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1、 材料结构分析材料结构分析 材料性能材料性能化学成分物相组成相结构相形貌相分布相大小缺陷材料结构分析方法：建立在材料的各种物理化学效应基础上 物理方法：光束、X射线束射线束，电子束、中子束、其它粒子等利用X射线束和电子束射线束和电子束与材料相互作用产生效应来对材料进行分析测试的方法是材料近代分析中最重要的方法材料科学研究材料科学研究X射线衍射原理及应用相是指在没有外力作用下，物理、化学性质完全相同、成分相同的均匀物质的聚集态。物质从一个相转变为另一个相的过程称为相变。物相是物质微观状态的反映。物相？物相？确定待测样品是由哪些物相（或晶相）所组成。确定相应物相的晶格类型、晶胞尺寸、以及晶胞中的原
2、子排列。物相分析的主要方法：n各种衍射技术n各种光谱技术X射线衍射原理及应用X射线衍射原理及应用XRD物相鉴定是通过晶体衍射图谱对其结构的反映来鉴别物相！与身份鉴定类比：物相鉴定与指纹鉴别一样有冤假错案存在！X射线衍射原理及应用X射线衍射原理及应用射线衍射原理及应用1，晶体结构分析：人类研究物质微观结构的第一种方法。2，物相定性分析3，物相定量分析4，晶粒大小分析5，非晶态结构分析，结晶度分析6，宏观应力与微观应力分析7，择优取向分析X射线衍射原理及应用第一部分第一部分X射线衍射原理及应用X射线被物质散射时，产生两种现象：相干散射相干散射（也称为经典散射）（也称为经典散射）非相干散射非相干散射
3、定义定义 物质中的电子在物质中的电子在X射线电场的作用下，产生射线电场的作用下，产生强迫振动。这样每个电子在各方向产生与入射强迫振动。这样每个电子在各方向产生与入射X射线同频率的电磁波。射线同频率的电磁波。由于散射线与入射线的频由于散射线与入射线的频率和波长一致，位相固定，在相同的方向上各个率和波长一致，位相固定，在相同的方向上各个散射波符合散射波符合干涉条件干涉条件，因此称为相干散射。，因此称为相干散射。干涉条件：干涉条件：1 1，频率相同，频率相同2 2，相位差固定，相位差固定3 3，振动方向一致，振动方向一致X射线衍射射线衍射相干散射相干散射的结果的结果X射线衍射原理及应用射线衍射原理及
4、应用晶体晶体铅铅屏屏X射射线线管管因此，晶因此，晶体可看作体可看作三维立体三维立体光栅。光栅。与光栅实验相同，产生了光强特定空间分布规律现象X射线衍射的成功证明了两个问题射线衍射的成功证明了两个问题1.X1.X射线具有波动性。人们对可见光的衍射线具有波动性。人们对可见光的衍射现象有了确切的了解：光栅常数射现象有了确切的了解：光栅常数(a+b)(a+b)只要与点光源的光波波长为同一数量级，只要与点光源的光波波长为同一数量级，就可产生衍射，衍射花样取决于光栅形状。就可产生衍射，衍射花样取决于光栅形状。2.2.晶体具有周期性结构。晶体学家和矿物晶体具有周期性结构。晶体学家和矿物学家对晶体的认识：晶体
5、是由原子或分子学家对晶体的认识：晶体是由原子或分子为单位的共振体（偶极子）呈周期排列的为单位的共振体（偶极子）呈周期排列的空间点阵空间点阵M.A.BravaisM.A.Bravais已计算出已计算出1414种种点阵类型。点阵类型。固体包括：晶体（单晶体、多晶体）、非晶体晶体结构晶体结构：原子规则排列，排列具有周期性，或称原子规则排列，排列具有周期性，或称长程有序。有此排列结构的材料为晶体长程有序。有此排列结构的材料为晶体周期性的结构可以用晶格表示晶格的格点构成晶格点阵晶体结构周期性立体光栅确定固体中原子确定固体中原子排列形式是研究排列形式是研究固体材料宏观性固体材料宏观性质和各种微观过质和各种
6、微观过程的基础程的基础晶体中可以划分为很多的晶面族。不同的晶面族有不同的间距，即，晶格常数d。晶体结构周期性立体光栅晶体周期性的空间结构可以作为衍射光栅晶体结构周期性立体光栅晶体是一种三维周期结构的光栅二维周期三维周期一维周期晶体结构周期性立体光栅但是晶体的结构周期，即晶格常数，通常比可见光的波长小得多(可见光波长一般在380-780nm之间，常见晶体的晶格常数约为几个埃)，因此，可见光不能在晶体中出现衍射。X射线的性质穿透能力强（能穿透除重金属外的一定厚度金属板）能使气体等电离折射率几乎等于1（穿过不同媒质时几乎不折射、不反射，仍可视为直线传播），因而不能利用折射来聚焦通过晶体时可以发生衍射
7、对生物细胞和组织具有杀伤力波长小于0.1埃的称超硬X射线，在0.11埃范围内的称硬X射线，110埃范围内的称软X射线。X射线的产生固体靶源固体靶源 同步辐射同步辐射 等离子体源等离子体源同位素同位素核反应核反应其他其他由原子内层轨道中电子跃迁或高能电子减速所产生X射线的产生固体靶源固体靶源X射线管射线管 高速运动的电子突然受阻时，与物质原子之间发生能量交换，从而产射X射线X射线的产生固体靶源固体靶源强度波长15kV连续X射线谱minX射线管的光谱结构强度波长25kV连续X射线谱minKK1K2特征X射线谱不同管压下X射线强度-波长关系曲线X射线的产生固体靶源固体靶源元素特征X射线的命名规则能量
8、n=3(M层）n=2(L层）n=1(K层）K系L系K1K2K1K3L4L3L1X射线的产生固体靶源固体靶源物相分析、结构分析主要使用K作为单色X射线源LK层跃迁概率大，K线强度大。K线比相邻的连续谱线的强度大90倍左右，比K线强度大45倍，在K线系中K1:K2:K=100:50:22。取K线作为光源，K、K、L系、M系等辐射因强度弱而容易去除。K1、K2线波长和能量差别很小，通常将这两条线称为K线，其波长是K1、K2波长的加权平均值，即X射线的产生固体靶源固体靶源物相分析、结构分析通常使用Cr、Fe、Co、Cu、Mo等靶材靶材选取原则：波长与样品晶格常数匹配靶材发出的K线波长尽可能远离试样中组
9、要元素的K系吸收限，通常靶比试样高一个原子序数，或采用与试样中主要元素相同的靶材元素避免强吸收和荧光干扰铜靶X射线：K1=1.54059，K2=1.54442，则K=1.54187劳厄方程组：布拉格方程：X射线晶体衍射原理-衍射方程衍射方程首先计算每一个晶面上不同点间的相干叠加，即点间干涉，或称为晶面的衍射。衍射条件：布拉格定律衍射条件：布拉格定律散射后相遇的总光程差原子间距 a12当干涉为最强处，即入射角和散射角相等的方向上干涉最强，即表示各原子层散射射线中满足反射定律的散射射线相遇，干涉最强。aX射线晶体衍射原理-布拉格方程布拉格方程原子层间散射的X射线相遇也产生干涉，即面间干涉。取极大值
10、的条件为Bragg条件，或Bragg方程，为相对于晶面的掠射角。X射线晶体衍射原理-布拉格方程布拉格方程劳厄方程组或者布拉格方程仅仅确定了衍射角与晶体参数、波长的关系，没有确定衍射强度！X射线晶体衍射原理-衍射强度？衍射强度？晶体衍射强度与衍射系统消光规律对粉晶平面试样，在hkl方向衍射积分强度表达式为：式中，e为电子电量，m为电子质量，c为光速，I0为入射X射线强度，为波长，R为衍射线的路程，N为单位体积内的晶包数，Phkl为多重性因子，Fhkl为结构因子，为布拉格角，e-2M为温度因子，为线吸收系数线吸收系数，V为参与衍射的体积。晶体衍射强度与衍射系统消光规律影响衍射强度各因子的物理意义结
11、构因子是指一个晶包中所有原子散射波沿衍射方向叠加的合成波。它与晶包中原子的种类、数目、位置有关。温度因子是考虑晶体中原子的热震动引起衍射强度减弱而引入的一个反映热震动影响因素的因子。多重性因子在粉末法中，面间距相等的晶面对应的衍射角相等，其反射可能叠加在一起，给出同一条衍射线。晶体衍射强度与衍射系统消光规律简单立方晶系面间距公式为晶胞六个体表面对应的晶面衍射方向相同，衍射线均叠加在（100）衍射线上，衍射线强度是单一（100）衍射线的六倍，因而多重性因子是6.因此，对称性越高的晶面其多重性因子越高。多重因子对衍射强度的影响多重因子对衍射强度的影响衍射强度与晶体结构有关，即与晶包中原子的分布有关
12、。除简单点阵以外，其他点阵可能出现某些hkl的结构振幅|Fhkl|=0的现象，从而衍射强度等于零，即不出现衍射线。这种因结构振幅等于零，使某些衍射方向有规律、系统地不出现衍射的现象，称为衍射系统消光。晶体衍射强度与衍射系统消光规律复杂点阵可以看成是由一系列点阵常数不同的简单点阵相互嵌套而成的，每种简单点阵都可以对X射线产生衍射，这些衍射线也是相干的，他们在空间再次发生相干叠加的结果就是复杂点阵的衍射。衍射系统消光衍射系统消光1、简单立方点阵的消光规律简单立方点阵对应的晶包只含一个原子，坐标为（000），因此，其结构因子为可见，结构因子不受h、k、l的影响，衍射强度不等于零，所以，简单立方格子对
13、应的各衍射面均能产生衍射，不消光。晶体衍射强度与衍射系统消光规律在空间某个衍射方向上，如果两套简单点阵的衍射光相位差为半波长的奇数倍，那么结果就会使消光。例如：2、体心立方点阵的消光规律体心立方点阵对应的晶包只含两个原子，坐标为（000）、（1/2、1/2、1/2），而且两个原子为同种原子，因此，其结构因子为可见，当h+k+l=奇数时，消光；当h+k+l=偶数时，不消光。晶体衍射强度与衍射系统消光规律消光规律的意义与应用系统消光现象一方面说明布拉格方程只是晶体产生衍射的必要条件，而不是充分条件；另一方面，消光规律可以应用与判别衍射的衍射指数、判别晶体的对应的空间结构空间格子类型、测定晶体所属空
14、间群等方面。晶体衍射强度与衍射系统消光规律X射线晶体衍射技术第二部分第二部分最基本的衍射实验方法有：最基本的衍射实验方法有：粉末法、劳厄法、转晶法粉末法、劳厄法、转晶法三种三种 三种基本衍射三种基本衍射实验实验方法方法实验方法所用辐射样品照相法衍射仪法粉末法劳厄法转晶法单色辐射连续辐射单色辐射多晶或晶体粉末单晶体单晶体样品转动或固定样品固定样品转动或固定德拜照相机劳厄相机转晶-回摆照相机粉末衍射仪单晶或粉末衍射仪单晶衍射仪X射线衍射仪是采用辐射探测器和测角仪来记录衍射线位置及强度的分析仪器常用粉末衍射仪主要由常用粉末衍射仪主要由X射线发生系统、测角及探测控制射线发生系统、测角及探测控制系统、记
15、数据处理系统三大部分组成系统、记数据处理系统三大部分组成。核心部件是。核心部件是测角仪测角仪衍射仪法 送水装置X线管高压发生器X线发生器(XG)测角仪样品计数管控制驱动装置显示器数据输出计数存储装置(ECP)水冷高压电缆角度扫描粉末衍射仪的主要构成及衍射几何光学布置粉末衍射仪的主要构成及衍射几何光学布置测角仪圆中心是样品台测角仪圆中心是样品台H H。平板状粉末多晶样品安放在平板状粉末多晶样品安放在样品台样品台H H上，并保证试样被上，并保证试样被照射的表面与照射的表面与O O轴线严格重轴线严格重合。合。测角仪圆周上安装有测角仪圆周上安装有X X射线射线发生器和辐射探测器，探测发生器和辐射探测器
16、，探测器可以绕器可以绕O O轴线转动。轴线转动。工作时，工作时，X X射线发生器、探射线发生器、探测器及试样表面呈严格的反测器及试样表面呈严格的反射几何关系。射几何关系。测角仪（决定仪器测试精密度）测角仪（决定仪器测试精密度）测角仪要确保探测的衍射线与入射线始终保测角仪要确保探测的衍射线与入射线始终保持持22的关系，即入射线与衍射线以试样表的关系，即入射线与衍射线以试样表面法线为对称轴，在两侧对称分布。面法线为对称轴，在两侧对称分布。辐射探测器接收到的衍射是那些与试样表示辐射探测器接收到的衍射是那些与试样表示平行的晶面产生的衍射。平行的晶面产生的衍射。当然，同样的晶面若不平行与试样表面，尽当然
17、，同样的晶面若不平行与试样表面，尽管也产生衍射，但衍射线进不了探测器，不管也产生衍射，但衍射线进不了探测器，不能被接受。能被接受。测角仪测角仪X射线衍射仪聚焦原理因为点S、A、B、C、R均位于同一圆周上，所以有SAR=SBR=SCR。因此，具有相同晶面指数的衍射面产生的衍射线将汇聚在聚焦园的同一点上。衍射仪采用平面样品，是一种准聚焦方式。SRBCA2-2测角仪圆聚焦圆X射线衍射仪可用的辐射探测器有正比计数射线衍射仪可用的辐射探测器有正比计数器、盖革管、闪烁计数器、器、盖革管、闪烁计数器、Si（Li）半导体）半导体探测器、位敏探测器等。探测器、位敏探测器等。探测器与记录系统探测器与记录系统 实际
18、试样是平板状实际试样是平板状存在两个圆存在两个圆(测角仪圆测角仪圆,聚焦圆聚焦圆)衍射是那些平行于试样表面的晶面提供的衍射是那些平行于试样表面的晶面提供的接收射线是辐射探测器接收射线是辐射探测器(正比计数器正比计数器)测角仪圆的工作特点测角仪圆的工作特点:射线源射线源,试样和探测器三试样和探测器三者应始终位于聚焦圆上者应始终位于聚焦圆上衍射仪法的特点衍射仪法的特点:粉晶衍射仪对试样的要求粉晶衍射仪对试样的要求衍射仪试样可以是金属、非金属的块状、片状或各种粉末。衍射仪试样可以是金属、非金属的块状、片状或各种粉末。对于块状、片状试样可以用粘接剂将其固定在试样框架上，对于块状、片状试样可以用粘接剂将
19、其固定在试样框架上，并保持一个平面与框架平面平行；粉末试样填入试样架凹并保持一个平面与框架平面平行；粉末试样填入试样架凹槽中，使粉末表面刮平与框架平面一致。试样对晶粒大小、槽中，使粉末表面刮平与框架平面一致。试样对晶粒大小、试样厚度、择优取向、应力状态和试样表面平整度等都有试样厚度、择优取向、应力状态和试样表面平整度等都有一定要求。一定要求。衍射仪用试样晶粒大小要适宜，在衍射仪用试样晶粒大小要适宜，在1m-5m1m-5m左右最佳。左右最佳。粉末粒度也要在这个范围内，一般要求能通过粉末粒度也要在这个范围内，一般要求能通过325325目的筛目的筛子为合适。子为合适。1）样品颗粒的细度应该严格控制，
20、过粗将导致样品颗）样品颗粒的细度应该严格控制，过粗将导致样品颗粒中能够产生衍射的晶面减少，从而使衍射强度减弱，粒中能够产生衍射的晶面减少，从而使衍射强度减弱，影响检测的灵敏度；样品颗粒过细，将会破坏晶体结构，影响检测的灵敏度；样品颗粒过细，将会破坏晶体结构，同样会影响实验结果。同样会影响实验结果。2）在制样过程中，由于粉末样品需要制成平板状，因）在制样过程中，由于粉末样品需要制成平板状，因此需要避免颗粒发生定向排列，存在取向，从而影响实此需要避免颗粒发生定向排列，存在取向，从而影响实验结果。验结果。3）在加工过程中，应防止由于外加物理或化学因素而）在加工过程中，应防止由于外加物理或化学因素而影
21、响试样其原有的性质。影响试样其原有的性质。在样品制备过程中，应当注意：在样品制备过程中，应当注意：X X射线衍射原理及应用射线衍射原理及应用物相定性分析物相定性分析物相定量分析物相定量分析第三部分第三部分应用应用2 2：由消光规律推测晶体结构：由消光规律推测晶体结构利用粉末样品衍射图确定相应晶面的晶面指利用粉末样品衍射图确定相应晶面的晶面指数数h k l的值的值(又称米勒指数又称米勒指数)-指标化。指标化。得到系统消光的信息，从而推得点得到系统消光的信息，从而推得点阵型式，并估计可能的空间群。阵型式，并估计可能的空间群。立方晶系立方晶系a=b=c=ao ,=90 应用应用3：衍射仪能进行的其他
22、工作：衍射仪能进行的其他工作峰位峰位 面间距面间距d 定性分析定性分析 点阵参数点阵参数 d漂移漂移 残余应力残余应力 固溶体分析固溶体分析半高宽半高宽 结晶性结晶性 微晶尺寸微晶尺寸 晶格点阵晶格点阵非晶质的积分强度非晶质的积分强度结晶质的积分强度结晶质的积分强度定量分析定量分析结晶度角度（2）强度判定有无谱峰判定有无谱峰准晶质、非晶质准晶质、非晶质样品方位与强度变化（取向样品方位与强度变化（取向）集合组织集合组织纤维组织纤维组织极图极图反射率、薄膜厚度、表面界面粗糙度反射率、薄膜厚度、表面界面粗糙度X射线衍射原理及应用射线衍射原理及应用1918年Scherrer提出了衍射线宽()和晶粒尺寸
23、(D)的关系式：1925年VanArkel提出了晶体中微应变(e)和衍射线宽()的关系式：应用应用3：晶体结构精修：晶体结构精修1967年，荷兰Petten反应堆中心研究员Rietveld根据中子多晶衍射数据精修晶体结构参数时提出了一种数据处理新方法多晶体衍射全谱线形拟合法由晶体结构计算的结构因数，可以用傅立叶变换算出衍射图谱（只有衍射方向和强度）。反过来，由测量的衍射方向和强度，还需知道各个衍射峰的相角才能用傅立叶反变换得到晶体结构。电子衍射法与电子衍射法与X X射线衍射法比较射线衍射法比较 电子衍射法电子衍射法 X射线衍射法射线衍射法穿透能力穿透能力 小于小于10-4 mm 可达可达 1
24、mm以上以上散射对象散射对象 主要是原子核主要是原子核 主要是电子主要是电子研究对象研究对象 适宜气体、薄膜适宜气体、薄膜 适宜晶体结构适宜晶体结构 和固体表面结构和固体表面结构适合元素适合元素 各种元素各种元素 不适合元素不适合元素H由于中子穿透能力大，所以用中子衍由于中子穿透能力大，所以用中子衍射法确定晶体中射法确定晶体中H原子位置就更有效。原子位置就更有效。XRD物相定性鉴定简介物相定性鉴定简介第四部分第四部分为什么要做XRD要怎么做XRDXRD的结果说明了什么问题测试之前的几个问题为什么要做XRD?已知目标物可能的物相，进行确定未知其物相，进行鉴定确定已知物相含量确定已知物相结构的微小
25、变化精修未知物相结构怎么做？根据测试目的，确定试样类型、测试参数已知目标物可能的物相，进行确定确定已知物相含量确定已知物相结构的微小变化精修未知物相结构未知其物相，进行鉴定针对主要峰范围快扫特征峰范围 峰强尽可能宽范围慢扫特征峰范围 峰位、峰强XRD的结果说明了什么？XRD图谱的三个最重要信息：n峰位晶面间距n峰强晶面数量相对含量与取向n峰形晶粒尺寸等常见的XRD软件XPertHighscorePlusJadesearchmatchHighscorePlus软件基本操作软件主窗口HighscorePlus软件基本操作物相定性鉴定步骤一般如下：1.剔除K2；2.扣除背底；3.寻峰（包括手动添加遗
26、漏峰或者剔除假峰）；4.设定物相检索的约束条件；5.对待选物相进行甄别和确定。软件自带几个批处理命令（如Default、IdeAll等）可以自动完成上述步骤，并列出已选物相和备选物相，可以满足一般应用要求。物相定性鉴定简介（使用批处理命令）：物相定性鉴定简介（使用批处理命令）：点击，在弹出点击，在弹出的对话框中输的对话框中输入入PDF卡号，卡号，再点击再点击“Load”即可。即可。结束语随着科学技术的进步，许多崭新的衍射理论和技术正在不断涌现！谢谢大家！谢谢大家！每一种结晶物质各自都有自己独特的化学每一种结晶物质各自都有自己独特的化学组成和晶体结构，没有任何两种结晶物质它组成和晶体结构，没有任
27、何两种结晶物质它们的晶胞大小、质点的种类和质点在晶胞中们的晶胞大小、质点的种类和质点在晶胞中的排列方式是完全一致的。因此，当的排列方式是完全一致的。因此，当X射线射线通过晶体时，每一种结晶物质都有自己独特通过晶体时，每一种结晶物质都有自己独特的衍射花样，它们的特征可以用各个衍射面的衍射花样，它们的特征可以用各个衍射面网的面间距网的面间距d和衍射线的相对强度和衍射线的相对强度I相相来表征。来表征。其中其中d值与晶胞的大小和形状有关，相对强值与晶胞的大小和形状有关，相对强度则与质点的种类和其在晶胞中的位置有关。度则与质点的种类和其在晶胞中的位置有关。所以可根据它们来鉴别物相。所以可根据它们来鉴别物
28、相。X X射线衍射原理及应用射线衍射原理及应用d和I对不同的化合物是有指纹性的！（PDFPDF）粉末衍射卡（粉末衍射卡（Powder DiffractionFiles）也简称）也简称JCPDS国际粉未衍射标准联国际粉未衍射标准联合会合会(1969年成立年成立)（the Joint committee on Powder Diffraction Standards）卡，卡，该联合会每年出版一组有机物质和一组无机该联合会每年出版一组有机物质和一组无机物质的粉未射卡片，第张卡片上记录了一种物质的粉未射卡片，第张卡片上记录了一种物质的衍射数据和结晶学据。到物质的衍射数据和结晶学据。到2003年初，年初
29、，已出版了已出版了65 组，包括有机和无机物质。现组，包括有机和无机物质。现在已可以通过光盘进行检索。在已可以通过光盘进行检索。衍射谱线标准的获得衍射谱线标准的获得粉末衍射卡粉末衍射卡19781978年年国际粉未衍射标准联合会国际粉未衍射标准联合会演变为现在的演变为现在的衍射数衍射数据国际中心（据国际中心（International Center for Diffraction Data，ICDD），每年出版一期粉末），每年出版一期粉末衍射卡片集（衍射卡片集（PDF）。）。ICDD 是由一些国际科学是由一些国际科学组织资助的非盈利性组织在粉末衍射卡片集上发组织资助的非盈利性组织在粉末衍射卡片集
30、上发表的大多数衍射图是从文献论文中得到的。论文表的大多数衍射图是从文献论文中得到的。论文中的衍射图由编辑人员评估，挑选后以书的形式中的衍射图由编辑人员评估，挑选后以书的形式出版，或编成计算机格式（例如，出版，或编成计算机格式（例如，CD-ROM）出）出版。每年大约有版。每年大约有2000 个新的衍射图分组发表在数个新的衍射图分组发表在数据库中。据库中。粉末衍射卡粉末衍射卡物相定性分析物相定性分析 利用利用X射线进行物相定性分析射线进行物相定性分析的一般步骤为的一般步骤为:用某一种实验方法获得待测试用某一种实验方法获得待测试样的衍射花样；样的衍射花样；计算并列出衍射花样中各衍射计算并列出衍射花样
31、中各衍射线的线的d值和相应的相对强度值和相应的相对强度I值；值；参考对比已知的资料鉴定出试参考对比已知的资料鉴定出试样的物相样的物相。定性物相鉴定过程中应注意的问题定性物相鉴定过程中应注意的问题 d比比I相对重要相对重要 低角度线比高角度线重要低角度线比高角度线重要 强线比弱线重要强线比弱线重要 要重视特征线要重视特征线 做定性分析中，了解试样来源、化做定性分析中，了解试样来源、化学成分、物理性质学成分、物理性质 不要过于迷信卡片上的数据，特别不要过于迷信卡片上的数据，特别是早年的资料是早年的资料，注意资料的可靠性。，注意资料的可靠性。d比比I相对重要相对重要从衍射图谱中得到的一系列面间距与强
32、度从衍射图谱中得到的一系列面间距与强度均可能有误差，而且影响线条强度的因素较位均可能有误差，而且影响线条强度的因素较位置的因素复杂得多。当测试所用辐射与卡片不置的因素复杂得多。当测试所用辐射与卡片不同时，其相对强度的差别更为明显。所以在定同时，其相对强度的差别更为明显。所以在定性分析时，强度往往是较次要的指标，应更重性分析时，强度往往是较次要的指标，应更重视面间距数据的吻合。对于一般物相分析问题，视面间距数据的吻合。对于一般物相分析问题，并不要求面间距的测量达到那样高的精确度。并不要求面间距的测量达到那样高的精确度。因此，将测量数据与卡片对照时，允许有一些因此，将测量数据与卡片对照时，允许有一
33、些偏差，但这偏差应是有规律的，当被测相中含偏差，但这偏差应是有规律的，当被测相中含有固溶元素时，则差别更为明显。有固溶元素时，则差别更为明显。低角度线比高角度线重要低角度线比高角度线重要这是因为对不同晶体来说，这是因为对不同晶体来说，低角度线的低角度线的d值相一致的机会很少值相一致的机会很少（晶面间距大），但对于高角度（晶面间距大），但对于高角度线（晶面间距小的）不同晶体间线（晶面间距小的）不同晶体间相互近似的机会增多。相互近似的机会增多。要重视特征线要重视特征线衍射花样中强度较高且衍射花样中强度较高且d值值较大的衍射线，它不受其它产地较大的衍射线，它不受其它产地和其它条件的影响，并且与其他和
34、其它条件的影响，并且与其他化合物的衍射线不相干扰，这些化合物的衍射线不相干扰，这些对鉴很有说服力。对鉴很有说服力。做定性分析中，必须了解试样来源、做定性分析中，必须了解试样来源、化学成分、物理性质化学成分、物理性质在多相混合物的衍射图谱中，属于不同相的某些衍射线条，在多相混合物的衍射图谱中，属于不同相的某些衍射线条，可能因面间距相近而相互重叠，所以，衍射图谱中的最强线实际可能因面间距相近而相互重叠，所以，衍射图谱中的最强线实际上可能并非某一相的最强线，而是由两个或两个以上物相的某些上可能并非某一相的最强线，而是由两个或两个以上物相的某些次强或三强线条叠加的结果。在这种情况下，若以该线条作为某次
35、强或三强线条叠加的结果。在这种情况下，若以该线条作为某相的最强线条，可能与该相粉末衍射标准图谱中的强度分布不符，相的最强线条，可能与该相粉末衍射标准图谱中的强度分布不符，或者说，找不到与此强度分布对应的卡片。此时，必须仔细分析，或者说，找不到与此强度分布对应的卡片。此时，必须仔细分析，重新假设和检索。有些物质的晶体结构相同，点阵参数相近，其重新假设和检索。有些物质的晶体结构相同，点阵参数相近，其衍射图谱在允许的误差范围内可能与几张卡片相近，这就需要结衍射图谱在允许的误差范围内可能与几张卡片相近，这就需要结合化学分析结果、试样来源、热处理条件，根据物质相组成关系合化学分析结果、试样来源、热处理条
36、件，根据物质相组成关系方面的知识，在满足结果的合理性和可能性的条件下，得到可靠方面的知识，在满足结果的合理性和可能性的条件下，得到可靠的结论。比较复杂的相分析工作，往往要与其他方法（如化学分的结论。比较复杂的相分析工作，往往要与其他方法（如化学分析、电子探针、能量色散谱析、电子探针、能量色散谱EDS）配合才能得出正确的结论。）配合才能得出正确的结论。不要过于迷信卡片上的数据，注不要过于迷信卡片上的数据，注意资料的可靠性。意资料的可靠性。如果标准卡片本身有误差，则将给分析如果标准卡片本身有误差，则将给分析者带来更大的困难。但这种误差已经逐渐得到者带来更大的困难。但这种误差已经逐渐得到纠正，新的比
37、较精确的标准卡片正在不断取代纠正，新的比较精确的标准卡片正在不断取代一些误差比较大的卡片。如果分析者在鉴定物一些误差比较大的卡片。如果分析者在鉴定物相过程中对卡片有所怀疑时，即应制备自己的相过程中对卡片有所怀疑时，即应制备自己的标准衍射图谱。标准衍射图谱。还需注意的问题还需注意的问题：当多相混合物中某相的含量很少时，或某相各晶当多相混合物中某相的含量很少时，或某相各晶面反射能力很弱时，它的衍射线条可能难于显现。面反射能力很弱时，它的衍射线条可能难于显现。因因此，此，X 射线衍射分析只能肯定某相的存射线衍射分析只能肯定某相的存在，而不能确定某相的不存在。在，而不能确定某相的不存在。在钨和碳在钨和
38、碳化钨的混合物中，仅含化钨的混合物中，仅含0.1wt%0.2wt%钨时，就能观钨时，就能观察到它的衍射线条；而碳化钨的含量在不少于察到它的衍射线条；而碳化钨的含量在不少于0.3 0.5wt%时，其衍射线条才可见。此外，对混合物时，其衍射线条才可见。此外，对混合物中含量很少的物相进行物相分析时，最要紧的是对照中含量很少的物相进行物相分析时，最要紧的是对照衍射图谱中的特征线条，即强度最大的三强线，因为衍射图谱中的特征线条，即强度最大的三强线，因为过少的含量将不足以产生该相完整的衍射图样。过少的含量将不足以产生该相完整的衍射图样。物相定量分析的基本原理物相定量分析的基本原理物物相相定定量量分分析析，
39、就就是是用用X射射衍衍射射方方法法来来测测定定混混合合物物相相中中各各种种物物相相的的含含量量百百分分数数，这这种种分分析析方方法法是是在在定定性性相相分分析析的的基基础础上上进进行行的的，它它的的依依据据在在于于一一种种物物相相所所产产生生的的衍衍射射线线强强度度，是是与与其其在在混混合合物物样样品品中中的的含含量量相关的。相关的。物相定量分析的基本原理物相定量分析的基本原理对单相样品，在确定的试验条件下，对一种物相的某一条衍射线而言，其强度公式可简化为其中，C为常数，V为衍射体积，为线吸收系数。可见，衍射强度与参与衍射体积成线性关系。对多相样品，其中任一相的某条衍射线的强度不仅与该相在混合
40、物中的含量有关，还与混合物中各相的吸收作用有关。因此，多相混合物中第j相的某条衍射线强度为物相定量分析的基本原理物相定量分析的基本原理式中，Cj为样品中与第j相相关的常数，xj为第j相的质量分数，j为第j相的密度，m为混合物的质量吸收系数。若试样中含有n相，则物相定量分析的基本原理物相定量分析的基本原理基体吸收效应对于多相混合样品，由于物质吸收的影响，多相物质中各相的吸收系数不同，从而使各相衍射强度Ij与其含量xj不成线性关系。多相混合样品的各种定量分析方法的关键问题:处理基体效应的不利影响。通常采用实验处理或简化计算等方法解决基体效应的影响。1直接对比法（单线条法）直接对比法（单线条法）2内标准法内标准法3基体清洗法（基体清洗法（K值法）值法）4任意内标法任意内标法5绝热法（自清洗法）绝热法（自清洗法）物相定量分析的基本方法物相定量分析的基本方法