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1、数字集成电路测试与可测试设计思考题l测试的对象是什么？l测试的目的是什么？l测试的内容是什么？l测试的方法是什么？l测试的工具是什么？l测试的平台是什么？l测试的未来是什么？第一章 引言l1.1 测试哲学l1.2 测试的作用l1.3 数字与模拟VLSI测试l1.4 VLSI发展趋势对测试的影响1.1 测试哲学l什么是VLSI测试？在实验中运行被测系统并分析其响应结果，以判断此系统是否正确运转。测试的三个组成部分：1.运行被测系统 2.分析其响应 3.做出正确判断1.1 测试哲学l验证、测试和诊断 验证（verification）：验证系统级或寄存器传输级功能是否正确 测试（testing）：测
2、试裸片（die）或芯片（chip）功能是否满足设计要求 诊断(diagnose)：诊断裸片或芯片失效的原因1.1 测试哲学l测试的风险合格产品PQ不合格产品FQ通过测试的产品 P未通过测试的产品 FProb（P|PQ）Prob（F|PQ）Prob（P|FQ）Prob（F|FQ）1.2 测试的作用l作用：检验产品是否存在问题。好的测试过程可以将所有不合格的产品挡在到达用户手中之前。l测试失败的可能原因：1.测试本身存在错误；2.加工过程存在问题；3.设计不正确；4.产品规范有问题。1.3 数字与模拟VLSI测试l输入、输出信号l测试仪器l测试方法和理论l失效判别方式DUT输入信号输出响应1.4 VLSI发展趋势对测试的影响l提升芯片的时钟频率1.即时测试2.ATE的成本3.EMI1.4 VLSI发展趋势对测试的影响l晶体管密度的增长1.测试复杂性2.特征尺寸与功耗3.电流测试