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1、最新公务员体能测试项目 公务员体能测试训练班2016广东公务员考试体能测试项目 2016年广东公务员考试报名时间暂未公布，根据历年广东公务员考试时间，2016年广东公务员考试报名时间预计2016年2月中旬开展(2015年广东公务员考试报名时间已定于2015年2月9日-2015年2月15日)。笔试时间预计在2016年3月下旬。届时广东人事考试网将在第一时间发布广东公务员考试准考证打印入口、考试公告和职位表等相关信息，请考生密切关注。以下是2015广东公务员考试体能测试项目供考生参考： 体能测评是公安、司法、安全、法院、检察院录用人民警察时为测查考生的体能水平能否胜任人民警察工作而组织的相关测评。
2、中央部门的体能测评由中央各部门自行组织，省级以下机关的体能测评由省级公务员主管部门会同相关部门联合组织。凡报考上述部门的考生都应留意相关部门招考公告中关于体能测评的规定。体能测评的项目和标准为：(1)10米x4往返跑男子组的标准为：30岁(含)以下应=<13女子组的标准为：30岁(含)以下应=<14(2)1000(800)米跑男子1000米跑的标准为：30岁(含)以下应=<425女子800米跑的标准为：30岁(含)以下应=<420(3)纵跳摸高男子组的标准为：=265厘米。女子组的标准为：=230厘米。体能测评项目中，10米x4往返跑和1000(800)米跑项目只测试一
3、次，纵跳摸高测试最多不超过三次。测试结果得出后均不进行复测。 2014安徽省考公务员警察体能测试项目和标准 2014年安徽省考公务员警察体能测试项目和标准 公安机关录用人民警察体能测评项目和标准（暂行） 公安机关录用人民警察体能测评实施规则一、10米4往返跑场地器材：10米长的直线跑道若干，在跑道的两端线（S1和S2）外30厘米处各划一条线（图1）。木块（5厘米10厘米）每道3块，其中2块放在S2线外的横线上，一块放在S1线外的横线上。秒表若干块，使用前应进行校正。 测试方法：受测试者用站立式起跑，听到发令后从S1线外起跑，当跑到S2线前面，用一只手拿起一木块随即往回跑，跑到S1线前时交换木块
4、，再跑回S2交换另一木块，最后持木块冲出S1线，记录跑完全程的时间。记录以秒为单位，取一位小数，第二位小数非“0”时则进1。 注意事项：当受测者取放木块时，脚不要越过S1和S2线。 二、男子1000米跑、女子800米跑场地器材：400米田径跑道。地面平坦，地质不限。秒表若干块，使用前应进行校正。测试方法：受测者分组测，每组不得少于2人，用站立式起跑。当听到口令或哨音后开 始起跑。当受测者到达终点时停表，终点记录员负责登记每人成绩，登记成绩以分、秒为单位，不计小数。 三、纵跳摸高场地要求：通常在室内场地测试。如选择室外场地测试，需在天气状况许可的情况下进行，当天平均气温应在1535摄氏度之间，无
5、太阳直射、风力不超过3级。测试方法：准备测试阶段，受测者双脚自然分开，呈站立姿势。接到指令后，受测者屈腿半蹲，双臂尽力后摆，然后向前上方快速摆臂，双腿同时发力，尽力垂直向上起跳，同时单手举起触摸固定的高度线或者自动摸高器的测试条，触摸到高度线或者测试条的视为合格。测试不超过三次。 注意事项：（1）起跳时，受测者双腿不能移动或有垫步动作；（2）受测者指甲不得超过指尖0.3厘米；（3）受测者徒手触摸，不得带手套等其他物品；（4）受测者统一采用赤脚（可穿袜子）起跳，起跳处铺垫不超过2厘米的硬质无弹性垫子。 欢迎加入2014年亳州公务员面试QQ 1群：2123491812014年亳州公务员面试QQ 2
6、群：231524452亳州中公教育欢迎您的咨询 18956787505 400-6300-999地址：亳州市亳州药都电子大厦710室乘车路线：1、2、3、6、7路公交车到中国银行、药都站下车即可 亳州中公教育 全程陪伴您公考每一天！ 体能测试项目公安机关录用人民警察体能测评项目和标准（暂行）发布日期：2011-10-13 13:11:56 （一）男子组 （二）女子组 公安机关录用人民警察体能测评实施规则 一、10米4往返跑场地器材：10米长的直线跑道若干，在跑道的两端线（S1和S2）外30厘米处各划一条线（图1）。木块（5厘米10厘米）每道3块，其中2块放在S2线外的横线上，一块放在S1线外的
7、横线上。秒表若干块，使用前应进行校正。测试方法：受测试者用站立式起跑，听到发令后从S1线外起跑，当跑到S2线前面，用一只手拿起一木块随即往回跑，跑到S1线前时交换木块，再跑回S2交换另一木块，最后持木块冲出S1线，记录跑完全程的时间。记录以秒为单位，取一位小数，第二位小数非“0”时则进1。注意事项：当受测者取放木块时，脚不要越过S1和S2线。S1 S230厘米图1 二、男子1000米跑、女子800米跑场地器材：400米田径跑道。地面平坦，地质不限。秒表若干块，使用前应进行校正。测试方法：受测者分组测，每组不得少于2人，用站立式起跑。当听到口令或哨音后开始起跑。当受测者到达终点时停表，终点记录员
8、负责登记每人成绩，登记成绩以分、秒为单位，不计小数。三、纵跳摸高场地要求：通常在室内场地测试。如选择室外场地测试，需在天气状况许可的情况下进行，当天平均气温应在1535摄氏度之间，无太阳直射、风力不超过3级。测试方法：准备测试阶段，受测者双脚自然分开，呈站立姿势。接到指令后，受测者屈腿半蹲，双臂尽力后摆，然后向前上方快速摆臂，双腿同时发力，尽力垂直向上起跳，同时单手举起触摸固定的高度线或者自动摸高器的测试条，触摸到高度线或者测试条的视为合格。测试不超过三次。注意事项：（1）起跳时，受测者双腿不能移动或有垫步动作；（2）受测者指甲不得超过指尖0.3厘米；（3）受测者徒手触摸，不得带手套等其他物品
9、；（4）受测者统一采用赤脚（可穿袜子）起跳，起跳处铺垫不超过2厘米的硬质无弹性垫子。 幼儿体能测试项目及方法 尊敬的家长：您好！为增强幼儿体质，使每位幼儿都能健康快乐的成长，幼儿园于三月中旬进行幼儿体质测试，现将幼儿体质测试项目及方法传给您，希望您积极配合幼儿园，为幼儿穿便于运动的衣服、鞋子，有时间和孩子一起玩类似的游戏，以提高幼儿的各种能力。一、幼儿体能测试的项目：立定跳远、网球掷远、双脚连续跳、10米折返跑、走平衡木、坐位体前屈二、幼儿体质测试的意义：立定跳远：主要反映人儿童下肢的爆发力。网球掷远：反映儿童上肢腰腹肌肉力量。双脚连续跳：反映儿童协调性和下肢肌肉力量10米折返跑：反映人体的灵
10、敏素质。走平衡木：反映人体平衡能力。坐位体前屈：躯干和下肢柔韧性三、幼儿体质测试的方法：*坐位体前屈：幼儿面向仪器坐在垫子上，双腿向前伸直；脚跟并拢，蹬在测试仪的挡板上，脚尖自然分开。测试时，幼儿双手并拢，掌心向下平伸，膝关节伸直，上体前屈，用双手中指指尖推动游标平滑前进，直到不能推动为止。*10米折返跑：幼儿至少2人一组，两腿前后分开，站立在起跑线后；当听到起跑信号后，立即起跑，直奔折返线，用手触摸到物体（木箱或墙壁）后返回，直奔目标线。 *立定跳远：幼儿两脚自然分开，站立在起跳线后，然后，摆动双臂，双脚蹬地尽力向前跳。*网球掷远：幼儿站在投掷线后，两脚前后分开，单手（右手）持球；将球从肩上
11、方投出，球出手时后脚可以向前迈出一步，但不能踩线或过线。*走平衡木：幼儿站在“起点线”后的平台上，面向平衡木，双臂侧平举，当听到“开始”的口令后，两脚交替向“终点线”前进。*双脚连续跳：幼儿两脚并拢站在“起跳线”后，听到“开始”的口令后，双脚起跳，连续跳过10个软方包停止。怀柔一幼保健室2013年3月5日 半导体测试项目简介半导体测试项目简介半导体测试项目简介 目录： 1， 测量可重复性和可复制性(GR&R)2， 电气测试可信度（Electrical Test Confidence） 3， 电气测试的限值空间（Guardband）4， 电气测试参数 CPK 5， 电气测试良品率模型（t
12、est yield)6， 晶圆测试和老化(Waferlevel Test and burn-in) 7， Boundary-Scan 测试 / JTAG 标准8， 自我测试电路（Built-in Self Test) 9， 自动测试图形向量生成（ATPG）1-GR&R是用于评估测试设备对相同的测试对象反复测试而能够得到重复读值的能力的参数。也就是说GR&R是用于描述测试设备的稳定性和一致性的一个指标。对于半导体测试设备，这一指标尤为重要。 从数学角度来看，GR&R就是指实际测量的偏移度。测试工程师必须尽可能减少设备的GR&R值，过高的GR&R值表明测试设
13、备或方法的不稳定性。 如同GR&R名字所示，这一指标包含两个方面：可重复性和可复制性。可重复性指的是相同测试设备在同一个操作员操作下反复得到一致的测试结果的能力。可复制性是说同一个测试系统在不同操作员反复操作下得到一致的测试结果的能力。 当然，在现实世界里，没有任何测试设备可以反复获得完全一致的测试结果，通常会受到5个因素的影响： 1， 测试标准2， 测试方法3， 测试仪器4， 测试人员5， 环境因素 所有这些因素都会影响到每次测试的结果，测试结果的精确度只有在确保以上5个因素的影响控制到最小程度的情况下才能保证。有很多计算GR&R的方法，下面将介绍其中的一种，这个方法是由Au
14、tomotive Idustry Action Group(AIAG)推荐的。首先计算由测试设备和人员造成的偏移，然后由这些参数计算最终GR&R值。Equipment Variation (EV)：代表测试过程（方法和设备）的可重复性。它可以通过相同的操作员对测试目标反复测试而得到的结果计算得来。Appraiser Variation (AV)：表示该测试流程的可复制性。可以通过不同操作员对相同测试设备和流程反复测测试所得数据计算得来。GR&R的计算则是由上述两个参数综合得来。 必须指出的是测试的偏移不仅仅是由上述两者造成的，同时还受Part Variation（PV）的影响。
15、PV表示测试目标不同所造成的测试偏差，通常通过测试不同目标得到的数据计算而来。现在让我们来计算总偏差：Total Variation （TV），它包含了由R&R和PV所构成的影响。 TV = sqrt(R&R)*+ PV*)在一个GR&R报表中，最终的结果往往表示成：%EV, %AV, %R&R,和 %PV。他们分别表示EV,AV,R&R和PV相对TV的百分比。因此 %EV=(EV/TV)x100% %AV=(AV/TV)x100%R&R=(R&R/TV)x100%PV=(PV/TV)x100% %R&R如果大于10%，则此测试设
16、备和流程是良好的；%R&R在10%和30% 之间表示可以接受；如果大于30%则需要工程人员对此设备和流程进行改良。 2-电气测试可信度（Electrical Test Confidence）很多测试工程师都会发现测试的结果往往都不能预见，即使是用最先进的ATE也不能保证测试结果的正确性。很多情况下，必须对产品重新测试（retest），浪费了大量时间。电气测试可信度简而言之就是衡量一个测试设备提供给使用者测试结果正确性的指标。一个电气测试可信度很高的测试设备无需作重复的retest，从而节省大量宝贵的测试时间。 如果把第一次测试下来的失效器件（rejects）重测，其中有些可能会通过测试
17、，原因在于原始的错误可能由测试设备造成的，而非器件本身。这样的失效被称为“非正常失效”（invalid），测试可信度可以通过衡量这些“非正常失效”的数量来计算。非正常失效产生有很多原因： 1， DUT和测试头之间接触不良2， 测试设备硬件问题 3， 不合理的硬件搭构 4， 金属接触面氧化或污染导致接触失效 5， 测试环境湿度过高6， GR&R过高 其中第一条是很多测试工程师面临的普遍问题，其原因有：1， DUT引脚和接触面没有对齐 2， 接触器件老化 3， 接触器件氧化和污染 4， 接触面湿度太大 很多公司试图解决这个问题，毕竟其他的问题可以在产品测试正式release之前解决：1，
18、测试程序调试和设计 2， 正确设置测试限值 3， 使用性能优良的测试设备4， 使用可靠的接触件 5， 测试环境优化等等 由此可见，电气测试可信度很大程度上依赖于电气接触可靠性。具体的说，就是电气测试中各部件正确良好接触的几率。90%的电气测试可信度就表示平均100个被测器件中有90个获得良好接触而其他10个则遇到了电气接触问题。气测试可信度决定。 通过几轮的重测可以将这些非正常失效器件变成好的器件，因此重测获得的非正常失效器件的数量也由电假设初测成品率为Y1,那么这批产品真正的成品率为Y=Y1/C，其中C为该系统电气测试可靠度。 如果这批产品重测成品数量为R2，R2=Q(1-Y1)，其中Q为产
19、品总数。重测成品率为YY，YY = Rinvalid/R2 而 重测后增加的成品率Y2 = (Rinvalid/R2) x C.通过计算可得：C = 1 - Y2(1-Y1) / Y1C：测试系统测试可信度Y1：初测成品率 Y2：重测后成品率有人观察过RFIC测试的结果得出如下结论： 1， C小于85%的测试是不合理的，应该重写2， C大于95%的测试无需重测当然以上数据不一定适合所有公司和所有产品，公司的测试经理应该通过计算得适合自己产品的测试原则，这是对测试专业人员提出的挑战。 3， C在85%和95%之间的需要重测 3-电气测试的限值空间（Guardband） 很多测试工程师认为电气测试
20、参数的限值就是在进行参数测试的时候设定的允许范围，电测限值的使用是为了在产品量测的时候相对产品电气标准参数更保守，从而降低客户使用产品时出现问题的几率。 在大部分半导体测试工序中，往往采用两个版本的测试程序： 1， 产品量测程序前者用于产品量测线上，后者则用于抽样测试。QA测试用于确保通过量测的产品是真正的没有问题，由于被测器件已经通过量测程序，理论上他们应该100%通过QA测试。因此，QA不通过的器件将被重点调查。QA测试程序是根据产品参数标准来设计的，而量测程序则是使用了更加严格的测试限值。很多测试同时有上下限值，在这种情况下，必须保证两者都是用更加严格的限值。那么，为什么在量测和QA之间
21、有一个限值空间呢？答案在于没有两个测试系统的完全一致的，两个系统总会给出不同的测试量结果。这可能导致一个器件在不同系统上测试得到不同的结果，事实上即使同一个系统上多次测试的结果也可能不尽相同。测试系统的不一致性原因很多，而且很难全部解决，这也是为什么在量测和QA测试之间留置限值空间的原因。 2， 质量确认程序（QA） 4-电气测试参数 CPKCPK = process capability index.一个工序的性能可以由结果的集中度和距离标准的偏移度来衡量。对于一个结果可以由正态分布表示的工序来说，它的性能可以由CpK来表示。一个工序的CpK指数表示该工序输出结果在上下限之间的集中度和偏移度
22、。实际上，CpK代表了输出结果的和平均值之间的距离和比较近的标准限值之间的比率。（也就是3个sigma） 如果结果的平均值更靠近下限（LSL），假设标准差为Stdev,那么Cpk = (Mean-LSL) / (3 Stdev)。如果结果平均值更靠近上限（USL）那么Cpk = (USL-Mean) / (3 Stdev)。理想情况就是输出值一直在分布的正中间，那么Stdev=0,CpK=无限大。 当输出值离中间值越来越远，CpK将减小。CpK减小代表了该工序产生结果在标准限值之外的可能性怎增大了。因此，每个CpK的值可以表示相应的失效比率（PPM）。 下表列出CpK和相应的PPM值，在半导体
23、业中，CpK的标准值应在1.67左右，最低不能低于1.33。个指标：CpK在半导体测试中用于描述测试工序的稳定度，它只适用于测试结果呈正态分布的情况下。CpK衡量两1， 测试结果靠近中间值的距离 2， 测试结果分布情况CpK越高表示测试工序越好。 在电气测试中，CpK只能用于有数量读值并能构成正态分布的测试结果。一个低的CpK暗示了3件事： 1， 结果的平均值远离中间值 2， Stdev太大 3， 两者皆是测试工程师因该能够通过观察CpK变化寻找提高CpK的方法。 推荐的解决方法有：排出无效数据，维修出错的测试设备，调试测试程序，重新定义上下限值。 5-电气测试良品率模型 良品率就是通过电气测
24、试的器件数量和器件总数量的比例，同常用百分比来表示。所有半导体厂商想方设法提高良品率，低良品率意味着成本的提高。良品率低的原因有很多，包括工艺问题，产品设计问题等等。 下面举例说明工艺问题导致良品率低：1， 氧化层厚度不匀3， 掩模版偏移 4， 离子污染 2， 参杂浓度不匀，导致某些区域的电阻增大 5， 多晶硅层厚度不匀设计失误也会导致低良品率，对工艺过度敏感的器件不能经受生产工程的正常参数变化。 即使器件设计和制造工艺没有问题，某些产品批次也会遇到低良品率，这有可能是由于硅片的“点坏区”造成的。因为在硅片生产过程中，很容易受到灰尘的污染，硅片的某个区域就不能正常工作。 我么必须了解低良品率的
25、原因来降低生产的成本。这可以通过数学方法“良品率模型”来获得，它将失效密度（defect density）转化为可以预计的良品率。通常我们使用泊松模型，墨菲模型，指数模型和Seeds模型来计算。 半导体厂商往往通过实际数据来选择合适的数学模型。比如一个晶圆厂的良品率数据可能是根据晶元大小对比其他数学模型而得来的。一个简单的良品率数学模型假设造成良品率损失的原因是平均的失效密度和随机的失效点分布。如果该晶圆上有很多晶元（N）其中有很多随机分布的失效晶元（n），那么一个晶元存在k个失效晶元的可能性可以根据泊松分布估算：Pk = e-m (mk/k!) 其中 m = n/N。假设Y为良品率那么Y就是
26、一个晶元没有任何失效的可能性即K=0，Y = e-m。设D为晶元的失效密度，那么D=n/N/A=n/NA，其中A是每个晶元的面积，由m=n/N，m为每个晶元平均的失效晶元数即AD。因此Y = e (-AD),这也就是泊松良品率模型。 许多专家提出泊松分布估算的良品率太低了因为失效晶元通常不会随机分布在晶圆上，他们一般都集中在某个区域。这种现象导致估算的良品率要比实际良品率低的多。另一个简单的数学模型假设失效晶元是不均匀的分布，此时良品率Y= 0 e (-AD) f(D) dD，其中f(D)为失效密度分布函数。假设有一个三角形的失效密度分布函数如下图1所示，那么Y = (1-e(-AD)/(AD
27、)2，此时模型被称为墨菲模型。如果失效密度分布函数为长方形的（图2）那么Y = (1-e(-2AD)/(2AD)，许多实验数据都和此模型吻合。 另一个数学模型称为指数良品率模型，它假设极高的失效密度只会集中在某个小区域内。因此它很适用于高失效密度集中的情况下，Y=1/(1+AD)。最后Seeds模型给出的方程式Y = e sqrt(AD). 6-晶圆测试和老化(Waferlevel Test and burn-in)晶圆测试和老化（简称WLTBI）指对半导体器件在未包装之前进行电气测试和老化。老化是指通过加压加热对半导体器件进行老化从而分辨可靠性较差的器件。WLTBI通常要使用晶圆探针台以连接
28、晶圆上细小的引脚，而探针台也提供了测试和老化所需要的温度。WLTBI不仅可以提供早期测试，也适用于2， 晶元级封装器件最理想的情况就是所有的测试都能在晶圆级完成，这样就不需要最终测试，可以节省大量成本。不过，目前的WLTBI只不过是传统晶圆制造的后端延伸。WLTBI基本的原理和普通的半导体器件终测没什么区别，都是通过对DUT加激励并观察其输出功能来判别器件的好坏，区别在于如何对器件进行激励。在终测时，电流和电压是通过ATE连接器件引脚而进入器件内部。在老化时，器件被放置于烤箱中并由老化板提供所需的电压电流。而在WLTBI中，电流和电压是通过器件接触脚直接输入到电路内部。 1， 裸片器件（KGD
29、，know good die） 来自WLTBI的挑战之一是如何取得可靠的探针和引脚接触。如果在测试和老化过程中出现不良的接触则会引起很多问题：低良品率，老化不彻底，电压过载（EOS）等。 7-Boundary-Scan 测试 / JTAG 标准Boundary-Scan 测试，也就是JTAG标准指的是IEEE 1149.1号规范。这个规范规定了一系列的设计规范，用于定义半导体器件在器件级，电路级和系统级的测试，编程和调试。JTAG是“Joint Test Action Group”的缩写，该组织联合也为世界上大部分电子厂商所支持。 在过去的20年发展而来的眼花缭乱的半导体表面贴装技术（SMT）
30、形成了复杂而高密度的电路板，对电路板上的元件进行调试变得非常困难，主要原因是由于缺乏对每个元件的单独访问的可能性。 现代半导体器件的引脚数和封装形式使得传统的单独测试变得几乎不可能。为了解决这个问题，1985年JTAG成立，并定义了Boundary-Scan 测试的标准。Boundary-Scan测试主要采用了在器件电路中加入了特殊测试电路，通过这个电路可以在电路板级测试中同时测试器件和电路板。这个特殊电路允许输入信号从器件的输入脚进入并从输出脚串行导出，使得对该器件的测试可以由仅仅4个引脚完成。这项技术已经成为当今最流行的DFT技术之一。这样做的好处是显而易见的：2， 提高器件的密度 3，
31、减少测试设备成本 4， 缩短测试时间 1， 显著地减少板上的物理引脚数5， 提高测试效率 一个标准JTAG器件具备：1， 在每个输入输出脚都有一个Boundary Cell3， 4到5个引脚用于控制JTAG信号 2， 传输路径（或传输链）用于连接Boundary Cell4， Test Access Port（TAP）用于在测试过程中的控制信号 5， 16态 TAP控制器或State Machine用于控制测试状态在正常工作状态下，Boundary Cell没有什么作用。在测试模式下，这些Cell将被激活并捕捉在每个输入输出脚的信号流，绕过正常模式下的输入输出脚。Boundary Cells基
32、本上是由Multiplexer和移位寄存器构成。 TAP只是一个简单的接触口，它的标准由IEEE1449.1所定义：至少由4或5个脚组成，这些引脚被用于实现JTAG串行协议：1， TCK：时钟信号，用于同步内部TAP控制和State Machine工作状态3， TDI：数据输入 4， TDO：数据输出 2， TMS：模式选择，在时钟上升沿触发并决定State Machine的下一个状态 5， TRST：（可选）异步重置JTAG标准器件的Boundary Scan Logic的属性和容量是由一个外部文件定义的，名叫“Boundary-Scan Description Language”（BSDL
33、）。BSDL文件由器件生产商提供，通过它来提供该器件进行Boundary Scan所需的算法机制。在用Boundary Scan对器件测试时，必须遵循下面步骤： 1， 外部测试设备提供调试输入信号给DUT的输入脚 2， 该输入脚的Boundary Cell捕捉输入信号 3， 输入数据通过TDI脚串行输入到Core中 4， 输出数据由TDO脚串行输出5， 外部测试设备接受输出数据并比较结果 电路板上的故障如断路，器件缺失，器件反向等都可以由此检测。 8-内建自测（Built-in Self Test）Built-in Self Test 简称BIST是在设计时在电路中植入相关功能电路用于提供自我
34、测试功能的技术，以此降低器件测试对自动测试设备（ATE）的依赖程度。BIST是一种DFT（Design for Testability）技术，它可以应用于几乎所有电路，因此在半导体工业被广泛应用。举例来说，在DRAM中普遍使用的BIST技术包括在电路中植入测试图形发生电路，时序电路，模式选择电路和调试测试电路。 BIST技术的快速发展很大的原因是由于居高不下的ATE成本和电路的高复杂度。现在，高度集成的电路被广泛应用，测试这些电路需要高速的混合信号测试设备。BIST技术可以通过实现自我测试从而减少对ATE的需求。BIST技术也可以解决很多电路无法直接测试的问题，因为他们没有直接的外部引脚，比如
35、嵌闪。可以预见，在不久的将来即使最先进的ATE也无法完全测试最快的电路，这也是采用BIST的原因之一。 采用BIST技术的优点在于：1， 降低测试成本2， 提高错误覆盖率 3， 缩短测试所需时间 4， 方便客户服务 缺点 5， 独立测试的能力 1， 额外的电路占用宝贵面积2， 额外的引脚 3， 可能存在的测试盲点采用BIST所存在的问题： 1， 哪些测试需要BIST完成？3， 需要什么样的外部激励？ 4， 测试所需时间和效率？ 2， 最多允许多少额外的面积？5， BIST是固定的还是可编程的？ 6， 采用BIST将对现有工序产生什么影响？ BIST技术大致可以分两类： Logic BIST(L
36、BIST) 和 Memory BIST (MBIST)LBIST通常用于测试随机逻辑电路，一般采用一个伪随机测试图形生成器来产生输入测试图形，应用于器件内部机制；而采用多输入寄存器（MISR）作为获得输出信号产生器。MBIST只用于存储器测试，典型的MBIST包含测试电路用于加载，读取和比较测试图形。目前存在几种业界通用的MBIST算法，比如“March”算法。Checkerboard算法等等。 另一种比较少见的BIST称为Array BIST，它是MBIST的一种，专门用于嵌入式存储器的自我测试。Analog BIST,则用于模拟电路的自我测试。 BIST技术正成为高价ATE的替代方案，但是
37、BIST技术目前还无法完全取代ATE，他们将在未来很长一段时间内共存。 9-自动测试图形向量生成（ATPG）Automatic Test Pattern Generation（ATPG）是在半导体电气测试中使用的测试图形向量由程序自动生成的过程。测试向量按顺序地加载与器件的输入脚上，输出的信号被收集并与预算好的测试向量相比较从而判断测试的结果。ATPG的有效性是衡量测试错误覆盖率的重要指标。一个ATPG的周期可以分为两个阶段： 1， 测试的生成 2， 测试的应用在测试的生成过程中，针对电路的设计的测试模型在Gate或Transistor Level产生，以使错误的电路能够被该模型所侦测。这个过
38、程基本上是个数学过程，可以通过以下几个方法获得：1， 手工方法 2， 算法产生 3， 伪随机产生 软件通过复杂的ATPG程序产生测试图形向量。 在创建一个测试时，我们的目标应该是在有限存储空间内执行高效的测试图形向量。由此可见，ATPG必须在满足一定错误覆盖率的情况下，产生尽可能少的测试向量。主要考虑到下述因素： 1， 建立最小测试组所需的时间3， 测试过程的长度 2， 测试图形向量的大小，软件，硬件的需求4， 加载测试图形向量所需的时间5， 外部设备？ 现在被广泛使用的ATPG算法包括：D算法，PODEM算法和FAN算法。任何算法都需要一种叫“path sensitization”的技术，它
39、指的是在电路中寻找一条路径以使得路径中的错误能都表现在路径的输出端。 最广泛应用的算法是D算法，D代表1而D代表0，D和D互补，具体的方法在此不再累述。ATPG产生过程包含以下步骤： 1， 错误选择，选择需要测试的错误 2， 初始，寻找合适的输入向量集3， 传输向量集 4， 比较结果 体能测试项目及评分标准公安机关招考人民警察体能测试评分标准男子25周岁以下项目 分数一 二 三 四10米4往返跑 立定跳远 引体向上 1000米秒 米 次 分100 995 1090 1085 1080 1175 113 2.50 13 35070 1165 1160 1255 1250 1245 1340 13
40、35 1330 1425 1420 1415 1510 155 15测试项目及评分标准如下。同分的情况谁进入面试要看情况确定。 为确保新录用人民警察的基本素质，进一步完善和规范公安机关考试录用人民警察体能测试工作，根据人事部、公安部公安机关录用人民警察体能测评项目和标准，结合我省公安机关考试录用人民警察工作实际，制定本办法。一、体能测试项目男子组：1000米跑、10米4往返回跑、立定跳远、引体向上女子组： 800米跑、10米4往返回跑、立定跳远、仰卧起坐二、体能测试场地设置要求和测试组人员组成（一）场地设置要求测试场地应具备400米田径跑道，易于管理，场地除参加测试人员、测试组工作人员外，与测
41、试无关人员不得进入测试现场。 （二）测试组人员组成 测试工作开始前，应成立体能测试工作领导小组，由地级人事、公安部门主要领导担任组长、副组长，根据测试人数确定测试教师和工作人员人数，测试教师应从大专院校体育专业任课教师中选定，工作人员从公安政工、纪检、督察部门抽调。为确保测试考生安全，测试现场应配备医务人员和相应的急救药品、器械。测试开始前，测试教师及相关工作人员名单应当保密。三、体能测试分组要求和测试方法（一）人员分组要求根据参加测试人数及年龄情况，将同性别、同年龄段（25岁以上或25岁以下）的15人或20人分为一组，确定一名领队，并对测试队员编号，各组在领队的带领下完成各项测试任务，相关表
42、格由领队统一保管，不得交与被测试人员。（二）测试方法1、1000米或800米跑场地器材：400米田径跑道。地面平坦，地质不限，秒表若干块，使用前应进行校正。测试方法：受测试者分组测，每组不得少于2人，用站立式起跑。当听到口令或哨音后开始起跑。当受测者到达终点时停表，终点记录员负责登记每人成绩，填写河北省公安机关录用人民警察体能测试成绩登记表，登记成绩以分、秒为单位，不计小数。2、10米4往返回跑场地器材：10米长的直线跑道若干条，在跑道的两端线（S1和S2）外30厘米处各划一条线（图1）。木块（5厘米10厘米），每道3块，其中2块放在S2线外的横线上，一块放在S1线外的横线上，秒表若干块。测试
43、方法：受测者用站立式起跑，听到发令后从S1线外起跑，当跑到S2线前面，用一只手拿起一木块随即往回跑，跑到S1线前面时交换木块，再跑回S2线交换另一木块，最后持木块冲出S1线，记录跑完全程的时间。记录以秒为单位，取一位小数，第二位小数非“0”时则进“1”。注意事项：当受测者取放木块时，脚不要越过S1和S2线。3、立定跳远场地器材：一小块平坦、防滑地面，10米皮尺。测试方法：划一条横线，受测试者站在测试线后，脚尖不能超过横线，起跳时两脚必须同时离地，落地后不得再移动脚位。测量跳远距离时，以脚跟末端与横线的垂直距离为准。每名测试人员可测试三次，以最好一次成绩为准。4、引体向上场地器材：高单杠或高横杠
44、，杠粗以手握住为准。测试方法：受测试者跳起双手正握杠，两手与肩同宽呈直臂悬垂。静止后，两臂同时用力引体（身体不能有附加动作），上拉到下额超过横杠上缘为一次。记录引体次数。5、仰卧起坐场地器材：垫子若干块（或代用物）,铺放平坦。动作规格：受测者全身仰卧于垫上，两脚屈膝稍分开，大小腿成直角，两手指交叉贴于后脑，另一人压住受测者两踝节处。起坐时，以双肘触及或超过两膝为完成一次。仰卧时两肩必须触垫。测试方法：测验时两人一组，一人计时，一人计数（25岁以下计1分钟次数，25岁以上只计数，不限时，但中间停顿不得超过5秒钟，否则测试无效）。一分钟到时或最后一个时，受测试者虽已起坐，但两肘未触动及膝盖者，该次
45、不计算。发现受测试者有违例情况，及时指出。违例动作不计次数。禁止使用肘部撑垫或臀部上挺和下落的力量起坐。测试过程中，要给受测试者报数。以上各项目测试结束时，应当场宣布参加测试人员测试成绩及相应得分，并由测试人员本人、领队人员、测试教师、考点负责人分别签字后生效。四、测试标准及计分办法考生体能测试总分为四项测试项目得分的平均值。各项目测试标准及计分办法见河北省公安机关录用人民警察体能测试评分标准 公安机关招考人民警察体能测试评分标准男子25周岁以下项目 分数一 二 三 四10米4往返跑 立定跳远 引体向上 1000米秒 米 次 分100 995 1090 1085 1080 1175 113 2
46、.50 13 35070 1165 1160 1255 1250 1245 1340 1335 1330 1425 1420 1415 1510 155 15 备注： 1、在引体向上项目中如不能完整做完一次，则此项目成绩计“0”分。2、如在以上标准中，不能准确对应分数，则可在相应测试结果幅度范围给定分数 如：某人立定跳远的距离为2.45米，其分数可在2.4米（70分）-2.5米（75分）的范围内对应为72.5分。 公务员体会题都有相关的解题技巧例如:每年的数字计算无非就是那么几种题:行程问题, 工程问题,比例问题,方阵问题,植树问题,利润问题,面积问题,容斥问题,排列组 合问题.我相信大家初中
47、都毕业了,那大家是不是也都知道这每种问题背后的公 式是什么了,只要把这些公式记住,出什么题怎么变化,都会迎刃而解的其他的 类型也一样,每种都有解题技巧,关键就是你如何的掌握,如果有疑问可以加我 QQ,我们互相研究还有就是要把 1-20 的平方,1-10 的立方结果都背下来,这在 考试中省下来的几秒钟也相当的重要了.行测我也暂时想不出来什么了,关键就 是多做真题,真题做多了有时候你蒙答案的感觉都比别人准.对了,还有就是考 试的当天千万别忘了带表,最好不要带电子表,带机械表,有时候出手表问题调一 下表就解决了,2006 年的国家公务员就有这么一道.对于常识题我觉得这就是靠 平时的积累,一朝一夕的不行的,所以要考 07 年公务员朋友们现在可以多注重这 方面的积累,可以多看看类似这个出题方式属于老三样,一般国家的不会出,有些省的会出.通过最近几 年国家的考题我发现,每年的国家题第一,三两题基本一样,关键是第二题每年都 在变化,06 年考的就是对与材料矛盾的选项进行分析判断的题,但不管怎么变只 要你把材料读明白了,出什么题都不在话下.有些人在做题的过程中不把阅读材 料读细,害怕耽误时间,这种想法是错的,要认真的读好材料中的每一句话,不 要吝惜你的阅读时间,只有阅读好了你才能从中发现出问题,为后面的答题做好 铺垫.第一题一般都是概括材料的主要内容,我的做题方法是把材