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1、会计学1材料测试材料测试(csh)技术技术2011第一页，共57页。粉末衍射法中采用耙材发射的单色粉末衍射法中采用耙材发射的单色K K系系X X射线作为入射线作为入射线，射线，“粉末粉末”可以为真正的粉末试样，也可以是多晶可以为真正的粉末试样，也可以是多晶体试样。体试样。粉末法可分为照相法和衍射仪法。粉末法可分为照相法和衍射仪法。照相法：德拜谢乐法照相法：德拜谢乐法(Debye-scherrer method)(Debye-scherrer method)；聚焦照相法聚焦照相法(focusing method)(focusing method)；针孔针孔(zhn k(zhn k n n)法法(
2、pinhole method).(pinhole method).所有的衍射法其衍射束均在以入射束为轴的反射圆所有的衍射法其衍射束均在以入射束为轴的反射圆锥上。各个圆锥均是由特定的晶面反射引起的，锥顶锥上。各个圆锥均是由特定的晶面反射引起的，锥顶角为该晶面布拉格角的角为该晶面布拉格角的4 4倍倍(4(4）。）。第1页/共57页第二页，共57页。4-2 4-2 粉末粉末粉末粉末(fnm)(fnm)照相法照相法照相法照相法一、德拜法及德拜相机(xingj)2180-2(a)X射线衍射线的空间分布(fnb)及成像原理(b)纯铝多晶体德拜像第2页/共57页第三页，共57页。相机的直径有两种：相机的直径
3、有两种：直径为直径为57.3mm57.3mm时，照片上每一毫米对应时，照片上每一毫米对应(duyng)(duyng)角度为角度为22直径为直径为114.6mm114.6mm时，照片上每一毫米对应时，照片上每一毫米对应(duyng)(duyng)角度为角度为11德拜相机(xingj)剖面(pumin)示意图第3页/共57页第四页，共57页。二、实验二、实验二、实验二、实验(shyn)(shyn)方法方法方法方法1.1.试样的制备试样的制备2.2.粉末颗粒大小在粉末颗粒大小在110-5110-51 10-3cm1 10-3cm。颗粒。颗粒太大，衍射线条不连续，颗粒太小，衍射线条变宽。太大，衍射线条
4、不连续，颗粒太小，衍射线条变宽。两相以上的合金粉末须反复过筛粉碎且混合均匀两相以上的合金粉末须反复过筛粉碎且混合均匀(jnyn)(jnyn)。机械粉碎的样品须充分退火消除内应力；。机械粉碎的样品须充分退火消除内应力；电解萃取获得的粉末要经过清洗和真空干燥。电解萃取获得的粉末要经过清洗和真空干燥。3.3.将粉末处理好之后，制成直径为将粉末处理好之后，制成直径为0.5mm0.5mm，长长10mm10mm左右的圆柱试样。左右的圆柱试样。第4页/共57页第五页，共57页。制备圆柱制备圆柱制备圆柱制备圆柱(yunzh)(yunzh)试样的方法：试样的方法：试样的方法：试样的方法：1）在很细的玻璃丝（最好
5、是硼酸锂铍玻璃丝）上涂一薄层胶水等粘接剂，然后在粉末(fnm)中滚动，做成粗细均匀的圆柱试样；2）将粉末(fnm)填充在硼酸锂铍玻璃、醋酸纤维（或硝酸纤维）或石英等制成的毛细管中制成所需尺寸的试样。其中石英毛细管可用于高温照相。3）将粉末(fnm)用胶水调好填入金属毛细管中，然后用金属细棒将粉末(fnm)推出23mm长，作为摄照试样，余下部分连同金属毛细管一起作为支承柱，以便往试样太上安装；4）金属细棒可以直接用来做试样。第5页/共57页第六页，共57页。2.底片(dpin)的安装该方法常用于物相分析(fnx)工作。该方法(fngf)可用于点阵常数的测量。不对称装方法可以校正由于底片收缩、试样
6、偏心以及相机半径不准确所产生的误差，适用于点阵常数的精确测量。正装法反装法不对称装法第6页/共57页第七页，共57页。3.3.摄照规程摄照规程摄照规程摄照规程(guchng)(guchng)的选择的选择的选择的选择阳极耙：阳极耙：Z Z耙耙ZZ试样试样+1+1（可减少非相干散射背（可减少非相干散射背底）底）滤波滤波(l(l b)b)片：片：当当Z Z耙耙4040时，则时，则Z Z滤滤Z Z耙耙-1-1 当当Z Z耙耙4040时，则时，则Z Z滤滤Z Z耙耙-2-2管压：为阳极元素管压：为阳极元素K K系临界激发电压的系临界激发电压的3 35 5倍倍工作管流：工作管流：WW额定额定/U/U管管曝
7、光时间：通过实验确定。曝光时间：通过实验确定。第7页/共57页第八页，共57页。4.4.衍射花样的测量衍射花样的测量衍射花样的测量衍射花样的测量(cling)(cling)和计算和计算和计算和计算因为为已知，所以(suy)可以用 ，求d。注意：L(或者(huzh)L)为衍射圆弧对的最大间距。第8页/共57页第九页，共57页。5.5.衍射衍射衍射衍射(y(y nsh)nsh)花样的指数化花样的指数化花样的指数化花样的指数化 衍射花样指数化就是确定每对衍射圆环所对应的干涉指数。不同(b tn)晶系的指数化不是相同的，现以立方晶系为例介绍指数化的方法。将代入得令 把全部的干涉指数hkl按h2+k2+
8、l2由小到大的顺序排列，并考虑系统消光(xio un)就得到下列结果：第9页/共57页第十页，共57页。立方晶系的干涉立方晶系的干涉(gnsh)指数（指数（hkl）的）的N第10页/共57页第十一页，共57页。把立方晶系全部的干涉指数(zhsh)hkl按h2+k2+l2由小到大的顺序排列，并考虑系统消光就得到下列结果：第11页/共57页第十二页，共57页。单独从表单独从表单独从表单独从表4-14-1中前中前中前中前6 6条衍射线是不能区分简单立方和体心立条衍射线是不能区分简单立方和体心立条衍射线是不能区分简单立方和体心立条衍射线是不能区分简单立方和体心立方的花样，因此需要方的花样，因此需要方的
9、花样，因此需要方的花样，因此需要(xyo)(xyo)更多的衍射线以及它们的相对强更多的衍射线以及它们的相对强更多的衍射线以及它们的相对强更多的衍射线以及它们的相对强度来比较。度来比较。度来比较。度来比较。德拜法相对(xingdu)强度为：则对同一条(y tio)衍射线其相对强度为：简单立方所有干涉面的F2f2体心立方所有干涉面的F24f2因为所以，对同一试样同一衍射线可令由于45附近值接近，因此I相对取决于P。第12页/共57页第十三页，共57页。将简单立方(lfng)和体心立方(lfng)的hkl、N的比值、I相对列表如下：衍射衍射线的线的序号序号简单立方简单立方体心立方体心立方hklNi/
10、N1I相对相对hklNi/N1I相对相对1100161110112121102122200262311138321132434200464220412452105485310548562116246222686第13页/共57页第十四页，共57页。若若若若K K系特征系特征系特征系特征(tzhng)X(tzhng)X射线未经过滤，则每一族反射面将射线未经过滤，则每一族反射面将射线未经过滤，则每一族反射面将射线未经过滤，则每一族反射面将产生产生产生产生KK、KK两条衍射线。两条衍射线。两条衍射线。两条衍射线。识别识别KK、KK两条衍射线的依据为：两条衍射线的依据为：1 1）根据布拉格方程，）根据
11、布拉格方程，sinsin与波长成正比，由于与波长成正比，由于KK的波长比的波长比KK短，短，小于小于并且并且(bngqi)K(bngqi)K和和KK之间存在如下的固定之间存在如下的固定关系：关系：2 2）入射线中）入射线中KK的强度比的强度比KK大大3 35 5倍，因此，在衍射花样中的倍，因此，在衍射花样中的KK线的强度也比线的强度也比KK大得多。这一点是鉴别大得多。这一点是鉴别KK和和KK的重要的重要参考依据。参考依据。第14页/共57页第十五页，共57页。三、相机三、相机三、相机三、相机(xingj)(xingj)的分辨本领的分辨本领的分辨本领的分辨本领 照相机的分辨本领（）可用衍射花样中
12、两条相邻线条的分离(fnl)程度来表征：或者(huzh)将和代入上式得（4-6）（4-7）第15页/共57页第十六页，共57页。影响影响影响影响(y(y ngxingxi ng)ng)分辨本领的因素：分辨本领的因素：分辨本领的因素：分辨本领的因素：1 1）相机半径）相机半径R R越大，分辨本领越高。但是单位衍射圆弧越大，分辨本领越高。但是单位衍射圆弧上的强度降低，曝光时间延长，由空气散射引起的上的强度降低，曝光时间延长，由空气散射引起的背影增加。背影增加。2 2）角越大，分辨本领越高。高角度线条的角越大，分辨本领越高。高角度线条的K1K1和和K2K2双双线可明显分开。线可明显分开。3 3）X
13、X射线的波长射线的波长(bchng)(bchng)越长，分辨本领越高。越长，分辨本领越高。4 4）面间距越大，分辨本领越低。）面间距越大，分辨本领越低。第16页/共57页第十七页，共57页。42 X射线衍射射线衍射(ynsh)仪仪n nX X射线衍射仪是按着晶体对射线衍射仪是按着晶体对X X射线衍射的几何射线衍射的几何(j(j h)h)原理设计制造的衍射实验仪器。原理设计制造的衍射实验仪器。n n19121912年布拉格最先使用电离室探测年布拉格最先使用电离室探测X X射线信息的射线信息的装置，即最原始的装置，即最原始的X X射线衍射仪。射线衍射仪。n n19431943年弗里德曼年弗里德曼(
14、H.Fridman)(H.Fridman)设计出近代设计出近代X X射线衍射线衍射仪。射仪。n n5050年代年代X X射线衍射仪得到了普及应用。射线衍射仪得到了普及应用。n n随着科学技术的发展，衍射仪向高稳定、高分随着科学技术的发展，衍射仪向高稳定、高分辨、多功能、全自动的联合组机方向发展。辨、多功能、全自动的联合组机方向发展。第17页/共57页第十八页，共57页。衍射(ynsh)与照相粉末图比较 第18页/共57页第十九页，共57页。德拜相机德拜相机衍射衍射(ynsh)仪器仪器须解决几个技术问题：1)X射线接收装置计数管；2）衍射强度必须加大，为此可使用平板试样；3）相同的(hkl)晶面
15、是全方位散射的，所以要聚焦；4）计数管的移动要满足布拉格条件(tiojin)。这些问题的解决关键是由几个机构来实现：1）X射线测角仪解决聚焦和测量角度的问题；2）辐射探测仪解决记录和分析衍射线能量问题。第19页/共57页第二十页，共57页。n n1.X射线发生器；n n2.衍射(ynsh)测角仪；n n3.辐射探测器；n n4.测量电路；n n5.控制操作和运行软件的电子计算机系统。一、X射线仪的基本(jbn)组成第20页/共57页第二十一页，共57页。1.1.测角仪的构造测角仪的构造测角仪的构造测角仪的构造(guzo)(guzo)H样品台；SX射线源；F接收狭缝(xi fn)光阑；G计数管；
16、A、B平行光阑。若使用滤波片，则放置在衍射光路上。2模式：以S为参照，试样转动，计数管转动2 第21页/共57页第二十二页，共57页。2.2.测角仪的衍射测角仪的衍射测角仪的衍射测角仪的衍射(y(y nsh)nsh)几何几何几何几何图4-7 测角仪的聚焦(jjio)几何1测角圆；2聚焦(jjio)圆 衍射几何的关键是一方面要满足布拉格条件，另一方面要满足衍射线的聚焦条件。理想上试样是弯曲的。对于粉末多晶体试样，在任何方位上总会有一些(hkl)晶面满足布拉格方程产生反射，而且反射是向四面八方(s min b fng)的，但是，那些平行试样表面的(hkl)晶面满足入射束反射束此时反射线与入射线的夹
17、角为-2，(-2)为聚焦圆的圆周角。由图可知，试样不同部位的平行表面的(hkl)的反射线都能汇聚到F点。第22页/共57页第二十三页，共57页。测角仪的衍射测角仪的衍射测角仪的衍射测角仪的衍射(y(y nsh)nsh)几何几何几何几何n n按按Bragg-BrentanoBragg-Brentano聚焦原理，聚焦原理，图中除图中除X X射线管焦点射线管焦点S S之外，之外，聚焦圆与测角仪只能有一聚焦圆与测角仪只能有一点相交点相交(xingjio)(xingjio)。n n聚焦圆半径聚焦圆半径r r与与 角关系为：角关系为：第23页/共57页第二十四页，共57页。r采用平板试样，为保持试样表面始
18、终(shzhng)与聚焦圆相切，当计算器处于2位置时，试样表面与入射线的掠射角应为。第24页/共57页第二十五页，共57页。3.3.测角仪的光学测角仪的光学测角仪的光学测角仪的光学(gungxu)(gungxu)布置布置布置布置 梭拉光阑S1、S2是一组互相平行(pngxng)、间隔很密的重金属（Ta或Mo）薄片组成，挡住垂直面上的X射线发散。a：控制平行面上发散(fsn)b：控制照射面积第25页/共57页第二十六页，共57页。通常用于X射线衍射仪的辐射探测器：1）正比计算器2）盖革计算器3）闪烁(shn shu)计算器4）锂漂移硅检测器四、X射线辐射(fsh)探测器第26页/共57页第二十七
19、页，共57页。X X射线探测器的工作射线探测器的工作射线探测器的工作射线探测器的工作(gngzu)(gngzu)原理原理原理原理1.正比计数器和盖革计数器都是以气体电离为基础。利用“雪崩效应”进行信息(xnx)放大。第27页/共57页第二十八页，共57页。正比正比(zhngb)计数器的工作计数器的工作原理原理n n正比计数器以辐射光子(gungz)对气体电离为基础。n n当一个X射线光子(gungz)进入计数器时，使气体电离，在电场作用下，电离后的电子和正离子分别向两极运动，电子运动过程中获更高的动能，引起气体分子进一步的电离，产生大量的电子涌到阳极，发生一次电子“雪崩效应”。第28页/共57
20、页第二十九页，共57页。n n经过气体的放大作用，每当有一个光子进入计数器时，就产生一次电子雪崩，在计数器两极间就有一个易于探测的电脉冲通过。n n在电压一定时，正比计数器所产生的电脉冲值与被吸收的光子能量(nngling)呈正比。n n正比计数器是一种高速计数器，它能分辨输入率高达 的分离脉冲。第29页/共57页第三十页，共57页。正比计数器所产生的脉冲大小与吸收的X射线光子的能量成正比。死时间很小。盖革计数器的信息(xnx)放大作用强，但是死时间很大，漏计概率大，因此须采用多室盖革计数器。第30页/共57页第三十一页，共57页。2.2.闪烁闪烁闪烁闪烁(sh(sh n shu)n shu)
21、计数器计数器计数器计数器 利用X射线激发某种物质产生可见荧光，荧光的多少(dusho)与X射线强度成正比。一般用少量（约0.5）铊活化的碘化钠单晶体作发光物质。闪烁计数器可在高达105脉冲/s的速率下使用，效率接近100，不会有漏计损失，但是闪烁计数器的主要缺点是本底脉冲过高。常用循环水冷却。3.锂漂移硅检测器 为原子固体探测器，又叫Si(Li)检测器。其优点：分辨本领高、分析速度快、检测效率100，无漏计损失，但是须用液氮冷却和超高真空。第31页/共57页第三十二页，共57页。4.4.三种三种三种三种(sn zh(sn zh n n)计数器的脉冲分布计数器的脉冲分布计数器的脉冲分布计数器的脉
22、冲分布第32页/共57页第三十三页，共57页。三、三、三、三、X X射线测量中的主要射线测量中的主要射线测量中的主要射线测量中的主要(zh(zh yo)yo)电路电路电路电路 1.1.定标器及计数定标器及计数(j sh)(j sh)统计统计 定标器测量平均脉冲速率有两种方法：1）定时计数法 2）定数计数法 由于误差取决于所测定(cdng)的脉冲数目，定数计数法不管采用高速率或者底速率，其误差相同，因此定数计数法比定时计数法更为合理。第33页/共57页第三十四页，共57页。n n2.计数率仪n n 计数和计时的组合，是一种能够连续测量平均脉冲计数速率的装置。计数率仪的作用就是(jish)将不规则
23、的脉冲通过一个特殊的电路变成平缓的稳定电流，电流的大小和计数管内发生的脉冲平均发生率成正比。n n 计数率仪的核心部分是电阻R和电容器C组成的积分电路。时间常数=RC，RC越大滞后越严重，但对输入脉冲的平均性越强。第34页/共57页第三十五页，共57页。4-4 4-4 衍射衍射衍射衍射(y(y nsh)nsh)仪的测量方法与实仪的测量方法与实仪的测量方法与实仪的测量方法与实验参数验参数验参数验参数一、计数(j sh)测量方法1.连续(linx)扫描法：计数器（计数率仪）从2角的初始值向2角增大的方向连续(linx)扫描，所得谱线如右图第35页/共57页第三十六页，共57页。2.2.阶梯阶梯阶梯
24、阶梯(jit)(jit)扫描法扫描法扫描法扫描法 这种方法是将计数器（定标器）转到一定的角度不动，测出计数率后再转动(zhun dng)微小角度重复测量。第36页/共57页第三十七页，共57页。二、实验参数二、实验参数二、实验参数二、实验参数(cnsh)(cnsh)的选择的选择的选择的选择1.1.狭缝狭缝(xi fn(xi fn)光阑的选择光阑的选择 梭拉光阑对每台仪器是固定的，衍射(ynsh)工作者要选择的是发散光阑、接受光阑和防寄生散射光阑。发散光阑决定入射线在试样的照射面积和强度，其大小选择以最小的2角时照射面积不能超出试样表面为参照。接收光阑对衍射线的峰高度、峰-背景比以及峰的积分强度
25、都有明显的影响。大的光阑可增加强度但也增加背底，因此降低了峰-背景比；小的光阑可提高分辨率。防寄生散射光阑只影响峰-背景比，一般选用与发散光阑相同的角宽度。第37页/共57页第三十八页，共57页。2.2.时间常数时间常数时间常数时间常数(sh jin chn(sh jin chn sh)sh)的选择的选择的选择的选择停留(tngli)3min小中大v 一定(ydng)（2/min)时间常数RC增加，峰高下降，线形不对称，峰顶向扫描方向移动。第38页/共57页第三十九页，共57页。3.3.3.3.扫描速度扫描速度扫描速度扫描速度(sd)(sd)(sd)(sd)的选择的选择的选择的选择 随扫描速度
26、加快，同样(tngyng)导致峰高下降，线形变形，峰顶向扫描方向移动，因此选用小的扫描速度。普遍规律是：时间常数接收光阑的时间宽度Wt的一半。Wt=60r/wr接收狭缝(xi fn)的角宽度（度）w扫描速度（度/分）第39页/共57页第四十页，共57页。结论结论结论结论(jiln)(jiln)：1 1）为了提高分辨本领必须选用低速扫描和较小的接收狭缝；）为了提高分辨本领必须选用低速扫描和较小的接收狭缝；2 2）要想使强度）要想使强度(qingd)(qingd)测量有最大的精确度，就应当选用低速扫描和中测量有最大的精确度，就应当选用低速扫描和中等接收狭缝。等接收狭缝。不同目的的不同目的的X X射
27、线衍射实验条件请参照射线衍射实验条件请参照P70P70上的表上的表4-44-4。第40页/共57页第四十一页，共57页。4-5 4-5 点阵常数点阵常数点阵常数点阵常数(chngsh)(chngsh)的精确测定的精确测定的精确测定的精确测定 为什么要进行点阵常数的精确测量呢？因为固溶体的晶格常数随溶质的浓度而变化，可以根据晶格常数来确定某溶质的含量。晶体(jngt)的热膨胀系数也可以用高温相机通过测定晶格常数来确定；物质的内应力可以造成晶格的伸长或者压缩，也可以用测定点阵常数来确定。另外，在金属材料的研究中，还常常需要通过点阵常数的测定来研究相变过程、晶体(jngt)缺陷等等。可是，金属和合金
28、在这些过程中所引起的点阵常数的变化往往是很小的（约10-5nm数量级），这就需要对点阵常数进行精确的测定。第41页/共57页第四十二页，共57页。第42页/共57页第四十三页，共57页。二、德拜二、德拜二、德拜二、德拜-谢乐法中的误差谢乐法中的误差谢乐法中的误差谢乐法中的误差(wch)(wch)的来源的来源的来源的来源1)1)相机半径误差；2)2)底片收缩（或伸长）误差；3)3)试样偏心(pinxn)误差；4)4)试样对X射线的吸收误差；5)5)X射线折射误差。第43页/共57页第四十四页，共57页。1.1.相机相机相机相机(xingj)(xingj)半径误差半径误差半径误差半径误差2.底片收
29、缩(shu su)误差合并(hbng)得 实验中采用不对称装片法或反装片法可将底片收缩误差降低第44页/共57页第四十五页，共57页。3.3.试样偏心试样偏心试样偏心试样偏心(pinxn)(pinxn)误差误差误差误差垂直偏差 使衍射线对位置的变化为AC、BD，S变化微小，误差(wch)可忽略造成(zo chn)的误差为：第45页/共57页第四十六页，共57页。4.4.吸收吸收吸收吸收(xshu)(xshu)误差误差误差误差 是误差的最大来源，很难准确是误差的最大来源，很难准确(zh(zh nqu)nqu)计算，近似相当于计算，近似相当于试样水平偏离所造成的误差。试样水平偏离所造成的误差。5.
30、X射线折射(zhsh)误差 同可见光一样，X射线从一种介质进入另一种介质时产生折射现象（折射率非常接近于1），布拉格方程中未加以考虑，但是在高精度测量时，须进行折射修正：对立方晶系，其点阵常数的折射校正公式近似为：第46页/共57页第四十七页，共57页。三、德拜谢乐法的误差校正三、德拜谢乐法的误差校正三、德拜谢乐法的误差校正三、德拜谢乐法的误差校正(jiozhng)(jiozhng)方方方方法法法法1.1.采用采用(c(c iyng)iyng)精密实验技术精密实验技术（1）采用不对称装片法以消除由于底片收缩和相机半径不精确所产生的误差；（2）将试样高精度地对准相机中心，以消除试样偏心所造成的误
31、差；（3）为了(wi le)消除因试样吸收所产生的衍射线位移，可采取利用背射衍射线和减小试样直径等措施；（4）采用半径大的相机和精确的测量工具；（5）在曝光期间，整个相机的温度变化保持在0.01以内。第47页/共57页第四十八页，共57页。2.2.数学处理数学处理数学处理数学处理(ch(ch l l)方法：方法：方法：方法：可分为可分为(fn wi)(fn wi)图解外推法和最小二乘法。图解外推法和最小二乘法。（1）图解(tji)外推法又则第48页/共57页第四十九页，共57页。由上式得出：面间距由上式得出：面间距由上式得出：面间距由上式得出：面间距(jin j)d(jin j)d的相对误差和
32、的相对误差和的相对误差和的相对误差和 成正比，成正比，成正比，成正比，当当当当 趋于零时，综合误差即趋近于零。趋于零时，综合误差即趋近于零。趋于零时，综合误差即趋近于零。趋于零时，综合误差即趋近于零。例如(lr)：对立方晶系，右图表示用图解(tji)外推法测得的高纯铅的真实点阵常数为4.9506。使用注意：1）在6090之间有数目多、分布均匀的衍射线；2）至少有一条很可靠的衍射线在80以上；3）角测量精度达到0.01。第49页/共57页第五十页，共57页。（2 2）最小二乘法）最小二乘法）最小二乘法）最小二乘法(chngf(chngf)图解外推法的精度取决于画最佳直线的技巧，其规则为不同的画法
33、(hu f)其结果存在不同误差，如图。因此要准确地确定直线的位置，就要使各测量(cling)值的误差平方和最小，即该方程式就是最小二乘法的基本公式。第50页/共57页第五十一页，共57页。4-6 4-6 衍射仪实验衍射仪实验衍射仪实验衍射仪实验(shyn)(shyn)中的误差来源中的误差来源中的误差来源中的误差来源 试样高度(god)不正确造成的误差第51页/共57页第五十二页，共57页。第52页/共57页第五十三页，共57页。第53页/共57页第五十四页，共57页。第54页/共57页第五十五页，共57页。第55页/共57页第五十六页，共57页。第四章的重点第四章的重点第四章的重点第四章的重点
34、(zhngdi(zhngdi n)n)1 1）德拜法实验中试样的制备；）德拜法实验中试样的制备；2 2）衍射花样的测量和计算；）衍射花样的测量和计算；3 3）衍射花样的指数化；）衍射花样的指数化；4 4）影响德拜相机的分辨本领的因素；）影响德拜相机的分辨本领的因素；5 5）衍射仪实验中衍射花样来自哪里？）衍射仪实验中衍射花样来自哪里？6 6）什么是）什么是“-2”“-2”衍射模式？衍射模式？7 7）衍射仪的发散光阑、接收光阑、防寄生散射光阑、）衍射仪的发散光阑、接收光阑、防寄生散射光阑、梭拉光阑的作用？梭拉光阑的作用？8 8）实验参数的选择；）实验参数的选择；9 9）点阵常数）点阵常数(chngsh)(chngsh)测量中的误差来源及校正方法。测量中的误差来源及校正方法。第56页/共57页第五十七页，共57页。