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1、改善 SC312 FT 測試穩定性 測試一廠 R340黃敬晉黃敬晉 中正大學電機系 華邦電子測試二廠測試工程師 林廷慶林廷慶 台灣技術學院機械系 華邦電子測試二廠測試工程師許瑞仁許瑞仁 義守大學電子系 華邦電子測試二廠測試工程師R340 DOE IMPROVE TEAMOUTLINE1.現況分析2.要因分析 3.第一階段實驗4.第二階段實驗5.第三階段再現性實驗6.標準化選題理由SC312 TESTER FT SC312 TESTER FT 測試容易發生兩頭差異，測試容易發生兩頭差異，使得機台穩定性不佳。使得機台穩定性不佳。因兩頭差異的產生，造成良率因兩頭差異的產生，造成良率 lossloss
2、，批結良率批結良率不高。不高。利用利用 “D.O.ED.O.E”手法手法，找出找出 最佳生產條件最佳生產條件 ，以提升測試效率以提升測試效率 。現況分析R340現況分析(1)SC312 測試 FT 7/8/9 月各機台 MTBF 比較Testing I/R340Testing I/R340現況分析(2)Testing I/R340Testing I/R340現況分析(3)Testing I/R340Testing I/R340SC-4 測試 SB5521 3/4/5/6/7/8 月平均良率預期目標求穩求穩 1.1.機機台台 MTBFMTBF 1500 1500 分鐘分鐘 2.2.兩頭差異當機兩
3、頭差異當機 INDEX INDEX 貢獻貢獻 97%)97%Testing I/R340Testing I/R340要因分析R340特性要因圖為何FT測試會有兩頭差異Tester有問題有問題PE/card有問題PE/card品質不良PE/cardlevelshiftTestheadmount機不佳機不佳Head與handlermount機位置不佳Tester位置不佳head沒水平Head水平位置不正支撐架支撐不當太緊太鬆Contact不良不良Contact壓力不當太大太小Socket不良Socket阻值太大測太久氧化沾有異物Socket損壞壓2顆IC測太久變形Contactblade不良壓痕太
4、深壓座損壞Contactblade安裝不良墊片厚度不當線貨有問題線貨有問題包裝有問題膠體太厚膠體太薄POGOpin有問題凹陷線貨yield不佳太厚太薄測太久壓2顆ICContact壓力太大L/Board有問題有問題L/B上焊點不佳L/B斷線豐田原則像話原則特性要因圖為何FT測試會有兩頭差異Testheadmount機不佳機不佳Head與handlermount機位置不佳Tester位置不佳head沒水平Head水平位置不正支撐架支撐不當太緊太鬆Contact不良不良Contact壓力不當太大太小Socket不良Socket阻值太大測太久氧化沾有異物Socket損壞壓2顆IC測太久變形Conta
5、ctblade不良壓痕太深壓座損壞Contactblade安裝不良墊片厚度不當太厚太薄測太久壓2顆ICContact壓力太大豐田原則像話原則要因分析Testing I/R340Testing I/R340實驗因子篩選表因子選擇步驟一:控制力篩選步驟二:技術性篩選 母數1.水準可被指定2.指定之水準有自主權 策略一:第一階段實驗 篩選主要因子 策略二:第二階段實驗 找出最佳生產條件 策略三:再現性實驗 實驗策略有清楚的實驗策略比急著去做實驗更重要第一階段實驗R340直交配置Testing I/R340Testing I/R340實驗因子篩選表 實驗策略:篩選主要因子第一階段實驗目的:篩選因子因子
6、:多水準:少ANOVA 結果:顯著建議配置:2N 型(L16)直交配列表Testing I/R340Testing I/R340121315104121411356GBAFDCe798L16 2 點線圖15Experiment Plan實驗隨機編號實驗配置順序A-SupporterB-Tester水平角度C-Socket測試次數D-DropIn測試F-Machine速度G-Contact壓力14A1B1C1D2F2G125A2B1C2D1F2G1311A1B2C1D2F1G2412A2B1C1D2F2G2514A2B2C2D1F1G262A2B2C1D1F2G171A1B1C1D1F1G188
7、A2B1C2D2F1G199A2B1C1D1F1G2103A2B2C1D2F1G11116A1B1C2D2F1G2126A1B2C2D1F1G1137A1B2C2D2F2G11410A1B2C1D1F2G21513A1B1C2D1F2G21615A2B2C2D2F2G2Testing I/R340Testing I/R340Testing ResultTesting I/R340Testing I/R340ANOVA analysis(1)Testing I/R340Testing I/R340St=4725.00(%).=81.69%St=3263.75(%).=86.74%Yield_Di
8、fferentANOVA分析表TotalYieldANOVA分析表ANOVA analysis(2)Testing I/R340Testing I/R340Total Yield VARIANCEYield_Different VARIANCEANOVA analysis(3)Testing I/R340Testing I/R340Total yield貢獻度柏拉圖 Yield_different貢獻度柏拉圖 Testing I/R340Testing I/R340ANOVA analysis(4)Total_yield交互作用分析Yield_different交互作用分析Testing I/
9、R340Testing I/R340ANOVA analysis(5)第一階段實驗結論Cross TableCross TableTesting I/R340Testing I/R340兩害相權取其輕兩利相權取其重 第二階段實驗R340最佳生產條件期望端定義:1.生產成本要低 2.產品品質要好 第一階段實驗結論成本考量有利端保險端(水準一)(水準三)(水準二)直交配置Testing I/R340Testing I/R3403N型直交配置實驗常數項策略二:找出最佳生產條件第二階段實驗目的:找出最佳生產條件因子:少水準:多ANOVA 結果:不顯著建議配置:3N 型(L27)直交配列表Testing
10、 I/R340Testing I/R340CeGF125,6,7,8,10,11,12,133,49L27 3 點線圖13第二階段實驗配置Testing I/R340Testing I/R340直交配列表隨機實驗Testing ResultTesting I/R340Testing I/R340Testing I/R340Testing I/R340ST=71.18(%).=22.79%ANOVA analysis(1)ANOVA ResultVARIANCE無顯著因子!Testing I/R340Testing I/R340ANOVA analysis(2)貢獻度柏拉圖隨機誤差第二階段實驗結
11、論Testing I/R340Testing I/R340最佳生產條件第三階段再現性實驗Seeing is believing!Experiment Plan1.1.Tester&Handler:SC-4 SEIKO-4Tester&Handler:SC-4 SEIKO-42.2.Product:SB5521Product:SB55213.3.Factor Settings:Factor Settings:第二階段實驗之最佳生產條件第二階段實驗之最佳生產條件4.4.Data Collection:10/16 10/23Data Collection:10/16 10/235.5.觀察重點觀察重
12、點 :機台穩定性機台穩定性 及及 測試良率測試良率Testing I/R340Testing I/R340Machine StabilityTesting I/R340Testing I/R340註:10/16 10/23 RTC RECORD表示當機表示生產表示工程 表示 setupSC-4 測試狀況Conclusion(1)Testing I/R340Testing I/R340SC-4 測試週 MTBF 比較Machine Stability Raise!MTBF=8512 分Test Yield(Histogram)Testing I/R340Testing I/R340Realtim
13、e 測試良率統計量分配分析Testing I/R340Testing I/R340(=0.72%)(=97.79%)LCL=-3 xTest Yield(realtime_spc)Testing I/R340Testing I/R340 x=/nTest Yield(by lot)Average Yield=97.20%Testing I/R340Testing I/R34010/16 10/23 各批測試良率Conclusion(2)Testing I/R340Testing I/R34097.59%96.29%94.10%97.19%96.87%96.79%92%93%94%95%96%97%98%MarchApril MayJuneJuly AugustOctober(16-23)月份良率Testing I/R340Testing I/R340Good Yield Performance 97.20%Conclusion(3)效益評估Testing I/R340Testing I/R340 測試時間 670min/10000eaTesting Efficiency Increase!620min/10000ea 標準化標準化最佳生產條件TESTING I/R340 TESTING I/R340 DOE Improve team DOE Improve team