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1、材料分析测试技术试卷答案 材料分析测试技术试卷(答案) 一、分,每空一分)20(填空题: 构成。、阴极、和窗口射线管主要由1. X 阳极 、光电效应、透射X射线2. X射线透过物质时产生的物理效应有:散射、热。和和偏装三种。3. 德拜照相法中的底 片安装方法有:正装、反装分析两种;测钢中残余奥分析和定量 4. X射线物相分析方法分:定性 氏体的干脆比较法就属于其中的分析方法。定量 两因素影响。像差 5. 透射电子显微镜的辨别率主要受衍射效应和 来揭取其次相微小颗粒进行分析。萃取复型 6. 今日复型技术主要应用于 成分分析仪器。 7. 电子探针包括波谱仪和能谱仪 背散射电子。8. 扫描电子显微镜
2、常用的信号是二次电子 和 分,每题一分)二、8(选择题: )。射线衍射方法中最常用的方法是(1. X b 周转晶体法。劳厄法;ab粉末多晶法;c X2. 已知光管是铜靶,应选择的滤波片材料是( b)。;c. Feb. Ni aCo ;)。3. X射线物相定性分析方法中有三种索引,假如已知物质名时可以采纳( c b. ;芬克无机数值索引; c. 戴维无机字母索引。a哈氏无机数值索引 )。 b4. 能提高透射电镜成像衬度的可动光阑是( ; a其次聚光镜光阑 b. 物镜光阑选区光阑。;c. 。 5. 透射电子显微镜中可以消退的像差是( b ) b. a球差;像散;色差。c. 。)a可以帮助我们估计样品厚度的困难衍射花样是(6. a高阶劳厄斑点;b. 超结构斑点;c. 二次衍射斑点。 7. 电子束与固体样品相互作用产生的物理信号中可用于分析1nm厚表层成分的信号是(b)。 a背散射电子;b.俄歇电子;c. 特征X射线。 8. 中心暗场像的成像操作方法是(c)。 a以物镜光栏套住透射斑;b以物镜光栏套住衍射斑;c将衍射斑移至中心并以物镜光栏套住透射斑。 三、分)8分,每题24(问答题: X射线衍射仪法中对粉末多晶样品的要求是什么1. 射线衍射仪法中样品是块状粉末样品,首先要求粉末粒度要大小答: X之间;其次粉末不能有应力和织构;最终是样品有一适中,在1um-5um个最佳厚度(t =