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1、实验名称双端口存储器原理实验实验时间2011年 10月 20 日实验地点6308 实 验 人姓名楚阵合 作 者学号200948140518 实验小组实验成绩：评阅教师签名：一实验目的1了解双端口静态随机存储器IDT7132 的工作特性及使用方法。2了解半导体存储器怎样存储和读出数据。3了解双端口存储器怎样进行并行读写。二实验内容及实验结果记录1，先填好下表，然后根据该表将有关控制信号和二进制考官对应接好（实验处于单拍状态）DP DB DZ（禁止 IAR、ALU、RF向 DBUS送数据）RS_BUS#IAR_BUS#ALU_BUS（AR2 从 DBUS 取得地址数据）M3 1 0 0 1 1 0
2、 1 CEL#LRW CER LDAR1 LDAR2 SW_BUS#LDIR K0 K1 K2 K3 K4 K5 K6 2.向存储器 RAM 中写数,并读出进行检查操作AR1/AR2 IR/DBUS QD SW0-SW7 K0 K1 K2 K3 K4 K5 K6 数据 00H送 00H 单元地 址00HAR1 AR1 DBUS 1 00000000 1 1 0 1 0 0 0 数 据00H00H 单元AR1 DBUS 1 00000000 0 0 0 0 0 0 0 数据 11H送 10H 单元地 址10HAR1 AR1 DBUS 1 00010001 1 1 0 1 0 0 0 数据 110
3、H10H 单元AR1 DBUS 1 00010000 0 0 0 0 0 0 0 数据 22H送 20H 单元地 址20HAR1 AR1 DBUS 1 00100010 1 1 0 1 0 0 0 数 据22H20H 单元AR1 DBUS 1 00100000 0 0 0 0 0 0 0 名师资料总结-精品资料欢迎下载-名师精心整理-第 1 页，共 3 页 -据 33H 送30H 单元地 址30HAR1 AR1 DBUS 1 00110011 1 1 0 1 0 0 0 数 据33H30H 单元AR1 DBUS 1 00110000 0 0 0 0 0 0 0 数据 44H送 40H 单元地
4、址40HAR1 AR1 DBUS 1 01000100 1 1 0 1 0 0 0 数 据44H40H 单元AR1 DBUS 1 01000000 0 0 0 0 0 0 0 实验结果：操作AR1/AR2 IR/DBUS QD SW0-SW7 K0 K1 K2 K3 K4 K5 K6 读出00H 单元中的数据地址00HAR1 AR1 DBUS 1 00000000 1 1 0 1 0 0 0 读 出 数据-DBUS AR1 DBUS 1 00000000 0 1 0 1 0 1 0 读出10H 单元中的数据地址10HAR1 AR1 DBUS 1 00010000 1 1 0 1 0 0 0 读
5、 出 数据-DBUS AR1 DBUS 1 00010001 0 1 0 1 0 1 0 读出20H 单元中的数据地址20HAR1 AR1 DBUS 1 00100000 1 1 0 1 0 0 0 读 出 数据-DBUS AR1 DBUS 1 00100010 0 1 0 1 0 1 0 读出30H 单元中的数据地址30HAR1 AR1 DBUS 1 00110000 1 1 0 1 0 0 0 读 出 数据-DBUS AR1 DBUS 1 00110011 0 1 0 1 0 1 0 读出40H 单元中的数据地址40HAR1 AR1 DBUS 1 01000000 1 1 0 1 0 0
6、0 读 出 数据-DBUS AR1 DBUS 1 01000100 0 1 0 1 0 1 0 名师资料总结-精品资料欢迎下载-名师精心整理-第 2 页，共 3 页 -操作AR1/AR2 IR/DBUS QD SW0-SW7 K0 K1 K2 K3 K4 K5 K6 读出00H 单元中的数据地址00HAR1 AR2 IR 1 00000000 1 1 0 0 1 0 0 读 出 数据-IR AR2 IR 1 00000000 1 1 1 0 0 0 1 读出10H 单元中的数据地址10HAR1 AR2 IR 1 00010000 1 1 0 0 1 0 0 读 出 数据-IR AR2 IR 1
7、 00010001 1 1 1 0 0 0 1 读出20H 单元中的数据地址20HAR1 AR2 IR 1 00100000 1 1 0 0 1 0 0 读 出 数据-IR AR2 IR 1 00100010 1 1 1 0 0 0 1 读出30H 单元中的数据地址30HAR1 AR2 IR 1 00110000 1 1 0 0 1 0 0 读 出 数据-IR AR2 IR 1 00110011 1 1 1 0 0 0 1 读出40H 单元中的数据地址40HAR1 AR2 IR 1 01000000 1 1 0 0 1 0 0 读 出 数据-IR AR2 IR 1 01000100 1 1 1 0 0 0 1 三总结实验过程中调试所遇到的问题和解决方法，写出经验和体会。通过做本次实验，基本上了解了往存储器中写入数据的流程，从存储器中读出数据，并且将数据写入指令寄存器IR 的过程。但是在做实验时，必须十分认真，有时候线头松动等的小问题也会对实验造成很大的影响。遇到问题还得更加认真细心的检查，一个个的排除造成错误的可能情况，这样问题才会得到解决。名师资料总结-精品资料欢迎下载-名师精心整理-第 3 页，共 3 页 -