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1、-ISO EN 17636中文-第 17 页焊缝的无损试验熔焊接点的放射检验目录1.范围22.标准的参考文献23.术语和定义2额定厚度 t2穿透深度 w23.3 物体到胶片的距离 b3射线源大小 d33.5 射线源到胶片的距离 SFD3射线源到物体的距离 f3直径 De34符号和缩写35.放射技术的等级36概述4致电离射线辐射的防护4表面准备和生产步骤4在放射照片中焊缝的位置46.4 放射的标识4标注5胶片的重叠5图像质量指数的类型和位置5图像质量的评估6最低图像质量值6人员资格67进行辐射摄影建议的技术6检验调节6电压和辐射源的选择9胶片体系和屏幕10光束的调准12扩散辐射的减少12辐射源至
2、物体的距离12一个单独照射的最大区域13辐射摄影术的色度14处理14胶片观测条件148试验报告15附录A（规范化的）16铁材料的最低图像质量值16单面墙技术，IQI在辐射源边16附录B（介绍性的）20圆形对接焊合格试验的参考曝光数量20参考文献21本国际标准规定了金属材料熔焊接点放射检验的基本技术。采用最经济的方法来获得满意效果和可以复验的结果。该技术是基于普遍认可的实践和基础性理论基础上的。此国际标准适用于板或管上的熔焊接点的试验。它是根据ISO5579上的基本条款的。此国际标准没有规定读数的验收等级。下列参考文献是本标准应用不可缺少的部分，对于有日期的参考，只有标注日期的版本有效，对于没有
3、标注日期的参考，采用最新的版本（包括任何的修订本）。ISO 2504，焊缝摄影和胶片观察条件图象质量显示器(I.Q.I)推荐图谱的利用；ISO5580，无损检验工业用射线摄影照明装置最低限度要求ISO11699-1，无损检验.工业射线摄影胶片.第1部分:工业辐射摄影术用胶片系统的特性ISO11699-2，无损检验. 工业射线摄影胶片第2部分:利用参考值控制胶片加工本标准采用下列的属于和定义。3.1额定厚度 t母材的额定厚度注：加工公差不考虑在内。3.2穿透深度 w在额定厚度基础上计算的辐射线束方向的材料厚度。注：对于多层屏障技术，穿透厚度的计算来自额定厚度。3.3 物体到胶片的距离 b测试物体
4、辐射面发出射线面到胶片表面之间的距离，沿辐射射线光束的中心轴测量。3.4射线源大小 d射线源大小3.5 射线源到胶片的距离 SFD射线源和胶片的距离，按光束的方向测量3.6射线源到物体的距离 f射线源和测试物体射线源边之间的距离，沿沿射线光束的中心轴测量。3.7直径 De管额定的外部直径4符号和缩写本标准采用表1中给出的符号和缩写：表1符号和缩写符号定义t额定厚度w穿透厚度b物体到胶片的距离d射线源大小SFD射线源到胶片的距离f射线源到物体的距离De直径放射技术分为两级：A级：基本技术B级：改良的技术技术的选择要在试验前选定，在A级技术不能很好的感光时采用B级技术。注：有比B级还好的技术，但是
5、没有包含在国际标准范围内。如果度的胶片系统来弥补。由于和A级更好的感光度相比，试验样品可能被作为B级来检验，但是如果特定减少的SFD，如7.6试验调节所述，这就并不适用了，需要采用7.14和7.15.6概述致电离射线辐射的防护当采用致电离射线时， 必须严格实施地区、国家或国际的安全预防措施。警告：人体任何部位暴露在放射或射线下将导致对身体严重伤害。无论在哪里使用放射设备或辐射源，必须满足法律要求。在缺陷表面或涂层难以检查缺陷的地方，表层要打磨光滑或者去除涂层，否则，表面准备就没有必要了。除非其它规定，放射将在最后一步加工步骤之后进行，如，在打磨或热处理之后。 在放射照片没有清楚的展示焊缝的地方
6、，高密度的标识将放在焊缝的任何一边。6.4 放射的标识符号要固定到进行X照片的每一面上，这些符号的图像将出现在放射照片外区域上，确保其每一面的标识清楚。符号为了正确的查出每个放射照片的位置，要在被检测的物体上做上上永久性的符号。在材料的特性和/或服务条件不允许永久性符号的地方，分布图可以用精确的素描的方式进行记录。胶片的重叠在照射照相的一个地方有两个或更多个单独的胶片时，胶片要求完全重叠，确保中心范围能够完整的被照到。这将通过出现在每个胶片上的物体表面高密度的符号进行验证。图像质量显示器的类型和位置图像的质量通过采用IQI进行验证，根据ISO2504.使用的IQI更多是放在检验物体射线源的一边
7、，与物体表面接近。IQI置于一均匀厚度面上，以胶片上均匀的光学密度为特征。根据IQI的型号，按照以下要求进行放置：a) 当使用有线性IQI时，线要垂直于焊缝，并且其位置要保证至少10mm 的线的长度能够在均匀的光学密度上显示出来，这通常在临近焊缝的金属母材上。在曝光时，根据和7.1.7，IQI可以放置为线穿过管中心轴，但是它们伸出至焊缝图像内。b) 当使用梯形/孔型IQI时，要按照能够使要求的孔的数量紧挨焊缝的方法进行放置。在根据进行在曝光时，IQI可以放在射线源或胶片的任何一边。如果不能将根据以上a 所述的条件放置IQI，IQI将放在胶片的一边，图像质量则与放在放射源一边和在相同条件下放在胶
8、片一边的作比较而得。对于双面曝光，当IQI放置在胶片一边时，以上试验则没有必要了，在这种情况下，参考表A.1至A.12.在IQI放置在胶片一边时，字母”F” 要置于接近IQI的位置，且这要记录在试验报告中。如果采用了能够保证相似试验物体和区域的辐射摄影术能够产生完全相同的曝光和工艺技术，并在图像质量值上无任何差别，图像质量不需要每个都进行鉴定，但是，图像质量的鉴定范围要在试验前进行规定。对于管的直径大于等于200毫米，且射线源集中发射，在其周围至少要均匀放置3个IQI， 显示IQI图像的胶片则视为全部周长的代表。 曝光的胶片根据ISO5580进行观察。要对辐射摄像影术上的IQI图像进行检验，判
9、定能够辨认的最小线或孔的数量。如果在均匀感光密度上有至少连续10毫米的能够清楚可见的线的图像，则为合格的。在台阶型和孔型的IQI情况下，如果有两个相同直径的孔，两个都要能够看得清楚以便梯形也能看得见。获取的图像质量要记录在试验报告上，也要清楚的陈述所采用的IQI的类型。表A.1至A.12给出了铁材料的最低图像质量值。国际标准的使用者要根据EN462-4判定这些值是否能够用在其他材料的上。最终焊缝验收的无损检验和结果的评估要由有资质有能力的人员进行操作，建议人员根据ISO9712的要求或者同级标准，满足相关工业部门满足适当等级的的要求。7进行辐射摄影建议的技术概述建议的摄影技术根据根据椭圆的技术
10、（双面/双图像）不能应用于外直径大于100毫米，厚度大于8毫米，焊缝宽度大于四分之一直径的情况。如果直径小于0.12，两个替换的90图像已满足要求了，两个焊缝图像之间的距离大约为一个焊缝的宽度。当很难进行椭圆直径小于等于100毫米的检验，可以采用根据垂直技术（见图12），在这种情况下，要求三次曝光分开，120或60。当检验调节根据图11、13和14时，要尽可能的降低光束的偏差，以防止两个图像的重叠。放射源与物体的距离也要根据7.6保持在最小，IQI放在临近胶片有一个铅字母“F”的地方。当物体几何外形或材料厚度不允许采用至7.1.9所列出的技术时，可能会用到其它摄影技术，多胶片技术不能用于减少在
11、均匀平面上的曝光时间。注：获取管上对接焊整个周长合格射线覆盖有效范围的辐射摄像的最小数量在附录B中给出。辐射源位于物体前，胶片在另一边见图1注：1 辐射源2 胶片图1平板壁和单面穿透的试验调节辐射源位于物体以外，胶片以内见图2-4注：1 辐射源2 胶片图2弯曲物体单面穿透的试验调节注：1 辐射源2 胶片图3弯曲物体单面穿透的试验调节（插入的焊缝）注：1 辐射源2 胶片图4弯曲物体单面穿透的试验调节（相接的焊缝）辐射源集中在物体以内中心位置，胶片以外见图5-7注：1 辐射源2 胶片图5弯曲物体单面穿透的试验调节注：1 辐射源2 胶片图6弯曲物体单面穿透的试验调节（插入的焊缝）注：1 辐射源2 胶
12、片图7弯曲物体单面穿透的试验调节（相接的焊缝）辐射源位于物体内，偏离中心，胶片以外见图8-10注：1 辐射源2 胶片图8弯曲物体单面穿透的试验调节注：1 辐射源2 胶片图9弯曲物体单面穿透的试验调节（插入的焊缝）注：1 辐射源2 胶片图10弯曲物体单面穿透的试验调节（相接的焊缝）椭圆技术见图11注：1 辐射源2 胶片图11弯曲物体两面评估的双面穿透，双个图像的试验调节（辐射源和胶片都在检验物体以外）垂直技术见图12注：1 辐射源2 胶片图12弯曲物体两面进评估的双面穿透，双个图像的试验调节（辐射源和胶片都检验物体以外）辐射源位于物体以外，胶片在另一边见图13-18注：1 辐射源2 胶片图13弯
13、曲物体对紧邻胶片面进行评估的双面穿透，单个图像的试验调节，IQI挨着胶片注：1 辐射源2 胶片图14弯曲物体双面穿透，单个图像的试验调节注：1 辐射源2 胶片图15弯曲物体纵向焊缝的双面穿透，单个图像的试验调节注：1 辐射源2 胶片图16弯曲物体对紧邻胶片面进行评估的双面穿透，单个图像的试验调节注：1 辐射源2 胶片图17角焊缝穿透的试验调节注：1 辐射源2 胶片图18角焊缝穿透的试验调节不同材料厚底的技术见图19注：1 辐射源2 胶片图19多胶片技术7.2.1 500kv的X射线设备为获得良好缩孔感光度，X射线管电压要尽可能的低，最大值对应的厚度在图20中给出。在有些被摄影区域的厚度不同的应
14、用中，可以使用一种能稍微调高电压的技术，但是必须要注意，过高的电压将导致缺陷检查感光度的减少。对于钢材的增额不能大于50kv, 钛的增额不能大于40kv,铝的不能大于30kv。注：1 铜/镍和合金2 钢3钛和合金4铝和合金图20穿透的材料和厚度的500kv X射线设备的最大电压其它辐射源1Mev以上，射线和X射线装置允许穿透的厚度范围在表2中给出注：可能规定lr192值减少至10毫米，Se75减少至5毫米在薄的钢件样品上，来自Se75、Ir192和Co60的射线形成的射线图不如采用适当技术和参数的X射线有良好的缺陷检查感光度。但是在处理和可接近性方面，射线源比X射线装置有优势。 表2给出了那些
15、在使用X射线比较困难的时候采用射线源的厚度范围。某些应用中，如果能够获得满意的图像质量，允许较宽的厚度范围。在使用射线产生射线图时，到射线源的行程时间不能大于所有曝光时间的10%。表2能量1Mev及以上，钢、铜和镍及基本合金的射线源和X射线装置穿透的厚度范围射线源穿透厚度A级测试B级测试Tm170W5W5Yb169a1W152W12Se75 b10W4014W40Ir19220W10020W90Co6040W20060W150X 射线装置，能量在1Mev-4Mev30W20050W180X 射线装置，能量在4Mev-12MevW50W80X 射线装置，能量在12Mev以上W80W100a 铝和
16、钛，材料的穿透范围A级为：10mmW70mm，B级为25mmW55mmb铝和钛，材料的穿透范围A级为：35mmW120mm射线照相试验，胶片体系的等级根据ISO11699-1不同的辐射源，最低胶片体系的等级在表3和表4中给出。当采用金属屏幕时，要求胶片和屏幕要有良好的接触。这可以通过采用真空包装的胶片或者采用压力的办法来实现。不同的辐射源，表3和表4展示了建议的屏幕材料和厚度。注：如果达到了要求的图像质量，也可以采用其它屏幕厚度。表3钢、铜和镍及基本合金放射的胶片体系等级和金属屏幕辐射源穿透厚度w胶片体系等级a金属屏幕厚度和型号A级B级A级B级X射线电压100kvC5C3X射线电压100kv至
17、150kvX射线电压150kv至250kvC4Yb169Tm170W5C5C3W5C4X射线电压250kv至500kvW50C5C4W50C5bSe75C5C4bbC060W100C5C4cW100C5X射线装置，能量在1Mev至4MevW100C5C3cW100C5X射线装置，能量在4Mev至12MevW100C4C4铜、钢或钽d100w300C5W300C5dX射线装置，能量在12Mev以上W100C4钽前屏幕至1毫米，没有后屏幕e100w300C5C4W300C5钽前屏幕至1毫米ea 可以采用更好的胶片体系等级e 钨屏幕也可以使用表4铝和钛辨认屏幕的胶片体系等级辐射源胶片体系等级a辨认屏
18、幕的类型和厚度A级B级X射线电压150kvC5C3X射线电压150kv至250kvX射线电压250kv至500kvYb169Se75ba可以采用更好的胶片体系等级辐射光束要对着要检测的中心区域，垂直于该点的物体表面，除当其能够表明缺缺陷通过不同的光束的调准能够最好的揭示缺陷时外。在这种情况下，允许适当的调节光束。滤色镜和视准仪为了减少反向散射的辐射的影响，要尽可能多的平行校正辐射至要检测的平面上。用Ir192和Co60作为辐射源或有边缘分散的情况下，可以在物体和暗匣之间使用一个铅板作为低能量散射的辐射滤色镜。这个板的厚度可以根据穿透的厚度在0.5毫米至2毫米之间。反向散射的辐射的拦截如果有必要
19、的话，可以通过足够厚度的铅（至少1毫米）或锡（至少1.5毫米），放在胶片-屏幕接景后，这样就可以保护胶片不受反向散射辐射的影响。反向散射辐射的存在可以通过每个试验调节的铅字母（最低高度为10毫米，最薄厚度为1.5毫米）“B”及时放在暗匣后面进行检验。如果符号记录的图像如一个比较淡的图像将被视为不合格，如果符号比较黑或看不见，为合格的，并且证明了其是很好的防止了反向散射辐射的。辐射源至物体的最小距离fmin根据放射源的大小d和物体至胶片的距离ba B级b A级图21根据放射源的大小d和物体至胶片的距离b，决定辐射源至物体的最小距离fmin 的列线图放射源到物体的距离f, 要选取在可实践的地方，f
20、/d的比率根据下列公式：A级：f/d7.5（）2/3 （1）B级：f/d15（）2/3 （2）b 的尺寸以毫米(mm)计如果距离b1.2t, 在公式（1）和（2）和图21中的尺寸b 将被额定厚度t代替。放射源到物体的最小距离的确定，可以使用图21的列线图。列线图也是基于公式（1）和（2）的。在A级中，如果发现平面缺陷，最小距离与B级的相同以便通过系数2减少几何外形的不明晰。在易裂材料中关键技术应用，要采用比B级更为敏感的射线摄影技术。当使用椭圆技术，所述，或者垂直技术，7.1.7所述时，在公式（1）（2）和图21中b将由外直径De代替。当辐射源在物体以外，胶片在另一边时（如所述，两面穿透，单面
21、图像），放射源到物体的距离只由能壁面厚度决定。如果放射源可以放在物体以内进行照射（如和7.1.5所述技术）获取测试更合适的方向，当避免双面技术（见7.1.6至7.1.8），此种方法更好。放射源至物体的最小距离的减少不能大于20%，当放射源位于物体中心位置，胶片在外时，（如7.1.4所示），且IQI设备是满足要求的，这个比例可以增加，但是但是不能超过50%。一次单独曝光的最大区域要规定平整焊缝检验（见图1和15）和弯曲焊缝试验且射线源为离心的（见图2-至4和8至16）照相数量。评估均匀厚度以外区域边缘穿透厚度和激光束中心的比不能大于1.1（B级），不能大于1.2（A级）。由任何穿透厚度的变化引起
22、的密度不能低于7.8所给出的，也不能高于现有的允许的反光镜，如果适当的遮光可能的话。被检查的区域大小包括焊缝和热处理带，一般来讲，焊缝每边母材金属大约10毫米需要检查。一个圆形对接焊缝合格试验的照相数量的建议值在附录B中给出。辐射照相的密度曝光条件应该要辐射摄影术检测区域的最小光学密度要根据表5.表5辐射摄影术的光学密度等级光学密度aABbca 允许测量公差为+b 如果规定的话，可能降低至1.5，如在应用标准中c如果规定的话，可能降低至2.0，如在应用标准中当观测光线足够明亮时，可以才用高的光学密度为防止胶片老化、显影或温度带来的灰雾密度过高，灰雾密度要定期从使用过的胶片中抽取没有曝光的样品上
23、进行检查，处理和加工完全按照实际辐射摄影术的实际操作条件进行。灰雾密度不能大于0.3，这儿的灰雾密度定义为加工的没有曝光的胶片的总密度（感光乳剂和底线）。当使用多胶片技术，单胶片的破解时，每个胶片的感光密度要根据表5.如果要求对双胶片进行观测，每个单个胶片的感光密度不能低于1.3.胶片要根据胶片和化学剂生产商给出的建议进行处理，以便获得精确的胶片体系等级，尤其要注意温度，显影时间和冲洗时间。胶片加工要根据ISO11699-2进行定期的控制，辐射摄影术不能有因加工或其它原因造成的缺陷，这会影响解读的。要对照片区域进行蔽光。8试验报告对每一次照射或每一组照射，要制定一个测试报告，给出所使用的辐射摄
24、影的技术，和其它任何能够更好理解结果的特殊环境。试验报告要包含一下的信息：a) 测试主体名称b) 检测的物体c) 材料d) 热处理e) 焊缝的几何外形f) 材料厚度g) 焊接工艺h) 测试规范包括合格的要求i) 辐射技术和等级，要求的IQI感光度，根据国际标准j) 采用的符号系统k) 胶片位置的计划l) 辐射源，焦点的类型和大小，和使用设备的鉴定m) 胶片、屏幕和滤色镜n) 采用的电压和电流或源的放射性o) 照射时间和源在至胶片的距离p) 加工技术：人工的/自动的q) 图像质量显示器的型号和位置r) 测试的结果，包括胶片密度、IQI读数的数据s) 任何与本国际标准的偏差，通过特定协商的t) 姓
25、名、证书参考和负责人签字u) 照射和试验报告的日期附录A（规范化的）铁材料的最低图像质量值墙技术，IQI在辐射源边线性IQI梯状/孔状IQI图像质量A级额定厚度t IQI 值a 1.2 2 2.0 3.5 5.0 7.0 10 15 15 25 25 32 32 40 40 55 55 85 85 150 150 250 250W18W17W16W15W14W13W12W11 W10W9W8W7W6W5W4a当使用Ir192放射源时，IQI的值低于给出的值如果如想下列所示，也可以接受：10mm-24mm: 至224mm-30mm，至1图像质量A级额定厚度t IQI 值a 2 2.0 3.5 6
26、.0 10 10 15 15 24 24 30 30 40 40 60 60 100 100 150 150 200 200 250 250 320 320 400 400H3H4H5H6H7H8H9 H10H11H12H13H14H15H16H17H18a当使用Ir192放射源时，IQI的值低于给出的值如果如想下列所示，也可以接受：10mm-24mm: 至224mm-30mm，至1A .2 单面墙技术，IQI 在IQI在辐射源边梯状/孔状IQI图像质量B级额定厚度t IQI 值a 1.5 2.5 4.0 6.0 8 8.0 12 12 20 20 30 30 35 35 45 45 65 6
27、5 120 120 200 200 350 350W19W18W17W16W15W14W13W12W11 W10W9W8W7W6W5a当使用Ir192放射源时，IQI的值低于给出的值如果如想下列所示，也可以接受：12mm-40mm: 至1图像质量B级额定厚度t IQI 值a 2.5 4.0 8 12 12 20 20 30 30 40 40 60 60 80 80 100 100 150 150 200 200 250H2H3H4H5H6H7H8H9 H10H11H12H13H14a当使用Ir192放射源时，IQI的值低于给出的值如果如想下列所示，也可以接受：12mm-40mm: 至1A.3双
28、面墙技术，双图像；IQI在辐射源一边梯状/孔状IQI图像质量A级穿透厚度w IQI 值 1.2 2 2.0 3.5 5.0 7.0 12 18 18 30 30 40 40 50 50 60 60 85 85 120 120 220 220 380 380W18W17W16W15W14W13W12W11 W10W9W8W7W6W5W4W3图像质量A级穿透厚度w IQI 值a 1 1 2 2 5.5 10 10 19 19 35H3H4H5H6H7H8H9 a当使用Ir192放射源时，IQI的值低于给出的值如果如想下列所示，也可以接受：mm: 至20mm，至1A.4双面墙技术，双图像；IQI在辐
29、射源一边见表A.7和表线性IQI 表梯状/孔状IQI图像质量B级穿透厚度w IQI 值 4 6.0 8.0 15 15 25 25 38 38 45 45 55 55 70 70 100 100 170 170 250 250W19W18W17W16W15W14W13W12W11 W10W9W8W7W6W5图像质量B级穿透厚度w IQI 值a 1 1 1.5 4 4.0 6 6.0 11 11 20 20 35H2H3H4H5H6H7H8a当使用Ir192放射源时，IQI的值低于给出的值如果如想下列所示，也可以接受：4mm-11mm，至1A.5双面墙技术，单/双图像；IQI在胶片一边表线性IQ
30、I 表梯状/孔状IQI图像质量A级穿透厚度w IQI 值 1.2 2 2.0 3.5 5.0 10 10 15 15 22 22 38 38 48 48 60 60 85 85 125 125 225 225 375 375W18W17W16W15W14W13W12W11 W10W9W8W7W6W5W4图像质量A级穿透厚度w IQI 值a 2 1 5 5 9 9 14 14 22 22 36 36 50 50 80H3H4H5H6H7H8H9 H10a当使用Ir192放射源时，IQI的值低于给出的值如果如想下列所示，也可以接受：5mm-3.5mm: 至29mm-22mm，至1A.6双面墙技术，
31、单/双图像；IQI在胶片一边梯状/孔状IQI图像质量B级穿透厚度w IQI 值 1.5 2.5 4 4.0 6 6.0 12 12 18 18 30 30 45 45 55 55 70 70 100 100 180 180 300 300W19W18W17W16W15W14W13W12W11 W10W9W8W7W6图像质量B级穿透厚度w IQI 值a 2.5 5.5 9.5 15 15 24 24 40 40 60 60 80H2H3H4H5H6H7H8H9 a当使用Ir192放射源时，IQI的值低于给出的值如果如想下列所示，也可以接受：5.5mm-9.5mm: 至29.5mm-24mm，至1
32、附录B（介绍性的）圆形对接焊合格试验的参考曝光数量在表B.1至B.4中给出的最低曝光数量对外直径大于100毫米的管有效。当对接点壁面厚度偏差进行 检查时，当使用单次曝光t/t，不超过20%，采用图B.3和B.4.该技术只建议在横向裂缝比较小或裂缝的此类缺陷已经通过了其它无损试验的情况下使用。当t/t小于或 等于10%时，采用图B.1和B.2。在这种情况下，很可能横向裂缝也经过检查的。如果物体进行横向裂缝检查，那要求的辐射摄影的最低数量与表B.1至B.4相比，要有所增加。曝光的最小数量，N， 单墙穿透并在放射源在外，由于在评估区域穿透的减少引起的最大允许穿透厚度t/t增加为10%， 功能比t/D
33、e,De/f曝光的最小数量，N， 离心穿透且放射源在内，双墙穿透，由于在评估区域穿透的减少引起的最大允许穿透厚度t/t增加为10%， 功能比t/De,De/f曝光的最小数量，N， 单墙穿透并在放射源在外，由于在评估区域穿透的减少引起的最大允许穿透厚度t/t增加为20%， 功能比t/De,De/f曝光的最小数量，N， 离心穿透且放射源在内，双墙穿透，由于在评估区域穿透的减少引起的最大允许穿透厚度t/t增加为20%， 功能比t/De,De/f参考文献【1】 ISO5579无损检测金属材料用X射线和射线照相检验基本规则【2】 ISO9712无损检测人员资格鉴定认证【3】 EN462-4无损检测辐射摄影的图像质量第四部分：图像质量值和图像质量表的感性评价