光纤型式试验方法.docx

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1、管理体系文件文件名称：光纤型式试验方法文件编号：版本号：A.1页 数：18生效日期：编制部门：光纤生产技术部文件需发放部门营销部研发部口光纤生产技术部口设备部口物控部口质保部光棒生产部口工程部口人力资源行政部 IT部财务部编制审核批准日期管理体系文件文件编号题目：光纤型式试验方法版本号A. 1页.数7/26相关记录6.1光纤抗拉强度试验记录表管理体系文件文件编号题目：光纤型式试验方法版本号A. 1页.数8/2光纤干热试脸方法1范围用来具体指导干热老化附加衰减试验，对抽样光纤进行30天的85c高温环境下进行老化，并对 由干热老化而引起的附加衰减进行试验。适用于青海中利光纤技术有限公司实验室内进行

2、光纤干热老 化附加衰减试验。2引用文件环境性能的测量程序和试验方法-干热GB/T 15972.51-20083职责所有在实验室内用Partner高低温试验箱进行光纤干热老化附加衰减试验的人员必须遵循本方 法。4仪器设备及工具OTDR、Partner高温干燥箱、样品绕圈机、滑石粉5试验过程5.1 取长度大于2100m的光纤，用样品绕圈机将样品绕成直径约为250mm的松散线圈，将这些松散的 光纤打上滑石粉，使得光纤都相互不黏结，呈非常松散的状态，放置在高温干燥箱内，将光纤的两端 从高温干燥箱的后面试验口引出，然后用软塞将试验口堵住，注意不要弄断光纤。5.2 打开试验箱电源，点击触摸屏进入图1的操作

3、界面，选择DRY85进入高温老化试验程序。5. 3高温干燥箱的程序设置为不控制的85。高温加热。在加热过程中，分别在加热前和加热后的第1天、第10天、第20天、第30天用OTDR测试1310nm和1550nm的波长衰减。加热前和最后一天试验 点的温度应为23,其余的均为85。5.4 干热后的光纤取样做剥离力试验。管理体系文件文件编号题目：光纤型式试验方法版本号A. 1页.数9/26相关记录6.1光纤干热试验附加衰减记录表10管理体系文件文件编号题目：光纤型式试验方法版本号A. 1页.数10/2光纤高温高湿试脸方法1范围用来具体指导温湿度老化附加衰减试验，对抽样光纤进行85, 85%的高温高湿环

4、境下老化，并对 由高温高湿老化而弓I起的附加衰减进行试验。适用于青海中利光纤技术有限公司实验室内进行光纤高温 高湿老化附加衰减试验。2引用文件环境性能的测量程序和试验方法-恒定湿热GB/T 15972. 50-20083职责所有在实验室内用高低温试验箱进行光纤高温高湿老化附加衰减试验的人员必须遵循本方法。4仪器设备及工具0TDR、高低温试验箱、样品绕圈机、滑石粉5试验过程5.1 取长度大于2100m的光纤作为样品，用样品绕圈机将样品绕成直径约为250nlm的松散线圈，将这些 松散的光纤打上滑石粉，使得光纤都相互不黏结，呈非常松散的状态，放置在高低温环境试验箱内，将 光纤的两端从实验箱的侧面试验

5、口引出，然后用软塞将试验口堵住，注意不要弄断光纤。5.2 打开试验箱电源，点击触摸屏进入图1的操作界面，选择WET进入高温高湿老化试验程序。 图2旧操作界面5.3 试验箱的程序设置为85, 85%的高温高湿环境。分别在加热前和加热后的第10天、第20天、第30天，用0TDR测试1310nm和1550nm波长处衰减.试验结束取样做剥离力试验。6 相关记录6.1 光纤高温高湿试验附加衰减记录表11管理体系文件文件编号题目：光纤型式试验方法版本号A. 1页.数11/2光纤温度循环试验方法1范围用来具体指导温度循环附加衰减试验，对抽样光纤按图3中所示的步骤进行-60C至85C的温度循 环，并对由温度循

6、环而引起的附加衰减进行试验。适用于青海中利光纤技术有限公司实验室内进行光 纤温度循环附加衰减试验。2引用文件环境性能的测量程序和试验方法-温度循环GB/T 15972. 52-20083职责所有在实验室内用Partner高低温试验箱进行光纤温度附加衰减试验的人员必须遵循本方法。4仪器设备及工具0TDR、高低温试验箱、样品绕圈机、滑石粉5试验过程5.1 取长度大于2100m的光纤作为样品，用样品绕圈机将样品绕成直径约为250mm的松散线圈，将这 些松散的光纤打上滑石粉，使得光纤都相互不黏结，呈非常松散的状态，放置在高低温环境试验箱内, 将光纤的两端从实验箱的侧面试验口引出，然后用软塞将试验口堵住

7、，注意不要弄断光纤。5.2 打开试验箱电源，点击触摸屏进入图1的操作界面，选择TEM进入温度循环试验程序。图1操作界面图2 TEM操作界面TEM程序设置如下：5. 3试验箱的程序设置为环境温度不控制的-60至85c的循环，共循环2次。在循环过程中，每一 个温度点上至少持续2小时，用0TDR分别测试图3 ()温度点1310nm和1550nm波长衰减.12管理体系文件文件编号题目：光纤型式试验方法版本号A. 1页.数12/2-60 （2 小时）-60 （2 小时）-60 （2 小时）图3 温度循环图5.4温度循环试验结束后取样做剥离力试验。6相关记录6.1光纤温度循环试验附加衰减记录表13管理体系

8、文件文件编号题目：光纤型式试验方法版本号A. 1页.数1/2光纤浸水试睑方法1范围用来指导单模光纤浸水老化附加衰减试验。适用于单模光纤在实际应用、贮存或（运输）过程中可 能发生的浸泡在蒸馄水或软化水环境下的适应能力。2引用文件环境性能的测量程序和试验方法-浸水GB/T 15972.53-20083职责所有在实验室内用蒸储水做光纤浸水试验的人员必须遵循本方法。4使用仪器和工具.0TDR、光纤容器、样品绕圈机、去离子水5试验步骤5.1 试验准备5.1.1 从每盘试验光纤上各取长度大于2100m的光纤作为试样。为避免任何宏弯影响，将试样松绕成直 径约为250mm松散线圈。放入前，试验员应在0TDR事

9、件分析窗口观察试样光纤1550nm波长处衰减曲线， 若有台阶须重新准备试样。注：试样准备过程中避免给光纤造成危害的影响。5.2 试验过程1 .2.1将试样垂直或水平放置放入装满水的玻璃缸中，光纤两端落在水外，不施加水压。光纤放入水 中后待光纤稳定后观察试样光纤1550nm波长处衰减曲线是否有台阶。没有台阶待光纤稳定后记录试样光 纤在1310nm、1383nm和1550nm、1625 nm波长处的衰减值，有台阶重新准备试样。5 . 2. 2 试验前和开始实验后每隔10天，记录试样光纤在1310nm、1383nm和1550nm、1625 nm波长处的衰 减值，水的温度保持在235,放置30天，监测

10、衰减的变化。6相关记录6.1光纤浸水试验附件衰减记录表14管理体系文件文件编号题目：光纤型式试验方法版本号A. 1页.数1/2氢损试险方法1范围用来指导氢老化试验的使用操作。适用于单模光纤生产的氢气老化试验过程。2引用文件BL 3光纤氢老化试验IEC 60793-2-503职责所有在实验室内用氢损罐做光纤氢损试验的人员必须遵循本方法。4使用仪器和工具,PK2200、压力表三个、内六角扳手、活动扳手、氢气（5%）和氮气混配气体5试验过程5.1 试验准备5.1.1 1. 1试验前由测试人员用PK2200对每盘试验光纤1240nm和1383nm波长处的光谱损耗值进行测试，记 录光纤编号及结果；5.1

11、.2 将每盘试验光纤用塑料袋包好套好保护罩（亦可不套）；5.1.3 用活动扳手打开氢损罐，将光纤盘放入箱内，勿摔碰；在氢损罐四壁的内置橡皮垫圈上均匀的涂上少许硅油，使箱体的密封性保持良好，然后关好氢 损罐门，拧紧螺丝。5.2 试验步骤及控制要点5 . 2.1准备步骤完成后，打开阀门1 （通往真空泵开关），用真空泵对密封试验箱抽真空，抽至-0.IMpa 后关闭真空泵阀门及真空泵，观察5分钟确认压力表读数没有变化；6 .2.2打开阀门2 （通往氢气钢瓶开关），向试验箱缓慢的充入氢气至压力表读数在O.IMpa,迅速关闭 氢气钢瓶开关和阀门，试验人员观察5分钟确认压力表读数没有变化，一小时后应对压力表

12、再次检查确 认如果读数有变化应通知工程师；5. 2. 3试验开始后每12小时记录一次试验箱压力表读数试验进行规定天数后将试验光纤从试验箱中取出，测试每盘试验光纤在1240nni和1383nm波长处 的谱损耗值，比较试验前后两波长处的光谱损耗值变化，试验后1240nm处的光谱损耗值比试验前应上 升0. 03dB/km及以上（这时可以认为1383nm处的衰减增加值完全饱和，因而可以把光纤从氢气氛围中取15管理体系文件文件编号题目：光纤型式试验方法版本号A. 1页.数1/2出）；注：1240nm波长代表氢分子在试样中渗入的程度。5. 2. 6试验结束至少在14天后在测试一次1383nm处的光谱损耗值

13、。6安全要求6.1 氢损罐在运行状态时不能打开罐门；6.2 氢气瓶使用注意：操作时禁止将瓶出口对准入或物；异常处理：在运行过程中，一旦发现氢损罐有漏气现象，立即通知设备部人员检查，维修完毕重 复、5.1. 2操作，继续试验；试验结束后测试1240nm处的光谱损耗值，若与试验前相比上升值 小于0. 03dB/km,需返工重新进行氢老化试验。7环境要求及清洁工作氢气瓶应放置于阴凉通风地方，远离火种、热源，防止阳光直射，应与氧气、压缩气体、卤素、氧 化剂等分开存放，禁止明火；每次作业之前用水和酒精清洁试验箱内壁，确保箱内洁净无尘；每个月 清洁一次箱子外部。8相关记录8.1光纤氢损试验记录表16管理体

14、系文件文件编号题目：光纤型式试验方法版本号A. 1页 数1/2光纤宏弯试睑方法1范围为规范测量光纤在不同弯曲情况下的宏弯衰减,特制定本方法。本公司进行光纤宏弯试验的所有设备2引用文件光纤试验方法规范第47部分：宏弯损耗GB15972. 47-20083职责做光纤宏弯试验时，按照此方法操作。4程序内容4. 1测量设备谱衰减测量仪PK22004.2测量工具绕圈棒、无水乙醇、擦拭纸等4. 3测量程序4. 3. 1 50mm 直径 100 圈:使用50nlm直径绕线棒，从待测光纤盘上2nl后绕取光纤100圈，使绕线棒上光纤呈松弛状态，参照PK2200 方法，放于2200上进行宏弯损耗测量.4.3.2

15、32mm 直径 1 圈：将待测光纤打上32mm直径1圈，参照PK2200方法，放于2200上进行宏弯损耗测量，并将结果于光纤 宏弯衰减测试记录表中。4. 3.3 60mm 直径 100 圈：使用60mm直径绕线棒，从待测光纤盘上2nl后绕取光纤100圈，使绕线棒上光纤呈松弛状态，参照PK2200 方法，放于2200上进行宏弯损耗测量.5环境和安全规范环境要求：温度:205；相对湿度：35%65%防震、防尘、防阳光直射、防电磁干扰。6相关记录6. 1光纤宏弯试验记录表光纤模具管理制度修改履历表版本号修改条款及内容摘要修改人/日期批准人/日期A.1按照受控文件编制规范初次编制记录编号:管理体系文件

16、文件编号题目：光纤型式试验方法版本号A. 1页 数2/2管理体系文件文件编号题目：光纤型式试验方法版本号A. 1页.数1/23轴向张力法nd试验方法1范围用来指导常温常压的环境条件下试验光纤在不同应变速率下的断裂强度，然后计算出光纤的动态 疲劳参数。本方法适用于青海中利光纤技术有限公司实验室内进行光纤动态疲劳试验。2引用文件光纤试验方法 第33部分-应力腐蚀敏感性参数的测量程序和试验方法GB/T 15972. 31-20083仪器设备及工具拉力试验机，200N的传感器4试验内容4.1试验条件4. 1. 1温度应在235之间,相对湿度应在3565%之间,进行动态疲劳试验的光纤样品在试验前应 保持

17、在该环境条件下至少12个小时。5. 1. 2 试验速度：250mm/min； 25mm/min； 2. 5mm/min,使用 200N 的传感器。5.1 . 3每一个应变速率,截取15段长度至少为2米的光纤样品。5.2 试验过程4. 2, 1将2米长4. 2, 1将2米长勺光纤样品绕在拉力机夹具上双击桌面TESTER图标，拉力机底座的力值传感器设为200N, “配置”菜单“系统配置”的“力值传感器”也应改为200N。按将位移降到最低“全清零”后将位移向上升到1000mm全清零后按“输入”按钮输入图1内信息,直径0. 125mm后选择相应的试验速度。图1形状选择: 棒材1管理体系文件文件编号题目

18、：光纤型式试验方法版本号A. 1页.数1/234. 2. 2开始试验光纤断裂后，拉力机自动停止并采集数据，夹具自动回到初始位置。同样程序，试验15个样品，结 束实验。试验时，将 2长度的光纤样品按不同的应变速率进行拉伸，直至断裂，并记录断裂强度，最后 按计算公式计算出光纤的动态疲劳参数。4.3 关机清理4.4 数据处理：根据同一速率下光纤中值强度。f (0.15)和恒定应力速率的关系式：lg of (0.5) = goa /(I + n d) + 截距oa=0.2af/t(of)-t (0. 8 o f)作出每种应力变化速率和其中值强度的对数关系图，此图线性回归线的斜率即为l/(nd+l)并计

19、算nd。5相关记录5. 1轴向张力法Nd试验记录表管理体系文件文件编号题目：光纤型式试验方法版本号A. 1页.数2/2两点弯曲法nd试验方法1范围本试验方法是用来指导两点弯曲法试验来计算光纤的动态疲劳参数nd值。本试验方法适用于青海中 利光纤技术有限公司光纤分析实验室内进行光纤动态疲劳试验.2引用文件光纤试验方法 第33部分-应力腐蚀敏感性参数的测量程序和试验方法GB/T 15972. 31-20083职责所有在光纤实验室内用两点弯曲法试验机进行光纤动态疲劳试验的人员必须遵循本方法。4仪器设备及工具两点弯曲法测试仪、sigmaplot软件5试验步骤6. 1光纤的动态疲劳参数可以从测量3-5厘米

20、光纤在lum/s、10um/s、100um/s 1000um/s4个速度下 的动态强度并通过计算得到。5.2试验条件5. 2. 1温度应在235之间,相对湿度应在3565%之间，进行动态疲劳试验的光纤样品在试验前应 保持在该环境条件下至少12个小时。5. 2. 2 试验速度：lum/sx 10um/s 100um/s 1000um/s试验样品分为：未老化光纤；温湿度老化光纤；浸水老化光纤。样品准备每一个速度下,截取15段长度为3-5厘米的光纤样品。5.3试验过程5. 3. 1打开测试软件，点击“load fiber”在v型槽放置光纤，点击“break fiber”使光纤断裂。试 验程序自动停止

21、并采集数据，数据备份在相应的文件夹中。注：做1000um/s速度时只能放一个样品，其他速度可以放二30个样品。5. 3.2数据处理双击桌面 ，nk为Gpa,情怀编抬咤6相关记录6.1两点弯曲法Nd试验记录表;图标，备份好的数据复制到sigmaplotll软件中,将Mpa转换itigue date analysisv 选 2Point,程序自动计算出 nd 值。管理体系文件文件编号题目：光纤型式试验方法版本号A. 1页.数3/22光纤剥离力试验方法1范围用于指导如何测量沿光纤轴向机械剥除光纤聚合物保护涂层30mm所需力的最大值。本试验方法适用 于青海中利光纤技术有限公司光纤分析实验室内进行光纤剥

22、离力试验。2引用文件光纤试验方法第32部分-机械性能的测量方法和试验程序一涂覆层可剥性GB/T 15972. 32-2008 3职责所有在光纤实验室内用拉力试验机进行光纤剥离力试验的人员必须遵循本方法。4仪器设备及工具拉力试验机、50N传感器5试验步骤5.1 试验环境温度应在235之间，相对湿度应在3565%之间。5.2 样品准备5 . 2. 1 50cm未老化光纤6 .2.2 剥离长度为30土3mm5.3试验过程5. 3.1将光纤垂直放置在涂层剥离器刀口中心，上（下）夹具将样品的上（下）端夹住。打开测试软件，拉力机底座的力值传感器设为50N, “配置”菜单“系统配置”的“力值传感器” 也应选

23、50N。按向下箭头将位移降到最低“全清零”后将位移向上升到500nlm全清零后按“输入”按钮 输入信息，选择类型为棒材，输入直径0. 125mni后选择500nini/niin的剥离速度，将30cm的涂层剥掉。 5. 3.2数据处理记录每次试验的剥离力最大值和平均值,该报告应显示15个有效样品试验值,最后用15次试验最大 值的平均值作为最终试验结果。6. 3.3关机清理6相关记录7. 1光纤剥离力试验记录表管理体系文件文件编号题目：光纤型式试验方法版本号A. 1页.数4/2光纤拉出力试验方法1范围本试验用于测量把光纤从1cm涂层中分离出来的力，它提供的数据可以表征光纤的玻璃同涂层之间 的粘附力

24、的大小。2引用文件光纤试验方法第32部分-机械性能的测量方法和试验程序一涂覆层可剥性GB/T 15972. 32-2008 3职责所有在光纤实验室内用拉力试验机进行光纤拉出力试验的人员必须遵循本方法。4仪器设备及工具拉力试验机、50N传感器、401瞬干胶、712胶水固化加速剂、专用铁板5试验步骤5.1 试验环境温度应在235之间，相对湿度应在3565%之间。5.2 样品准备5.2.1 截取长度超过60coi的光纤样品，将其中一端的大约20mm放在带有刻度的铁板上，用401瞬干 胶滴在光纤上，胶水量不要太多，然后再向胶水部分涂上固化加速剂，等待其快速固化，大约20秒钟 后，铁板上留出准确长度10

25、mm的黏结紧密的光纤，用刀片将多余的10mm光纤和胶水块切除，用剥线钳 去掉光纤与格板交界处的外涂层和内涂层。注意：401瞬干胶对人眼有刺激作用，并且可以在几秒钟之内把人的皮肤黏结在一起，所以一旦这种胶 水接触到皮肤，请立即用清水冲洗。如果进入人眼或被误服，请立即冲洗并请医生处理。5.2.2 重复5. 2.1的步骤，制备15个试验样品。5.3 试验过程5. 3.1把载有lOnrni光纤的铁板一端夹在上面，注意不要夹到光纤部分，把另一端固定在下面，使光纤保持垂直保持垂直双击桌面TESTER图标，拉力机底座的力值传感器设为50N, “配置”菜单“系统配置”的“力值传感器”也应选50N。按形状选择:

26、棒材将位移降到最低“全清零”后将位移向上升到500nun全清零后按“输入”按钮输入图1内信息直径0. 125mm后选择500mm/min的拉伸速度，将光纤从涂层中分离出来。5. 3. 2数据处理记录每次试验的拉出力，该报告应显示15个有效样品试验值,最后用15次试验平均值作为最终试验管理体系文件文件编号题目：光纤型式试验方法版本号A. 1页.数5/22结果。5. 3.3在对某个样品进行实验时，如果发生下列情形之一的，此样品的数据被剔除：a）光纤断裂；b）铁板上的胶水块脱落；C）光纤从胶水块上脱落；d）光纤在非测量长度上被从涂层中拉出。注：一盘光纤如果有两个以上样品出现这种情况，应该检查设备状况

27、，重新进行实验。6相关记录6.1光纤拉出力试验记录表管理体系文件文件编号题目：光纤型式试验方法版本号A. 1页.数6/2光纤抗拉强度试睑方法1范围用来指导如何进行光纤动态抗拉强度试验，应变速率一般为25%/mmo适用于青海中利光纤技术有 限公司实验室内进行光纤中值强度试验。2引用文件光纤试验方法 第31部分-机械性能的测量方法和试验程序一抗张强度GB/T 15972. 31-20083职责所有在实验室内用拉力试验机进行光纤抗拉强度试验的人员必须遵循本方法。4仪器设备及工具拉力试验机、200N传感器5试验步骤5.1 试验条件5.1.1 温度应在235之间,相对湿度应在3565%之间，光纤样品在试

28、验前应保持在该环境条件下 至少12个小时。5.1.2 1. 2试验速度：25mm/min,使用200N的传感器。试验样品分为：未老化光纤；温湿度老化光纤；浸水老化光纤。5.1.3 样品准备每一个应变速率,截取30段长度至少为2米的光纤样品。5.2 试验过程5. 2.1装夹光耳融1n双击桌面图标，园|拉力机底座的力值传感器设为200N, “配置”菜单“系统配置”的“力值传感 器”也应选50N。按向下箭头将位移降到最低“全清零”后将位移向上升到500mni全清零后按“输入” 按钮，类型选择棒材，输入直径0.125mm后选择25mm/min的拉伸速度，将光纤拉断。试验程序自动停 止并采集数据，夹具回到初始位置。同样程序，试验30个样品，结束实验。5.3 关机清理5.4 数据处理：根据下面关系式计算韦伯尔系数作出Weibell统计分布图：md = In。(0.85) In cf(OA 5)Of (0.15),。10.85)为记录数据排序后累积百分比为0.15、0.85的强度，并计算出光纤的中值强度。