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1、第1页，共12页研究生材料研究方法 材料表征技术材料现代分析技术课程考试题汇编注：题目有可能重复，不同年级的考试内容也不同。一、选择题，下面各题只有一个答案是正确的，请选择正确答案写在答题纸上。1X 射线具有许多特性，下列哪一项不是X 射线的特性？A. 使照相底片感光B. 在物质中传播发生明显折射C. 使气体电离D. 具有一定的穿透能力2下列哪组干涉面属于101晶带，且为面心立方中X 射线衍射线出现的实际晶面？A. 313311B. 113511C. 333224D. 1111003在 SEM 中，物镜是一种弱磁透镜，具有较长的焦距，其目的是使样品室和透镜之间留有一定空间，以便装入各种信号探测
2、器。除此之外，它还具有什么作用？A. 成象放大B. 图象投影C. 会聚电子束D. 扫描电子束4下列哪种情况会产生荧光辐射? A. Cu K 激发 Cu K 荧光B. Cu K 激发 Ni 的 K 系荧光C. Cr K 激发 V 的 K 系荧光D. Fe K 激发 Mn 的 K 系荧光5对于同一个晶体物质：A. 依据其正方底心点阵和正方简单点阵所得到的倒易点阵是完全相同的B. 依据其正方底心点阵和正方简单点阵所得到的倒易点阵是完全不同的C. 依据其正方底心点阵和正方简单点阵所得到的倒易点阵所属晶系是不同的D. 依据其正方底心点阵和正方简单点阵所得到的倒易点阵所属晶系是相同的，但其布拉菲结构特征是
3、不等价的6俄歇电子A. 其能量与激发源的能量无关，只取决于物质原子的能级结构B. 其能量与激发源的能量有关，不同能量的激发源激发不同能量的俄歇电子C. 是物质被激发后唯一可能产生的一种辐射D. 是物质中被激出的内层电子7高角度散射暗场（ HAADF ）技术利用环形探测器只探测高角度散射电子， 没有利用中心部分的透射电子，将这种方式与扫描透射电子显微方式（ STEM）结合，就能得到暗场STEM象。如图，一束电子透过厚度均匀的试样后，在 HAADF 图象中，原子序数大的部分相对于原子序数小的部分A. 衬度一样B. 衬度相近C. 呈亮相D. 呈暗相8透射电镜的分辨本领主要取决于物镜， 而物镜的分辨本
4、领决定于A. 衍射效应B. 衍射效应和象散C. 衍射效应和色差D. 衍射效应和球差9X 射线衍射仪测定试样表面宏观应力的实验方法是A. 测量晶体内几个不同取向的不同晶面的晶面间距精选学习资料 - - - - - - - - - 名师归纳总结 - - - - - - -第 1 页，共 12 页第2页，共12页B. 测量晶体内几个相同取向的不同晶面的晶面间距C. 测量晶体内垂直于应力方向的某一晶面的晶面间距D. 测量晶体内不同取向的同一个晶面的晶面间距10测定样品中某元素的价态，下列哪一种方法最佳? A. WDS B. EDS C. AES D. XPS 孪晶是指晶体中原子排列以某一晶面（孪生面）
5、 成镜面对称的部分。 孪晶可以在形变过程形成， 可以在晶体生长时形成（如自然孪晶），也可以在退火及相变过程形成。如右图是 Cr18Ni5Si1.5Mo2.7Fe 双相不锈钢中的孪晶形貌。11图中 AA 条纹处于晶内，它表示A. 位错B. 层错C. 等厚条纹D. 等倾条纹12图中 BB 是孪晶界，其条纹象是A. 位错B. 层错C. 等厚条纹D. 等倾条纹13图中 P 处白色条纹表示A. 位错B. 层错C. 等厚条纹D. 等倾条纹如右图是奥氏体不锈钢中与基体共格的含铜沉淀相， 它们（P1、P2、P3）呈现蝶形轮廓衬度。试样薄膜厚度均匀，基本无弯曲。14图中蝶形衬度是由下列哪种衬度引起的？A. 应变
6、场衬度B. 位向衬度C. 结构因子衬度D. 相界衬度15图中蝶形图象表示含铜沉淀相形状为A. 蝶形B. 盘状C. 球形D. 两个半球形粒子16推测图中 P1、P2、P3各沉淀相在样品中所处深度（从上表面到下表面深度依次增大）A. P1=P2=P3B. P1P3P3P2D. P3P1P2精选学习资料 - - - - - - - - - 名师归纳总结 - - - - - - -第 2 页，共 12 页第3页，共12页如右图为化学气相沉积的金刚石颗粒的扫描电镜二次电子象。17请判断 A、 B、 C 三个面的法线与入射电子束的夹角大小，从大到小排列为：A. ABC B. ABCB D. CAB 18假
7、定入射电子束与A 面垂直， A 面为（111）晶面， B 面为（101）晶面，则 B 面法线与入射电子束的夹角为A. 35.3B. 54.7C. 90D. 125.319金刚石是一种良好的绝缘体，对于图中大颗粒，如果表面不作任何处理， 在扫描电镜中，可以观察到哪种图象？A. 二次电子象B. 吸收电子象C. 透射电子象D. 背散射电子象阅读下面一篇论文节录，完成2024 小题。Plasma source ion nitriding has emerged as a low-temperature, low-pressure nitriding approach for low-energy im
8、planting nitrogen ions and then diffusing them into metal and alloy. The engineering surfacees for combining improvement in wear and corrosion resistance were obtained on the nitrided 18-8 type austenitic stainless steel. In this paper, commercial 1Cr18Ni9Ti austenitic stainless steel was selected a
9、s the sample material. All samples were finely ground, polished, and finally cleaned in acetone. In the plasma source ion nitriding processs, samples were placed in an electron cyclotron resonance (ECR) microwave plasma and biased with a pulsed negative potential of 2kV at a process temperature of 3
10、80 C regulated by an auxiliary heater. Nitrogen ion implantation dose rate was 0.63 mA/cm2. Nitriding time was 4 h. Fig.1 shows the nitrogen concentration depth profiles by AES and EPMA on the nitrided surfacee of the stainless steel at a process temperature of 380 C. A nitrided layer approximately
11、13 m thick was obtained on the nitrined surfacee. Its peak nitrogen concentration was approximately 32 at.%. The crystal structure of the nitrided layer was investingated using X ray diffraction, as shown in Fig.2. A single Nphase on the nitrided surface was detected. The anisotropic distribution of
12、 disordered nitrogen in f.c.c. lattice of the phase resulted in its complicated structure, leading to complete disappearance of some peaks of high-index planes. The formation of a single N phase on the nitrided surfacee has been confirmed unambiguously by TEM observation, as shown in Fig.3. The elec
13、tron diffraction pattern of the N phase showed a 251 zone without any superlattice spots. This means no presence of the other nitrogen-containing relative phases, such as nitrogen-induced h.c.p. martensites (N and N), ordering phase, CrN, and phase. （Take from X.M. Zhu, M.K. Lei. Surface and Coating
14、s Technology, 2000. ）A B C 精选学习资料 - - - - - - - - - 名师归纳总结 - - - - - - -第 3 页，共 12 页第4页，共12页20文中采用了多种现代分析技术研究分析了1Cr18Ni9Ti 奥氏体不锈钢经等离子体源离子渗氮后表层成份和组织结构，证实在给定条件下渗氮层组织为A. B. NC. ND. N2120 小题结论的最佳判据为A. Fig.2 B. Fig.3(a) C. Fig.3(b) D. Fig.3 22N相是一种A. 面心立方无序固溶体B. 面心立方有序固溶体C. 体心立方无序固溶体D. 体心立方有序固溶体23文中测试方法的
15、最佳替代方案为A. 俄歇电子能谱仪 X 射线衍射仪扫描电镜能量分散谱仪B. X 射线光电子能谱仪 X 射线衍射仪透射电镜选区电子衍射C. X 射线光电子能谱仪透射电镜选区电子衍射能量分散谱仪D. 俄歇电子能谱仪 X 射线光电子能谱仪透射电镜选区电子衍射24掠射 X 射线衍射仪是一种用于薄膜分析的附件，X 射线以较小的角度投射到试样表面，入射线与试样表面的夹角称为掠射角，掠射角一般取 0.5 10 。文中 Fig.2 采用掠射的目的是A. 减小测试深度B. 降低衍射强度C. 缩小平面内测试范围D. 减小 2 角精选学习资料 - - - - - - - - - 名师归纳总结 - - - - - -
16、 -第 4 页，共 12 页第5页，共12页采用 X 射线衍射仪法精确测定金属钽的粉末X 射线衍射花样的sin2值如下：0.11265, 0.22238, 0.33155, 0.44018, 0.54825, 0.65649, 0.76312, 0.87054, 0.87563, 0.97826, 0.98335；入射 X 射线波长（ Cu 靶）为：K0.15405nm，K0.15443nm。25钽的晶体点阵为A. 简单立方B. 面心立方C. 体心立方D. 金刚石结构26假定入射线与衍射线均为平行光束，束斑为细聚焦线焦斑，焦斑长边与测角仪中心轴平行，试样安装时保证其表面与测角仪中心轴相切，采用
17、解析外推法求晶胞参数时最好选用下列哪一种外推函数？A. cos2B. ctg2C. cos ctgD. 22cossincos27将上述衍射花样指标化。28根据 26 小题中选择结果，用作图法求出钽的晶胞参数精确值。已知 TiO2有两种晶体型态， 即锐钛矿和金红石， 两者均为正方晶系， 它们的点阵常数为：锐钛矿 a=3.7852、c=9.5139，金红石 a=4.5933、c=2.9592。某样品经光谱分析没有发现其它元素存在，因此可以假设样品仅由TiO2组成。采用 X 射线衍射仪测定样品中锐钛矿的含量，辐射选择 CuK 。29要测定样品中锐钛矿的含量，最简单实用的方法是A. 内标法B. 外标
18、法C. 直接对比法D. K 值法30如果采用内标法，理想的内标物质是A. NiO B. TiO2（金红石）C. SiO2D. KCl 31如果采用直接对比法，选用二者的衍射线应尽量靠近，则测定锐钛矿和金红石的最佳衍射线对是A.（110） （101）B. （200） （200）C. （101） （101）D. （112） （211）32分别测量原始样品中锐钛矿和金红石衍射线（31 题中所确定的衍射线对）的强度IA（锐钛矿）和 IR（金红石）；在 2.16 克的原始样品中加入150mg重的锐钛矿后，再测定锐钛矿同一个衍射峰的强度IA，测量结果为： IA484cps，IR73147cps ，IA62
19、63cps。求原始样品中锐钛矿的含量。二、简答题1X 射线衍射仪精确测定晶体点阵常数，主要误差函数有哪些？其选用原则是什么？2列举两种 XRD 精确测定晶体点阵常数的应用，并说明其基本原理。3简述 XRD 测试结晶度的原理方法。4采用 X 射线衍射进行物相定量分析有很多方法，简述内标法和外标法的区别。5从 X 射线衍射图谱上能得到哪三方面的信息？它们分别有什么应用（各举一例）？6等厚条纹和等倾条纹分别是如何产生的？7什么是电磁透镜的景深和焦长？有何特点？8多晶体电子衍射的特征是什么？为什么？9简述 EDS 成份分析原理以及K 因子的特点。精选学习资料 - - - - - - - - - 名师归
20、纳总结 - - - - - - -第 5 页，共 12 页第6页，共12页10简述倒易点阵性质。11、透射电镜电子光学系统有哪些部分组成？并论述物镜的作用。12、解释衍衬成像中的明场像、暗场像及中心暗场像。13、如何测定位错的柏氏矢量？14、简述 EDS 中 X 光信号的探测过程。15、EDS 分析中的空间分辨率和最小探测质量是什么？16解释透射电镜中的色差和景深。17. 透射电镜是如何通过中间镜来实现电子衍射和衍射衬度像操作的？18. 简述位错伯格斯矢量的测定方法。19. 从束发散的角度解释随加速电压升高体材料和薄膜材料的EDS 空间分辨率的不同。20. 解释 EDS 探测时的死时间、活时间
21、以及这两者与实际探测时间的关系。21电磁透镜有哪几类像差？分别是如何产生的？22六角结构的正点阵和倒易点阵为什么相互旋转30 度？23什么是衍射衬度？位错为什么能显示衬度？24等厚条纹和等倾条纹分别是如何产生的？25什么是 EDS 能谱分析中的 K 因子？它有什么特点？26试述轻元素 EDS 能谱分析的特点。27Sketch graphs which show qualitatively: (1) how electron backscattering yield varies with Z. (2) how the incident-beam diameter in an SEM varie
22、s with electron kinetic energy E0. (3) how the secondary-electron signal varies as the specimen is tilted towards the detector. 三、已知 TiO2有两种晶体型态， 即锐钛矿和金红石， 两者均为正方晶系， 它们的点阵常数为：锐钛矿 a=3.7852、c=9.5139，金红石 a=4.5933、c=2.9592。某样品经光谱分析没有发现其它元素存在，因此可以假设样品仅由TiO2组成。采用 X 射线衍射仪测定样品中锐钛矿的含量，辐射选择 CuK 。1、要测定样品中锐钛矿的含
23、量，有很多方法，如内标法、外标法、直接对比法、K 值法等，试说明采用直接对比法测量的原理和实验步骤（要求写出计算公式、选择并计算衍射线对、说明从样品制备到计算出结果的实验步骤）。2、分别测量原始样品中锐钛矿和金红石衍射线的强度IA（锐钛矿）和IR（金红石）；在2.16 克的原始样品中加入150mg 重的锐钛矿后，再测定锐钛矿同一个衍射峰的强度I A，测量结果为： IA484cps ，IR73147cps ，I A6263cps 。求原始样品中锐钛矿的含量。精选学习资料 - - - - - - - - - 名师归纳总结 - - - - - - -第 6 页，共 12 页第7页，共12页四、试设计
24、实验步骤测定位错的柏氏矢量。五、纳米晶尺寸的表征方法主要有哪些（列举其中三种）？简述各方法的基本原理。六、采用 X 射线衍射法测试某石墨样品的石墨化度。在待测样品中加入约5%的 Si 标样粉末，混合均匀，采用 CuK （ 0.154056nm ）辐射，测试结果如下表：序号晶面标准值 d/nm 测试值 2 /1 Si(111) 0.313559 28.299 2 Si(220) 0.192010 47.162 3 Si(311) 0.163750 55.980 4 Si(400) 0.135770 68.990 5 C(002) - 26.325 试计算该样品的石墨化度。七、采用 X 射线衍射仪
25、法可精确测定晶体的点阵常数，针对立方晶体回答下述问题：（18 分）1、可采用外推函数消除的误差有哪些？2、简述测试计算原理。3、测试计算点阵常数精确值时，为什么要选用高衍射角的衍射线？4、采用外推函数计算点阵常数精确值，对实验值进行线性回归， 当线性相关系数 r=0.573 时，该方法还是否适用？如不适用，可采用什么方法？5、举一例说明精确测定点阵常数的应用。八、某体心立方结构物质的电子衍射谱如下所示，电镜的相机常数为20.23 mm ? 。经测量R1=R2= 7.2 mm，尝试标定 A 和 B 的指数，并求出晶带轴指数（不考虑180 度不唯一性）。ASTM 卡片晶面间距（ ? ）110 2.
26、810 200 1.987 220 1.405 400 0.993 精选学习资料 - - - - - - - - - 名师归纳总结 - - - - - - -第 7 页，共 12 页第8页，共12页D C B O A 九、某单晶的电子衍射花样如图，图中各结点为衍射斑点，O 为透射斑点。已知: OARA7.0mm， OBRB=11.4mm， OCRC=13.5mm，ODRD=18.5mm，BOA90 ，COA58 。试标定该衍射花样，求出晶带轴。十、A、B 二组元构成以 A 为溶剂， B 为溶质的固溶体，欲利用点阵参数法测定固溶线，试说明其原理和基本的实验步骤。十一、已知标准轴比的六角结构的某种
27、物质的电子衍射谱如下所示，电镜的相机常数为20.23 mm.? 。经测量 R1=R2= 7.2 mm，尝试标定 A 和 B 的指数，并求出晶带轴指数（可以不考虑180 度不唯一性）。所有指数用米勒布拉菲指数表示。ASTM 卡片晶面间距（ A）（001）5.312 （100）2.810 （110）1.961 （101）1.890 R160o R2AB0000 精选学习资料 - - - - - - - - - 名师归纳总结 - - - - - - -第 8 页，共 12 页第9页，共12页十二、已知某块体样品由两晶体相M、S 组成，其中 M 为基体相、 S 为增强相（含量 5%10%） ，需确定：
28、1、M、S两相的结构和取向关系；2、S 相的含量；3、S 相的形状和分布；4、硼元素在 S 相中的含量。试制定分析测试方案（包括分析方法、样品分配和制备、测试顺序）。十三、采用 X射线衍射仪测试某样品中的SiO2含量。已知样品中不含刚玉（-Al2O3）, 在 10g样品中加入 2g刚玉标样，测试结果如下表：序号晶面2 /积分强度PDF中相对强度1 -Al2O3（012）25.578 20031 45 2 SiO2（101）26.640 234071 100 3 -Al2O3（104）35.152 44477 100 4 SiO2（110）36.544 20089 9 5 -Al2O3（110）
29、37.776 8940 21 6 SiO2（102）39.465 19747 8 已知 SiO2的参比强度 RIR3.10 ，试计算样品中 SiO2含量。十四、纳米晶尺寸测试有许多方法，其中XRD与 TEM是最重要的两种方法，试回答下述问题：1、简述 XRD 法测试纳米晶尺寸的原理。2、比较 XRD 与 TEM 两种测试纳米晶尺寸方法的优缺点。3、已知某样品为纯Si 纳米粉末，采用 CuK （ 0.154056nm）辐射分别测试其与Si 标样的XRD 花样，得到（ 111）和（220）两个较强的衍射峰（其它峰均较弱） ，测试结果如下表，试描述其粉末形态。序号试样晶面2 /半高宽K 1 待测样品
30、（111）28.453 1.0 1.5547 2 （220）47.358 1.1 1.0607 3 Si 标样（111）28.443 0.6 4 （220）47.304 0.4 十五、采用 X 射线衍射仪法精确测定晶体的点阵常数，针对立方晶体回答下述问题：1、主要误差函数有哪些？2、测试计算点阵常数精确值时，为什么要选用高衍射角的衍射线？3、采用外推函数计算点阵常数精确值，对实验值进行线性回归，当线性相关系数r=0.5173时，该方法还是否适用？为什么？4、简述点阵常数法测定相图中某温度下固溶线的基本原理方法。十六、某面心立方结构物质的电子衍射谱如下图所示，电镜的相机长度为800 mm，电子波
31、波长为 0.0175 ?。经测量 R1=R2= 6.8 mm，其夹角为 60o，尝试标定 A 和 B 的指数，并求出晶带精选学习资料 - - - - - - - - - 名师归纳总结 - - - - - - -第 9 页，共 12 页第10页，共12页轴指数（不考虑 180度不唯一性）。ASTM 卡片晶面间距（ ? ）111 3.187 200 2.920 220 2.059 400 1.460 十七、 某样品的结晶度随热处理温度而变化， 采用 X 射线衍射仪（辐射为 CuK ，0.1540nm）分别测试该样品在500和 700热处理后的X 射线衍射谱，选择同样的范围和同样的背景线将衍射谱拟合
32、成一个非晶峰和若干个晶态峰，拟合结果如下表（表中数据已将非晶峰和晶态峰完全分离），试求该样品经500和 700热处理后的结晶度。序号500热处理样品700热处理样品2 /积分强度相对强度 /% 半高宽 /2 /积分强度相对强度 /% 半高宽 /1 17.409 16927 6.5 0.249 17.395 14837 6.1 0.194 2 19.992 42262 16.3 0.148 19.978 55667 22.8 0.142 3 21.062 258501 100.0 5.938 21.436 202824 83.2 4.504 4 24.034 30989 12.0 0.222 2
33、1.764 6389 2.6 0.326 5 24.425 69158 26.8 0.249 24.008 99787 40.9 0.153 6 26.964 121701 47.1 0.127 24.408 60413 24.8 0.139 7 28.149 254057 98.3 0.224 26.944 156954 64.3 0.121 8 30.225 20704 8.0 1.997 28.137 243914 100.0 0.261 9 31.445 181591 70.2 0.241 30.219 18079 7.4 1.825 10 34.193 86176 33.3 0.53
34、4 31.434 168786 69.2 0.189 11 35.282 29792 11.5 0.236 33.780 17437 7.1 0.271 12 35.592 71954 27.8 0.155 34.104 67711 27.8 0.383 13 38.494 23025 8.9 0.198 35.274 27784 11.4 0.217 14 35.575 89382 36.6 0.156 15 38.485 25319 10.4 0.208 R160o R2AB0000 精选学习资料 - - - - - - - - - 名师归纳总结 - - - - - - -第 10 页，共
35、 12 页第11页，共12页十八、 X射线衍射是测试纳米晶尺寸和晶格畸变的一种重要方法。试回答下述问题：1、测定某纳米材料（ 311）衍射峰半高宽为B，仪器宽度为 b，晶格畸变效应引起的宽化为D；物理宽度表示为，晶粒尺寸效应引起的宽化表示为L。如果它们均符合柯西函数，试求晶粒尺寸（用含B、b、D的函数式表示）。2、已知纯 A 物质样品为纳米粉末，采用CuK （ 0.154056nm ）辐射分别测试其与A 标样的 XRD 花样，得到（ 111）和（220）两个较强的衍射峰（其它峰均较弱） ，测试结果如下表，试描述其粉末形态。序号试样晶面2 /半高宽K 1 A物质（111）28.453 1.0 1
36、.5547 2 （220）47.358 1.1 1.0607 3 A 标样（111）28.443 0.6 4 （220）47.304 0.4 十九、经元素分析可知， 某样品中仅含有铁和氧两种元素，经 XRD 分析发现样品中含有Fe2O3、Fe3O4和 FeO三种物质，不含非晶相， 无择优取向。 在 9g样品中加入 3g 刚玉（ -Al2O3）标样，X射线衍射测试数据如下表，从XRD 衍射图谱中发现， Fe2O3（110）和 Fe3O4（311）两峰重叠。已知 Fe3O4和 Fe2O3的参比强度 RIR分别为 5.13 和 3.36，试计算和回答下述问题：1、计算样品中 Fe2O3的含量；2、设
37、计一个实验方案测试样品中的FeO含量（简述实验方案的原理方法和步骤）；3、如果样品中FeO含量为 20% ，试将Fe2O3（110）和 Fe3O4（311）重叠峰进行分峰（分别计算出两峰的积分强度）。物相h k l 2/积分强度PDF中相对强度 /%FeO 1 1 1 36.342 27679 61.0 2 0 0 42.193 39931 88.0 2 2 0 61.164 45376 100.0 3 1 1 73.129 33124 73.0 2 2 2 76.990 27703 61.0 4 0 0 91.814 33029 71.0 3 3 1 102.890 26811 58.0 F
38、e3O4 （RIR5.13 ）1 1 1 18.269 1936 4.0 2 2 0 30.095 12583 26.0 3 1 1 35.422 119741 100.0 2 2 2 37.052 4003 8.0 4 0 0 43.052 11967 24.0 4 2 2 53.391 7259 15.0 5 1 1 56.942 22746 47.0 4 4 0 62.515 32908 68.0 Fe2O3 （RIR3.36 ） 0 1 2 24.138 20928 22.0 1 0 4 33.152 95128 100.0 1 1 0 35.611 119741 75.0 0 0 6
39、 39.276 3805 4.0 1 1 3 40.854 22830 24.0 2 0 2 43.518 3798 4.0 精选学习资料 - - - - - - - - - 名师归纳总结 - - - - - - -第 11 页，共 12 页第12页，共12页 0 2 4 49.479 56125 59.0 1 1 6 54.089 68492 72.0 2 1 1 56.150 1917 2.0 1 2 2 57.428 7631 8.0 0 1 8 57.589 16171 17.0 2 1 4 62.449 54327 55.0 3 0 0 63.989 54485 56.0 -Al2O
40、3 0 1 2 25.578 7078 45.0 1 0 4 35.152 15723 100.0 1 1 0 37.776 3302 21.0 二十、阅读文献“ Structure analysis of AlN and (Ti1-xAlx)N coating made by plasma enhanced chemical vapor deposition ” （J. Appl. Phys. 80 (3), 1 August 1996） ，完成下列各题。1下段内容是文献中“ .EXPERIMENTS ”中的一部分（第 1469页最后一段），请将空白处补充完整。_ analysis of t
41、he coatings was carried out by energy dispersive spectroscopy (EDS) and by Auger electron spectroscopy (AES). To investingate the structure of the deposited (Ti1-xAlx)N coatings, _ and _ were used. 2文献中采用了哪些材料现代分析方法？（写出中文全称）。其中 AES可用哪种方法代替？3如何测定物相 (Ti1-xAlx)N 中的 x？4分析 FIG.5（c） ，判断 A、B、C 三个晶面的法线与入射电子
42、束的夹角的大小, 将它们从大到小排列。如果A 为（101）面， B 为（111）面，求 B 晶面法线与入射电子束的夹角（计算结果用反三角函数表示） 。5分析 FIG.6（c）, 求该衍射花样的晶带轴，并标定M点的指数。6分析FIG.7，你能从中得到哪些结果？在正常粉末多晶体情况下，图（a）中前五个衍射峰的指数是什么？7根据文献的分析结果，物相(Ti0.8Al0.2)N 属于什么点阵？8根据文献， AlN 有哪两种结构？写出它们的PDF （或 ASTM ）卡片号。9根据 FIG.3(c) ，假定 TiN 是已知相， AlN 是未知相，在电子衍射物相分析中，采用内标法可以鉴别出未知相，以该图为例，说明其分析方法和步骤。10根据文献有关测试结果可知，随Ti 原子含量的变化， (Ti1-xAlx)N 的结构和点阵常数是变化的，试推出 FIG.4 的规律（线性关系），画出示意图。并说明利用点阵常数法测定固溶体的固溶度的原理和实验步骤。精选学习资料 - - - - - - - - - 名师归纳总结 - - - - - - -第 12 页，共 12 页