【数字电路实验】指导书.doc

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1、数 字 电 路 实 验 指 导 书西安翻译学院信息工程系实验中心目录第一部分 实验基础知识一 实验的基本过程-3二 实验操作规范和故障检查方法-4三 数字电路实验箱简介-6第二部分 基本实验实验一 逻辑门电路的逻辑功能及测试-7实验二 组合逻辑电路的设计-10实验三 数据选择器及应用-12实验四 译码器及应用-14实验五 字段译码器逻辑功能测试及应用-16实验六 触发器-19实验七 计数器及其应用-22实验八 移位寄存器功能测试及应用-25实验九 555定时器-28附录：常用集成电路引脚功能图-32第一部分 实 验 基 础 知 识 随着科学技术的发展，数字电子技术在各个科学领域中都得到了广泛的

2、应用，它是一门实践性很强的技术基础课，在学习中不仅要掌握基本原理和基本方法，更重要的是学会灵活应用。因此，需要配有一定数量的实验，才能掌握这门课程的基本内容，熟悉各单元电路的工作原理，各集成器件的逻辑功能和使用方法，从而有效地培养学生理论联系实际和解决实际问题的能力，树立科学的工作作风。一.实验的基本过程实验的基本过程，应包括：确定实验内容、选定最佳的实验方法和实验线路、拟出较好的实验步骤、合理选择仪器设备和元器件、进行连接安装和调试、最后写出完整的实验报告。在进行数字电路实验时，充分掌握和正确利用集成器件及其构成的数字电路独有的特点和规律，可以收到事半功倍的效果，对于完成每一个实验，应做好实

3、验预习、实验记录和实验报告等环节。（一） 实验预习认真预习是做好实验的关键。预习好坏，不仅关系到实验能否顺利进行，而且直接影响实验效果。预习应按本教材的实验预习要求进行，在每次实验前首先要认真复习有关实验的基本原理，掌握有关器件使用方法，对如何着手实验做到心中有数，通过预习还应做好实验前的准备，写出一份预习报告，其内容包括：1.绘出设计好的实验电路图，该图应该是逻辑图和连线图的混合，既便于连接线，又反映电路原理，并在图上标出器件型号、使用的引脚号及元件数值，必要时还须用文字说明。2.拟定实验方法和步骤。3.拟好记录实验数据的表格和波形座标。4.列出元器件单。（二） 实验记录实验记录是实验过程中

4、获得的第一手资料。测试过程中所测试的数据和波形必须和理论基本一致，所以记录必须清楚、合理、正确，若不正确，则要现场及时重复测试，找出原因。实验记录应包括如下内容：1.实验任务、名称及内容。2.实验数据和波形以及实验中出现的现象，从记录中应能初步判断实验的正确性。3.记录波形时，应注意输入、输出波形的时间相位关系，在座标中上下对齐。4.实验中实际使用的仪器型号和编号以及元器件使用情况。（三） 实验报告实验报告是培养学生科学实验的总结能力和分析思维能力的有效手段，也是一项重要的基本功训练，它能很好地巩固实验成果，加深对基本理论的认识和理解，从而进一步扩大知识面。实验报告是一份技术总结，要求文字简洁

5、，内容清楚，图表工整。报告内容应包括实验目的、实验内容和结果、实验使用仪器和元器件以及分析讨论等，其中实验内容和结果是报告的主要部分，它应包括实际完成的全部实验，并且要按实验任务逐个书写，每个实验任务应有如下内容：1.实验课题的方框图、逻辑图（或测试电路）、状态图，真值表以及文字说明等，对于设计性课题，还应有整个设计过程和关键的设计技巧说明。2.实验记录和经过整理的数据、表格、曲线和波形图，其中表格、曲线和波形图应充分利用专用实验报告简易座标格，并且三角板、曲线板等工具描绘，力求画得准确，不得随手示意画出。3.实验结果分析、讨论及结论，对讨论的范围，没有严格要求，一般应对重要的实验现象、结论加

6、以讨论，以便进一步加深理解，此外，对实验中的异常现象，可作一些简要说明，实验中有何收获，可谈一些心得体会。二.实验中操作规范和常见故障检查方法实验中操作的正确与否对实验结果影响甚大。因此，实验者需要注意按以下规程进行。1.搭接实验电路前，应对仪器设备进行必要的检查校准，对所用集成电路进行功能测试。2.搭接电路时，应遵循正确的布线原则和操作步骤（即要按照先接线后通电，做完后，先断电再拆线的步骤）。3.掌握科学的调试方法，有效地分析并检查故障，以确保电路工作稳定可靠。4.仔细观察实验现象，完整准确地记录实验数据并与理论值进行比较分析。5.实验完毕，经指导教师同意后，可关断电源拆除连线，整理好放在实

7、验箱内，并将实验台清理干净、摆放整洁。布线原则和故障检查时实验操作的重要问题。(一)布线原则：应便于检查、排除故障和更换器件。在数字电路实验中，有错误布线引起的故障，常占很大比例。布线错误不仅会引起电路故障，严重时甚至会损坏器件，因此，注意布线的合理性和科学性是十分必要的，正确的布线原则大致有以下几点：1.接插集成电路芯片时，先校准两排引脚，使之与实验底板上的插孔对应，轻轻用力将芯片插上，然后在确定引脚与插孔完全吻合后，再稍用力将其插紧，以免集成电路的引脚弯曲，折断或者接触不良。2.不允许将集成电路芯片方向插反，一般IC的方向是缺口（或标记）朝左，引脚序号从左下方的第一个引脚开始，按逆时钟方向

8、依次递增至左上方的第一个引脚。3.导线应粗细适当，一般选取直径为0.60.8mm的单股导线，最好采用各种色线以区别不同用途，如电源线用红色，地线用黑色。4.布线应有秩序地进行，随意乱接容易造成漏接错接，较好的方法是接好固定电平点，如电源线、地线、门电路闲置输入端、触发器异步置位复位端等，其次，在按信号源的顺序从输入到输出依次布线。5.连线应避免过长，避免从集成器件上方跨接，避免过多的重叠交错，以利于布线、更换元器件以及故障检查和排除。6.当实验电路的规模较大时，应注意集成元器件的合理布局，以便得到最 佳布线，布线时，顺便对单个集成器件进行功能测试。这是一种良好的习惯，实际上这样做不会增加布线工

9、作量。7.应当指出，布线和调试工作是不能截然分开的，往往需要交替进行，对大型实验元器件很多的，可将总电路按其功能划分为若干相对独立的部分，逐个布线、调试（分调），然后将各部分连接起来（联调）。(二)故障检查实验中，如果电路不能完成预定的逻辑功能时，就称电路有故障，产生故障的原因大致可以归纳以下四个方面：1.操作不当（如布线错误等）2.设计不当（如电路出现险象等）3.元器件使用不当或功能不正常4.仪器（主要指数字电路实验箱）和集成器件本身出现故障。因此，上述四点应作为检查故障的主要线索，以下介绍几种常见的故障检查方法：1.查线法：由于在实验中大部分故障都是由于布线错误引起的，因此，在故障发生时，

10、复查电路连线为排除故障的有效方法。应着重注意：有无漏线、错线，导线与插孔接触是否可靠，集成电路是否插牢、集成电路是否插反等。2.观察法：用万用表直接测量各集成块的Vcc端是否加上电源电压；输入信号、时钟脉冲等是否加到实验电路上，观察输出端有无反应。重复测试观察故障现象，然后对某一故障状态，用万用表测试各输入/输出端的直流电平，从而判断出是否是插座板、集成块引脚连接线等原因造成的故障。3.信号注入法在电路的每一级输入端加上特定信号，观察该级输出响应，从而确定该级是否有故障，必要时可以切断周围连线，避免相互影响。4.信号寻迹法在电路的输入端加上特定信号，按照信号流向逐级检查是否有响应和是否正确，必

11、要时可多次输入不同信号。5.替换法对于多输入端器件，如有多余端则可调换另一输入端试用。必要时可更换器件，以检查器件功能不正常所引起的故障。6.动态逐线跟踪检查法对于时序电路，可输入时钟信号按信号流向依次检查各级波形，直到找出故障点为止。7.断开反馈线检查法对于含有反馈线的闭合电路，应该设法断开反馈线进行检查，或进行状态预置后再进行检查。以上检查故障的方法，是指在仪器工作正常的前提下进行的，如果实验时电路功能测不出来，则应首先检查供电情况，若电源电压已加上，便可把有关输出端直接接到01显示器上检查，若逻辑开关无输出，或单次CP无输出，则是开关接触不好或是内部电路坏了，一般就是集成器件坏了。需要强

12、调指出，实验经验对于故障检查是大有帮助的，但只要充分预习，掌握基本理论和实验原理，就不难用逻辑思维的方法较好地判断和排除故障。三、TDS-4型数字系统综合实验平台简介TDS-4型数字系统综合实验平台不仅包括TTL芯片的单元实验，而且包括可编程阵列逻辑GAL;高密度可编程器件等一系列新实验，同时可以做单片机实验，配合两块扩展板可以完成一定的实验实训及课程设计实验。TDS-4型数字综合实验平台的构成：1. 面板上部由电源区、数字信号显示仪专用插座区、LED指示灯区、数码管区、图形液晶区、可编辑数字波形发生器区、小喇叭电路区组成。2. 面板中部通用插座区：包括2个DIP40,2个DIP24，3个DI

13、P20,3个DIP16,2个DIP14的圆孔插座。可编程CPLD器件专用区：适用ATF1508;EPM7128.(做实验时需将VCC接+5V。)3. 面板下部由键盘区、单脉冲区、逻辑电平区、固定频率时钟源区及电位器区构成。 4.扩展板一（元件库）；扩展板二（面包板）。第二部分 基 本 实 验实验一 逻辑门电路的逻辑功能及测试一实验目的1掌握了解TTL系列、CMOS系列外形及逻辑功能。2熟悉各种门电路参数的测试方法。3. 熟悉集成电路的引脚排列，如何在实验箱上接线，接线时应注意什么。二、实验仪器及材料a)TDS-4数电实验箱、双踪示波器、数字万用表。b)1）CMOS器件： CC4011 二输入端

14、四与非门 1 片 CC4071 二输入端四或门 1片2）TTL器件：74LS86 二输入端四异或门 1 片 74LS02 二输入端四或非门 1 片74LS00二输入端四与非门 1片 74ls125 三态门 1片74ls04 反向器材 1片三预习要求和思考题： 1预习要求：1）复习门电路工作原理及相应逻辑表达式。2）常用TTL门电路和CMOS门电路的功能、特点。3）三态门的功能特点。4）熟悉所用集成电路的引线位置及各引线用途。5）用multisim软件对实验进行仿真并分析实验是否成功。2思考题1）TTL门电路和CMOS门电路有什么区别？2）用与非门实现其他逻辑功能的方法步骤是什么？四实验原理1本

15、实验所用到的集成电路的引脚功能图见附录。2门电路是最基本的逻辑元件，它能实现最基本的逻辑功能，即其输入与输出之间存在一定的逻辑关系。TTL集成门电路的工作电压为“5V10%”。本实验中使用的TTL集成门电路是双列直插型的集成电路，其管脚识别方法：将TTL集成门电路正面（印有集成门电路型号标记）正对自己，有缺口或有圆点的一端置向左方，左下方第一管脚即为管脚“1”，按逆时针方向数，依次为1、2、3、4。如图11所示。具体的各个管脚的功能可通过查找相关手册得知，本书实验所使用的器件均已提供其功能。 图113图12分别为基本门电路各逻辑功能的测试方法。 4.图13是为了理解TTL逻辑门电路多余端的处理

16、方法。5.图14为三态门逻辑功能测试。五.实验内容及步骤选择实验用的集成电路，按自己设计的实验接线图接好连线，特别注意Vcc及GND不能连接错。线连接好后经检查无误方可通电实验。1. TTL门电路及CMOS门电路的功能测试。将CMOS或门CC4071,TTL与非门74LS00、和或非门74LS02分别按图1-2连线：输入端、接逻辑开关，输入端接发光二极管，改变输入状态的高低电平，观察二极管的亮灭，并将输出状态填入表1-1中：表1-1输 入A B输 出Y1CD4071输 出Y274LS00输 出Y374LS020 00 11 01 1逻辑表达式逻辑功能2.TTL门电路多余输入端的处理方法：将74

17、LS00和74LS02按图示1-3连线后，A输入端分别接地、高电平、悬空、与B端并接，观察当B端输入信号分别为高、低电平时，相应输出端的状态，并填表1-2.3.TTL三态门逻辑功能测试: 将TTL三态门74ls125和反相器按图1-4连线，输入端A、B、G分别接逻辑开关，输出端接发光二极管，改变控制端G和输入信号A、B的高低电平，观察输出状态，并填表1-3.表1-2 输 入输 出 AB74LS00Y1 74LS02Y2接地01 高电平01 悬空01A、B并接01 表1-3 GA B Y 表达式000 11 0110 11 0五实验报告1 按各步骤要求填表。2. 通过实验分析，说明TTL门电路和

18、CMOS门电路有什么特点，总结他们多多余端的处理方法。3 说明三态门有什么特点。实验二 组合逻辑电路的设计一、实验目的1.掌握组合逻辑电路的设计方法及功能测试方法。2.熟悉组合电路的特点。二、实验仪器及材料a) TDS-4数电实验箱、双踪示波器、数字万用表。b) 参考元件：74LS86、74LS00。三、预习要求及思考题1预习要求：1）所用中规模集成组件的功能、外部引线排列及使用方法。2) 组合逻辑电路的功能特点和结构特点. 3) 中规模集成组件一般分析及设计方法.4）用multisim软件对实验进行仿真并分析实验是否成功。2.思考题 在进行组合逻辑电路设计时，什么是最佳设计方案？四、实验原理

19、1本实验所用到的集成电路的引脚功能图见附录2.用集成电路进行组合逻辑电路设计的一般步骤是：1）根据设计要求，定义输入逻辑变量和输出逻辑变量，然后列出真值表；2）利用卡络图或公式法得出最简逻辑表达式，并根据设计要求所指定的门电路或选定的门电路，将最简逻辑表达式变换为与所指定门电路相应的形式；3）画出逻辑图；4）用逻辑门或组件构成实际电路，最后测试验证其逻辑功能。五、实验内容1用四2输入异或门（74LS86）和四2输入与非门（74LS00）设计一个一位全加器。1）列出真值表,如下表2-1。其中Ai、Bi、Ci分别为一个加数、另一个加数、低位向本位的进位；Si、Ci+1分别为本位和、本位向高位的进位

20、。 表 2-1 全加器真值表Ai Bi CiSi Ci+1 0 0 0 0 0 0 0 1 1 0 0 1 01 0 0 1 1 0 1 1 0 0 1 0 1 0 10 1 1 1 00 1 1 1 1 1 12）由表2-1全加器真值表写出函数表达式。 3）将上面两逻辑表达式转换为能用四2输入异或门（74LS86）和四2输入与非门（74LS00）实现的表达式。 4）画出逻辑电路图如图2-1，并在图中标明芯片引脚号。按图选择需要的集成块及门电路连线，将Ai、Bi、Ci接逻辑开关，输出Si、Ci+1接发光二极管。改变输入信号的状态验证真值表。 2.在一个射击游戏中，每人可打三枪，一枪打鸟(A)，

21、一枪打鸡（B），一枪打兔子（C）。规则是：打中两枪并且其中有一枪必须是打中鸟者得奖（Z）。试用与非门设计判断得奖的电路。（请按照设计步骤独立完成之）五、实验报告要求：1画出实验电路连线示意图，整理实验数据，分析实验结果与理论值是否相等。2设计判断得奖电路时需写出真值表及得到相应输出表达式以及逻辑电路图。3总结中规模集成电路的使用方法及功能。 实验三 数据选择器及应用一、实验目的 1.熟悉中规模集成数据选择器的逻辑功能及测试方法。 2.学习用集成数据选择器进行逻辑设计。二、实验仪器及材料 a) TDS-4数电实验箱、双踪示波器、数字万用表。 b) 参考元件：数据选择器74LS153一片。三、实验

22、预习要求及思考题1预习要求：1）熟悉74LS153的工作原理及使用方法。 2）根据实验内容要求，写出设计的全过程，画出实验电路图。3）用multisim软件对实验进行仿真并分析实验是否成功。2.思考题 1) 用双四选一数据选择器74LS153怎样连接成八选一数据选择器? 2) 数据选择器74LS153的使能端有什么有好处?四、实验原理 1.74LS153的引脚功能图见附录。 2.数据选择器 数据选择器（multiplexer）又称为多路开关，是一种重要的组合逻辑部件，它可以实现从多路数据传输中选择任何一路信号输出，选择的控制由专列的端口编码决定，称为地址码，数据选择器可以完成很多的逻辑功能，例

23、如函数发生器、并串转换器、波形产生器等。用数据选择器实现组合逻辑函数1） 选择器输出为标准与或式，含地址变量的全部最小项。例如四选一数据选择器输出如下： 而任何组合逻辑函数都可以表示成为最小项之和的形式，故可用数据选择器实现。N个地址变量的数据选择器，不需要增加门电路最多可实现N+1个变量的逻辑函数。 2）步骤： 写出函数的表准与或式，和数据选择器输出信号表达式。 对照比较确定选择器各输入变量的表达式。 根据采用的数据选择器和求出的表达式画出连线图。五、实验内容1验证74LS153的逻辑功能将双四选一多路数据选择器74LS153接成的电路如图3-1所示,将A1、A0接逻辑开关，数据输入端D0D

24、3接逻辑开关，输出端Y接发光二极管。观察输出状态并填表3-1。 表 3-1输 入输 出A1 A0 D3 D2 D1 D0 Y 1 0 0 0 0 0 0 000 00 0 0 1 0 0 10 0 0 000 10 0 1 0 0 1 00 0 0 001 00 1 0 0 0 1 10 0 0 001 11 0 0 0 图 3-12用4选1数据选择器74LS153设计三输入多数表决电路1)写出设计过程。2)画出接线图并在74LS153上连接好电路。3)验证逻辑功能。3用双4选1数据选择器74LS153实现全加器1)写出设计过程。2)画出接线图并在74LS153上连接好电路。3)验证逻辑功能。

25、六、实验报告要求：用数据选择器对实验内容进行设计、写出设计全过程、画出接线图、进行逻辑功能测试；总结实验收获、体会。实验四 译码器及应用一、实验目的1、掌握中规模集成译码器的逻辑功能和使用方法2、掌握译码器的级联方法及测试方法。二、实验仪器及材料a)TDS-4数电实验箱、双踪示波器、数字万用表。b)参考元件：译码器74ls139、74LS138各一片.三、实验预习要求及思考题1预习要求：1)复习有关译码器的原理。2)根据实验任务，画出所需的实验线路及记录表格。3）用multisim软件对实验进行仿真并分析实验是否成功。2.思考题1)译码器分哪几类?2)请将74LS138扩展成4线线译码器,试画

26、出扩展后的电路图。四、实验原理1数据选择器74ls139、74LS138各引脚功能图见附录。2译码：是编码的反过程，是将给定的二进制代码翻译成编码时赋予的原意。译码器：实现译码功能的电路。译码器特点：(1)多输入、多输出组合逻辑电路。 (2)输入是以n位二进制代码形式出现，输出是与之对应的电位信息。译码器分类： 通用译码器：二进制、二十进制译码器。显示译码器：TTL共阴显示译码器、TTL共阳显示译码器、CMOS显示译码器。本实验主要来学习二进制译码器：用以表示输入变量的状态，如2线4线、3线8线和4线16线译码器。若有n个输入变量，则有2n个不同的组合状态，就有2n 个输出端供其使用。而每一个

27、输出所代表的函数对应于n个输入变量的最小项。五、实验内容1译码器功能测试将74LS139双2线4线译码器按图4-1所示连接。输入端A1、A0接逻辑开关，输出Y0 Y3接发光。改变逻辑开关的状态，观察输出，写出Y0 Y3的数值（完成表4-1）及其表达式。 = = = = 2译码器的级联应用：用2-4线译码器74LS139组成的电路如图4-2所示,按图连接,输入D0D2接逻辑开关,输出Y0Y7接发光二极管,改变输入信号的状态,观察输出,写出Y0 Y7的表达式,并填表4-2.D2 D1 D0 表 图 4-2 表 4-2 3. 74LS138的应用: 用一片74LS138的3-8译码器及一片74LS2

28、0双与非门组成一位全加器的电路图,全加器的三个输入端为被加数X、加数Y、低位向高位的进位Ci-1,输出Si及本位进位输出为Ci。1).写出真值表.2).写出逻辑表达式.3).画出电路图.4).通过实验分析验证所设计的电路是否正确.六、实验报告要求：1画出实验电路连线示意图，整理实验数据，分析实验结果与理论值是否相等。2总结中规模集成电路的使用方法及功能。实验五 字段译码器逻辑功能测试及应用一、实验目的1.掌握七段译码驱动器74LS47逻辑功能。2.掌握LED七段数码管的判别方法。3.熟悉常用字段译码器的典型应用。二、实验仪器及材料a) TDS-4数电实验箱、双踪示波器、数字万用表。b) 参考元

29、件：译码器74ls47一片、共阳数码管一个。.三、实验原理 1、七段发光二极管(LED)数码管 LED数码管是目前最常用的数字显示器，图5-1(a)、(b)为共阴管和共阳管的电路，(c)为两种不同出线形式的引出脚功能图。一个LED数码管可用来显示一位09十进制数和一个小数点。小型数码管（0.5寸和0.36寸）每段发光二极管的正向压降，随显示光（通常为红、绿、黄、橙色）的颜色不同略有差别，通常约为22.5V，每个发光二极管的点亮电流在510mA。LED数码管要显示BCD码所表示的十进制数字就需要有一个专门的译码器，该译码器不但要完成译码功能，还要有相当的驱动能力。 (a) 共阴连接（“1”电平驱

30、动） (b) 共阳连接（“0”电平驱动） (c) 符号及引脚功能图 5-1 LED数码管2、BCD码七段译码驱动器此类译码器型号有74LS47（共阳），74LS48（共阴），CC4511（共阴）等，本实验系采用74LS47七段译码驱动器。驱动共阳极LED数码管。 图 5-2为74LS47引脚排列 图5-2 74LS47引脚排 其中 A、B、C、D BCD码输入端。 a、b、c、d、e、f、g 译码输出端，输出“0”有效，用来驱动共阳极LED数码管。： 消隐输入端，“0”时，译码输出全为“1”； ： 测试输入端，“1”,“0”时，译码输出全为“0”；：当 =1, =0时，输入DCBA为0000，

31、译码输出全为“1”。而DCBA为其它各种组合时，正常显示。它主要用来熄灭无效的前零和后零。表5-1输 入输 出DCBAabcdefg字形01111111消隐01000000011100000000001110001100111111001000100101100110000110110100100110011010101001001101101100000110111000111111100000000001110010001100111010111001011101111001101111001011100111101011010011111011100001111111111111消隐01

32、000001111111灭零:当本位的“0”熄灭时，=0,在多位显示系统中，它与下一位的相连，通知下位如果是零也可熄灭。四、实验内容1.集成七段显示译码器的功能测试。按照图5-3连线，输出端接数码管，对照功能表逐项进行测试，并将实验结果与功能表进行比较。2.LED七段数码管的判别方法 1）共阳共阴的判别及好坏判别先确定显示器的两个公共端，两者是相通的。这两端可能是两个地端（共阴极），也可能是两个c端（共阳极），然后用万用表象判别普通二极管正、负极那样判断，即可确定出是共阳还是共阴，好坏也随之确定。2）字段引脚判别将共阴显示器接地端和万用表的的黑表笔相接触，万用表的红表笔接触七段引脚之一，则根据

33、发光情况可以判别出a、b、c等七段。对于共阳显示器，先将它的cc和万用表的红表笔相接触，万用表的的黑表笔分别接显示器各字段引脚，则七段之一分别发光，从而判断之。五、实验报告要求 1.总结出74LS74各功能端的作用。2.画出共阴共阳七段数码管的原理图。3.总结共共阳共阴的判别及好坏判别方法。实验六 触发器一、实验目的1熟悉基本RS触发器、D触发器、JK触发器、门控制锁存器的逻辑功能与特点。2掌握各功能端的作用。3学会使用双踪示波器波形和比较相位。二实验仪器及材料a) TDS-4数电实验箱、双踪示波器、数字万用表。b) 参考元件：与非门74LS00、D触发器74LS74、JK触发器74LS112

34、。三、预习要求和思考题： 1预习要求： 1）触发器逻辑功能及其表示方法及触发方式。 2）JK触发器若，J=K=1，问此时时钟信号频率与输出端Q的输出频率之间存在什么关系？3）用multisim软件对实验进行仿真并分析实验是否成功。2思考题 RS触发器为什么不允许出现两个输入同时为零的情况？四、实验原理174LS00、74LS74、74LS112各引脚功能图见附录。2在输入信号为单端的情况下，D触发器用来最为方便，其状态方程为，其输出状态的更新发生在CP脉冲的上升沿，故又称为上升沿触发的边沿触发器，触发器的状态只取决于时钟到来前D端的状态，D触发器的应用很广，可用作数信号的寄存，位移寄存，分频和

35、波形发生等。使用时，查清所用集成块的型号、外型及引线排列。3在输入信号为双端的情况下，JK触发器是功能完善.使用灵活和通用性较强的一种触发器。本实验采用74LS76双JK触发器，是下降边沿除法的边沿触发器。J-K触发器使用时要查清引线排列，其特征方程为4在集成触发器的产品中，每一种触发器都有自己固定的逻辑功能。但可以利用转换的方法获得其它功能的触发器。五、实验内容及步骤 1基本RS触发器 按图6-1连线接成基本RS触发器,、为输入信号，输出和分别接发光二极 0 0 0 1 1 0 1 1管，改变输入，观察输出和端状态，并填表6-1表6-1 图6-1 2.触发器: 1)验证D触发器逻辑功能。 将

36、双D触发器74LS74中的一个触发器的，和D输入端分别接逻辑开关，CP端接单次脉冲，输出端和分别接发光二极管，根据输出端状态，填表6-2: 表6-2输 入输 出 CPD 0 1 1 0 1 1 11 1 02)观察D触发器的计数状态将D触发器的，端接高电平, 端与D端相连,这时D触发器处于计数状态,在CP端加入1KHZ连续脉冲,用示波器双踪观察并记录CP、Q端的波形,注意Q及CP端的频率关系和触发器翻转时间。3JK触发器： 1）验证JK触发器的逻辑功能。 将双JK触发器74LS112中的一个触发器的、 、J、K输入端分别接实验箱的逻辑开关，CP端接单次脉冲，、端接发光二极管，观察输出并填表6-3。 2)观察JK触发器的计数状态 将JK触发器的、和J、K输入端都接高电平这时触发器工作于计数状态，CP端加入频率为1KHZ的连续脉冲，用示波器双踪观察输出CP和输出Q端的波形并记录。观察Q与CP之间频率关系和触发器的状态和翻转的时间。 4JK触发器的应用。（选作）将J-K 触发器转换成T触发器并测试其功能。1） 分析J-K 触发器、T触发器各输入变量和输出变量之间的关系，再将两触发器分析对比看有何联系。 表6-3输 入输 出 CPJ K 0 1 1 0 1 10 0 1 11 0 1 10 1 1 11 11 1 1