ORT测试规范.doc

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1、ORT测试规范ORT测试规范 文件编号:版本:A0制订:审核:批准: 2017/发布 2017/起实施一、文件制修记录(文件制修必须做记录) 版本修改内容制修人审核人批准人日期A0初次发行2017/3/29二、文件内容评审(根据适用范围确定参与评审的部门,并由负责人签字)评审领导签字评审部门签字评审部门签字管理者代表质量管理部市场发展部研发中心制造部科技部财务部办公室三、文件分发范围(对文件的适用范围进行分发并划“ ”电子档的划“e”)范围是否分发范围是否分发范围是否分发研发中心质量管理部市场发展部财务部制造部科技部办公室四、文件的归档(文控中心在下面填写并盖章)归档确认受控状态文件原版存于文

2、控中心,由文控中心负责统一管理。本文件版权属深圳中电长城信息安全系统有限公司所有,本文件的解释权归制修部门。文件编号生效日期目录1。目的12。适用范围13。职责14.引用标准15.定义16.工作内容26.1操作指引26。2说明 .。.。.。.。.。.。.。.。.。.。.。.。.。.。.。.。.。.。.。.26.3测试内容26.3.1安全性测试26。3。2电源适应能力36.3.3噪声测试36.3。4电磁兼容(EMC)46.3.5高低温、恒定湿热测试76。3。6振动测试106。3.7冲击试验116.3.8碰撞测试126。3。9跌落测试137。相关记录15QR824-09ORT测试报告151. 目的

3、建立ORT测试规范,确保自主可控产品的信赖性,提升产品品质,满足客户要求。2. 适用范围适用于本公司国产处理器计算机类产品的ORT测试。3. 职责 质量管理部/测试处:负责样品阶段的ORT测试.质量管理部/质量处:监督ORT测试的顺利进行。研发中心:针对外包厂实验室测试发现的问题及时分析与改善.4. 引用标准GB/T 2423。1-2008电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温;GB/T 2423.22008电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温;GB/T 2423。32006电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Cab:恒定湿热方法;GB/T 2423

4、.5-1995电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ea和导则:冲击;GB/T 2423。6-1995电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Eb和导则:碰撞;GB/T 2423。102008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Fc:振动(正弦);GB 17625.12012电磁兼容 限值 谐波电流发射限值 ;GB/T 17626。2-2006 电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验;GB9254-2008信息技术设备的无线电骚扰限值和测量方法 ;GB/T6882-2008 声学 声压法测定噪声源声功率级 消声室和半消声室精密法 。5. 定义下列定义适用于本标准

5、5。1信息技术设备(information technology equipment)ITE满足以下a)和b)条件的任何设备;a) 其主要功能为能对数据和电信消息进行录入、存储、显示、检索、传递、处理、交换或控制(或几种功能的组合),该设备可以配置一个或多个通常用于信息传递的终端端口;b) 额定电压不超过600V.例如,ITE包括数据处理设备、办公设备、电子商用设备、电信设备等。5。2 受试设备 (equipment under test)EUT有代表性的一个ITE或功能上有交互作用的一组ITE(即系统),它包括一个或多个宿主单元,并被用来对ITE进行评定。5.3 危险频率由于振动导致产品的性

6、能异常或劣化,或产生机械共振和其它响应效应如震颤的频率。6. 工作内容6。1操作指引6。1。1样机阶段a。 研发提供样机给测试处(具体数量由研发定)。b。 测试处根据测试大纲完成ORT测试。b。 质量处检查测试处测试的结果与测试项目的完整性。6.1.2量产阶段(例行检验)a。信安质量处要求外包厂质量管理部从正常库存品中随机抽取2台,送至外包厂实验室进行ORT测试。b.外包厂实验室根据ORT测试规范,完成所有测试,输出测试报告给外包厂质量管理部。c.测试中出现故障或者某项不通过时,应停止试验,由研发与外包厂工程查明故障原因,提出故障分析报告,重新进行该项试验。d。外包厂质量管理部提供最终测试报告

7、给信安质量处。6.1.3特殊阶段(间断性小批量生产、工艺变更、工厂搬迁等) 由质量处根据需要,在订单评审中总数量增加2台用于ORT测试(测试流程同6。1。2)。6.2说明 6。2。1本规范中,除气候环境测试、ESD测试外,其它试验在下述正常大气条件下进行。温度: 1535 相对湿度: 45 RH 75% RH大气压力: 86 kPa 106 kPa6.2.2 本规范中,一般情况测试样品数量为2台(有特殊情况,根据具体情况定)6.2.3做过ORT测试的机器原则上不能正常出货销售。6。3测试内容6。3.1安全性测试测试项目测试内容测试方法测试条件判定标准安规测试抗电强度1. 将安全综合测试仪输出的

8、电源线插入被测机器的电源输入插座;2. 接地夹夹在机器机箱上;3. 按测试仪“启动”键,开始测试;4. 记录测试仪屏幕的显示结果。V=1500V,T=60s I=10mA机器在试验过程中,不允许出现打火、飞弧或击穿等不良现象。接地连续性I=20A,T=30sR0.1对地漏电流V=24212V,T=60sI3。5mA6.3。2电源适应能力6。3.2.1测试要求设备在交流电198V242V, 49Hz51Hz,能正常工作。6。3。2.2测试步骤设置测试仪器,使测试仪器的电压及对应的频率分别按下表设置.电压频率220V50HZ198V49HZ198V51HZ242V49HZ242V51HZ将测试设备

9、,通电依次按照上述电压及频率进行通电运行.测试结果判定:设备运行正常,无断电、黑屏、闪烁不良。6.3。3噪声测试6。3。3。1测试要求:距离测试目标50cm,测试仪器与测试目标成30,测试噪声要求如下表:台式主机主机待机状态主机工作状态光驱工作状态测试距离50cm50cm50cm普通机型噪声限值(dBA)354248静音机型噪声限值(dBA)3238486.3。3.2测试步骤a) 将电脑置于安静的环境中,环境要求为25dB;b) 将电脑置于平台上,使电脑通电运行,不打开任何软件,用声级计测试机器运行的噪声值;c) 主机运行压力测试软件(如,压力测试程序+高清视频),用声级计测试机器运行的噪声值

10、;d) 待机状态下,插入光碟,使光驱运行,用声级计测试机器运行的噪声值。测试结果:噪声值符合测试要求。6.3。4电磁兼容(EMC)6。3.4。1静电放电(ESD)测试6.3.4.1.1 测试条件环境温度:1535相对湿度:30RH60%RH 大气压力:86kPa106kPa6。3。4。1.2测试等级 ESD试验应符合如下表所示。接触放电空气放电等级试验电源/kV等级试验电源/kV484156。3。4。1。3测试过程(a)在对计算机进行ESD测试前,待测设备必须以最敏感的方式(程序读/写循环)运行,需要运行测试软件及播放有声文件(音乐或视频文件),以显示待测设备全部工作方式确实地正常执行工作;备

11、注:如果在待测设备安装的操作系统(例如:Android, Unix等)下,无法正常使用测试软件,可播放有声的高清视频文件.(b) 对计算机可接触的导电表面,螺钉,端口等金属体进行接触放电,分别选择4个以上实验点进行(每点至少进行50次放电测试,正负极性各25次),其中一个实验点承受水平耦合板前缘中心距计算机0。1m处至少50次间接(接触)放电。实验电压4kV,用尖端接触放电枪头,最大放电重复频率为1次/秒。实验电压应从最小值逐渐增加至规定的试验值,以确定故障的临界值.(c) 对计算机可接触的壳体表面,按键,指示灯,壳体等的缝隙进行空气放电,分别选择3个以上实验点,每点进行至少20次单次放电,正

12、负极性各10次,实验电压8kV,用圆形空气放电枪头。实验电压应从最小值逐渐增加至规定的试验值,以确定故障的临界值。6。3.4.1。4测试结果判定测试后工作正常,测试过程中允许功能或性能暂时降低或丧失,但能自行恢复,存储数据不应丢失。举例:试验过程如果机器出现重启,不能通过测试。6。3。4。2 EMI(电磁干扰)测试6。3.4。2。1 辐射骚扰限值1)1GHz以下的限值B级ITE在测量距离R处(3m)的辐射骚扰限值频率范围 / MHz准峰值限值 / dB(V/m)3023040230100047备注:1。 在过渡频率(230MHz)处应采用较低的限值. 2. 当发生干扰时,允许补充其它的规定。

13、3. 产品的RE(radiation emission)测试峰值(peak值)需满足3 dB(V/m)裕量。4. 当peak值不满足3 dB(V/m)裕量要求时,以测试准峰值(QP值)为最终结果判定.2)1GHz以上的限值B级ITE在测量距离R处(3m)的辐射骚扰限值频率范围 / GHz平均值 / dB(V/m)峰值 / dB(V/m)135070365474备注:在过渡频率(3GHz)处应采用较低的限值.3) 测量频率上限的选择EUT的最高内部源指在EUT内部产生或使用的最高频率,或EUT工作或调谐的频率。如果EUT内部源的最高频率低于108MHz,则测量只进行到1GHz。如果EUT内部源的

14、最高频率在108MHz500MHz之间,则测量只进行到2GHz。 如果EUT内部源的最高频率在500MHz1GHz之间,则测量只进行到5GHz.如果EUT内部源的最高频率高于1GHz,则测量将进行到最高频率的5倍或6GHz,取两者中的小者。6.3.4.2.2电源端子骚扰电压限值B级ITE电源端子传导骚扰限值频率范围 / MHz限值 / dB(V)准峰值平均值0。150。50665656460.50556465306050备注:1。 在过渡频率(0.50MHz和5MHz)处应采用较低的限值。 2. 在0。150.50MHz频率范围内,限值随频率的对数呈线性减小。6.3.4.2。3电信端口的传导共

15、模骚扰限值B级电信端口传导共模(不对称)骚扰限值频率范围 / MHz电压限值 / dB(V)电流限值 / dB(A)准峰值平均值准峰值平均值0。150.5084747464403030200.503074643020备注: 1。 在0.150.50MHz频率范围内,限值随频率的对数呈线性减小。 2. 电流和电压的骚扰限值是使用了规定阻抗的阻抗稳定网络(ISN)的条件下导出的,该ISN对于受试的电信端口呈现150的共模(不对称)阻抗(转换因子为20lg150=44dB)。6。3.4。2.4 谐波电流限值 1)规定功率不大于600W的设备为D类设备(个人计算机和个人计算机显示器),D类设备的限值如

16、下表所示.D类设备的限值谐波次数n每瓦允许的最大谐波电流mA/W最大允许谐波电流A33.42.3041.91。1471.00.7780。50。40110.350.3313n39(仅有奇次谐波)3。85/n0。1515/n 2)谐波电流限值测量对于每一次谐波,规定在每一个DFT(离散傅里叶变换)时间窗口内测量1。5s的平滑有效谐波电流;按下表规定的整个观察周期内,计算由DFT时间窗口得到的测量值的算术平均值.在每一个DFT时间窗口内测量1。5s的平滑有功输入功率.在整个试验周期内,由DFT时间窗口确定功率的最大测量值。试验观察期设备运行类型观察周期(Tobs)准稳态Tobs应有足够的持续时间以满

17、足对重复性的要求短周期(Tcycle2.5min)Tobs10周期(参考法)或Tobs应有足够的持续时间或同步已满足对重复性的要求。随机Tobs具有足够的周期以满足对重复性的要求长周期(Tcycle2。5min)全部设备成新的周期(参考法)或典型的2。5min制造商认为产生最大THC(最大总谐波电流)的操作周期。6.3.5高低温、恒定湿热测试6。3。5.1高低温、恒定湿热测试测试项目测试对象测试方法测试标准高温运行整机1. 测试条件:40,12h2. 步骤:(1) 测试前,检查机器的的外观、电气性能等状况是否正常;(2) 将测试样品放于室温测试箱中,并将测试箱以1/min的温变率升至40,样品

18、通电运行,保持12H;(3) 时间达到12h时,确认样品是否正常运行。(4) 测试箱以1/min的温变率降到25,恢复2h,进行最终检查。高温运行过程无黑屏、死机、报错等异常现象。最后检查无异常。高温贮存整机1. 测试条件:60,48h;2. 步骤:(1) 测试前,检查机器的的外观、电气性能等状况是否正常;(2) 将测试样品放于常温测试箱中,并将测试箱以1/min的温变率升至60后,保持48H;(3) 然后将室温箱以1/min温变率降至25,恢复2h,进行最终检查.基本功能测试无异常。低温运行整机1. 测试条件:0,12h;2. 步骤:(1) 测试前,检查机器的的外观、电气性能等状况是否正常;

19、(2) 将测试样品放于室温测试箱中,测试箱以1/min的温变率将至0,然后样品通电运行,保持12h;(3) 时间达到12h时,确认样品是否运行正常。(4) 然后将室温箱以1/min温变率升至25,恢复2h,进行最终检查。无黑屏、死机等现象,系统没有报错,并监控其CPU温度。低温贮存整机1. 测试条件:40,48h;2. 步骤:(1) 测试前,检查机器的的外观、电气性能等状况是否正常;(2) 将处于室温的测试样品放于测试箱中,并将测试箱以1/min的温变率降至40,保持48h;(3) 然后将室温箱以1/min温变率升至0,恢复2h,进行最终检查。基本功能测试无异常.恒定湿热运行整机1。测试条件:

20、40,80RH、12h2。步骤:(1)测试前,检查机器的的外观、电气性能等状况是否正常;(2)将测试样品放于室温测试箱中,并将测试箱温度达到40度,湿度达到80%RH,样品通电运行,保持12h; (3)时间达到12h时,确认样品是否正常运行。(4)测试箱降到常温常湿,恢复2h,进行最终检查。运行过程无黑屏、死机、报错等异常现象.最后检查无异常.恒定湿热贮存整机1。测试条件:40,80%RH、48h2.步骤:(1) 测试前,检查机器的的外观、电气性能等状况是否正常;(2) 将测试样品放于常温测试箱中,测试箱温度达到40度,湿度达到80%RH,保持48h;(3)测试箱降到常温常湿,恢复2h,进行最

21、终检查.基本功能测试无异常。6。3。6振动测试6.3.6。1测试条件测试设备:扫频振动测试机样品状态:整机带包装6。3.6.2测试方法通常情况下,振动测试应符合如下表要求。振动适应性试 验 项 目试 验 内 容数 值初始和最后振动响应检查频率范围Hz1055扫频速度oct/min1驱动振幅mm0。15定频耐久检查驱动振幅mm0。75mm(10Hz25Hz)0。15(25Hz58Hz)持续时间min301扫频耐久检查频率范围Hz105510驱动振幅mm015扫频速度oct/min1循环次数5注:表中驱动振幅为峰值。受试样品按工作位置固定在振动台上,进行初始测试。受试样品在不工作状态下,按测试条件

22、规定值,分别对三个互相垂直的轴线方向进行振动。6.3.6.2.1初始振动响应检查测试在给定频率范围内,在一个扫频循环上完成。测试过程中记录危险频率,一个测试方向上最多不超过4个危险频率。6.3。6.2.2定频耐久测试用初始振动响应检查中记录的危险频率进行定频测试,如果两种危险频率同时存在,则不能只选其中一种.在测试规定频率范围内如无明显危险频率,或危险频率超过四个则不做定频的耐久测试,仅做扫频耐久测试.6。3。6。2.3扫频耐久测试按测试条件给定的频率范围由低到高,再由高到低,作为一次循环。按测试条件规定的循环次数进行,已做过定频耐久测试的样品不再做扫频耐久测试。6.3。6。2.4最后振动响应

23、检查对于已做过定频耐久测试的受试样品须做此项测试,对于作过扫频耐久测试的样品,可将最后一次扫频测试作为振动响应检查。本测试须将记录的共振频率与初始振动响应检查记录的共振频率相比较,若有明显变化,应对受试样品进行修整,重新进行该项测试。6。3。6.3 测试完成后,进行检查:a)无机械损伤,外壳没有破损,断裂等;b)内插件没有松动、脱落;c)机器能正常开机;d)机器12小时开机稳定性测试正常.6。3。7冲击试验6。3.7。1冲击试验主要用来确定产品在使用和运输过程中承受非多次重复的机械冲击的能力,以评价其对冲击环境的适应性和结构完好性.可以作为确定产品结构强度满意设计和质量控制手段。6。3。7.2

24、 试验条件试验设备:冲击/碰撞试验机样品状态:本试验主要针对非包装样品 冲击试验应符合如下表要求:冲击适应性峰值加速度m/s2脉冲持续时间ms冲击波形15011半正弦波6.3.7.3 测试方法6。3.7。3。1受试样品须进行初始测试,安装时要注意重力影响,按表1规定值,在不工作条件下,分别对三个互相垂直的轴线方向进行冲击.试验后进行最后测试。6。3.7。3.2初始测试:在进行冲击试验之前应对试验样机进行外观、功能各方面的测试.6。3.7。3。3将试验样机按照装配要求装配到试验机台上.6。3.7。3。4冲击的施加 应对样品的三个互相垂直方向的每一方向连续施加三次冲击,即共18次。6.3。7.3.

25、5冲击实验完毕后开机对试验样机进行最后测试:1)试验样机外观是否变形或受损.2) 试验样机内部构造是否变形、受损、或脱落。3) 试验样机进行功能和性能测试,记录检查和测试结果,并与试验前数据进行比较。6。3.7。3。6结果判定 试验样机最后测试结果正常,则判定冲击试验通过。6.3。8碰撞测试6.3.8.1碰撞试验主要使用于那些在运输过程中和使用过程中可能经受到重复碰撞影响的产品,其目的是确定产品在使用和运输过程中受多次重复性机械碰撞的适应性及评定其结构完好性。也可以作为确定产品结构强度满意设计和质量控制的手段。6。3。8.2 试验条件试验设备:冲击/碰撞试验机样品状态:本试验主要针对非包装样品

26、碰撞适应性符合如下表要求: 碰撞适应性峰值加速度m/s2脉冲持续时间ms碰撞次数冲击波形100161000半正弦波6.3。8.3 测试方法6.3。8.3。1受试样品须进行初始测试,安装时要注意重力影响,按上表规定值,在不工作条件下,分别对三个互相垂直的轴线方向进行碰撞,试验后进行最后测试。6。3.8。3。2初始测试:在进行碰撞试验之前应对试验样机进行外观、尺寸和功能各方面的测试。6。3。8。3。3将试验样机按照装配要求装配到试验机台上。6。3。8。3.4碰撞的施加 应对样品的三个互相垂直方向的每一方向连续施加1000次碰撞.6。3。8。3。5碰撞实验完毕后开机对试验样机进行最后测试.1)试验样

27、机外观是否变形或受损.2) 试验样机内部构造是否变形、受损、或脱落.3) 试验样机进行功能和性能测试,记录检查和测试结果,并与试验前数据进行比较。6.3.8.3。6 结果判定 试验样机最后测试结果正常,则判定碰撞试验通过.6。3.9跌落测试6。3。9.1跌落样品的准备:按照出厂状态将样机包装好,测量样机的重量.6.3.9。2跌落设备:跌落测试机6。3。9。3跌落标准高度6.3。9.3。1 一般情况下,跌落高度按照如下表进行设置:包 装 件 质 量(kg)跌 落 高 度(mm)1510001530800304060040455004550400503006。3.9.3。2跌落要求:分别对包装件的

28、一个角及构成角的三个棱和六个面进行跌落测试(对于不可倒置的产品,对其底面进行连续五次的跌落测试)。6。3。9.4跌落测试步骤:6.3。9。4。1提起测试样品至所需的跌落高度位置,并按预定状态将其支撑住。其直起高度与预定高度之差不得超过预定高度的2.跌落高度是指准备释放时测试样品是最低点与冲击台面之间的距离。6.3。9.4.2按下列预定状态,释放测试样品:a)面跌落时,使测试样品的跌落面与水平面之间的夹角最大不超过2;b)棱跌落时,使跌落的棱与水平南之间的夹角最大不超过2,测试样品上规定面与冲击台面夹角的误差不大于5或夹角的10%(以较大数值为准),使测试样品的重力线通过被跌落的棱;c)角跌落时,测试样品上规定面与冲击台面的夹角误差不大于5或此夹角的10(以较大数值为准),使测试样品的重力线通过被跌落的角;d)无论何种状态和形状的测试样品,都应使测试样品的重力线通过被跌落的面、线、点。6。3。9.5跌落测试完成后,测试纸箱:1)纸箱不应开胶、裂损.2)箱钉不能脱落或断折。3)纸箱内装物品的机械性能和电气性能均应正常。4)纸箱、机箱标签完好无损。7.相关记录 QR82409ORT测试报告 第16页

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