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1、Four short words sum up what has lifted most successful individuals above the crowd: a little bit more.-author-datespc品质可靠性测试标准(1)移动电话可靠性试验指导书品质可靠性测试标准文件编号: ZQ-011-001 版本/状态: A/01 制 定: SPC办事处 审 核: 批 准: 发行日期: 会审部门签字会审部门签字spc工程部spc总部-目 录1 目的 . .22 执行原则 . .33 适用范围 . .34 主要职责 . .35 可靠性测试程序 . .35.1 环境测试
2、. .35.2 静电测试.35.3 结构耐久测试 . .35.4 表面装饰涂层测试 . .35.5 元器件可靠性测试. .35.6 安全器件测试. .31 目的1.1 在特定的可接受的环境下不断的催化产品的寿命和疲劳度，评估产品的质量和可靠性； 1.2 规范可靠性试验作业方法。1.3 作为spc品质对spc产品放行的指导标准2 执行原则 Spc产品可靠性试验程序及判断标准，严格遵守此程序。 3 适用范围 适用于品质对spc产品的出货标准。 5 可靠性测试程序5.1环境测试 样机标准数量：16台试验周期： 10天 测试目的： 通过连续的施加各种测试条件，加速产品的失效，提前暴露潜在问题。 试验流
3、程： 见下图，其中完成环测后和跌落测试的时间间隔应不超过4小时。B环境测试A产品平均失效寿命测试组合 功能外观检查25跌落试验25温度冲击 -40/80高温高湿测试6093%RH跌落试验射频测量射频测量25功能外观检查灰尘试验盐雾试验淋雨试验低温参数试验-20低温存储 -30高温存储80高温高湿测试6093%RH湿热循环测试-10/93%RH A：产品平均失效寿命测试组合： 样机数量： 16台 5.1.1功能外观检查测试目的：测试预检查测试方法：OQC功能外观检验标准进行检查测试标准：符合成品检验指导书中所有的指标。5.1.2射频测量测试目的：测试预检查测试方法：使用 8960/CMU200
4、测试仪，参照射频测试记录表中项目列表，对所有样品进行参数指标预测试并保存测试结果测试标准：射频指标记录表中所有参数指标正常。 5.1.3 跌落试验 测试条件： 6cm厚水泥地板，2.4寸及以下LCD 跌落高度为1.2m；2.6-2.8寸LCD为1m；3.0-3.4寸LCD跌落高度为0.8m.3.5寸及以上LCD跌0.5m。测试目的：跌落冲击试验 样机数量： 16台 试验方法：将手机处于开机状态进行跌落。进行6个面的自由跌落实验，每个面的跌落次数为1次，每个面跌落之后进行外观、结构和功能检查。对于翻盖手机，其中一半样品打开翻盖跌正面和背面(即跌8个面)；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置，
5、跌正面和背面(即跌8个面)。跌落结束后对外观、结构和功能进行检查。 检验标准：手机外观，结构和功能符合要求。每跌完一个面进行拔号，应无掉网、关机等不良现象；拨打测试完成后，对每个手机进行快速检测包括活动部件，按键功能，显示功能，触摸屏功能及灵敏度，拍照功能，SPK听筒声音应无异常。间隙张开，其它部件松脱后不借用其它工具用手可以复原的可接受，受力点有水泥沙大小的凹陷、掉涂层、划伤可接受。但涂层不允许有片状脱落、龟裂，掉电及掉SIM卡以微跌为准。掉电池盖不作为不合格项，以手感拆装为准。 5.1.4温度冲击测试测试环境：低温箱：-40 ；高温箱：+80 样机数量：16台 测试目的：通过高低温冲击进行
6、样品应力筛选 试验方法：使用高低温冲击箱，手机带电池，设置成关机状态先放置于高温箱内持续 30分钟后，在 15 秒内迅速移入低温箱并持续 30 分钟后，再 15 秒内迅速回到高温箱为一个循环，共循环 24 次。实验结束后将样机从温度冲击箱（高温箱）中取出，恢复 2 小时 后进行外观、机械和电性能检查。对于翻盖手机，应将一半样品打开翻盖；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置。试验标准：手机电性能指标满足要求，活动部件正常，壳件无形变，无龟裂，变色，无氧化，麻点，脱层，缝隙断差变大（断差和间隙在0.1mm以下可接受），装饰片及镜片起翘不均匀。IML材料高温存储温度为60作为允收标准。5.1.5
7、高温高湿参数测试 测试环境：+60，93%RH 测试目的：高温高湿应用性能测试 试验方法：将手机电池充满电，手机处于开机状态，放入温度实验箱内的架子上。持续48H，在此环境下进行电性能检查。对于翻盖手机，应将一半样品合上翻盖，一半样品打开翻盖；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置。 检验标准：手机电性能参数指标满足要求，时钟精准，存储信息无丢失，拨打过程中有无掉网、关机等不良现象；拨打测试完成后，对每个手机进行快速检测包括活动部件，按键功能，显示功能，触摸屏功能及灵敏度，拍照功能，SPK听筒声音，镜片和LCD内部、Touch Lens内部无水印，水珠，功能正常，外壳无变形。B：环境测试 样
8、机数量： 10台5.1.6低温参数测试 测试环境：-20 测试目的：高温/低温应用性能测试 试验方法：将手机电池充满电，手机处于开机状态，放入温度实验箱内的架子上，调节温度控制器到-20 持续4个小时，在此环境下进行电性能参数和功能检查。对于翻盖手机，应将一半样品合上翻盖，一半样品打开翻盖；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置。 检验标准：手机电性能参数指标满足要求，时钟精准，存储信息无丢失，拨打过程中有无掉网、关机等不良现象；拨打测试完成后，对每个手机进行快速检测包括活动部件，按键功能，显示功能，触摸屏功能及灵敏度，拍照功能，SPK听筒声音变小，功能正常，外壳无变形。 5.1.7高温/低
9、温存储 测试环境：-40 /+80 测试目的：高温/低温应用性功能测试 试验方法：将手机处于关机状态，放入温度实验箱内的架子上。持续48个小时之后，恢复至常温，然后进行结构，功能和电性能检查。对于翻盖手机，应将一半样品合上翻盖，一半样品打开翻盖；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置。 检验标准：手机电性能指标满足要求，活动部件正常，壳件无形变，无龟裂，变色，无氧化，麻点，脱层，缝隙断差变大（间隙断差0.1mm可接受），装饰片及镜片无起翘不均匀。IML材料高温存储温度为60作为允收标准。5.1.8湿热循环测试测试环境：+40，93%RH ；-10测试目的：高湿低温循环应用性能测试 试验方法：
10、温度控制器设到+40，93%RH持续1个小时之后，以1小时的速率变化到-10持续1小时后，以1小时的速度变化到+40，93%RH。循环13次。在此环境下进行电性能参数和功能检查。对于翻盖手机，应将一半样品合上翻盖，一半样品打开翻盖；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置。 检验标准：手机电性能参数指标满足要求，时钟精准，存储信息无丢失，拨打过程中有无掉网、关机等不良现象；拨打测试完成后，对每个手机进行快速检测包括活动部件，按键功能，显示功能，触摸屏功能及灵敏度，拍照功能，SPK听筒声音，镜片和LCD内部、Touch Lens内部无水印，水珠，功能正常，外壳无变形。5.1.9灰尘测试测试环境：
11、室温 测试目的：测试样机结构密闭性样机数量： 2台 试验方法：将手机关机后放入灰尘实验箱内。其体积综合不得超过试验箱的有效空间的1/3，底面积不超过有效水平面积的 1/2，试验样品与试验箱内壁距离应不小于 100mm。试验箱内的气流速度应能保证试验用灰尘均匀缓慢降在试验样品上 ，风速最大不超过 2m/s。持续 8 个小时之后，将手机从实验箱中取出，用布和离子风枪清洁后进行检查。对于翻盖手机，应将一半样品合上翻盖，一半样品打开翻盖； 对于滑盖手机，应将一半样品滑开到限位置。 试验标准：手机各项功能正常，所有活动元器件运转自如，每个按键按10次不能有INT，声音正常，显示区域没有明显灰尘（距离2.
12、5cm，点0.15mm，数量3个 的灰尘数可接）。5.1.10盐雾测试 测试环境：35 5%NaCL测试目的：测试样机抗盐雾腐蚀能力样机数量： 2台 试验方法： 用氯化钠含量为51%的盐溶液，PH值为6.57.2。允许用稀释后的化学纯盐酸或氢氧化钠调整PH值。试验有效空间温度为35C；连续喷雾的试验时间为24H；持续期满后在箱内恢复到正常大气条件，稳定后保持2H，检查。检验标准：外壳表面及装饰件无明显腐蚀，（脱层，氧化2Kg,Fy500g, Fz150g 拉力保持1分钟 检验标准：不允许脱胶5.5.9电池/电池盖拆装测试测试环境：室温（20-25）； 测试目的：电池/电池盖拆装寿命测试 测试数
13、量：2台。 试验方法：将电池/电池盖反复拆装2000次。进行到500次、800次和1000次时检查手机及电池/电池盖各项功能、及外观是否正常。 检验标准：手机及电池卡扣功能正常无变形，电池盖配合手感良好，与壳体有磨痕可接受，不允许与电池表面有磨痕。电池触片、电池连接器应无下陷、变形的现象，电池金手指在拆装10次以内不允许出现磨痕(金属电池盖拆装次数可为1000次)。5.5.10 SIM 卡拆装测试 测试环境：室温（2025）； 测试目的：SIM卡拆装寿命测试 测试数量：2台手机。 试验方法：插上SIM卡，然后取下SIM卡，再重新装上，反复1000次，每插拔100次检查开机是否正常，读卡信息正常
14、。 检验标准：SIM卡触片、SIM卡推扭开关正常无下陷、变形，手机读卡功能使用正常。 5.5.11 存储卡插拔测试测试环境：室温（2025）；测试目的：存储卡插拔寿命测试测试数量：2台手机。试验方法：插上存储卡，待手机屏幕出现存储卡标志，然后取下存储卡，再重新装上，反复1000次，每插拔100次需进入卡内测试存储的数据能否正常读取。检验标准：存储卡触片、自锁开关正常，手机存储卡检测功能及读卡功能使用正常。5.5.12 耳机插拔测试（Headset Test） 测试环境：室温（2025）； 测试目的：耳机插拔寿命测试 测试数量：2台手机。 试验方法：将手机处于开机状态，耳机插在耳机插孔内，然后拔
15、出，反复3000次。进行到2000、2500次和3000次时各检查一次。完成后人手1000次 检验标准：实验后检查耳机插座无焊接故障，耳机插头无损伤，使用耳机通话接收与送话无杂音（通话过程中转动耳机插头），耳机插入手机耳机插孔时不会松动（可以承受得住手机本身的重量）。5.5.13 铃声老化测试测试环境：室温（2025）；测试目的：扬声器抗大音量连续冲击的能力样机数量： 12台试验方法：音量调到最大，选取super star独家试唱mp3歌曲声或声音响度最大铃声，使手机一直处于MP3播放或响铃状态，连续工作5天。检验标准：手机SPK声音正常，无破音、杂音、声小及无声。5.5.14 听筒老化测试测
16、试环境：室温（2025）；测试目的：听筒抗大音量连续冲击的能力样机数量： 12台试验方法：听筒音量调至最大，对方彩铃选择super star独家试唱或声音响度最大的彩铃声，样机一直处于拔号响铃状态，连续工作5天（或采用粉红噪声单体老化）。检验标准：手机听筒声音正常，无破音、杂音、声小及无声。 5.5.15 振子寿命测试测试环境：室温（2025）；测试目的：振动马达的寿命测试样机数量： 3台试验方法：将手机装入电池并插上旅充，然后开机，进入测试模式，选择振动测试，使其连续振动72H，或振动马达单体老化（振2秒停1秒，共72H）每隔10H检查基本功能一次。试验标准：整机振动功能正常，无停振或振动杂
17、音的问题。 5.5.16 摄像头测试（选作）测试环境：室温（2025）；测试目的：摄像头寿命测试样机数量： 2台试验方法：将手机装入电池并插上旅充，然后开机进入摄像状态（模式），持续72H，每隔10H检查一次。试验标准：摄像功能正常，无摄像死机及花屏等不良。 5.5.17 LED灯老化测试（选作）测试环境：室温（2025）；测试目的：LED寿命测试样机数量： 2台试验方法：将手机装入电池并插上旅充，然后开机，并将LED设为常亮，持续72H，每隔10H检查一次。试验标准：LED灯功能正常，无灯暗、不亮等不良 5.5.18 胶塞拉力测试环境：室温（2025）测试目的：检验保护I/O端口的胶塞是否易
18、掉.样机数量： 2台试验方法：用拉力测试仪拔除胶塞,可通过1kg拉力.试验标准：胶塞无脱落，断。 5.5.19 按键拉力测试环境：室温（2025）测试目的：验证按键粘贴强度的可靠性样机数量： 2台试验方法：用502胶水将棉线均匀覆盖粘贴在待测试按键上，静止一段时间待胶水充分粘合后，将棉线的一头固定在拉力计上，使用1.5kg的拉力持续5秒钟(双面胶粘合的按键可以0.7Kg为准).试验标准：要求按键帽无脱落，允许硅胶撕裂。 5.5.20 数据线摇摆测试环境：室温（2025）测试目的：数据线端口可靠性样机数量： 2台试验方法：两固定点之间距离60cm（不足60cm时以实际能达到的最长线计算），以90
19、度与90度的角度，插头端承受吊重500g,每分钟来回摇摆30次，要求测试数量总计1000次试验标准：测试后要求插头摇晃接头不能有任何接触不良和功能异常。 5.5.21 耳机线摇摆测试环境：室温（2025）测试目的：耳机线端口可靠性样机数量： 2台试验方法：两固定点之间距离60cm（不足60cm时以实际能达到的最长线计算），以60度与60度的角度，插头端承受吊重300g，耳壳端承受吊重200g，mic端承受吊重200g。每分钟来回摇摆30次，要求测试数量总计3000次。（单线以200g,双线以300g为摇摆标准）试验标准：测试后要求插头、MIC壳、喇叭处线材不能断裂、明显磨损、通话中用手摇晃3处
20、接头不能有任何接触不良和功能异常。同时符合性能要求。 5.5.22 锌合金高温存储测试环境：室温（2025）测试目的：镀层高温性能样机数量： 2台试验方法：锌合金高温存储150，2小时，铜材高温存储250,钢材高温存储280,（主要针对渡金，PVD）试验标准：镀层胶落，起皮，凸点，变色5.6 安全器件测试 5.6.1 充电器性能测试测试环境：室温（2025）测试目的：漏电及产品安全样机数量： 8台试验方法：1.过压：100V、220V、240V满载时，输入一个高于6.8V到低于10V的直流电压，自动保护。2.过流保护：输入100V、220V、240V，输出负载达到650-900mA之间。自动保
21、护电压小于1V。3.绝缘强度AC3750V/DC500V,1min.绝缘电阻50兆欧。4.跌落1m,12次。5.输出曲线恒压模式：0.0A0.650A; 4.755.25 V 恒流模式: 0.300-0.900A; 0-5.25 V 6.短路保护输出电流600 mA。7.输入高压保护:分别输入电压264、300V,且满载, 应能正常工作。8.输入低压保护: 输入电压分别为: 60、90V满载（CV模式），正常工作48H。9.效率输入电压94V、264V分别加满载效率值在60%以上(应达到泰尔要求)。其它参见旅行充电器技术规范要求。试验标准：符合旅行充电器技术规范要求。5.6.2 电池性能测试测试环境：室温（2025）测试目的：漏电及产品安全样机数量： 8台试验方法：1.常温以0.2C放电，时间大于5h2.常温以1C放电时间大于51min3.恒湿40C ,93%. 48h后，1C放电大于36分钟4.高温60C存储2h后，1C 放电大于51min5.低温-20 C存储16h后，0.2C放电大于3h6.自由跌落1m,每个面2次，再进行1放电时间大于51min7.电池容量测试（测试的容量大于电池额定容量）8.保护板盐雾测试（参照来料盐雾测试标准）其它参见电池技术规范试验标准：符合电池