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1、Good is good, but better carries it.精益求精，善益求善。开关电源可靠度试验测试规范-可靠度測試規範ReliabilityTestSpecification編號No.WI7308修訂日期AmendmentDate版本VersionV.01頁次Page1發行日期ReleaseDate90.11.12可靠度測試項目目錄NOEvaluationTestItems評價項目1TemperatureDistribution溫度分布2ComponentTemperatureRise元件溫度上昇3PartsDerating元件餘裕度4ThermalRunaway熱暴走5Hig
2、hTemperatureShortCircuit高溫短路6LifeofElectrolyticCapacitor電解電容算出壽命7NoiseImmunity雜訊免疫能力8ElectroStaticDischarge靜電氣9LightningSurge雷擊10InputON/OFFAtHighTemperature高溫輸入ON/OFF11LowTemperatureOperation低溫動作確認12DynamicSourceEffect動態輸入變動13FanAbnormalOperationFANFAN異常動作14Vibration振動15Shock衝擊16AbnormalRipple異常漣波確
3、認17HighTemperatureTest高溫測試18LowTemperatureTest低溫測試19Temperature/humidityTest溫溼度循環測試20StrifeTest壓力測試21PLDTest輸入瞬斷測試常溫、常濕：定義濕溫度，相對溼度可靠度測試規範ReliabilityTestSpecification編號No.WI7308修訂日期AmendmentDate版本VersionV.01頁次Page2發行日期ReleaseDate90.11.12INPUTSOURCE待測物負載短路用治具溫度記錄器1.Temperaturedistribution溫度分布：1.1 目的：確
4、保待測物之可靠度；確認各元件均在溫度規格範圍內使用及有無元件異常溫度上升。1.2適用：所有機種適用。1.3測試條件：a.輸入電壓：規格範圍之最小、最大值。(AC115V/230VAC90V/265V)b.負載：100%(最小0%、最大,100%)。c.輸出電壓：額定。d.周圍溫度：常溫。e.接線圖：1.4測試方法:a. 輸入電壓加入後，穩定狀況下，測元件表面及銲接點之溫度分佈。b. 參考溫度Derating率。c. 量測之溫度與溫度Derating率比較，確認有無異常發熱元件，參考溫度Derating率。可靠度測試規範ReliabilityTestSpecification編號No.WI730
5、8修訂日期AmendmentDate版本VersionV.01頁次Page3發行日期ReleaseDate90.11.121.5溫度Derating率NO元件名稱溫度判定標準備註電阻電阻最高耐溫之電容電容最高耐溫減半導體1. SchottyDiode取Tj之2. 其它半導體（電晶體MOSFET取Tj之）熱暴走高溫短路測試Ta:55Load:100Ta:65Load:70Input:85V/265V時（Tj*80）+5為判定基礎基板1. FR-4:1152. CEM-3:1103. CEM-1:1004. XPC-FR:1005. 判定：PCB最大耐溫減與基板板厚無關變壓器（含電感）絕緣區分：A
6、種種種標準溫度：105120130熱偶式：90105110Abnormal:150165175可靠度測試規範ReliabilityTestSpecification編號No.WI7308修訂日期AmendmentDate版本VersionV.01頁次Page發行日期ReleaseDate90.11.12INPUTSOURCE待測物溫度記錄器負載2Componenttemperaturerise元件溫度上升：2.1目的：確保待測物之可靠度，確認各元件均在溫度規格內使用。2.2適用：所有機種適用。2.3測試條件：a.輸入電壓：規格範圍之最小、額定、最大。b.負載：規格範圍之最大。c.輸出電壓：額定
7、。d.周圍溫度：常溫。e.接線圖：2.4測試方法：a. 依測試條件設定，當溫度達到熱平衡後，以熱電偶測定元件溫度，基板上之元件銲點需測量溫度。b.參考溫度Derating計算出最大溫升規格值t.(i.e.DeratingCurve在100%Load100%下最高至50，則以附表Derating率之溫度減去50得100%之LOAD下之t.；60時，Derating率為70%，則減去60得到70%之t.)實際負載在100%時依減50之t.為規格值。c.元件之選擇以R-1溫度分佈測得之發熱較多元件做測定。d.元件實際溫升不能超過計算得出之t.。可靠度測試規範ReliabilityTestSpecif
8、ication編號No.WI7308修訂日期AmendmentDate版本VersionV.01頁次Page發行日期ReleaseDate90.11.12INPUTSOURCE待測物SCOPE負載3.Partsderating元件餘裕度：3.1目的：確保待測物之可靠度，確認元件實際使用時能在絕對最大額定下之Derating率範圍內。3.2適用：所有機種適用。3.3測試條件：a. 測試待測物在下列條件下一次測和二次測主迴路波形（電流波形和電壓波形） 定額輸入和輸出 低壓起動 短路開機 開機後短路 滿載關機（不做記錄）b.各迴路波形和元件耐壓請參考元件Deratingc.接線圖：可靠度測試規範Re
9、liabilityTestSpecification編號No.WI7308修訂日期AmendmentDate版本VersionV.01頁次Page發行日期ReleaseDate90.11.123.4元件DeratingSurge：I2tNO元件名稱溫度判定標準備註電阻80電阻最高耐壓之90Surge取耐壓之95電容電容最高耐壓之85（AC輸入電容取耐壓之95）Ripple電流取100鉭質電容取耐壓之80二極體（Diode）VRMVRSMISFMSurgeSCR80959090TRIAC80959090Bridge-Diode80959090Diode80959090ScottyDiode909
10、59090ZenerDiode9090LED80959090電晶體MOSFETVDSS/VCE:取規格之95VGSS/VBE:取規格之95ID/IC:取規格之95IB:取規格之95Fuse取額定電流之70Surge:65可靠度測試規範ReliabilityTestSpecification編號No.WI7308修訂日期AmendmentDate版本VersionV.01頁次Page7發行日期ReleaseDate90.11.12恒溫槽INPUTSOURCE待測物溫度記錄器負載電流電壓4.Thermalrunaway熱暴走：4.1目的：確認過負載、出力短路下，保護之餘裕度。4.2適用：所有機種適
11、用。4.3測試條件：a.輸入電壓：規格之輸入電壓範圍最小、最大值，（例85V/265V）。b.負載：100%及70%(例55為100，65為70)。c.周圍溫度：最高動作溫度5，輸出DeratingCurve100%下溫度上限5。d.輸出電壓：額定。e.接線圖：4.1.4.4測試方法：a.參照部品溫度上昇結果確定待測部品，以熱電偶量測。b. 電源輸入後，連續觀測繪出溫度上昇值，確認飽和點。若有FAN裝置於待測物，需實際模擬安裝於系統之情形進行測試。可靠度測試規範ReliabilityTestSpecification編號No.WI7308修訂日期AmendmentDate版本VersionV.
12、01頁次Page8發行日期ReleaseDate90.11.12INPUTSOURCE待測物示波器負載5.Hightemperatureshotycircuit高溫短路：5.1目的：確認輸出短路放置後，待測物之可靠度。5.2適用：除未加短路保護機種外所有機種適用。5.3測試條件：a.輸入電壓：規格範圍之最大輸入電壓。(實測取最大，例265V)b.輸出電壓：額定值。c.周圍溫度：動作溫度上限5(例65)。d.接線圖：4.1.5.4測試方法：a.待測物在設定測試條件下，輸出短路2小時以上。b.記錄溫度上昇之情形，參照溫度Derating，不能超過規定溫度。c.解除短路狀態後確認輸出仍正常，部品不能
13、有損壞。可靠度測試規範ReliabilityTestSpecification編號No.WI7308修訂日期AmendmentDate版本VersionV.01頁次Page9發行日期ReleaseDate90.11.12T1T210INPUTSOURCE待測物示波器實效值負載6.Lifeofelectrolyticcapacitor電解電容算出壽命：6.1目的：推定待測物之壽命，並確認其可靠度。6.2適用：所有機種適用。6.3測試條件：a.輸入電壓：額定值。b.輸出電壓：額定值。c.負載：額定。d.周圍溫度：40。e.接線圖：6.4測試方法：a.額定之輸出、輸入時，在規定之周圍溫度下，依下式計
14、算：L1=LS2L1:實際之有效壽命LS:部品使用溫度範圍上限下之有效壽命T1:部品之使用溫度範圍上限T2:實際使用溫度。b.算出之壽命時間應規格所示。可靠度測試規範ReliabilityTestSpecification編號No.WI7308修訂日期AmendmentDate版本VersionV.01頁次Page10發行日期ReleaseDate90.11.12INPUTSOURCE待測物示波器電阻負載7.NoiseImmuuity雜訊免疫力：7.1目的：確保待測產品之可靠度，確認輸入對加入脈衝之耐受程度。7.2適用：所有機種。7.3測試條件：a.規格上有規定者，依規格實施。b.周圍溫度：常
15、溫、常濕。c.輸入電壓：115Vd.輸出電壓：額定。e.負載電流：100%。f.脈衝規格：規格書所列值*110%(50Termination)如規格為2.2KV則脈衝以2.2KV*110%=2.2KV施加脈波寬為。100nS,500nS,1000nS，時間五分鐘。g.接線圖：7.4測試方法：a. 依條件施加脈衝於輸入輸入間，輸入Ground間，應無動作異常(含突入電流限制回路、異常振盪等)保護回路誤動作及元件損壞發生，測試時，輸出電壓之安定度應在總和變動規格範圍內。可靠度測試規範ReliabilityTestSpecification編號No.WI7308修訂日期AmendmentDate版本
16、VersionV.01頁次Page11發行日期ReleaseDate90.11.12INPUTSOURCE待測物示波器電阻負載DMM8.Electrostaticdischarge靜電破壞：8.1目的：確保待測產品之可靠度，確認產品對靜電氣之耐受程度。8.2適用：規格書上規定之機種。8.3測試條件：a.周圍環境：常溫、常濕。b.輸入電壓：額定(實測AC115V)c.輸出電壓：額定d.負載：額定100%e.施加電壓：規格書之數值X110%ChargeCapacitor500pF-SeriesResistor100，時間10sec.f.接線圖：4.1.8.4測試方法：待測物Ground部位，依條件
17、施加脈衝電壓分接觸外殼及隔離放電實施；不能有保護回路誤動作，元件破損之異常發生。可靠度測試規範ReliabilityTestSpecification編號No.WI7308修訂日期AmendmentDate版本VersionV.01頁次Page12發行日期ReleaseDate90.11.12電阻負載待測物INPUTSOURCE9.LightningSurge雷擊：9.1目的：確認輸入端加入LightningSurge之耐受能力。9.2適用：規格有規定之機種。9.3測試條件：a.規格書有規定依規格條件。b.輸入電壓：額定(實測AC115V)c.輸出電壓：額定d.負載：額定e.周圍環境：常溫、常
18、濕f.施加波形：JEC212規定，波頭長1.2s,波尾長50s之電壓，波形3KV*110%(限流電阻100)。g.接線圖：4.1.9.4測試方法：a. 依規定測試條件，施加Surge電壓於輸入輸入，輸入Ground極各3回確認元件無破損，無絕緣破壞，FlashoverArc及保護回路誤動作情形發生。可靠度測試規範ReliabilityTestSpecification編號No.WI7308修訂日期AmendmentDate版本VersionV.01頁次Page13發行日期ReleaseDate90.11.12INPUTSOURCE待測物DVM負載ON/OFF恆溫槽10.InputON/OFFa
19、thightemperature高溫輸入ON/OFF:10.1目的：高溫時輸入電壓ON/OFF重覆施加，確認產品之信賴性。10.2適用：所有機種適用。10.3測試條件：a.輸入電壓：規格之輸入電壓範圍最大值(例：265V)。b.負載：額定100%LOADc.輸出電壓：額定d.周圍溫度：動作可能溫度範圍5(例：65)。e.接線圖：4.1.10.4測試方法：a. 待測物置於恆溫槽內，依條件之溫度設定，到達設定溫度後放置12小時，同時電源ON/OFF至少500cycle於輸入端，結束後確認元件無破損，輸出電壓與機能正常（ON5S，OFF30S）。可靠度測試規範ReliabilityTestSpeci
20、fication編號No.WI7308修訂日期AmendmentDate版本VersionV.01頁次Page14發行日期ReleaseDate90.11.1211.Lowtemperatureoperation低溫動作確認：11.1目的：為確保待測產品可靠度，確認周圍溫度下限之動作餘裕度。11.2適用：所有機種適用。11.3測試條件：a.輸入電壓：規格範圍之最小、最大值(實測最小值)。b.輸出電壓：額定。c.負載：最小、最大值(實測最大值)。d.周圍溫度：動作可能溫度下限10。e.接線圖：11.4測試方法：待測物在測試溫度條件下設定為關機狀態充份放置(至少1小時)關機狀態，重新加入電源，確定
21、可啟動。可靠度測試規範ReliabilityTestSpecification編號No.WI7308修訂日期AmendmentDate版本VersionV.01頁次Page15發行日期ReleaseDate90.11.1212.Dynamicsourceeffect動的輸入變動：12.1目的：確認待測產品在動的輸入變動下能正常動作。12.2適用：交流輸入之所有機種。12.3測試條件：a.規格書有規定者，依規格條件。b.負荷：額定100%。c.周圍溫度：常溫。d.輸出電壓：額定。e.輸入變動條件：額定最小，額定最大。最大電壓額定電壓tt=0.5sec最小電壓t釋波器負載待測物INPUTSOURC
22、E頻率：60Hz12.4測試方法：a.在基準動作狀態下(額定輸入電壓100%Load)，測定輸出電壓值VS。b.計算電壓變動率：VHVSx100%VLVSx100%VSVSc.計算之變動率，應在總和變動之規格範圍內。可靠度測試規範ReliabilityTestSpecification編號No.WI7308修訂日期AmendmentDate版本VersionV.01頁次Page16發行日期ReleaseDate90.11.12溫度記錄器恆溫槽熱電藕負載待測物INPUTSOURCE13.FanabnormaloperationFAN異常動作：13.1目的：待測產品在自然冷卻使用情形下，確認FAN
23、停止運轉，轉數變慢時，保護機能正常運作。13.2適用：產品因需風扇冷卻而裝設之機種。13.3測試條件：a.輸入電壓：規格範圍內之最小、最大值。b.負載：最大100%。c.周圍溫度：感熱元件部份，依動作可能溫度範圍上限5，25及下限5共3點實施測試。其他部份則以動作可能溫度範圍上限5，下限-5實施量測。d.輸出電壓：額定。13.4測試方法：a.主要電晶體、變壓器、CHOKE等重要元件，以熱電藕量測記錄其結果。Fan異常動作發生時觀測元件溫度上升應記錄其結果。b.OpenFrame之產品與系統產品搭配測試。c.確定在測試條件下，無保護回路之誤動作發生，元件上升溫度不能超過規格值。可靠度測試規範Re
24、liabilityTestSpecification編號No.WI7308修訂日期AmendmentDate版本VersionV.01頁次Page17發行日期ReleaseDate90.11.12yXX方向ZZ供試電源試驗方向試驗方向試驗方向14.Vibration振動：14.1目的：為確保產品之信賴性，產品在製造時及運送時對振動之耐受程度需加以確認。14.2適用：所有機種適用。14.3測試條件：a.周圍溫度：常溫。b.動作狀態：Non-Operatingc.振動頻率：510Hz全振幅1010200Hz加速度21.6m/sec2(2.2G)SweepTime:10Min依對數變化。振動方向：X
25、,Y,Z軸各1小時。衝擊試驗程序：1.試驗系統圖4.1.14.4測試方法：a.依測試條件或產品規格所列條件進行測試。a. 測試完成後，以目視檢查(必要時用顯微鏡)待測物之外殼、基板、零件、配線有無異常；確認後，通電並確認輸出電壓及電氣特性有無異常。可靠度測試規範ReliabilityTestSpecification編號No.WI7308修訂日期AmendmentDate版本VersionV.01頁次Page18發行日期ReleaseDate90.11.12試驗方向YYXXZZZ供試電源試驗方向試驗方向15.Shock衝擊：15.1目的：為確保待測物之可靠度，在製造時及運送時對衝擊之耐受程度需
26、予以確認。15.2適用：所有機種適用。15.3測試條件：a.衝擊加速度：588m/sec2(60G)b.衝擊時間：115msec半波正弦波。c.振動方向：X(X),Y(Y),Z,5方向，各3回。d.周圍溫度：常溫。e.NonOperating15.4測試方法：a.依測試條件進行測試。b.測試完成後，以目視檢查(必要時用顯微鏡)待測物之外殼、基板、零件、配線有無異常;確認後通電並確認輸出電壓及電氣特性有無異常。衝擊測試程序：1.測試系統圖：a.待測物需設計治具以固定之。(電木板及鋁板)b.依測試條件施加予待測物。c.加速度588m/sec2(60G)各方向3回。d.記錄試驗條件及結果。可靠度測試
27、規範ReliabilityTestSpecification編號No.WI7308修訂日期AmendmentDate版本VersionV.01頁次Page19發行日期ReleaseDate90.11.12恆溫槽負載用治具釋波器負載待測物INPUTSOURCE16.AbnormalRipple異常Ripple確認：16.1目的：確保待測產品之可靠度;由周圍溫度、輸入電壓、輸出電流之各條件組合下，確認其動作之安定性。16.2適用：所有機種適用。16.3測試條件：a.負載：0%100%(連續)。b.周圍溫度：動作溫度範圍(i.e.206020/25/60)。c.輸入電壓：規格範圍最小最大(連續)。d
28、.輸出電壓：額定。e.接線圖：4.1.16.4測試方法：a.待測物在不通電之狀態下，依測試之組合條件，在設定之溫度下放置1小時。b.連續調整輸入電壓及負載電流，並觀察有無異常Ripple之發生，如振盪、間歇振盪、ACRipple導致之微小異常振盪。可靠度測試規範ReliabilityTestSpecification編號No.WI7308修訂日期AmendmentDate版本VersionV.01頁次Page20發行日期ReleaseDate90.11.12functionalinspection25Temp(degC)Time(hour)7017.HighTemperatureTest高溫測
29、試：17.1目的：確認產品在高溫置放後，維持正常功能之特性。17.2適用：所有機種適用。17.3測試條件：溫度：TH012747576TH:產品規格所列之儲存溫度上限b.輸入電壓：額定。c.輸入頻率：50HZ。d.負載：100%LOAD。e.接線圖：17.4測試方法：a.產品置於恆溫槽內，依上述之條件進行測試。a. 溫度在達到預定之高溫TH前後一小時之前於常溫下，須先進行功能測試，確認產品之功能；測試後產品須無任何損傷。可靠度測試規範ReliabilityTestSpecification編號No.WI7308修訂日期AmendmentDate版本VersionV.01頁次Page21發行日期
30、ReleaseDate90.11.12functionalinspectionTemp(degC)Time(hour)25-4018.LowTemperatureTest低溫測試：18.1目的：確認產品在低溫置放後，維持正常功能之特性。18.2適用：所有機種適用。18.3測試條件：溫度：TL012747576b.負載：100%LOAD。c.輸入電壓：額定。d.頻率：50HZ。e.TL：規格所列之儲存溫度下限。f.接線圖：18.4測試方法：a.產品置於恆溫槽內，依上述之溫度設定及接線圖進行測試。b.溫度到達預訂之低溫，前後一小時前須進行功能測試，確認產品能正常動作；且無任何損傷。可靠度測試規範R
31、eliabilityTestSpecification編號No.WI7308修訂日期AmendmentDate版本VersionV.01頁次Page22發行日期ReleaseDate90.11.12Time(hour)TempPoweronFunctiontestRelativeHumidity(%)Temperature/HumidityTest溫、溼度循環測試：19.1目的：確認產品對周圍溫、溼度之適應能力。19.2適用：所有機種適用。19.3測試條件：a.條件依下圖設定：6540259080501504630345860727478808284108a. 負載：100%LOAD。b. 輸
32、入電壓：額定。c. 頻率：e.接線圖：4.1.19.4測試方法：a.依上所列之測試條件及接線方式，執行測試。b.測試結束後，待測物需功能正常，零件無損壞情形。可靠度測試規範ReliabilityTestSpecification編號No.WI7308修訂日期AmendmentDate版本VersionV.01頁次Page23發行日期ReleaseDate20.StrifeTest極限測試：20.1目的：確認待測產品的耐受高溫之極限。20.2適用：依需求規格列出之機種。20.3測試條件：a.輸入電壓：額定。(110V/220V)d. 負載：額定100%LOAD。e. 溫度：70(1hr)80(1
33、hr)90(1hr)100(1hr)至產品失效。d.接線圖：20.4測試方法：a.產品置於恆溫槽內，依接線圖及條件設定。b.當溫度到達預設值後，停留一小時，開始執行功能測試。c.產品若功能正常，將溫度每次升高10，進行測試，至產品失效為止，記錄失效之溫度。d.產品失效時，不能發生冒煙、起火等狀況。可靠度測試規範ReliabilityTestSpecification編號No.WI7308修訂日期AmendmentDate版本VersionV.01頁次Page24發行日期ReleaseDate21.PLDtest(輸入瞬斷測試)：A.Anundervoltageof25%belowthemini
34、muminputvoltage,appliedfortwoseconds,repeated10times:errorfreewitha10%dutycycle.B.Anundervoltageof35%belowtheminimumnominalinputvoltage,butnotlessthan68V,appliedfor30:errorfreecyclesoftheinputfrequency,repeated10timeswitha10%dutycycle.C.Anundervoltageof100%belowtheminimumnominalinputvoltage,appliedf
35、or20milli-secondsrepeated10times:errorfreewitha10%dutycycle.D.Anovervoltageof20%abovethemaximumnominalinputvoltageappliedfortwoseconds,repeated10timeswith:errorfreea10%dutycycle.E.Wheneitherofthefollowingwaveformsareappliedtoeitherpolaritypeakoftheinputvoltagewaveform.Thewaveformsshallconsistof400HZ
36、50HZor800HZ100HZexponentiallydecayingsinusoidwithapeakvoltageequaltothepeaknominallinevolage:errorfreeanddecaytimeconstantsuchthatthefifthhalf-cycleofthedisturbanceisbetween15and25%ofthefirsthalf-cycle.Thetotaldurationofthedisturbanceshallnotexceedonecycleofthelinevoltage.Thistestshallberepeated320t
37、imes(80positiveringsand80negativeringsat400HZ;80positiveringsand80negativeringsat800HZ)athree(3)secondintervals.F.Differentialmode(line-to-line)andcommonmode(line-to-ground)voltagesurgeswithopencircuitvoltagesof2.5KVpeak10%and2KVpeak10%respectively.Thesourceimpedanceofthesurgegeneratorshallbe:errorf
38、ree2ohm20%.ThesurgewaveshallbedefinedinANSI/IEEEC62.41(1980)andIEC60-2(1973).threepositiveandthreenegativesurgesshallbeappliedat0,90,180,and270degrees(24total).Thetimeintervalbetweensurgesshallbe18seconds.可靠度測試規範ReliabilityTestSpecification編號No.WI7308修訂日期AmendmentDate版本VersionV.01頁次Page25發行日期Release
39、Date90.11.12G.A100nanosecondpulsewithanamplitudeof400voltsshallbesuperimposedonthepeakofthe:errorfreenominalinputvoltageandrepeatedatthelinefrequencyforten(10)minutes.H.ThepowersupplyshallsuffernophysicaldamageunderthefollowingdisurbancesinAClinevoltage.Repeateachtestfivetimes,returningthepowersuppl
40、y:damagefreetoitsnormalrunningconditionsbetweentests.Acompletelineoutageforanyduration.I.ThepowersupplyshallsuffernophysicaldamageunderthefollowingdisturbancesinAClinevoltage.Repeateachtestfivetimes,returningthepowersupply:damagefreetoitsnormalrunningconditionsbetweentests.Alineinputundervoltageof65
41、%belowthenominalofanydurationof5secondsorless.J.Thepowersupplyshallnotlatchupwiththefollowinglineconditions:80%undervoltagebelowthenominal:errorfreefor60millisecondsorlonger.K.Thepowersupplyshallnotlatchupwiththefollowinglineconditions:100%undervoltagebelowthenominal:errorfreefor60millisecondsorlonger.可靠度測試規範ReliabilityTestSpecification編