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1、1QBMC.COM2統計製程管制的概念與做法管制圖的建立管制圖的判讀與異常處理製程能力分析量測系統的評估3人性層面0提高工廠士氣0激勵與維持品質的意願0品質目標的溝通目的0讓員工看見自己的生產品質4製造部門 品管部門 責任人員 管制要點 主管 組長 作業員 主管 工程師 巡檢稽核員 技術部門 查驗製程設定狀況與回饋 首件檢查 工程中自我管制 巡檢稽核 異常原因追查與糾正 5品保規範變更設計變更零件補救現場整修報廢停止生產恢復生產對策製造技術採購異常通知單現場檢討品質變異6分配二項分配(Binomial distribution)卜瓦松分配(Poisson distribution)常態分配(N
2、ormal distribution)說明假設製造過程中的不良率為p，則任意從產線中抽取n個產品，而發現不良品個數為x的機率將會服從二項分配的形態。一件產品中的瑕疵個數或是一片PCB上的不良焊點數x出現的機率將會服從卜瓦松分配的形態。自然界中常見的分配，其機率分布的形狀類似鐘，最主要的特徵是大多數的數據會集中在平均數附近，而極大與及小的數據很少。表示法B(n, p)P()N(, 2)平均數np變異數np(1-p) 2標準差)1 (pnp分配(distribution)：數值的分布狀況，用來綜觀數值的中心位置與集中趨勢之用7機遇原因0來自於潛在的自然變異0消除它們的成本很昂貴可歸屬原因0反應製程
3、的不穩定0統計製程管制最主要的目的就是要快速的偵測出製程中的可歸屬原因或是偏移的發生8為一種特殊的趨勢圖，它可以表現出產品特性的變化情形管制圖由三部份組成-管制界限(control limit)、中心線(center line)與樣本點分為計數值管制圖與計量值管制圖兩種類型。9妓 1510152025UCL 恨LCL 恨CL 絬恨妓翴10優點0計算簡單能夠同時對不同的品質特性做整體性的控制種類0p管制圖0np管制圖0c管制圖0u管制圖11p Chart; Mean:.023346 Sigma:.012637 n:142.8妓 瞯0.00000.023346.0612580.000.010.02
4、0.030.040.050.060.0712345678912np Chart; Mean:4.00000 Sigma:1.91833 n:50妓 计 0.000004.000009.7550002468101214124681013c Chart; Mean:20.0400 Sigma:4.47661妓 翴 计 6.6101820.040033.4698051015202530354045151015202514u Chart; Mean:0.700730 Sigma:0.184659 n:20.55妓 虫 翴计.146754.7007301.254710.00.20.40.60.81.01
5、.21.41510152015Rx Sx MRx特性0可以獲得較多的製程資訊0兩兩一組使用-同時作平均值的控制與變異的控制種類0 管制圖0 管制圖0 管制圖16Rx X-BAR Mean:74.0012 Proc. sigma:.009785 n:5妓 73.988074.001274.014373.9873.9974.0074.0174.021510152025Range Mean: .022760 Sigma:.008455 n:5妓 0.00000.022760.0481260.000.020.040.06151015202517Sx X-BAR Mean:74.0012 Proc. s
6、igma:.009830 n:5妓 73.988074.001274.014473.9873.9974.0074.0174.021510152025Std.Dev. Mean: .009240 Sigma:.003354 n:5妓 0.00000.009240.019302-0.0050.0020.0090.0160.023151015202518MRxX-BAR Mean:16.1052 Proc. sigma:.021048 n:1妓 16.042116.105216.168316.0216.0516.0816.1116.1416.1716.201510152025Moving Range
7、 Mean: .023750 Sigma:.017943 n:1妓 0.00000.023750.0775800.000.020.040.060.08151015202519決定資料形態樣本數是否大於10？資料為計算點數或量測值？樣本數是否為 1？樣本大小是否固定？樣本大小是否固定？使用 管制圖使用 管制圖計算不良數或缺點數？使用 管制圖使用 u 管制圖使用 p 管制圖使用 c 管制圖使用 np 管制圖是否否否計數值資料是是否計量值資料計算不良數（二項資料）計算缺點數（卜瓦松資料）是MRxSx Rx 20利用品質特性的發生機率來判斷是否有異常的狀況發生管制上下限與中心線0管制上下限為平均數上下
8、3個標準差範圍內幾乎會涵蓋所有可能發生的狀況超出管制界限範圍之外的狀況被視為異常0中心線-製程的平均品質水準。21計數值管制圖p管制圖np管制圖c管制圖u管制圖中 心 線(CL)ppncu管制上界(UCL)nppp13ppnpn13cc3nuu3管制下界(LCL)nppp13ppnpn13cc3nuu3若每組樣本的樣本數n不固定時，則採用n代替n每組的樣本大小n必須固定若每組樣本的樣本數n不固定時，則採用n代替n附註若若所所計計算算出出的的管管制制下下界界小小於於0時時，管管制制下下界界等等於於0Rx 管制圖Sx 管制圖MRx管制圖計量值管制圖x 管制圖R管制圖x 管制圖S管制圖x管制圖MR管
9、制圖中心線(CL)xRxSxMR管制上界(UCL)RAx2RD4SAx3SB42MR3dx MR4D管制下界(LCL)RAx2RD3SAx3SB32MR3dx MR3D附註A2、A3、B3、B4、D3、D4、d2的大小與每組的樣本數n有關22樣本編號 不良個數不良率1100.102150.153310.314180.185260.266120.127250.258150.15980.081080.08總計168 Accton終測製程，蒐集到10組樣本，每組100個，各組樣本不良個數如下，請繪製不良數管制圖23056. 0100)168. 01 (168. 03168. 0)1 (3LCL280
10、. 0100)168. 01 (168. 03168. 0)1 (3UCL168. 01000168CLnpppnpppp24p Chart; Mean:.168000 Sigma:.037387 n:100妓 絪 腹 计 .055840.168000.2801600.000.050.100.150.200.250.300.35124681025步驟一：選擇品質特性步驟二：選取合理樣本步驟三：蒐集數據步驟四：決定試用管制界限步驟五：建立修正後的管制界限步驟六：管制圖延續使用26是以試用管制界限與試用中心線繪製管制圖重新決定管制界限與中心線剔除由可歸屬原因所造成的樣本點利用管制界限對製程進行管制
11、是否有樣本點落在管制界限之外或是呈系統狀的排列？否27ABCCBAUCLLCLCL判斷失控的規則0樣本點落在管制界限之外0連續9點在同側的C區或C區之外28ABCCBAUCLLCLCLABCCBAUCLLCLCL0連續6點持續地上升或下降0連續11點交互一升一降29ABCCBAUCLLCLCLABCCBAUCLLCLCL0相連3點中有2點在同側的A區或A區之外0相連5點中有4點在同側的B區或B區之外30ABCCBAUCLLCLCLABCCBAUCLLCLCL0連續15點在中心線上下兩側的C區0有8點在中心線之兩側，但C區並無點子31製程變異型式意義原因修正動作趨勢、製程偏移1.機器設備性能衰退
12、2.作業員疲勞3.製具磨損4.原料或環境隨時間變動1. 修復機器設備或使用備用設備2. 與作業員討論以找出原因3. 作業員輪調4. 修復、校正製具5. 對原料的影響進行研究不穩定1. 原料品質大量變動2. 測試方法與設備的突然變動3. 混料1. 研究原料品質是否有很大的差異2. 評估測試程序3. 評估檢查的頻率與方法4. 作業員調整製程過度32製程變異型式意 義原因修 正 動 作循環1. 季節性效應2. 定期的作業員或設備輪調3. 作業員疲勞4. 定期保養5. 溫溼度的波動1. 若環境因素是可控制的，請調整2. 評估機器設備的保養方式3. 消除作業員或設備輪調的差異連串1. 新手上路2. 生產
13、方法或製程的變動3. 檢驗設備或方法的變更4. 原料來源的變動1. 維持固定來源的原料供應2. 量測方法的校正3. 檢查作業方式與操作說明4. 檢查設備的性能33製程變異型式意 義原因修 正 動 作管制界限有誤1. 管制界限計算錯誤2. 製程能力改善3. 員工未認真作記錄4. 樣本來自有極大差異的產品批中1. 檢查管制界限2. 檢查抽樣的方式3. 檢查記錄的程序4. 向向改改善善製製程程能能力力的的功功臣臣道道賀賀34何謂製程能力？0製造程序潛在精度的測定，以衡量加工的一致性0製程加工品質在一定因素與正常管制狀態下滿足技術標準的程度基本精神0將製程能力計量化0將測得的製程能力與品質要求作比較3
14、5設計部門可參考目前之製程能力，以設計出可製造的產品評估人員、設備、材料與工作方法的適當性根據規格公差設定設備的管制界限決定最經濟的作業方式36狀 況雙側規格M雙側規格M單側規格，只有上限要求單側規格，只有下限要求適用時機望目品質特性望目品質特性望小品質特性望大品質特性公 式6LSLUSLCp3,3minLSLxxUSLCpk3xUSLCp3LSLxCp備 註1. 使用Rx管制圖時，2dR2. 使用Sx 管制圖時，4cS3. 使用MRx管制圖時，2MRd37Cp值的範圍級別製程能力的評價對策63. 1pCI製程能力過高33. 163. 1pCII製程能力充分0 . 133. 1pCIII製程能
15、力尚可，但接近1.0時要注意67. 00 . 1pCIV製程能力不足，需要採取措施67. 0pCV製程能力嚴重不足，必要時停工整頓1. Cp值過高時 縮小規格 放寬製程變異 改用精度低的設備 簡化品質檢驗工作2. Cp值過小時 在不影響最終產品性能的基礎上放寬規格 分析加工精度低的原因，制定改進措施 採用精度更高的設備 加強品質檢驗工作3839q確認實驗之再現性不佳q再現性不佳之原因：0可加性差，所選因子有強烈交互作用0最佳條件所選之控制因子不足，可能遺漏其他極顯著之因子0因子水準距離太小，無法測得因子水準改變所造成之效果0每組實驗樣本數過小，造成實驗效果不準確，分析結果有誤差0所選之實驗機種
16、對製程條件變化較不敏感40q實驗目的0消除控制因子間之交互作用，以找出真正影響迴焊製程之因子0加大實驗樣本數，並以較高難度之產品進行實驗，以增加實驗結果之準確性0決定迴焊製程之最佳Thermal Profile41q實驗機種：EH3512Aq本次實驗固定抽風速度為慢速q實驗樣本數每批樣本大小為35片共需9*35=315片q實驗因子與水準因子R1斜率P3最高溫溫度183以上時間P1+P2時間Level 11.5/s21060 sec.130 sec.Level 22.0/s22070 sec.160 sec.Level 32.5/s23080 sec.190 sec.42q品質評量方式0外觀檢驗
17、以補焊記錄排除非迴焊爐因素後計算不良點數為望小特性0功能測試以MDA不良數決定功能測試之優劣為望小特性43q本次實驗共使用4個3水準因子，故使用L9(34)直交表實驗配置時間預估實驗編號R1斜率（/s）P3最高溫溫度（）183以上時間(sec.)P1+P2時間(sec.)t1(sec.)(130)t2(sec.)(170)t5(sec.)(170)11.5210601307013021421.5220701607015023831.5230801907017026542.0210701905317026452.0220801305313022862.0230601605315022572.52
18、10801604215025482.5220601904217024892.5230701304213021544不良數實驗編號外觀檢驗功能測試1002023014005006017008209004540901401902401.52.02.5210220230607080130160190Factor LevelS/N Ratio 外觀檢驗功能檢查總評價R1斜率（/s）P3最高溫溫度（）183以上時間(sec.)P1+P2時間(sec.)R1斜率（/s）P3最高溫溫度（）183以上時間(sec.)P1+P2時間(sec.)R1斜率P3最高溫溫度183以上時間P1+P2時間2.0/s2108
19、0 sec.130 sec.46最佳條件之S/ N 比預估值 不良率預估值外觀檢驗315.920 ppm功能檢查162.290%實驗結果S/N比外觀檢驗不良率：0 ppm400.00功能檢查不良率：0%200.00q預估最佳因子水準之S/N比q以最佳因子水準再次進行實驗，生產35個產品q所以：所選定之最佳因子水準組合之再現性優良47Standard Thermal Profile Bound255075100125150175200225250060120180240300Time (sec.)Temperature ()Best FitUpperLower48q風速由快調慢，降低 open
20、不良率q R1斜率由 3.9/s 降至 2.0/s，以降低短路不良率q P2時間由 120 秒減少至 80 秒，以增加焊錫性q考慮由原先 2 段 heater 拉昇熔錫區之溫度改為使用3 段 heater，尤其在大面積 PCB 板之製程q下次購買散熱風扇設備請考慮可調風速之風扇q下次購買迴焊爐時採購有附加冷卻設備之迴焊爐49q可加性差。所選因子有強烈交互作用q最佳條件所選之控制因子不足，可能遺漏其他極顯著之因子q每組實驗樣本數過小，造成實驗效果不準確，分析結果有誤差q所選之實驗機種對製程條件變化較不敏感5051全面性的品質q以教育為本持續改進q全體員工的共識5298OP051 Bar code
21、 reader 使用及操作技巧工廠全體員工2hrs利用停線時間進行莊惠安98OP052 新產品檢修訓練CSDI 員工2hrs9/1 15:0017:00R&D98OP053 網路相關知識簡介CSDI 員工2hrs10/1 15:0017:00R&D98QC001 QC七大手法 管制圖、魚骨圖、層別圖等品保單位講授3hrs (1)查檢表,柏拉圖,特性要因圖,散佈圖組長級以上幹部9/24 15:1517:15葉馨雅(2)管制圖,直方圖,層別法組長級以上幹部2hrs9/25 15:1517:1598QC002 品質政策組長級以上幹部 品質系統之介紹品保單位講授2hrs11/18 15:1517:15
22、彭俊洪98QC003 檢驗規範介紹組長級以上幹部2hrs10/7 15:1517:15彭俊洪98QC004 SPC的用法與基本精神組長級以上幹部2hrs9/2 15:1517:15葉馨雅98QC005 SPC基礎運用( f o r 產 線 )組長級以上幹部2hrs8/14 16:0017:008/29傳永鑫98QC007 SPC管制圖判讀之技巧組長級以上幹部2hrs11/5 15:1517:15葉馨雅98QC012 TQM工廠全體員工2hrs9/3 15:0017:00劉宗寶98QC013 8D組長級以上幹部2hrs9/30 15:1517:15林正茂98QC014 產品品質與每個人的關係組長
23、級以上幹部2hrs9/16 15:1517:15吳昆德98QC015 品質新觀點o r 5 S 與 品 質 之 關 係組長級以上幹部2hrs11/25 15:1517:15林永恭98CT001 工廠內部各系統之操作組長級以上幹部 BOM、工單系統. . 等教授與實作2hrs (1)QVL系列組長級以上幹部利用停線時間進行彭俊洪(2)標準工時系統與BOM系統組長級以上幹部利用停線時間進行IE98CT002 EXCEL組長級以上幹部 文書編輯、統計圖表、公式計算等教授與實作2hrs9/18 14:3017:00林立華98CT003 WORD組長級以上幹部 文書編輯 教授與實作2hrs10/9 14
24、:3017:00莊惠安98CT004 POWERPOINT課長級以上幹部 加強簡報之技巧教授與實作2hrs11/13 14:3017:00賴美君98CT005 PROJECT課長級以上幹部 利用工具有效的規劃工作教授與實作2hrs12/11 14:3017:00IE 生技 、IE 98CT006 網路概念10/2 15:1517:15梁勝能98CT007 PC基本故障排除有興趣之員工瞭解P C 故 障 之基本概念教授與實作2hrs12/4 14:3017:00江明誠98OT001 目標管理有興趣之員工目標管理之要領及步驟教授2hrs9/9 15:1517:15黃俊宏5398OT002 Shop
25、 Flow Information System 介紹有興趣之員工 教授2hrs9/23 15:1517:15IE98OT003 電子之基本概念有興趣之員工三用電表使用、產品功能面設計概念教授2hrs10/16 15:1517:15張俊隆98OT004 條碼系統及ID number之基本概念有興趣之員工 教授2hrs10/14 15:1517:15IE98OT005 ICT認識有興趣之員工ICT 之概念教授2hrs10/8 15:0017:00邱建榮98OT006 自動化認識有興趣之員工 教授2hrs12/16 15:1517:15 林永恭98OT008 如何閱讀財務報表有興趣之員工公司財務報
26、表之認識與分析教授2hrs 官秀珠98OT009 如何閱讀財務報表(成本面)有興趣之員工實際探討現場工作之情形教授2hrs10/12 16:0018:00官秀珠98OT012 問題之分析與對策2hrs 12/9 15:1517:15黃俊宏98OT013 製程管制與運用( P r o c e s s) (一)SMT製程2hrs 8/21 15:1517:159/2廖榮金(二)錫爐製程2hrs 7/29 17:0019:007/29黃俊宏98TE001 通識- - 筆 試試卷編號: I N -001檢定考試1hrs IE98TE002 備料- - 筆 試試卷編號: F K -001檢定考試1hrs
27、 IE98TE003 COPY IC-筆試試卷編號: I C -001檢定考試1hrs IE98TE004 SMT-筆試試卷編號: S M T-001檢定考試1hrs IE98TE005 插件- - 筆 試試卷編號: I N -001檢定考試1hrs IE98TE006 補焊- - 筆 試試卷編號: T U -001檢定考試1hrs IE98TE007 錫爐- - 筆 試試卷編號: S O -001檢定考試1hrs IE98TE008 ICT-筆試試卷編號: I C T-001檢定考試1hrs IE98TE010 測試- - 筆 試試卷編號: T S -001檢定考試1hrs IE98TE01
28、1 組立- - 筆 試試卷編號: A S -001檢定考試1hrs IE98TE012 包裝- - 筆 試試卷編號: P K -001檢定考試1hrs IE98TE016 目檢補焊- - 實作考 試全體直接員工試卷編號:檢定考試2hrs利用停線時間進行QA98TY001 成功經理人有興趣之員工錄影帶教學(0002)1hrs 98TY002 管理能力開發( 1 )有興趣之員工錄影帶教學(0003)1hrs 98TY003 管理能力開發( 2 )有興趣之員工錄影帶教學(0004)1hrs 54On GoingProductionMaterial ControlSPC for critical pa
29、rametersG R&RsSOPs & PMPsPM & calibrationFully automationECR/ECNData Collection &AnalysisSPC controlled itemsFrom in-coming to out-goingYields / DefectsShop Floor SystemRMATraceabilityQIPs &CAsIPQC AuditsQuality Improvement Meetings & QIPSystematic C/ALogs for open issues & continuous trackingConsultant / ITRI programsDOEsProduct developmentEffectivenessVerificationIPQC AuditCLCAClosed issues become training materials3rd party verificationsComprehensiveTraining ProgramSPCQuality ObjectivesPostmortemEmployee training manualCertification recordsSeeds