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1、超声第4章.（2）按缺陷显示方式分A型显示：波形显示。横坐标代表声波的传播时间或距离，纵坐标代表信号幅度。可以确定缺陷位置和估算缺陷当量大小。B型显示：图像显示。横坐标代表探头轨迹，纵坐标代表时间或距离。可以显示任一纵截面上缺陷分布及深度。C型显示：图像显示。纵、横坐标均代表探头的位置。可以显示缺陷平面投影图像，不能显示缺陷深度。2022/11/2224.1.2 模拟式超声检测仪1、仪器电路方框图和工作原理 同步电路、扫描电路、发射电路、接收电路、显示电路、电源电路仪器的工作原理 同步电路产生触发脉冲加至扫描和发射电路，扫描电路在屏幕上产生水平扫描线，发射电路激励探头晶片振动发出超声波；反射波
2、经晶片转换为电信号被接收电路放大和检波，加到显示电路示波管的垂直偏转板上偏转电子束，在相应位置上产生缺陷波和底波。2022/11/2232、各部分的作用（1）同步电路：又称触发电路。每秒产生数十至数千个周期性的同步脉冲，触发扫描电路、发射电路以及其他辅助电路，使之协调一致工作。2022/11/224重复频率：每秒钟内发射同步脉冲的次数。提高重复频率可使波形显示亮度增加，便于观察波形。幻想波：重复频率过高使两次脉冲间隔时间变短，使未充分衰减的多次反射进入下一周期，形成幻想波。（2）扫描电路：又称时基电路。用来产生锯齿波电压，在示波屏上产生一条水平扫描时基线。改变扫描速度（锯齿波的斜率）即可改变显
3、示在屏幕上的时间范围，即声程范围。P88 2022/11/225调节扫描速度，即设置测量范围或声速。调节延迟时间，即调节屏幕上显示的时间范围的起点。（3）发射电路：产生电脉冲激励探头晶片振动，使之产生脉冲超声波。调谐式：超声波脉冲频带较窄，发射脉冲较宽，用于高衰减材料。非调谐式：超声波脉冲频带较宽，发射脉冲较窄，可能达到的分辨力较好，可适应不同频带范围的探头。2022/11/226（4）接收电路：放大、检波来自压电晶片的微弱电脉冲，加到示波管并在荧光屏上显示出来。组成：衰减器、高频放大器、检波器、视频放大器、抑制电路等。阻塞：由于发射脉冲电压很高，在短时间内放大器的放大倍数会降低，甚至没有放大
4、作用，这种现象称为阻塞。2022/11/227盲区：由于发射脉冲自身有一定的宽度，加上放大器的阻塞现象，在靠近始波的一段时间范围内，所要求发现的缺陷往往不能发现，具体到被检测工件中，这段时间所对应的由入射面进入工件的深度距离。（5）显示电路：显示检测图形。组成：示波管和外围电路示波管：电子枪、偏转系统和荧光屏为什么检测时用目视观察波形时必须限制扫查速度？2022/11/228（6）电源电路：提供电能，使整机电路工作。交流电220V或110V、蓄电池2022/11/229三、仪器主要开关旋钮及其调整 P91图4-121、工作方式选择旋钮：选择单探或双探单探有2个位置，一般置于位置1。2、发射强度
5、旋钮：改变仪器发射强度。增大发射强度可提高仪器灵敏度，但脉冲变宽，分辨力变差。在满足探伤灵敏度前提下尽可能低。3、衰减器旋钮：调节探伤灵敏度和回波振幅。粗调：10dB，20dB两档细调：2dB，CTS-26机有每档0.5dB的细调2022/11/22104、增益旋钮：改变放大器的放大倍数，从而连续改变仪器灵敏度。确定灵敏度后不能动。5、抑制旋钮：抑制杂乱反射波。但会改变垂直线性和动态范围，小缺陷有可能漏检。一般不使用，粗晶材料探伤时才用到。6、深度范围旋钮：粗调荧光屏扫描线所代表的探测范围。大幅改变屏上回波间距。工件厚度大时，将波压缩，以便在有限的范围内显示需要的波。工件厚度小时，将波拉开，以
6、便于确定缺陷波的位置。2022/11/2211 7、深度细调旋钮：连续改变扫描速度，使回波间距在一定范围内连续变化。8、延迟旋钮：或称脉冲位移，左右大幅度移动回波位置，各回波间距不变。可以进行零位校正；将不需要观察的图形调到荧光屏外。9、聚焦旋钮：使波形清晰。10、频率选择旋钮：改变放大器频带。宽频带检测仪器的检测频率由探头频率决定。窄频带检测仪器有频率选择旋钮。2022/11/221211、水平旋钮：左右移动回波，间距不变；可进行零位校正；CTS-22没有此旋钮。12、重复频率旋钮：改变每秒发射脉冲的次数。重复频率低，屏亮度较低，仪器灵敏度提高。重复频率高，荧光屏图形较亮，有利于露天观察波形
7、。13、垂直旋钮：调节扫描线垂直位置。14、辉度：调节波形亮度。2022/11/221315、深度补偿开关：使位于不同深度相同尺寸缺陷的回波高度差异减小。16、显示选择开关：检波信号显示称为视频显示；不检波信号显示称为射频显示。选择视频或射频。2022/11/22144.2.3 数字式超声检测仪 数字式超声检测仪是计算机技术和超声检测技术相结合的产物。它是在传统超声检测仪的基础上发展起来的，采用计算机技术实现仪器功能的精确和自动控制、信号获取和处理的数字化和自动化、检测结果的可记录和再现性。它保留了传统超声检测仪的基本性能；利用计算机系统的功能，对接收到的回波波形先完成模数转换，再执行数字化处
8、理，实时显示器数字化的回波波形，同时具有记录、存储、计算分析能力，还可与计算机联机实现通讯及打印输出。2022/11/22151983年德国KK公司推出了世界上第一台便携式数字化超声波探伤仪USDI型，采用了Z80作CPU，虽然其整机重量较重（约10Kg），体积较大，功能也一般，但其自动可设置的DAC曲线，数据存储和打印功能已显示出数字化超声波探伤仪强大的生命力。1986年后，世界上各工业国家的数字化超声波探伤仪得到了迅速发展，我国自198990年中科院武汉物理所研制成功的国内第一台数字化超声波探伤仪KS1010型，自后数字化超声波探伤仪的发展也较快，经历了十几年的发展，目前新一代的产品向小型
9、化和多功能方向进一步发展。2022/11/2216（1）操作方式：模拟式超声探伤仪采用旋钮操作，一个旋钮对应一个功能。如衰减钮调节灵敏度、深度范围钮调节探测范围、工作方式选择钮选择探测方式等。数字化超声波探伤仪则采用键盘来实现，以人机对话的方式完成对仪器的操作。人机对话通常有菜单方式和功能键式两种，菜单式按键少，人机对话功能强，但操作繁琐；功能键式直接与探伤人员的原习惯较吻合，因此，目前一般均采用功能键方式。这样既能充分发挥仪器功能又方便操作，只是按键多一些。2022/11/2217（2）波形显示方式数字化超声波探伤仪显示的是数字化后的波形，有采用显像管显示器（CRT）来显示波形的，此法重将数
10、字化波形还原成模拟波形；还有采用平板显示器，发展到已经采用液晶（EL）显示器件，和高亮度场致发光显示器。2022/11/2218（3）检测速度快：数字智能化探伤仪一般都可自动检测、计算、记录，有些仪器还能自动进行深度补偿和自动设置检测灵敏度，因此检测速度快，效率高。（4）检测精度高：数字智能化仪器能对模拟信号进行高速数据采集、量化、计算和判别，其检测精度可高于传统仪器检测结果。2022/11/2219（5）可靠性高、稳定性好：数字智能化仪器可全面客观地采集存储数据，并对采集到的数据进行实时处理或后处理，对信号进行时域、频域或图像分析，还可通过模式识别对工件质量进行分级，减少了人为因素的影响，提
11、高了检测的可靠性和稳定性。（6）记录与存档：数字智能化仪器的计算机系统可存储和记录检测原始信号和检测结果，对工件质量进行自动综合评价。对在役设备定期检测结果进行分析处理，为材料评价和寿命预测提供依据。（7）可编程性：数字智能化仪器的性能和功能的实现很大程度上取决于软件系统的支持。因此可方便地通过变更或扩充软件程序来改变或增加仪器的功能。2022/11/22204.1.4 仪器的维护保养阅读说明书，了解性能和注意事项，按要求操作；避免强振动，防止摔碰；避免强磁场，灰尘多，电源波动大，有强烈振动机温度过高、过低的场合；防止雨、雪、水、机油等进入仪器内部；正确接电，定期充电。不宜用猛力压或旋转按钮。
12、轻拿轻放轻拔插。专人修理。2022/11/22214.1.6 超声波测厚仪分为共振式、脉冲反射式和兰姆波式3种。1、共振式测厚仪 当工件厚度为/2的整数倍时，反射波与入射波互相迭加，产生共振。共振式测厚仪测量下限小（0.1mm），测试精度高(0.1%)，但使用不方便，需计算，对工件表面要求较高。2022/11/22222.脉冲反射式测厚仪 通过测量超声波在工件上下底面间往返一次传播的时间来求得工件厚度。测量下限相对较高。应用广泛。3.兰姆波测厚仪兰姆波是超声波在薄板中传播的一种波。根据探头的入射角或频率来测定工件的厚度。4.使用前校准下限与线性，根据工作厚度选择探头，工件表面要求，测试时互相垂
13、直的两方向各测一次。2022/11/22234.2.1 压电效应与压电材料某些晶体在交变拉压应力作用下产生交变电场，称正压电效应；反之在交变电场作用下晶体产生伸缩变形称逆压电效应。正、逆压电效应统称压电效应。4.2 探 头2022/11/2224具有压电效应的材料称为压电材料，分单晶与多晶。常见的单晶有石英(SiO2)、硫酸锂(Li2SO4)、铌酸锂(LiNbO3)等；多晶有钛酸钡(BaTiO3)、锆钛酸铅(PbZrTiO3，缩写为PZT）、钛酸铅（PbTiO3)等。单晶材料接收灵敏度高多晶材料发射灵敏度高多晶材料又称压电陶瓷2022/11/2225压电单晶体是各向异性的，压电效应的产生与原子
14、排列方式有关。当晶体受到特定方向的压力而变形时，可使带有正、负电荷的原子位置沿某一方向改变，使晶体的一侧带有正电荷，另一侧带有负电荷。压电多晶体是各向同性的。为了获得压电效应，对陶瓷多晶体进行极化处理。极化处理：在一定温度下以强外加电场施加在多晶体的两端，使多晶体中各晶胞的极化方向重新取向，从而获得总体上的压电效应。2022/11/22264.2.2 压电材料的主要性能参数1.压电应变常数d33表示施加在压电晶体上单位电压所产生的应变大小。d33是衡量压电材料发射灵敏度高低的重要参数。d33值越大，发射性能越好，发射灵敏度高。2022/11/22272.压电电压常数g33表示作用在压电晶体上单
15、位应力所产生的电压梯度大小。g33是衡量压电材料接收灵敏度高低的重要参数。g33值越大，接收性能越好，接收灵敏度高。2022/11/22283.介电常数电容器极板间充满电介质时,电容增大的倍数。越大，电容越大，充放电时间大，频率低。探伤用的压电晶体，应小一些，以便获得较高的频率。2022/11/22294.机电耦合系数K 表示压电材料机械能与电能间转换效率。K分为厚度方向Kt与径向方向Kp。Kt大，探测灵敏度高；Kp大发射脉冲宽，分辨力降低，盲区增大。2022/11/22305.机械品质因子m压电晶片在谐振时储存的机械能E储与在一个周期内损耗能量E损之比。它反映了压电晶片震动时因克服内摩擦而消
16、耗的能量大小。m大，损耗小，晶片持续震动时间长，脉冲宽度大，分辨力低。m越小越好，晶片持续震动时间短，脉冲宽度小，分辨力高。2022/11/22316、频率常数Nt 晶片材料一定时，频率越高，厚度越小。7、居里温度TC 使压电效应消失的温度。2022/11/2232超声波探头对晶片的要求：（1）压电应变常数d33和压电电压常数g33越大越好，获得较高的发射和接收灵敏度；（2）机电耦合系数Kt较大，以便获得较高的转换效率和灵敏度。（3）机械品质因子m较小，获得较高的分辨力和较小的盲区。（4）频率常数Nt较大，介电常数较小，获得较高的频率。（5）居里温度T较高，声阻抗Z适当。2022/11/223
17、34.2.3 探头的结构探头也叫压电换能器或换能器。直探头组成：压电晶片、阻尼块、保护膜、外壳、电缆线、接头。斜探头的组成：压电晶片、阻尼块、吸收材料、保护膜、外壳、电缆线、接头斜楔块。各部分的作用：1.压电晶片：发射和接收超声波，实现电声换能。2022/11/22342.阻尼块：对压电晶片的振动起阻尼作用，使晶片振动后尽快停下来，使脉冲宽度减小，分辨力提高；吸收块吸收晶片背面发射的超声波；支承晶片。吸声材料：减小噪声，提高信噪比。3.保护膜：保护压电晶片不致磨损或损坏。当保护膜厚度为2/4奇数倍，且保护膜声阻抗 为工件声阻抗 与晶片声阻抗 的几何平均值时,超声波全透射。保护膜会使始波宽度增大
18、，分辨力变差，灵敏度降低。2022/11/2235硬保护膜：适应粗糙度较高（光洁度较高）的检测面软保护膜：适应粗糙度较低（光洁度较低）的检测面4.斜楔：斜楔实现波型转换。对斜楔的要求：斜楔中的纵波波速必须小于工件中的纵波波速（即存在第一临界角）；有适当的衰减系数；耐磨、易加工。（聚枫(PSF)：CL2250；Z2.67106；L1.24dB/mm）5.电缆线：高频同轴电缆。消除外来电波对探头的激励脉冲和回拨脉冲的影响。防止高频脉冲以电波的形式向外辐射。2022/11/2236注意：用介电常数很低的压电晶片（石英、硫酸锂）等制成的探头，要考虑与检测仪器的匹配情况，选用专用电缆线，不能中途更换；不
19、可使电缆线扭折。6.外壳：组合、保护。2022/11/22374.2.3 探头的主要种类波形纵横表板耦合接触液浸波束聚焦非聚焦晶片单晶双晶2022/11/22381.接触式纵波直探头纵波直探头：用于发射垂直于探头表面传播的纵波，以直接接触工件表面的方式进行垂直入射纵波检测。主要用于检测与探测面平行或近似于平行的缺陷，板材、锻件等。纵波直探头用频率和晶片尺寸标称2022/11/22392.斜探头（横斜、纵斜、表斜）分为：纵波探头、横波斜探头、表面波探头、兰姆波探头、可变角探头。特点：压电晶片贴在斜楔上，晶片与探头表面成一定倾角。纵波斜探头：入射角L 的探头。特点：纵波穿透力强，利用小角度的纵波检
20、测或横波衰减过大的工件检测。注意：工件中纵、横波同时存在。2022/11/2240横波斜探头：入射角L 且折射波为纯横波的探头。实际上是直探头加透声斜楔组成，斜楔实现波型转换。横波斜探头的标称方式：前苏联：入射角L西方国家和日本：折射角我国：工件中折射角的正切值优点：可以简化缺陷定位计算2022/11/2241 表面波探头 横波斜探头的特例。入射角比略大。探测表面或近表面缺陷。兰姆波探头：角度根据板厚、频率和所选定的兰姆波模式而定。主要用于薄板中缺陷的检测。可变角探头：转动压电晶片可使入射角连续变化，可实现纵波、横波、表面波或兰姆波检测2022/11/22423.双晶探头（分割探头）组成：两块
21、压电晶片，一发一收，中间夹有隔声层。优点：灵敏度高；杂波少盲区小；工件中近场长度小；探测范围可调。主要用于检测近表面缺陷和已知缺陷的定点测量。标称：频率、晶片尺寸、声束汇聚区的范围。4.接触式聚焦探头按焦点形状分：点聚焦、线聚焦。按耦合分：接触聚焦、水浸聚焦。按聚焦方式分：透镜式、反射式、曲面晶片式。2022/11/22435.水浸平探头：相当于可在水中使用的纵波直探头。6.水浸聚焦探头：在水浸平探头前加上声透镜，则可产生聚焦声束。7.高温探头：压电晶片选用居里温度较高的铌酸锂、石英、钛酸铅来制作。8.电磁超声探头：9.爬波探头2022/11/22444.2.5 探头型号型号组成：基本频率、晶
22、片材料、晶片尺寸、探头种类、探头特征如：2.5P1313K2 5 I 14 SJ 15 DJP108、P109表4-3、4-42022/11/22454.3.1 耦合剂的作用：耦合剂：为了改善探头与工件间声能的传递，而加在探头和检测面之间的液体薄层。作用：耦合剂可以填充探头与工件之间的空气间隙，是超声波能够传入工件。耦合剂有润滑作用，可以减小探头和工件之间的摩擦，防止工件表面磨损探头，并使探头便于移动。4.3 耦合剂2022/11/22464.3.2 常用耦合剂水、甘油、机油、变压器油、化学糨糊、水玻璃等2022/11/22474.4 试块试块：按一定用途设计的具有简单几何形状人工反射体或模拟
23、缺陷的试样。4.4.1 试块的分类和作用：1.试块的分类：标准试块、对比试块、模拟试块 标准试块：由权威机构制定的试块，由专门的标准规定特性和制作要求。2022/11/2248国际标准试块：权威机构制定，材质、形状、尺寸、表面状态有统一规定。如国际焊接学会IIW试块和IIW2试块。国内标准试块：由各部门按具体探伤对象制定。如GB/T4730.3-2005标准中的标准试块是指用于仪器探头系统性能校准和检测校准的试块钢板标准试块：CB、CB锻件标准试块：CS、CS、CS焊接接头标准试块：CSK-A、CSK-A、CSK-A、CSK-A2022/11/2249对比试块：是以特定方法检测特定工件时采用的
24、试块。含有意义明确的人工反射体（平底孔、槽）。它与被检工件材料声学特性相似，其外形尺寸应能代表被检工件的特征，试块厚度应与被检工件的厚度相对应。对比试块的作用：主要用于检测校准以及评估缺陷的当量尺寸，以及将所检出的不连续信号与试块中已知反射体产生的信号相比较。2022/11/2250对比试块：如无缝钢管、奥氏体钢锻件、堆焊层、铝及铝合金焊接接头、钢板横波检测、无缝钢管横波检测、钛焊接接头和奥氏体对接接头等对比试块。2022/11/2251 模拟试块：含模拟缺陷的试块。可以是模拟工件中实际缺陷而制作的样件，或者是在以往检测中所发现含有自然缺陷的样件。主要用于检测方法的研究、资格考核与评定、评价验
25、证仪器系统的检测能力和检测工艺等。2022/11/22522.人工反射体：尽可能与需要检测的缺陷特征接近。（1）横通孔和长横孔具有轴对称特点，反射波幅比较稳定，有线形缺陷特征，适用于各种K值探头。可以模拟裂纹、未焊透、未熔合和条状夹渣等缺陷。试块有：CSK-IIA、CSK-A。（2）短横孔在近场区表现为线状反射体特征，在远场表现为点状反射体特征。适用于各种K值探头。试块为：CSK-IIIA。2022/11/2253（3）平底孔具有点状面积型反射体的特点。适用于直探头、双晶探头的校准和检测。试块有：CB、CS、CS、CS。（4）V型槽和其他切割槽具有表面开口的线性缺陷的特点。可以模拟工件或者对接
26、接头表面或者近表面缺陷以调整检测灵敏度。一般采用K1斜探头。试块有：无缝钢管对比试块。2022/11/22543.试块的作用确定探伤灵敏度测试仪器和探头的性能调整扫描速度评判缺陷大小（当量法，3N以内最有效）测量声速、衰减系数、表面耦合补偿等2022/11/22554.4.2 标准试块1.标准试块的要求 试块应材质均匀，内部杂质少，无影响使用的缺陷。加工容易，不易变形锈蚀，具有良好的声学性能。平直度，光洁度，尺寸都要符合一定的要求。镇静钢或者电炉软钢制作，20号碳钢检测面粗糙度不低于1.6m，尺寸公差0.05mm。2022/11/2256试块上平底孔的检验项目：直径、孔底表面粗糙度、平面度等检
27、查方法：先用无腐蚀性溶剂清洗孔，干燥后，用注射器将硅橡胶液注入孔内，抽出注射器，插入大头针，待硅橡胶凝固后，借助大头针将硅橡胶模型取出，在光学投影仪上检查孔底粗糙度和平整度。2022/11/22572.常用标准试块 IIW试块（1）25和100调整扫描速度。（2）25和100测仪器水平线性、垂直线性、动态范围。（3）85、91、100测直探头和仪器分辨力。（4）50有机玻璃底面多次反射波测直探头与仪器的组合穿透能力。2022/11/2258（5）50有机玻璃5和10间距测直探头盲区。（6）R100测斜探头入射点。（7）50或1.5测折射角及灵敏度余量。（8）调节横波扫描范围和扫描速度。（9）直
28、角棱边测声束偏离。2022/11/22592.IIW2试块（1）R25与R50测入射点。（2）5横通孔测折射角。（3）试块厚度测水平、垂直线性和动态范围。（4）底面或R25、R50调节扫描速度。（5）5或R50测组合灵敏度。2022/11/22605、CB和CB试块 CB为阶梯试块 CB为5平底孔试块，共6块6、CS、CS、CS试块CS为 2平底孔试块，共4块CS为双晶直探头试块，共4块（可用于测盲区）CS试块为曲面试块2022/11/22613.CSK-IA试块IIW试块的改进试块：（1）将50圆孔改为50、45、40台阶孔，以便于测横波斜探头分辨力。（2）将R100改为R100、R50阶梯
29、园弧，便于调节横波扫描速度和探测范围。（3）将标注的折射角度改为K值。2022/11/22624.CSK-IIA、CSK-IIIA、CSK-A试块JB4730中规定的焊缝超声波横孔标准试块。2022/11/22634.4.3 对比试块1.对比试块的基本要求2.常用对比试块2022/11/2264 半圆试块（轻巧便携）中心切槽回波间距为R、R、R中心不切槽回波间距为R、2R、2RP120 图4-422022/11/2265 无缝钢管横波检测对比试块 RB-1、2、3试块GB/T11345-2013规定的试块。3横通孔8个 奥氏体不锈钢对接接头对比试块2022/11/22664.4.5 试块的使用
30、和维护1.试块应在适当部位编号以防混淆；2.注意不要碰伤擦伤；3.清除反射体内油污锈蚀；4.防止锈蚀；5.防止变形。2022/11/22674.5 仪器和探头性能及其测试仪器和探头的性能仪器性能探头性能组合性能脉冲发射部分接收部分数字仪器的性能入射点、K值、双峰、声轴偏斜角声束扩散性分辨力和信噪比频率灵敏度余量频率响应、相对灵敏度、时间域响应、电阻抗、距离幅度特性2022/11/2268一、仪器的性能及测试：GB/T4730.3-2005规定每隔3个月测试一次仪器性能。1、垂直线性 示波屏上波高与探头接收到的信号间成正比的程度。放大器和示波管的性能影响垂直线性。垂直线性影响缺陷定量。GB473
31、0.3-2005规定，垂直线性误差52022/11/2269垂直线性的测试方法：探伤仪的“抑制”与“深度补偿”关闭，衰减器上应至少留有30dB的衰减余量。调节“增益”,使直探头在IIW试块上找到的底面回波高度为100%满刻度。固定探头位置与接触压力，调节衰减器，依次将每衰减2dB时平底孔回波幅度的百分数记入记录表,并与理论波高值比较，取最大正偏差+与负偏差最大值-之和为垂直线性误差：=+-%2022/11/22702、水平线性 示波屏上时基线显示的水平刻度与实际声程间成正比的程度。扫描电路的锯齿波线性决定水平线性。水平线性影响测距精度，进而影响缺陷定位。GB4730.3-2005规定，水平线性
32、误差12022/11/2271水平线性的测量方法：调节探伤仪的“增益”,“衰减器”,“水平”,“深度”等旋钮使第一次底波B1前沿对准水平刻度的20,第五次底波B5前沿对准水平刻度100,在相同回波幅度(如50%满刻度)下读取B2,B3,B4前沿各自偏离40,60,80刻度的最大偏差max按下式计算水平线性误差:=max/0.8Lx100%(L为水平刻度线全长)P104 改错2022/11/22723、动态范围示波屏容纳信号大小的能力。JB/T10061规定，动态范围不小于26dB。测量方法：调节回波为100%满刻度,调节衰减器读取回波从100%满刻度下降到刚能识别的最小值时所需要的衰减量dB值
33、即为探伤仪在该探头给定工作频率下的动态范围。一般动态范围的测试可与垂直线性的测定同时进行。2022/11/22734、衰减器精度影响探伤定量的准确性。GB4730.3-2005规定，任意相邻12dB误差1dB以内。最大累计误差 1dB测定方法：测定同声程处孔径相差一倍的两个平底孔间的dB差。N=20lg(H1/H2)(dB)2022/11/22742、探头的性能及其测试：GB/T4730.3-2005规定新探头使用前应进行测试。1、斜探头的入射点2、斜探头的K值和折射角注意不同K值的测试面。3、主声束偏离与双峰实际声束与理论几何中心线偏离称主声束偏离。波束分岔引起双峰，表现为平移探头时同一反射
34、体产生两个波峰。主声束偏离与双峰影响缺陷定位与判别。GB4730.3-2005规定，单斜探头声束轴线水平偏离角不应大于2，主声束垂直方向不应有明显的双峰。2022/11/2275主声束偏离角的测定：2022/11/22764、探头声束特性发射声束的扩散情况。利用6dB法移动探头来测定。直探头的声束扩散的测定：在2N以外测定。选一长横孔作反射体，找到最高回波，左右移动探头，测出回波下降一半时的移动间距；再将探头转90，用同样的方法测出回波下降一半时的移动间距。2022/11/2277斜探头的声束扩散的测定：选一长横孔作反射体，找到最高回波，左右移动探头，测出回波下降一半时的移动的间距。2022/
35、11/2278三、仪器探头的综合性能及其测试：GB/T4730.3-2005规定，检测前应测定仪器探头性能。1、灵敏度：发现最小缺陷的能力。仪器与探头的灵敏度用灵敏度余量来衡量，即仪器最大输出时，使规定反射体达到基准波高所需衰减的总量。灵敏度余量大，仪器与探头的灵敏度高。GB4730.3-2005规定，在达到所探工件的最大检测声程时，其有效灵敏度余量应不小于10dB。2022/11/2279仪器与直探头的灵敏度余量测试方法：调整衰减器使水平扫描线上的电噪声在10%满刻度以下(10%),以此时的衰减器读数为N1。再调节衰减器使200声程处2平底孔最大回波降到50%满刻度时,其读数为N2,则探伤灵
36、敏度余量在该探头和仪器组合情况下为：N=N2-N1(dB)一般要求仪器与直探头灵敏度余量30dB。2022/11/2280仪器与斜探头的灵敏度余量测试方法：用R100圆弧面的一次反射波。一般要求仪器与斜探头灵敏度余量40dB。仪器与探头的系统性能按JB/T9214-1999A型脉冲反射式超声波探伤系统工作性能、测试方法的规定进行测试。2022/11/22812、盲区与始脉冲宽度盲区：从探测面到能够发现缺陷的最小距离。盲区内的缺陷不能发现。盲区的大小与仪器阻塞时间和始脉冲宽度有关。盲区要求7mm。可用盲区试块或CSK-IA试块有机玻璃与侧边的距离来测量。始脉冲宽度：在一定灵敏度下，示波屏上超过垂
37、直幅度20时始脉冲延续长度。晶片机械品质因子m和发射强度大，则始脉冲宽度大，分辨力低。脉冲宽度小，则分辨力高。2022/11/2282GB4730.3-2005规定，对于频率为5MHz的探头，宽度不大于10mm，对于频率为2.5MHz的探头，宽度不大于15mm。频率越高，分辨力越高，始脉冲宽度越窄。2022/11/22833、分辨力示波屏上区分两相邻缺陷的能力。晶片的机械品质因子m和发射强度大，分辨力低。2022/11/2284仪器与直探头的分辨力的测定：85波91波等高时，波峰与波谷的分贝差；或90波与100波等高时，波峰与波谷的分贝差，取两者的较高值，作为直探头的分辨力。GB4730.3-
38、2005规定，直探头的远场分辨力30dB。2022/11/2285仪器与斜探头的分辨力的测定：40波44波等高时，波峰与波谷的分贝差；或44波与50波等高时，波峰与波谷的分贝差，取两者的较高值，作为斜探头的分辨力。GB4730.3-2005规定，斜探头的远场分辨力6dB。2022/11/22864、信噪比最小缺陷信号幅度与噪声杂波之比。信噪比太低易引起漏检或误判，严重时甚至无法进行探伤。一般以2/200平底孔反射波H信与噪声杂波H噪之间的分贝差来表示。2022/11/2287祝各位考试顺利祝各位考试顺利谢谢谢谢2022/11/2288A型显示2022/11/2289B型显示2022/11/22
39、90C型显示2022/11/2291模拟机工作原理2022/11/2292仪器旋钮图示2022/11/2293射频放大与视频放大2022/11/2294数字机工作原理2022/11/2295超声波探头2022/11/2296直探头2022/11/2297斜探头2022/11/22982022/11/22992022/11/221002022/11/22101双晶探头2022/11/22102聚焦探头2022/11/22103试块2022/11/22104IIW试块回总页回分类页2022/11/22105IIW2试块回总页回分类页2022/11/22106CSK-IA试块2022/11/2210
40、7CS试块回总页回分类页2022/11/22108CS试块回总页回分类页2022/11/22109CSK-IIA试块回总页回分类页2022/11/22110CSK-IIIA试块回总页回分类页2022/11/22111CSK-A试块2022/11/22112RB试块2022/11/22113钢板探伤试块2022/11/221142022/11/221152022/11/22116管材试块回总页回分类页2022/11/22117始脉冲宽度2022/11/22118射频放大与视频放大2022/11/22119仪器旋钮图示2022/11/22120压电效应2022/11/22121此课件下载可自行编辑修改，仅供参考！此课件下载可自行编辑修改，仅供参考！感谢您的支持，我们努力做得更好！谢谢感谢您的支持，我们努力做得更好！谢谢