第六章_原子吸收光谱分析法.ppt

《第六章_原子吸收光谱分析法.ppt》由会员分享，可在线阅读，更多相关《第六章_原子吸收光谱分析法.ppt（59页珍藏版）》请在taowenge.com淘文阁网|工程机械CAD图纸|机械工程制图|CAD装配图下载|SolidWorks_CaTia_CAD_UG_PROE_设计图分享下载上搜索。

1、第六章第六章 原子吸收光谱法原子吸收光谱法(Atomic Absorption Spectrometry,AAS)概概 述述原子吸收光谱法原子吸收光谱法：又称原子吸收分光光度法又称原子吸收分光光度法 根据物质的基态原子蒸气对同类原子的特征辐根据物质的基态原子蒸气对同类原子的特征辐射的吸收作用来进行元素定量分析的方法。射的吸收作用来进行元素定量分析的方法。原子吸收光谱分析的基本过程：原子吸收光谱分析的基本过程：如欲测定试样中某元素含量，用该元素的锐线光源发如欲测定试样中某元素含量，用该元素的锐线光源发射出特征辐射，试样在原子化器中被蒸发、解离为气态基射出特征辐射，试样在原子化器中被蒸发、解离为气

2、态基态原子，当元素的特征辐射通过该元素的气态基态原子区态原子，当元素的特征辐射通过该元素的气态基态原子区时，元素的特征辐射因被气态基态原子吸收而减弱，经过时，元素的特征辐射因被气态基态原子吸收而减弱，经过色散系统和检测系统后，测得吸光度，根据吸光度与被测色散系统和检测系统后，测得吸光度，根据吸光度与被测定元素的浓度线性关系，从而进行元素的定量分析。定元素的浓度线性关系，从而进行元素的定量分析。AAS的特点的特点（1 1）检出限低，灵敏度高）检出限低，灵敏度高 火焰原子吸收法的检出限可达到火焰原子吸收法的检出限可达到ngmlngml-1-1级，级，石墨炉原子吸收法的检出限可达到石墨炉原子吸收法的

3、检出限可达到1010-10-10-10-10-14-14g g。（2 2）准确度好）准确度好 火焰原子吸收法的相对误差为小于火焰原子吸收法的相对误差为小于1%1%，石墨石墨炉原子吸收法的相对误差一般约为炉原子吸收法的相对误差一般约为3%-5%3%-5%。（3 3）选择性好）选择性好 多数情况下，共存元素对被测元素不产生干扰。多数情况下，共存元素对被测元素不产生干扰。（4 4）分析速度快）分析速度快 用用P-E5000P-E5000型自动原子吸收仪在型自动原子吸收仪在35min35min，能能连续测定连续测定5050个试样中的个试样中的6 6中元素。中元素。（5 5）应用范围广）应用范围广 可测

4、定的元素多达可测定的元素多达7070余种，可以测定金属、余种，可以测定金属、非金属和有机化合物。非金属和有机化合物。（6）仪器简单，操作方便）仪器简单，操作方便 原子吸收光谱法的原子吸收光谱法的不足之处不足之处：多种元素同时测定尚：多种元素同时测定尚有困难，有相当一些元素的测定灵敏度还不能令人满意。有困难，有相当一些元素的测定灵敏度还不能令人满意。AAS的特点的特点AAS的基本原理的基本原理一、共振线一、共振线 1.1.原子的能级与跃迁原子的能级与跃迁 基基态态第第一一激激发发态态,吸吸收收一一定定频频率率的的辐辐射射能能量量。产产生生的的吸吸收收线叫共振吸收线（简称共振线）线叫共振吸收线（简

5、称共振线）吸收光谱吸收光谱 激激发发态态基基态态，发发射射出出一一定定频频率率的的辐辐射射。所所释释放放的的光光线线叫叫共共振发射线（也简称共振线）振发射线（也简称共振线）发射光谱发射光谱 2.2.元素的特征谱线元素的特征谱线 1 1）各种元素的原子结构和外层电子排布不同）各种元素的原子结构和外层电子排布不同 跃迁吸收能量不同跃迁吸收能量不同具有特征性具有特征性 2 2）各种元素的基态）各种元素的基态第一激发态第一激发态 最易发生、吸收最强、最灵敏线，最易发生、吸收最强、最灵敏线，特征谱线特征谱线 3 3）利用）利用特征谱线特征谱线(共振线共振线)可以进行定量分析。可以进行定量分析。二、原子吸

6、收光谱轮廓与谱线变宽二、原子吸收光谱轮廓与谱线变宽 1.1.吸收定律吸收定律Iv=I0exp(-Kvl)I0、Iv分别是频率为分别是频率为v的入射光和透过光的强的入射光和透过光的强度；度；Kv为原子蒸气对频率为为原子蒸气对频率为v的入射光的吸收的入射光的吸收系数；系数；l 为原子蒸气的宽度。为原子蒸气的宽度。AAS的基本原理的基本原理原原子子结结构构较较分分子子结结构构简简单单，理理论论上上应应产产生生线线状状光谱吸收线。光谱吸收线。实实际际上上用用特特征征吸吸收收频频率率左左右右范范围围的的辐辐射射光光照照射射时，获得一峰形吸收：具有一定宽度。时，获得一峰形吸收：具有一定宽度。透射光强度透射

7、光强度Iv 和吸收系数和吸收系数Kv与辐射频率与辐射频率v有关有关.以以Iv与与v 作图作图,以以Kv与与 作图：作图：2.2.吸收线的轮廓和变宽吸收线的轮廓和变宽AAS的基本原理的基本原理表征吸收线轮廓（峰）的参数：表征吸收线轮廓（峰）的参数：中心频率中心频率 O(峰值频率峰值频率):最大吸收系数对应的频率最大吸收系数对应的频率中心波长中心波长(nm):最大吸收系数对应的波长最大吸收系数对应的波长半宽度半宽度 O(吸收线宽度吸收线宽度)：峰值吸收值一半处的频率：峰值吸收值一半处的频率 原子吸收线的宽度约为原子吸收线的宽度约为10-3-10-2nm(折合成波长折合成波长)。AAS的基本原理的基

8、本原理3.3.吸收峰变宽原因吸收峰变宽原因 自然变宽自然变宽(N N或或N N):):在无外界条件影响时，谱线的固有宽度称为自在无外界条件影响时，谱线的固有宽度称为自然宽度然宽度,它与原子发生能级间跃迁时激发态原子的它与原子发生能级间跃迁时激发态原子的平均寿命平均寿命(10-8-10-5 s)有关，寿命越长，则谱线宽有关，寿命越长，则谱线宽度就越窄，度就越窄，自然宽度造成的影响与其他因素相比自然宽度造成的影响与其他因素相比可以忽略不计。可以忽略不计。AAS的基本原理的基本原理T为绝对温度，为绝对温度，Ar为相对原子质量。为相对原子质量。温度升高，原子的相对热运动剧烈，热宽温度升高，原子的相对热

9、运动剧烈，热宽度增大。即使在温度较低时，也比自然宽度要度增大。即使在温度较低时，也比自然宽度要严重，因此必须引起注意。严重，因此必须引起注意。多普勒变宽多普勒变宽(D或或D):):由于原子在空间作无规则热运动所引起的谱由于原子在空间作无规则热运动所引起的谱线变宽，因而又称为线变宽，因而又称为热变宽热变宽。AAS的基本原理的基本原理劳伦兹劳伦兹(Lorentz)变宽变宽(L或或L):由于原子相互碰撞使能量发生稍微变化。由于原子相互碰撞使能量发生稍微变化。待测待测原子和其他原子碰撞，通常原子和其他原子碰撞，通常L L为为1010-4-4-10-10-3-3，劳伦，劳伦兹变宽随外界气体压力的升高而加

10、剧，有称为压兹变宽随外界气体压力的升高而加剧，有称为压力变宽，随温度的升高谱线变宽呈下降的趋势。力变宽，随温度的升高谱线变宽呈下降的趋势。AAS的基本原理的基本原理赫鲁兹马克赫鲁兹马克(Holtzmark)变宽变宽(R或或R):同种原子碰撞，又称为共振变宽，同种原子碰撞，又称为共振变宽，R R随着待测随着待测元素原子密度升高而增大，在原子吸收法中，测定元素原子密度升高而增大，在原子吸收法中，测定元素的浓度较低，元素的浓度较低，R R一般可以忽略不计一般可以忽略不计 。自吸变宽：自吸变宽：光源辐射共振线被光源周围较冷的同种原子所吸光源辐射共振线被光源周围较冷的同种原子所吸收的现象叫做自吸，自吸现

11、象使谱线强度降低，同收的现象叫做自吸，自吸现象使谱线强度降低，同时导致谱线变宽。时导致谱线变宽。AAS的基本原理的基本原理 除上述的变宽原因之外，还有电场致宽、除上述的变宽原因之外，还有电场致宽、磁场致宽。但在通常原子吸收实验条件下，吸磁场致宽。但在通常原子吸收实验条件下，吸收线轮廓主要受多普勒变宽和劳伦兹变宽的影收线轮廓主要受多普勒变宽和劳伦兹变宽的影响。当采用火焰原子化器时，劳伦兹变宽为主响。当采用火焰原子化器时，劳伦兹变宽为主要因素；当采用无火焰原子化器时，多普勒变要因素；当采用无火焰原子化器时，多普勒变宽占主要地位。宽占主要地位。谱线变宽往往会导致原子吸收分析的灵敏谱线变宽往往会导致原

12、子吸收分析的灵敏度下降。度下降。AAS的基本原理的基本原理三、基态原子数与原子化温度三、基态原子数与原子化温度 在在原原子子化化过过程程中中，多多数数原原子子处处于于基基态态，有有部部分分原原子子成成为为激激发发态态原原子子。在在处处于于一一定定条条件件的的热热平平衡衡状状态态下下，激激发发态态原原子数子数NNi i与基态原子数与基态原子数NN0 0之间的关系可用波耳兹曼方程表示之间的关系可用波耳兹曼方程表示 gi和和gO分分别别为为激激发发态态和和基基态态的的统统计计权权重重，Ei表表示示激激发发能能。温温度度越越高高，Ni/N0值值越越大大。通通常常原原子子化化火火焰焰温温度度低低于于30

13、00K，激激发发态态原原子子数数Ni与与基基态态原原子子数数No之之比比较较小小,1%.可可以以用用基态原子数代表待测元素的原子总数基态原子数代表待测元素的原子总数NN。AAS的基本原理的基本原理例题例题计算计算2000K和和3000K时时,Na589.0nm的激发态的激发态与基态原子数之比各为多少？已知与基态原子数之比各为多少？已知gi/g0=2解：解：T=2000K：T=3000K：Ni/N0值小于值小于1%，基态占原子总数的，基态占原子总数的99%以上，可以以上，可以用用N0代表原子化器中原子总数代表原子化器中原子总数N。四、原子吸收法的测量四、原子吸收法的测量1.1.积分吸收测量法积分

14、吸收测量法 测量气态基态原子测量气态基态原子吸收共振线的总能量称吸收共振线的总能量称为为积分吸收测量法积分吸收测量法。它。它相当于吸收线轮廓下面相当于吸收线轮廓下面所包围的整个面积。所包围的整个面积。AAS的基本原理的基本原理 19551955年澳大利亚物理学家沃尔士提出采用锐年澳大利亚物理学家沃尔士提出采用锐线光源，测量吸收线的峰值吸收。线光源，测量吸收线的峰值吸收。所谓锐线光源：能发射出谱线半宽度很窄的所谓锐线光源：能发射出谱线半宽度很窄的(0.0005-0.002nm)(0.0005-0.002nm)辐射线的光源。峰值吸收是辐射线的光源。峰值吸收是采用测定吸收线中心的极大吸收系数采用测定

15、吸收线中心的极大吸收系数K K0 0来代替积来代替积分吸收的方法来测定元素含量的。分吸收的方法来测定元素含量的。2.2.峰值峰值吸收测量法吸收测量法AAS的基本原理的基本原理锐线光源的条件锐线光源的条件(1)(1)锐线光源辐射的发射线与原锐线光源辐射的发射线与原子吸收线的中心频率完全一致；子吸收线的中心频率完全一致；(2)(2)锐线光源发射线的半宽度锐线光源发射线的半宽度比吸收线的半宽度更窄，一般比吸收线的半宽度更窄，一般为吸收线半宽度的为吸收线半宽度的1/51/101/51/10。v0I发射线发射线吸收线吸收线AAS的基本原理的基本原理 试样经原子化后获得的原子蒸气吸收锐线光源的辐试样经原子

16、化后获得的原子蒸气吸收锐线光源的辐射并遵守朗伯射并遵守朗伯-比尔定律：比尔定律：在一定温度下，在一定温度下，v vD D为常数，吸收厚度为常数，吸收厚度 l l一定，基态一定，基态原子数与被测定物质中元素的浓度原子数与被测定物质中元素的浓度c c成正比。成正比。原子吸收测量的基本关系式原子吸收测量的基本关系式 当吸收厚度一定，在一定实验条件下，吸光当吸收厚度一定，在一定实验条件下，吸光度与被测元素的含量成线性关系。度与被测元素的含量成线性关系。A=KCAAS的基本原理的基本原理一、光一、光 源源二、二、原子化系统原子化系统三、三、分光分光 系统系统四、四、检测检测 系统系统原子吸收光谱仪及主要

17、部件原子吸收光谱仪及主要部件原子吸收光谱仪原子吸收光谱仪仪器流程仪器流程 仪器主要由锐线光源、原子化器、分光系统、仪器主要由锐线光源、原子化器、分光系统、检测系统和电源同步调制系统五部分组成。检测系统和电源同步调制系统五部分组成。一、光一、光 源源 提供待测元素的特征光谱。获得较高的灵敏提供待测元素的特征光谱。获得较高的灵敏度和准确度。度和准确度。（1 1）能发射待测元素的共振线；）能发射待测元素的共振线；（2 2）能发射锐线；）能发射锐线；（3 3）辐射光强度大，稳定性好。）辐射光强度大，稳定性好。1 1、作用：、作用：光源应满足如下要求：光源应满足如下要求：2.空心阴极灯(Hollow C

18、athode Lamp,HCL)，又称元素灯：石英窗阳极阴极云母屏蔽惰性气体：氖或氩一、光一、光 源源空心阴极灯的原理空心阴极灯的原理 施加适当电压时，电子将从空心阴极内壁流向阳极施加适当电压时，电子将从空心阴极内壁流向阳极;与与充充入入的的惰惰性性气气体体碰碰撞撞而而使使之之电电离离，产产生生正正电电荷荷，其其在在电电场作用下，向阴极内壁猛烈轰击场作用下，向阴极内壁猛烈轰击;使使阴阴极极表表面面的的金金属属原原子子溅溅射射出出来来，溅溅射射出出来来的的金金属属原原子子再再与与电电子子、惰惰性性气气体体原原子子及及离离子子发发生生撞撞碰碰而而被被激激发发，于于是是阴阴极内辉光中便出现了阴极物质

19、和内充惰性气体的光谱。极内辉光中便出现了阴极物质和内充惰性气体的光谱。用不同待测元素作阴极材料，可制成相应空心阴极灯。用不同待测元素作阴极材料，可制成相应空心阴极灯。空空心心阴阴极极灯灯的的辐辐射射强强度度与与灯灯的的工工作作电电流流有有关关，增增大大电电流流可可以以增增加加发发光光强强度度，但但工工作作电电流流过过大大，会会使使辐辐射射的的锐锐线线谱谱带带变宽，缩短灯的使用寿命。变宽，缩短灯的使用寿命。1.1.优缺点：优缺点：（1 1）辐射光强度大，稳定，谱线窄，灯容易更换。）辐射光强度大，稳定，谱线窄，灯容易更换。（2 2）每测一种元素需更换相应的灯。）每测一种元素需更换相应的灯。2.2.

20、空心阴极灯的使用注意事项：空心阴极灯的使用注意事项：(1)(1)空心阴极灯使用前应预热空心阴极灯使用前应预热2030min2030min，使灯的发光使灯的发光强度达到稳定；强度达到稳定；(2)(2)点燃后可从灯发射出光的颜色判断灯的工作是否正常点燃后可从灯发射出光的颜色判断灯的工作是否正常HCL的优缺点及注意事项的优缺点及注意事项(3)(3)元素灯长期不用，应定期元素灯长期不用，应定期(每月或每隔二、三每月或每隔二、三)点燃处理点燃处理1h1h(4)(4)使用元素灯时应轻拿轻放，低熔点的灯用完后，要等冷使用元素灯时应轻拿轻放，低熔点的灯用完后，要等冷却后才能移动。却后才能移动。HCL的优缺点及

21、注意事项的优缺点及注意事项motorizedMirror固定固定4 4 灯位灯位 方法：方法：充氖气的灯发射光的颜色是橙红色；充氩气的灯充氖气的灯发射光的颜色是橙红色；充氩气的灯是淡紫色；当灯内有杂质气体时，发射光的颜色变淡，是淡紫色；当灯内有杂质气体时，发射光的颜色变淡，如充氖气的灯，颜色可变为粉红，发蓝或发白。如充氖气的灯，颜色可变为粉红，发蓝或发白。二、原子化系统1.1.作用作用：将试样蒸发并使待测元素转变成基态原子蒸气。将试样蒸发并使待测元素转变成基态原子蒸气。2.2.原子化方法：原子化方法：火焰原子化法火焰原子化法 非火焰原子化法非火焰原子化法电热高温石墨管，激光。电热高温石墨管，激

22、光。3.3.火焰原子化装置火焰原子化装置由四部分组成：由四部分组成：雾化器雾化器 雾化室雾化室 供气系统供气系统 燃烧器燃烧器雾化器雾化器作用：将试液雾化作用：将试液雾化原理：采用同心型气动雾化器，以具有一定压力的压缩空原理：采用同心型气动雾化器，以具有一定压力的压缩空气为助燃气进入雾化器，从进样毛细管周围高速喷出，在气为助燃气进入雾化器，从进样毛细管周围高速喷出，在前端形成负压，试样沿毛细管吸入再喷出，被快速通入的前端形成负压，试样沿毛细管吸入再喷出，被快速通入的助燃气分散成雾粒，撞击球则使雾粒进一步雾化。助燃气分散成雾粒，撞击球则使雾粒进一步雾化。雾化器的效率一般在雾化器的效率一般在10%

23、10%左右，较低。效率与试样的粘度、左右，较低。效率与试样的粘度、表面张力、密度、空气的压力、撞击球相对位置等有关。表面张力、密度、空气的压力、撞击球相对位置等有关。雾化室雾化室 又称为预混室。它的作用：又称为预混室。它的作用：使较大雾粒沉降、凝聚从废液口排出；使较大雾粒沉降、凝聚从废液口排出；使雾粒与燃气、助燃气均匀混合形成气溶胶，使雾粒与燃气、助燃气均匀混合形成气溶胶，再进入火焰原子化；再进入火焰原子化；起起“缓冲缓冲”稳定混合气气压作用，使燃烧器产稳定混合气气压作用，使燃烧器产生稳定火焰。生稳定火焰。燃烧器燃烧器作用：作用：使燃气在助燃气的作用下形成火焰，使进使燃气在助燃气的作用下形成火

24、焰，使进入火焰的试样微粒原子化。入火焰的试样微粒原子化。燃烧器是用不锈钢材料制成的，耐高温、耐腐蚀。燃烧器是用不锈钢材料制成的，耐高温、耐腐蚀。火焰类型：火焰类型：化学计量火焰：化学计量火焰：温度高，干扰少，稳定，背景低，常用。温度高，干扰少，稳定，背景低，常用。富燃火焰：富燃火焰：还原性火焰，燃烧不完全，测定较易形成难熔还原性火焰，燃烧不完全，测定较易形成难熔 氧化物的元素氧化物的元素MoMo、CrCr稀土等。稀土等。贫燃火焰：贫燃火焰：火焰温度低，氧化性气氛，适用于碱金属测定。火焰温度低，氧化性气氛，适用于碱金属测定。火焰原子化的过程包括：雾粒的脱溶干燥、气化解离火焰原子化的过程包括：雾粒

25、的脱溶干燥、气化解离成为基态原子蒸气。成为基态原子蒸气。MX(l)脱溶脱溶MX(s)气化气化MX(g)原子化原子化M0(g)+X0(g)M0(g)激发激发M*(g)电离电离M+(g)+e-火焰原子化器火焰原子化器 火焰原子化器操作简便，但雾化效率低，火焰原子化器操作简便，但雾化效率低，原子化效率也低。基态原子在火焰吸收区中停原子化效率也低。基态原子在火焰吸收区中停留的时间约留的时间约1010-4-4s s，同时原子蒸气在火焰中被大同时原子蒸气在火焰中被大量气体稀释，使其灵敏度较低。量气体稀释，使其灵敏度较低。火焰温度的选择：火焰温度的选择：（a a）保证待测元素充分离解为基态原子的前提下，尽量

26、采保证待测元素充分离解为基态原子的前提下，尽量采 用低温火焰；用低温火焰；（b b）火焰温度越高，产生的热激发态原子越多；火焰温度越高，产生的热激发态原子越多；（c c）火焰温度取决于燃气与助燃气类型，常用空气火焰温度取决于燃气与助燃气类型，常用空气-乙炔，乙炔，最高温度最高温度2600K2600K能测能测3535种元素。种元素。火焰原子化器火焰原子化器非火焰原子化器非火焰原子化器 又称为电热原子化器，其种类很多，如电热高又称为电热原子化器，其种类很多，如电热高温石墨炉、石墨坩埚、石墨碳棒炉、镍炉、高频感温石墨炉、石墨坩埚、石墨碳棒炉、镍炉、高频感应加热炉、空心阴极溅射等。其中应用最广泛的是应

27、加热炉、空心阴极溅射等。其中应用最广泛的是电热高温电热高温石墨炉石墨炉。石墨炉结构。石墨炉结构。石墨炉原子化器的结构由三部分组成：石墨炉原子化器的结构由三部分组成：炉体，石墨管，电、水、气供应系统。炉体，石墨管，电、水、气供应系统。石墨管：石墨管：由致密石墨制成，管中央上方开有进样孔，试液由致密石墨制成，管中央上方开有进样孔，试液用微量注射器或蠕动泵自动进样。用微量注射器或蠕动泵自动进样。炉体：炉体：由电极、石墨锥、水冷却套管、载气和保护气气路、由电极、石墨锥、水冷却套管、载气和保护气气路、石英窗等组成。石墨锥具有固定石墨管和导电作用；冷却水石英窗等组成。石墨锥具有固定石墨管和导电作用；冷却水

28、使炉体降温；使炉体降温；外气路中外气路中ArAr气体沿石墨管外壁流动，冷却保护气体沿石墨管外壁流动，冷却保护石墨管石墨管防止其被氧化防止其被氧化；内气路中；内气路中ArAr气体由气体由石墨石墨管两端流入，管两端流入，从中心从中心进样进样孔流出，用来保护原子不被氧化，同时排除干燥孔流出，用来保护原子不被氧化，同时排除干燥和灰化过程中产生的蒸汽。和灰化过程中产生的蒸汽。加热电源：加热电源：惰性气体保护下，用惰性气体保护下，用10-25V低电压、低电压、400-600A大电流的交流电，通过电极和石墨锥向石墨管供电，使石墨大电流的交流电，通过电极和石墨锥向石墨管供电，使石墨管迅速升温，将试样原子化，最

29、高温度可达管迅速升温，将试样原子化，最高温度可达3000K以上。以上。石墨炉原子化器石墨炉原子化器原子化过程原子化过程干燥：干燥：石墨炉以小电流工作，温度控制在稍高于溶剂的沸点石墨炉以小电流工作，温度控制在稍高于溶剂的沸点 赶掉溶剂，以避免在灰化、原子化时试样飞溅。赶掉溶剂，以避免在灰化、原子化时试样飞溅。如：水溶液的干燥温度：如：水溶液的干燥温度：105-110。灰化：灰化：除去易挥发的基体和有机物，以减少分子吸收。除去易挥发的基体和有机物，以减少分子吸收。灰化温度：灰化温度：500-800，灰化时间：，灰化时间：10-20s。原子化：原子化：石墨炉继续升温至待测元素的原子化温度，试样石墨炉

30、继续升温至待测元素的原子化温度，试样 气化后解离成基态原子蒸气。气化后解离成基态原子蒸气。原子化温度：原子化温度：1800-3000，时间：，时间：5-8s。也可以通过作图的方法找到最佳原子化温度和时间。也可以通过作图的方法找到最佳原子化温度和时间。净化：净化：在高温下除去留在石墨炉中的基体残留物，称之为在高温下除去留在石墨炉中的基体残留物，称之为 空烧或清洗。空烧或清洗。除残温度：除残温度：2500-32002500-3200，时间：，时间：3-5s3-5s。缺缺点点：试试样样组组成成不不均均匀匀性性的的影影响响较较大大，测测定定精精密密度度一一般般在在2%-5%，共共存存化化合合物物的的干

31、干扰扰比比火火焰焰原原子子化法大，测定速度慢，操作不够简便，装置复杂。化法大，测定速度慢，操作不够简便，装置复杂。优点：优点：原子化程度高，试样用量少原子化程度高，试样用量少（0.5-10L），），可测固体及粘稠试样，灵敏度高，绝对检测可测固体及粘稠试样，灵敏度高，绝对检测 下限下限1010-13-13 g g，比火焰法高比火焰法高10001000倍。倍。石墨炉原子化器的特点石墨炉原子化器的特点三、分光系统作用：作用：使锐线光源辐射的共振线能正确通过或聚焦于原使锐线光源辐射的共振线能正确通过或聚焦于原子化区，并把透过光聚焦于单色器的入射狭缝。子化区，并把透过光聚焦于单色器的入射狭缝。外光路外光

32、路内光路内光路 内光路即单色器，它包括入射狭缝、光栅、凹面反射内光路即单色器，它包括入射狭缝、光栅、凹面反射 镜和出射狭缝。镜和出射狭缝。空心阴极灯辐射出的元素特征线的半宽度虽然很窄，空心阴极灯辐射出的元素特征线的半宽度虽然很窄，但阴极材料的不纯及惰性气体本身的辐射导致元素共振但阴极材料的不纯及惰性气体本身的辐射导致元素共振线附近可能存在干扰谱线，需要单色器线附近可能存在干扰谱线，需要单色器将待测元素的共将待测元素的共振线与邻近线分开。振线与邻近线分开。又称为照明系统，它是由锐线光源和两个透镜组成的。又称为照明系统，它是由锐线光源和两个透镜组成的。（2 2）分辨率：分辨率：仪器分开相邻两条谱线

33、的能力。用该两条仪器分开相邻两条谱线的能力。用该两条 谱线的平均波长与其波长差的比值谱线的平均波长与其波长差的比值 /表示；表示；2.2.单色器性能参数单色器性能参数（1 1）线色散率（）线色散率（D D）：）：两条谱线间的距离与波长差的比值两条谱线间的距离与波长差的比值 X X/。实际工作中常用其倒数实际工作中常用其倒数 /X X；（3 3）通带宽度（）通带宽度（WW）：）：指通过单色器出射狭缝的光的波长指通过单色器出射狭缝的光的波长 范围。当倒线色散率（范围。当倒线色散率（D D）一定时，可通过选择狭缝一定时，可通过选择狭缝 宽度（宽度（S S）来确定：来确定：W=DW=D S S 由于原

34、子吸收分光光度计的倒线色散率是固定的，增大光由于原子吸收分光光度计的倒线色散率是固定的，增大光谱通带即增大狭缝宽度，出射光的强度增大，但仪器的分辨谱通带即增大狭缝宽度，出射光的强度增大，但仪器的分辨率降低。因此根据谱线的强度和仪器的分辨率选择光谱通带。率降低。因此根据谱线的强度和仪器的分辨率选择光谱通带。单色器 1.1.单色器的作用单色器的作用 ：将待测元素的共振线与邻近线分开。：将待测元素的共振线与邻近线分开。四、检测系统四、检测系统包括光电倍增管、检波放大器和读出装置。包括光电倍增管、检波放大器和读出装置。作用：作用：将待测光信号转换成电信号，经过检波放大、将待测光信号转换成电信号，经过检

35、波放大、数据处理后显示结果。数据处理后显示结果。原子吸收分光光度计的类型原子吸收分光光度计的类型（1 1）按光束数分类）按光束数分类单光束分光光度计单光束分光光度计双光束分光光度计双光束分光光度计（2 2）按波道数分类）按波道数分类单道分光光度计单道分光光度计双道分光光度计双道分光光度计多道分光光度计：多元素分析多道分光光度计：多元素分析AAS的干扰及其抑制的干扰及其抑制干扰效应按其性质和产生的原因可分为四类：干扰效应按其性质和产生的原因可分为四类：物理干扰、化学干扰、电离干扰、光谱干扰物理干扰、化学干扰、电离干扰、光谱干扰一、物理干扰及其抑制一、物理干扰及其抑制 试样在转移、蒸发过程中物理因

36、素变化引起的干扰效应，试样在转移、蒸发过程中物理因素变化引起的干扰效应，主要影响试样喷入火焰的速度、进样量、雾化效率、原子化主要影响试样喷入火焰的速度、进样量、雾化效率、原子化效率、雾滴大小等。效率、雾滴大小等。属于物理干扰的因素有：溶液的粘度、属于物理干扰的因素有：溶液的粘度、表面张力、密度、溶剂的蒸汽压和雾化气体的压力等。表面张力、密度、溶剂的蒸汽压和雾化气体的压力等。（1 1）配制与待测试样溶液相似组成的标准溶液，并在相同）配制与待测试样溶液相似组成的标准溶液，并在相同 条件下进行测定。条件下进行测定。（2 2）尽可能避免使用粘度大的硫酸、磷酸来处理试样；当）尽可能避免使用粘度大的硫酸、

37、磷酸来处理试样；当 试样浓度较高时，适当稀释试液也可以抑制物理干扰。试样浓度较高时，适当稀释试液也可以抑制物理干扰。二、化学干扰及其抑制二、化学干扰及其抑制 待测元素与其它组分之间的化学作用，生成了难挥发或待测元素与其它组分之间的化学作用，生成了难挥发或难解离的化合物，使基态原子数目减少所引起的干扰效难解离的化合物，使基态原子数目减少所引起的干扰效应。主要影响到待测元素的原子化效率，是主要干扰源。应。主要影响到待测元素的原子化效率，是主要干扰源。AAS的干扰及其抑制的干扰及其抑制1 1、化学干扰的类型、化学干扰的类型（1 1）待测元素与其共存物质作用生成难挥发的化合物，致）待测元素与其共存物质

38、作用生成难挥发的化合物，致 使参与吸收的基态原子减少。使参与吸收的基态原子减少。例：例：a a、铝、硅、硼、钛、铍在火焰中易生成难熔化合物铝、硅、硼、钛、铍在火焰中易生成难熔化合物 b b、硫酸盐、硅酸盐与铝生成难挥发物。硫酸盐、硅酸盐与铝生成难挥发物。（2 2）待测离子发生电离反应，生成离子，不产生吸收，总）待测离子发生电离反应，生成离子，不产生吸收，总 吸收强度减弱，电离电位吸收强度减弱，电离电位6eV6eV的元素易发生电离，火焰的元素易发生电离，火焰 温度越高，干扰越严重温度越高，干扰越严重，（如碱及碱土元素），（如碱及碱土元素）。2 2、消除和抑制化学干扰的方法、消除和抑制化学干扰的方

39、法（1 1）提高火焰温度）提高火焰温度 适当提高火焰温度使难挥发、难解离的化合物较完全适当提高火焰温度使难挥发、难解离的化合物较完全基态原子化。采用基态原子化。采用NN2 2O-CO-C2 2H H2 2火焰，可提高原子化效率火焰，可提高原子化效率。AAS的干扰及其抑制的干扰及其抑制（2 2）加入）加入释放剂释放剂 与干扰元素生成更稳定或更难挥发的化合物，使待测与干扰元素生成更稳定或更难挥发的化合物，使待测元素释放出来。元素释放出来。例：火焰原子吸收法测定钙，磷酸盐的存在会生成难挥发例：火焰原子吸收法测定钙，磷酸盐的存在会生成难挥发的的CaCa2 2P P2 2OO7 7，此时可以加入此时可以

40、加入LaClLaCl3 3，则，则LaLa3+3+与与POPO4 43-3-生成热更生成热更稳定的稳定的LaPOLaPO4 4，抑制了磷酸根对钙测定的干扰。抑制了磷酸根对钙测定的干扰。常用的释放剂：常用的释放剂：LaClLaCl3 3、Sr(NOSr(NO3 3)2 2等。等。（3 3）加入）加入保护剂保护剂 待测元素或干扰元素形成稳定的络合物，防止待测元待测元素或干扰元素形成稳定的络合物，防止待测元素与干扰物质生成难挥发化合物。素与干扰物质生成难挥发化合物。例：火焰原子吸收法测定钙，磷酸盐的存在会生成难挥发例：火焰原子吸收法测定钙，磷酸盐的存在会生成难挥发的的CaCa2 2P P2 2OO7

41、 7，加入加入EDTAEDTA，生成生成EDTA-CaEDTA-Ca络合物，该络合物络合物，该络合物在火焰中易于原子化，避免磷酸根与钙作用。在火焰中易于原子化，避免磷酸根与钙作用。常用的保护剂：常用的保护剂：EDTAEDTA、8-8-羟基喹林、乙二醇等。羟基喹林、乙二醇等。AAS的干扰及其抑制的干扰及其抑制2 2、消除和抑制化学干扰的方法、消除和抑制化学干扰的方法（4 4）加入）加入基体改进剂基体改进剂 石墨炉原子吸收光谱分析中，加入某些化学试剂于试液石墨炉原子吸收光谱分析中，加入某些化学试剂于试液或石墨管中，改变基体或被测元素的热稳定性，避免化学干或石墨管中，改变基体或被测元素的热稳定性，避

42、免化学干扰，这些化学试剂称为基体改进剂。扰，这些化学试剂称为基体改进剂。例：测定海水中例：测定海水中CuCu、FeFe、MnMn，加入基体改进剂，加入基体改进剂NHNH4 4NONO3 3，使使NaClNaCl基体转变成易挥发的基体转变成易挥发的NHNH4 4ClCl和和NaNONaNO3 3，使其在原子使其在原子化之前低于化之前低于500500的灰化阶段除去。的灰化阶段除去。（5 5）化学分离法）化学分离法 用化学方法将待测元素与干扰元素分离。用化学方法将待测元素与干扰元素分离。常用的化学分离法：萃取法、离子交换法、沉淀法。常用的化学分离法：萃取法、离子交换法、沉淀法。AAS的干扰及其抑制的

43、干扰及其抑制2 2、消除和抑制化学干扰的方法、消除和抑制化学干扰的方法三、电离干扰及其抑制三、电离干扰及其抑制 某些易电离元素在火焰中产生电离，使基态原子数减少，某些易电离元素在火焰中产生电离，使基态原子数减少，降低了元素测定的灵敏度，这种干扰称为电离干扰。电离降低了元素测定的灵敏度，这种干扰称为电离干扰。电离干扰的程度与火焰温度及元素种类有关。干扰的程度与火焰温度及元素种类有关。消除和抑制电离干扰的方法消除和抑制电离干扰的方法 采用低温火焰或在试液中加入过量的更易电离的化合物采用低温火焰或在试液中加入过量的更易电离的化合物(消电离剂消电离剂)，能够有效地抑制待测元素的电离。在火焰温，能够有效

44、地抑制待测元素的电离。在火焰温度下，消电离剂首先电离，产生大量的电子，抑制了被测度下，消电离剂首先电离，产生大量的电子，抑制了被测元素的电离。元素的电离。例：测定钙时存在电离干扰，加入一定量消电离剂例：测定钙时存在电离干扰，加入一定量消电离剂KClKCl可以抑制钙的电离干扰可以抑制钙的电离干扰常用的消电离剂：常用的消电离剂：CsClCsCl、KClKCl、NaClNaCl等等AAS的干扰及其抑制的干扰及其抑制四、光谱干扰及其抑制四、光谱干扰及其抑制 光谱干扰主要分为谱线干扰和背景干扰两种。主要光谱干扰主要分为谱线干扰和背景干扰两种。主要来源于光源和原子化器。来源于光源和原子化器。1.谱线干扰和

45、抑制谱线干扰和抑制发射线的邻近线的干扰：发射线的邻近线的干扰：指空心阴极灯的元素、杂质或指空心阴极灯的元素、杂质或载气元素的发射线与待测元素共振线的重叠干扰。载气元素的发射线与待测元素共振线的重叠干扰。吸收线重叠的干扰：吸收线重叠的干扰：指试样中共存元素吸收线与待测元指试样中共存元素吸收线与待测元素共振线的重叠干扰。素共振线的重叠干扰。谱线干扰的抑制：谱线干扰的抑制：减小单色器的光谱通带宽度，提减小单色器的光谱通带宽度，提高仪器的分辨率，使元素的共振线与干扰谱线完全分开。高仪器的分辨率，使元素的共振线与干扰谱线完全分开。或选择其它吸收线等方法抑制谱线干扰。或选择其它吸收线等方法抑制谱线干扰。A

46、AS的干扰及其抑制的干扰及其抑制2.2.背景干扰和抑制背景干扰和抑制 背景干扰主要是指原子化过程中产生的背景干扰主要是指原子化过程中产生的分子吸收分子吸收和固体微粒产生的和固体微粒产生的光散射光散射干扰效应。干扰效应。分子吸收干扰分子吸收干扰主要来源于在原子化过程中生成的主要来源于在原子化过程中生成的气体分子、单氧化物、单氢氧化物、盐类分子对元气体分子、单氧化物、单氢氧化物、盐类分子对元素共振线的吸收。其产生的背景干扰比较严重。素共振线的吸收。其产生的背景干扰比较严重。光散射干扰光散射干扰是固体微粒对共振线的散射造成的是固体微粒对共振线的散射造成的假吸收，当吸收线在短波且基体浓度很高时，光假吸

47、收，当吸收线在短波且基体浓度很高时，光散射干扰较严重。散射干扰较严重。AAS的干扰及其抑制的干扰及其抑制(2)(2)光谱背景的校正光谱背景的校正用邻近非共振线校正背景用邻近非共振线校正背景 用分析线测量原子吸收与背景吸收的总吸光度，在分析用分析线测量原子吸收与背景吸收的总吸光度，在分析线邻近选一条非共振线，此时测出的是背景吸收，两次测线邻近选一条非共振线，此时测出的是背景吸收，两次测量值之差即为校正背景后的吸光度。这种校正方法准确度量值之差即为校正背景后的吸光度。这种校正方法准确度较差，只适用于分析线附近背景分布比较均匀的情况。较差，只适用于分析线附近背景分布比较均匀的情况。火焰：火焰：改变火

48、焰类型、燃助比、调节火焰观测区高度。改变火焰类型、燃助比、调节火焰观测区高度。石墨炉：石墨炉：选用适当的基体改进剂。选用适当的基体改进剂。(1)(1)光谱背景干扰的抑制光谱背景干扰的抑制AAS的干扰及其抑制的干扰及其抑制2.2.背景干扰和抑制背景干扰和抑制用塞曼效应校正背景用塞曼效应校正背景 塞曼效应校正背景是基于磁场将吸收线分裂为具有不同偏塞曼效应校正背景是基于磁场将吸收线分裂为具有不同偏振方向的组分，利用这些分裂的偏振成分来区别被测元素和振方向的组分，利用这些分裂的偏振成分来区别被测元素和背景吸收。塞曼效应校正背景的准确度高，但仪器价格较贵。背景吸收。塞曼效应校正背景的准确度高，但仪器价格

49、较贵。用锐线光源测定分析线的原子吸收和背景吸收的总吸用锐线光源测定分析线的原子吸收和背景吸收的总吸光度再用氘灯光度再用氘灯(紫外区紫外区)或碘钨灯或碘钨灯(可见区可见区)在同一波长测定在同一波长测定背景吸收，计算两次测定吸光度之差，即为校正背景后背景吸收，计算两次测定吸光度之差，即为校正背景后的吸光度。由于空心阴极灯与氘灯两种光源放电性质不的吸光度。由于空心阴极灯与氘灯两种光源放电性质不同，能量分布不同，会导致背景校正不足或过度。同，能量分布不同，会导致背景校正不足或过度。用连续光源校正背景用连续光源校正背景AAS的干扰及其抑制的干扰及其抑制(2)(2)光谱背景的校正光谱背景的校正AAS的定量

50、分析的定量分析一、定量分析方法一、定量分析方法（一）标准曲线法（一）标准曲线法 配制一系列浓度不同的标准溶液，在相同测定条件配制一系列浓度不同的标准溶液，在相同测定条件下，测定标准系列溶液和待测试样溶液的吸光度，绘制下，测定标准系列溶液和待测试样溶液的吸光度，绘制A-cA-c标准曲线，由待测溶液的吸光度值在标准曲线上得到标准曲线，由待测溶液的吸光度值在标准曲线上得到其含量其含量。（二）标准加入法（二）标准加入法 当试样组成复杂，待测元素含量很低时，应采用标当试样组成复杂，待测元素含量很低时，应采用标准加入法进行定量分析。准加入法进行定量分析。取若干份体积相同的试液（取若干份体积相同的试液（c