度降至150mV以下。(4)打开控制柜开关(5)打开电脑，在软件控制程序中开启X射线后执行预热至需要功率，预热时间为1-1.5小时。 B、装样 将装有待
7、测粉末样品的试样架放置在测角仪中心的样品架上 C、测量 在电脑软件控制中，打开测量控制程序，设定好实验参数。测量结束后，保存数据以待分析3、 物相鉴定（1） 打开Jade，读入衍射数据文件；（2） 鼠标右键点击S/M工具按钮，进入“Search/Match”对话界面; （3） 选择“Chemistry filter”，进入元素限定对话框，选中样品中的元素名称，然后点击OK返回对话框，再点击OK；（4） 从物相匹配表中选中样品中存在的物相。在所选定的物相名称上双击鼠标，显示PDF卡片，按下Save按钮，保存PDF卡片数据；（5） 如果样品存在多个物相，在主要相鉴定完成后，选择剩余峰(未鉴定的衍射
8、)，做“Search/Match”，直至全部物相鉴定出来。（6） 鼠标右键点击“打印机”图标，显示打印结果，按下“Save”按钮，输出物相鉴定结果。（7） 以同样的方法标定其它样品的物相,物相鉴定实验完成。 4、 物相定量分析（1） 在Jade窗口中，打开一个多相样品的衍射谱；（2） 完成多相样品的物相鉴定，物相鉴定时，选择有RIR值的PDF卡片；（3） 选择每个物相的主要未重叠的衍射峰进行拟合，求出衍射峰面积；（4） 选择菜单“Options|Easy Quantitative”，按绝热法计算样品中两相的重量百分数；（5） 按下“Save”按钮，保存定量分析结果，定量分析数据处理完成。 五、
9、 样品处理技术 X射线衍射分析的样品主要有粉末样品、块状样品、薄膜样品、纤维样品等。样品不同，分析目的不同（定性分析或定量分析），则样品制备方法也不同。1、 粉末样品 粉末样品应有一定的粒度要求，所以，通常将试样研细后使用，可用玛瑙研钵研细。定性分析时粒度应小于44微米(350目)，定量分析时应将试样研细至10微米左右。较方便地确定10微米粒度的方法是，用拇指和中指捏住少量粉末，并碾动，两手指间没有颗粒感觉的粒度大致为10微米。根据粉末的数量可压在玻璃制的通框或浅框中。压制时一般不加粘结剂，所加压力以使粉末样品粘牢为限，压力过大可能导致颗粒的择优取向。当粉末数量很少时，可在乎玻璃片上抹上一层凡
10、士林，再将粉末均匀撒上。 常用的粉末样品架为玻璃试样架，在玻璃板上蚀刻出试样填充区为2018平方毫米。玻璃样品架主要用于粉末试样较少时(约少于500立方毫米)使用。充填时，将试样粉末-点一点地放进试样填充区，重复这种操作，使粉末试样在试样架里均匀分布并用玻璃板压平实，要求试样面与玻璃表面齐平。如果试样的量少到不能充分填满试样填充区，可在玻璃试样架凹槽里先滴一薄层用醋酸戊酯稀释的火棉胶溶液，然后将粉末试样撒在上面，待干燥后测试。2、 块状样品 先将块状样品表面研磨抛光，大小不超过2018平方毫米,然后用橡皮泥将样品粘在铝样品支架上，要求样品表面与铝样品支架表面平齐。3、 微量样品 取微量样品放入
11、玛瑙研钵中将其研细，然后将研细的样品放在单晶硅样品支架上（切割单晶硅样品支架时使其表面不满足衍射条件），滴数滴无水乙醇使微量样品在单晶硅片上分散均匀，待乙醇完全挥发后即可测试。4、 薄膜样品 将薄膜样品剪成合适大小，用胶带纸粘在玻璃样品支架上即可。六、 注意事项（1） 理论上讲，只要PDF卡片足够全，任何未知物质都可以标定。但是实际上会出现很多困难。（2） 主要是试样衍射花样的误差和卡片的误差。例如，晶体存在择优取向时会使某根线条的强度异常强或弱；强度异常还会来自表面氧化物、硫化物的影响等等。（3） 粉末衍射卡片确实是一部很完备的衍射数据资料，可以作为物相鉴定的依据，但由于资料来源不一，而且并
12、不是所有资料都经过核对，因此存在不少错误。尤其是重校版之前的卡片更是如此。（4） 美国标准局（NBS）用衍射仪对卡片陆续进行校正，发行了更正的新卡片。所以，不同字头的同一物质卡片应以发行较晚的大字头卡片为准。 从经验上看，晶面间距d值比相对强度重要。（5） 待测物相的衍射数据与卡片上的衍射数据进行比较时，至少d值须相当符合，一般只能在小数点后第二位有分歧。（6） 由低角衍射线条测算的d值误差比高角线条要大些。较早的PDF卡片的实验数据有许多是用照相法测得的，德拜法用柱形样品，试样吸收所引起的低角位移要比高角线条大些；相对强度随实验条件而异，目测估计误差也较大。吸收因子与2角有关，所以强度对低角
13、线条的影响比高角线条大。（7） 而衍射仪法的吸收因子与2角无关，因此德拜法的低角衍射线条相对强度比衍射仪法要小多相混合物的衍射线条有可能有重叠现象，但低角线条与高角线条相比，其重叠机会较少。倘若一种相的某根衍射线条与另一相的某根衍射线重叠，而且重叠的线条又为衍射花样中的三强线之一，则分析工作就更为复杂。（8） 当混合物中某相的含量很少时，或某相各晶面反射能力很弱时，它的衍射线条可能难于显现，因此，X射线衍射分析只能肯定某相的存在，而不能确定某相的不存在。（9） 任何方法都有局限性,有时X射线衍射分析时往往要与其他方法配合才能得出正确结论.例如,合金钢中常常碰到的TiC、VC、ZrC、NbC及TiN都具有NaCl结构,点阵常数也比较接近,同时它们的点阵常数又因固溶其他合金元素而变化,在此情况下,单纯用X射线分析可能得出错误的结论,应与化学分析、电子探针分析等相配合。专心-专注-专业