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1、会计学1无损检测最终无损检测最终超声波探伤实验超声波探伤实验超声波探伤实验超声波探伤实验 超声波探伤是产品质量检验的一项重要技术。它具超声波探伤是产品质量检验的一项重要技术。它具超声波探伤是产品质量检验的一项重要技术。它具超声波探伤是产品质量检验的一项重要技术。它具有如下优点：灵敏度高，设备轻巧、操作方便、探测速有如下优点：灵敏度高，设备轻巧、操作方便、探测速有如下优点：灵敏度高，设备轻巧、操作方便、探测速有如下优点：灵敏度高，设备轻巧、操作方便、探测速度快、成本低、对人体无害等。故被广泛应用。度快、成本低、对人体无害等。故被广泛应用。度快、成本低、对人体无害等。故被广泛应用。度快、成本低、对
2、人体无害等。故被广泛应用。本次本次本次本次探伤探伤探伤探伤试验中试验中试验中试验中采用压电法来产生超声波采用压电法来产生超声波采用压电法来产生超声波采用压电法来产生超声波，压电法压电法压电法压电法是利用压电晶体来产生超声波的是利用压电晶体来产生超声波的是利用压电晶体来产生超声波的是利用压电晶体来产生超声波的。另外本次试验采用另外本次试验采用另外本次试验采用另外本次试验采用“单收发单收发单收发单收发”模式模式模式模式，即即即即探伤时是使探伤时是使探伤时是使探伤时是使用一个探头，这个探头同时起接收和发射超声波作用。用一个探头，这个探头同时起接收和发射超声波作用。用一个探头，这个探头同时起接收和发射
3、超声波作用。用一个探头，这个探头同时起接收和发射超声波作用。第1页/共18页仪器简介仪器简介仪器简介仪器简介实验仪器及用具实验仪器及用具实验仪器及用具实验仪器及用具 CTS CTS22A22A型超深波探伤仪；型超深波探伤仪；型超深波探伤仪；型超深波探伤仪；CSK CSKIA IA、CSKCSKIIAIIA型标准试块；型标准试块；型标准试块；型标准试块；直探头直探头直探头直探头2.5Z20N2.5Z20N、斜探头、斜探头、斜探头、斜探头2.5Z102.5Z10 10 A6010 A60标准回波探标准回波探标准回波探标准回波探头头头头BHBH5050；耦合剂耦合剂耦合剂耦合剂；游标卡尺。游标卡尺。
4、游标卡尺。游标卡尺。第2页/共18页仪器的调节与使用仪器的调节与使用仪器的调节与使用仪器的调节与使用 CTS CTS22A22A型超声探伤仪系携带式型超声探伤仪系携带式型超声探伤仪系携带式型超声探伤仪系携带式A A型脉冲反射式超声型脉冲反射式超声型脉冲反射式超声型脉冲反射式超声探伤仪器，可用交流或电池供电工作。探伤仪器，可用交流或电池供电工作。探伤仪器，可用交流或电池供电工作。探伤仪器，可用交流或电池供电工作。本仪器采用高性能器件和高亮度内刻度示波管，本仪器采用高性能器件和高亮度内刻度示波管，本仪器采用高性能器件和高亮度内刻度示波管，本仪器采用高性能器件和高亮度内刻度示波管，具有具有具有具有工
5、作频率范围宽，探伤灵敏度高，稳定性好，显示波形清工作频率范围宽，探伤灵敏度高，稳定性好，显示波形清工作频率范围宽，探伤灵敏度高，稳定性好，显示波形清工作频率范围宽，探伤灵敏度高，稳定性好，显示波形清晰和小型、省电、方便等特点晰和小型、省电、方便等特点晰和小型、省电、方便等特点晰和小型、省电、方便等特点。仪器可用于金属和部分非金属材料的超声无损检测，仪器可用于金属和部分非金属材料的超声无损检测，仪器可用于金属和部分非金属材料的超声无损检测，仪器可用于金属和部分非金属材料的超声无损检测，尤其适用于流动性大的野外或高架空探伤作业。尤其适用于流动性大的野外或高架空探伤作业。尤其适用于流动性大的野外或高
6、架空探伤作业。尤其适用于流动性大的野外或高架空探伤作业。仪器面板图及旋钮说明仪器面板图及旋钮说明仪器面板图及旋钮说明仪器面板图及旋钮说明如如如如图图图图3-1 CTS3-1 CTS22A 22A 面板图面板图面板图面板图第3页/共18页影响探伤波形的因素及缺陷大小、位置、性质的判断影响探伤波形的因素及缺陷大小、位置、性质的判断影响探伤波形的因素及缺陷大小、位置、性质的判断影响探伤波形的因素及缺陷大小、位置、性质的判断一、一、一、一、耦合剂的影响耦合剂的影响耦合剂的影响耦合剂的影响 耦合剂的耦合剂的耦合剂的耦合剂的作用是将超声波导入工件作用是将超声波导入工件作用是将超声波导入工件作用是将超声波导
7、入工件，一般采用液体。它的声阻，一般采用液体。它的声阻，一般采用液体。它的声阻，一般采用液体。它的声阻应与工件的声阻相同或接近，以获得最大的入射能量。应与工件的声阻相同或接近，以获得最大的入射能量。应与工件的声阻相同或接近，以获得最大的入射能量。应与工件的声阻相同或接近，以获得最大的入射能量。二、二、二、二、工件的影响工件的影响工件的影响工件的影响 工件表面光洁度的影响工件表面光洁度的影响工件表面光洁度的影响工件表面光洁度的影响 工件表面光洁度愈高，探头与工件接工件表面光洁度愈高，探头与工件接工件表面光洁度愈高，探头与工件接工件表面光洁度愈高，探头与工件接触愈好，声波导入工件的能量多触愈好，声
8、波导入工件的能量多触愈好，声波导入工件的能量多触愈好，声波导入工件的能量多。因此高的表面光洁度对声波耦。因此高的表面光洁度对声波耦。因此高的表面光洁度对声波耦。因此高的表面光洁度对声波耦合有利。合有利。合有利。合有利。工件内部组织及化学成分的影响工件内部组织及化学成分的影响工件内部组织及化学成分的影响工件内部组织及化学成分的影响，不同工件组织对超声的能量不同工件组织对超声的能量不同工件组织对超声的能量不同工件组织对超声的能量衰减是不同的衰减是不同的衰减是不同的衰减是不同的。（。（。（。（在钢中在钢中在钢中在钢中与与与与铸铁中铸铁中铸铁中铸铁中的区别的区别的区别的区别）工件形状的影响工件形状的影
9、响工件形状的影响工件形状的影响，图图图图2-182-18与与与与2-192-19。第4页/共18页缺陷存在情况的影响缺陷存在情况的影响缺陷存在情况的影响缺陷存在情况的影响 缺陷的位置缺陷的位置缺陷的位置缺陷的位置，同一缺陷，由于离探测面的距离不同同一缺陷，由于离探测面的距离不同同一缺陷，由于离探测面的距离不同同一缺陷，由于离探测面的距离不同，缺陷波高度与缺陷波高度与缺陷波高度与缺陷波高度与缺陷大小的关系缺陷大小的关系缺陷大小的关系缺陷大小的关系变化如变化如变化如变化如图图图图2-222-22 缺陷大小缺陷大小缺陷大小缺陷大小，在相同的埋藏深度，不同的缺陷大小时在相同的埋藏深度，不同的缺陷大小时
10、在相同的埋藏深度，不同的缺陷大小时在相同的埋藏深度，不同的缺陷大小时,缺陷波的高度变缺陷波的高度变缺陷波的高度变缺陷波的高度变化化化化也有所差异。也有所差异。也有所差异。也有所差异。缺陷形状的影响缺陷形状的影响缺陷形状的影响缺陷形状的影响 缺陷性质的影响缺陷性质的影响缺陷性质的影响缺陷性质的影响 缺陷与声束的相对方向缺陷与声束的相对方向缺陷与声束的相对方向缺陷与声束的相对方向 缺陷表面的粗糙程度缺陷表面的粗糙程度缺陷表面的粗糙程度缺陷表面的粗糙程度 缺陷的指向性缺陷的指向性缺陷的指向性缺陷的指向性 第5页/共18页实验内容实验内容实验内容实验内容一、试件尺寸测量试件一、试件尺寸测量试件一、试件
11、尺寸测量试件一、试件尺寸测量试件1(CSK-A)1(CSK-A)宽与高的测量宽与高的测量宽与高的测量宽与高的测量 对比于游标卡尺的测量结果，进行误差分析对比于游标卡尺的测量结果，进行误差分析对比于游标卡尺的测量结果，进行误差分析对比于游标卡尺的测量结果，进行误差分析二、测量试件二、测量试件二、测量试件二、测量试件1 1上缺陷的位置上缺陷的位置上缺陷的位置上缺陷的位置三、试件三、试件三、试件三、试件2(CSK-A)2(CSK-A)上两个圆弧半径的测量上两个圆弧半径的测量上两个圆弧半径的测量上两个圆弧半径的测量 在试件在试件在试件在试件2 2上，利用斜探头，通过仪表上波上，利用斜探头，通过仪表上波
12、上，利用斜探头，通过仪表上波上，利用斜探头，通过仪表上波 程结果的记程结果的记程结果的记程结果的记录，直接读出半径大小。录，直接读出半径大小。录，直接读出半径大小。录，直接读出半径大小。四、四、四、四、薄件衰减系数的测定薄件衰减系数的测定薄件衰减系数的测定薄件衰减系数的测定（试件（试件（试件（试件2 2）了解了解了解了解第6页/共18页试件宽高的测量试件宽高的测量试件宽高的测量试件宽高的测量 利用直探头利用直探头利用直探头利用直探头 耦合剂耦合剂耦合剂耦合剂 始波始波始波始波 底波底波底波底波 距离距离距离距离a a（宽、高）（宽、高）（宽、高）（宽、高）第7页/共18页厚度测量波程图厚度测量
13、波程图厚度测量波程图厚度测量波程图第8页/共18页试件试件试件试件缺陷的位置的确定缺陷的位置的确定缺陷的位置的确定缺陷的位置的确定 确定缺陷位置必须解决缺陷在探测面上的投影位置确定缺陷位置必须解决缺陷在探测面上的投影位置确定缺陷位置必须解决缺陷在探测面上的投影位置确定缺陷位置必须解决缺陷在探测面上的投影位置(即即即即X X、Y Y方向的数值方向的数值方向的数值方向的数值)以及缺陷存在的深度以及缺陷存在的深度以及缺陷存在的深度以及缺陷存在的深度(即即即即Z Z方向上方向上方向上方向上的数值的数值的数值的数值)，如图所示。，如图所示。，如图所示。，如图所示。探测表面探测表面探测表面探测表面 Y Y
14、 X X 缺陷缺陷缺陷缺陷 Z Z第9页/共18页缺陷的位置，大小和性质的确定缺陷的位置，大小和性质的确定缺陷的位置，大小和性质的确定缺陷的位置，大小和性质的确定 直探头直探头直探头直探头 斜探头斜探头斜探头斜探头 h=s L h=S*cosr h=s L h=S*cosr 入射角入射角r r S SSS第10页/共18页缺陷位置测量波程图（直探头）缺陷位置测量波程图（直探头）缺陷位置测量波程图（直探头）缺陷位置测量波程图（直探头）第11页/共18页试件试件试件试件2 2上半径的确定上半径的确定上半径的确定上半径的确定确定参数确定参数r与与R,利用斜探头利用斜探头第12页/共18页试件试件试件
15、试件2 2上半径波程图上半径波程图上半径波程图上半径波程图第13页/共18页薄件衰减系数的测定薄件衰减系数的测定薄件衰减系数的测定薄件衰减系数的测定 薄工件衰减系数只存在介质衰减，因此通常采用比较多次反薄工件衰减系数只存在介质衰减，因此通常采用比较多次反薄工件衰减系数只存在介质衰减，因此通常采用比较多次反薄工件衰减系数只存在介质衰减，因此通常采用比较多次反射回波高度的方法，测定衰减。其衰减系数：射回波高度的方法，测定衰减。其衰减系数：射回波高度的方法，测定衰减。其衰减系数：射回波高度的方法，测定衰减。其衰减系数：式中，式中，式中，式中，mm、n n超声波的底面反射次数；超声波的底面反射次数；超
16、声波的底面反射次数；超声波的底面反射次数；HHmm、HHn nmm和和和和n n此底面反射波高度；此底面反射波高度；此底面反射波高度；此底面反射波高度；d d试块的厚度。试块的厚度。试块的厚度。试块的厚度。第14页/共18页参数确定参数确定参数确定参数确定mm、n n超声波的底面反射次数；超声波的底面反射次数；超声波的底面反射次数；超声波的底面反射次数；HHmm、HHn nmm和和和和n n此底面反射波高度；此底面反射波高度；此底面反射波高度；此底面反射波高度；第15页/共18页人有了知识，就会具备各种分析能力，明辨是非的能力。所以我们要勤恳读书，广泛阅读，古人说“书中自有黄金屋。”通过阅读科技书籍，我们能丰富知识，培养逻辑思维能力；通过阅读文学作品，我们能提高文学鉴赏水平，培养文学情趣；通过阅读报刊，我们能增长见识，扩大自己的知识面。有许多书籍还能培养我们的道德情操，给我们巨大的精神力量，鼓舞我们前进。第16页/共18页第17页/共18页