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1、实验35塞曼效应一、实验背景塞曼效应：1896年，荷兰物理学家塞曼将光源置于强磁场中，研究磁场对谱线的影响，结果发现，原来的一条谱线分裂成几条光谱线，分裂的谱线成分是偏振的，这一现象称为塞曼效应。塞曼效应证明了电子具有自旋，能级分裂是由于电子轨道与自旋磁矩相互作用的结果。在外磁场作用下，和 能级的分裂（二）用标准具测量波数差 塞曼效应造成的谱线很小，其相对值 ，即在可见光波段其分裂值在1/10nm数量级。棱镜光谱仪或光栅光谱仪的分辨本领为103105，故难以用常规光谱仪观察到塞曼效应。法布里-珀罗标准具的分辨本领可达到106，故常用标准具来观测塞曼效应。由于标准具的自由光谱区很小，通常要先用常
2、规光谱仪分出一条条光谱线后，再用标准具进一步分光。由于低压水银灯光源的谱线间隔很大，利用滤光片即可分离出546.1nm谱线，故本实验采用干涉滤光片和法布里-珀罗标准具完成分光任务。在法布里-珀罗标准具的透射光中，相邻两光束的光程差为在空气中n=1，则有其中，d是标准具间隔，i是投射到标准具的光的入射角。当光程差等于波长的数倍时，形成干涉亮环，即对于k级干涉环，满足dfi由上图可得则有 显然，对某一波长的光，干涉级k与干涉环直径平方成线性关系。对某一对同一波长光产生的相邻两级k和k-1线，有 对同一级不同波长的波长差，有 测量时所用的干涉条纹是中心附近的干涉条纹，可令i=0,则有 则波长差的表达
3、式可化为 用波数差表示为四、实验装置 如图，实验装置由磁场、光源、分光系统和观测系统等四大部分组成。五、实验内容1、调整光路，观察塞曼现象 a、点亮汞灯，把透镜置于光源和标准具之间适当位置，让光充满标准具。由于标准具前已经放置滤光片，可以看到标准具视场中布满绿色的干涉条纹。b、调节标准具。眼睛在垂直于的平行面内上、下、左、右移动时，若看到干涉环有缩冒现象，应调节标准具的三个调节旋钮，直到无明显缩冒现象为止。c、在标准具后安置透镜和目镜，调节两者的相对位置以看清各干涉环。为保证视场足够明亮，整个光学系统应共轴。调节目镜位置使目镜叉丝大体与干涉环直径重合。d、开启稳压电源，调节稳压电源电流为一定值。如图所示，取相邻两级次的线偏光进行测量。2、测量并计算波长差按公式计算塞曼分裂的波数差。3、测量并计算荷质比六、注意事项1.法布里-珀罗标准具等光学元件应避免沾染灰尘、污垢和油脂，还应该避免在潮湿、过冷、过热和酸碱性蒸汽环境中存放和使用；2.光学零件的表面上如有灰尘可以用橡皮吹气球吹去。如表面有污渍可以用脱脂、清洁棉花球蘸酒精、乙醚混合液轻轻擦拭；3.电磁铁在完成实验后应及时切断电源，以避免长时间工作使线圈积聚热量过多而破坏稳定性；4.汞灯放进磁隙中时，应该注意避免灯管接触磁头。七、参考文献1高立模.近代物理实验.南开大学出版社.2006年