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1、SPC统计过程控制(SPC统计量介绍)1常用统计量常用统计量1.Mean:(平均值)2.Max:(最大值)3.Min:(最小值)4.Range:(Max Min最大跨距)5.StdDev标准差6.Cp:(过程能力指数)7.Cr:(过程能力比值)8.k:(偏移系数)9.Cpu:(上限过程能力指数)10.Cpl:(下限过程能力指数)11.Cpk:(过程能力指数)12.Cpm:(目标能力指数)13.Zu(Cap):(规格上限SIGMA水平)14.Zl(Cap):(规格下限SIGMA水平)15.Fpu(Cap):(超出规格上限机率)2常用统计量常用统计量16.Fpl(Cap):(超出规格下限机率)17
2、.Fp(Cap):(超出规格限的机率)18.Pp:(过程性能指数)19.Pr:(过程性能比值)20.Ppu:(上限过程性能指数)21.Ppl:(下限过程性能指数)22.Ppk:(过程性能指数)23.Ppm:(目标过程性能指数)24.Zu(Perf):(规格上限SIGMA水平)25.Zl(Perf):(规格上限SIGMA水平)26.Fpu(Perf):(超出规格上限机率)27.Fpl(Perf):(超出规格下限机率)28.Fp(Perf):(超出规格界线的机率)29.Skewness:(偏度)30.Kurtosis:(峰度)3计算公式计算公式2 2 2 2、MaxMaxMaxMax最大值最大值最
3、大值最大值3 3 3 3、MinMinMinMin最小值最小值最小值最小值4 4 4 4、RangeRangeRangeRange最大跨距最大跨距最大跨距最大跨距1 1 1 1、MeanMeanMeanMean均值均值均值均值例:X1=2,X2=4,X3=6,X4=4,求MeanMean=(2+4+6+4)/4=4=(2+4+6+4)/4=4例:X1=2,X2=4,X3=6,X4=4,求MaxMax(2,4,6,4)=6(2,4,6,4)=6例:X1=2,X2=4,X3=6,X4=4,求MinMin(2,4,6,4)=2(2,4,6,4)=2例:X1=2,X2=4,X3=6,X4=4,求Ran
4、geRange(2,4,6,4)=6-2=4(2,4,6,4)=6-2=44计算公式计算公式6 6 6 6、CpCpCpCp:(:(:(:(过程能力指数过程能力指数过程能力指数过程能力指数)7 7 7 7、CrCrCrCr:(:(:(:(过程能力比值过程能力比值过程能力比值过程能力比值)5 5 5 5、StdDevStdDevStdDevStdDev标准差标准差标准差标准差例:X1=2,X2=4,X3=6,X4=4,求例:产品规格为(400.5),产品标准差为0.4,试计算CPCP=(40.5-39.5)/(6*0.4)=1/2.4=0.42例:产品规格为(400.5),产品标准差为0.4,试
5、计算CrCr=(6*0.4)/(40.5-39.5)=2.45计算公式计算公式8 8 8 8、k k k k:(:(:(:(偏移系数偏移系数偏移系数偏移系数)例:产品规格为(400.5),产品均值为40.2,试计算KK=(40.2-40)/(40.5-39.5)/2)=0.4评价产品检验结果偏离规格中心程度的质量指标评价产品检验结果偏离规格中心程度的质量指标!规格中心M产品均值规格宽度TK越大说明产品均越大说明产品均值偏离中心值越远值偏离中心值越远;6计算公式计算公式规格下限LSL产品均值规格上限USL所有检验数据形成一个数据分布,而用 可以衡量数据分布离散的大小;越小分布越好,数据越集中9
6、9 9 9、CpuCpuCpuCpu:(:(:(:(上限过程能力指数上限过程能力指数上限过程能力指数上限过程能力指数)例:产品规格为(400.5),产品均值为40.2,产品标准差为0.4试计算Cpu;Cpu=(40.5-40.2)/(0.4*3)=0.3/1.2=0.25Cpu越大越大,产品检验数据超出上限的概率就越小产品检验数据超出上限的概率就越小,也就也就是说产品超出上限的不合格品数量就越少是说产品超出上限的不合格品数量就越少;7计算公式计算公式10101010、CplCplCplCpl:(:(:(:(下限过程能力指数下限过程能力指数下限过程能力指数下限过程能力指数)例:产品规格为(400
7、.5),产品均值为40.2,产品标准差为0.4试计算Cpl;Cpl=(40.2-39.5)/(0.4*3)=0.7/1.2=0.58规格下限LSL产品均值规格上限USL所有检验数据形成一个数据分布,而用 可以衡量数据分布离散的大小;越小分布越好,数据越集中Cpl越大越大,产品检验数据超出下限的概率就越小产品检验数据超出下限的概率就越小,也就也就是说产品超出下限的不合格品数量就越少是说产品超出下限的不合格品数量就越少;8计算公式计算公式12121212、CpmCpmCpmCpm:(:(:(:(目标能力指数目标能力指数目标能力指数目标能力指数)11111111、CpkCpkCpkCpk:(:(:(
8、:(修正的过程能力指数修正的过程能力指数修正的过程能力指数修正的过程能力指数)Cpk=Min（Cpl，Cpu）=Cp(1-k)例:产品规格为(400.5),产品均值为40.2,产品标准差为0.4试计算Cpk;Cpk=Min(0.25,0.58)=0.25或Cpk=0.42*(1-0.4)=0.25例:产品规格为(400.5),目标值为40.2,产品均值为40.2,产品标准差为0.4试计算Cpm;Cpm=1/2.4=0.429计算公式计算公式产品均值规格上限USL13131313、Zu(Cap)Zu(Cap)Zu(Cap)Zu(Cap):(:(:(:(规格上限规格上限规格上限规格上限SIGMAS
9、IGMASIGMASIGMA水平水平水平水平)Zu(Cap)表示产品均值离规格上限有多少倍标准差?也表示为几个SIGMA10计算公式计算公式产品均值规格上限USLZl(Cap)表示产品均值离规格下限有多少倍标准差?也表示为几个SIGMA14141414、Zl(Cap)Zl(Cap)Zl(Cap)Zl(Cap):(:(:(:(规格下限规格下限规格下限规格下限SIGMASIGMASIGMASIGMA水平水平水平水平)11计算公式计算公式Fpu(Cap)表示产品检验结果超出规格上限的概率15151515、Fpu(Cap):(Fpu(Cap):(Fpu(Cap):(Fpu(Cap):(超出规格上限概率
10、超出规格上限概率超出规格上限概率超出规格上限概率)规格上限USL12计算公式计算公式Fpl(Cap)表示产品检验结果超出规格下限的概率规格上限USL16161616、Fpl(Cap):(Fpl(Cap):(Fpl(Cap):(Fpl(Cap):(超出规格下限机率超出规格下限机率超出规格下限机率超出规格下限机率)13计算公式计算公式Fpl(Cap)表示产品检验结果超出规格下限的概率规格上限USL规格上限LSL17171717、Fp(Cap):(Fp(Cap):(Fp(Cap):(Fp(Cap):(超出产品规格上下限的概率超出产品规格上下限的概率超出产品规格上下限的概率超出产品规格上下限的概率)1
11、4计算公式计算公式18181818、PpPpPpPp:(:(:(:(过程性能指数过程性能指数过程性能指数过程性能指数)19191919、Pr:(Pr:(Pr:(Pr:(过程性能比值过程性能比值过程性能比值过程性能比值)15计算公式计算公式20202020、Ppu:(Ppu:(Ppu:(Ppu:(上限过程性能指数上限过程性能指数上限过程性能指数上限过程性能指数)21212121、Ppl:(Ppl:(Ppl:(Ppl:(下限过程性能指数下限过程性能指数下限过程性能指数下限过程性能指数 )22222222、Ppk:(Ppk:(Ppk:(Ppk:(修正的过程性能指数修正的过程性能指数修正的过程性能指数
12、修正的过程性能指数 )Ppk=Min（Ppl，Ppu）=Pp(1-k)16计算公式计算公式25252525、Zl(Perf):(Zl(Perf):(Zl(Perf):(Zl(Perf):(规格上限规格上限规格上限规格上限SIGMASIGMASIGMASIGMA水平水平水平水平)23232323、Ppm:(Ppm:(Ppm:(Ppm:(目标过程性能指数目标过程性能指数目标过程性能指数目标过程性能指数)24242424、Zu(Perf):(Zu(Perf):(Zu(Perf):(Zu(Perf):(规格上限规格上限规格上限规格上限SIGMASIGMASIGMASIGMA水平水平水平水平)17计算公
13、式计算公式28282828、Fp(Perf):(Fp(Perf):(Fp(Perf):(Fp(Perf):(超出规格上下限的概率超出规格上下限的概率超出规格上下限的概率超出规格上下限的概率)26262626、Fpu(Perf):(Fpu(Perf):(Fpu(Perf):(Fpu(Perf):(超出规格上限概率超出规格上限概率超出规格上限概率超出规格上限概率)27272727、Fpl(Perf):(Fpl(Perf):(Fpl(Perf):(Fpl(Perf):(超出规格下限概率超出规格下限概率超出规格下限概率超出规格下限概率)18计算公式计算公式30303030、KurtosisKurtosisKurtosisKurtosis:(:(:(:(峰度峰度峰度峰度)29292929、SkewnessSkewnessSkewnessSkewness:(:(:(:(偏度偏度偏度偏度)19