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1、【精品文档】如有侵权,请联系网站删除,仅供学习与交流超声波探伤操作工艺规程.精品文档.超声波探伤操作工艺规程1. 主题内容与适用范围 1.1本规程规定了检测人员资格、仪器探头试块、检测范围、方法和质量分级等。 1.2 本规程采用A型脉冲反射型超声探伤仪器对钢板、锻件和焊缝进行检测。 1.3 本规程按JB4730.3-2005编制,符合容规和GB150-1998的要求。 1.4 检测工艺卡是本规程的补充,必要时由III级人员按合同要求编制,其检测参数规定的更具体。 2 引用标准 JB4730-2005承压设备无损检测 JB/T 7913-1995 超声波检测用钢制对比试块的制作与校验方法 JB/
2、T 9214-1999A型脉冲反射式超声波探伤系统工作性能 测试方法 JB/T 10061-1999 A 型脉冲反射式超声波探伤仪通用技术条件 JB/T 10062-1999超声探伤用探头性能测试方法 JB/T 10063-1999超声探伤用1号标准试块技术条件 GB150-1998刚制压力容器 3 检测人员 3.1 从事承压设备的原材料、零部件和焊接接 头无损检测的人员,应按照 特种设备无 损检测人员考核与监督管理规则 的要求 取得相应无损检测资格。 3.2 无损检测人员资格级别分为 (高)级、 (中)级和 (初)级。取得不同无损 检测方法各资格级别的人员,只能从事与 该方法和该资格级别相应
3、的无损检测工作, 并负相应的技术责任。 1.4 仪器、探头和试块 1.4.1 仪器和探头 现使用仪器为汕头超声仪器厂生产的CTS-22和CTS-26型仪器以及CTS-2000数字超声探伤仪和武汉科声超声仪器厂生产KS-1030数字超声探伤仪及探头。 a 仪器和探头的组合灵敏度:在达到所检工件最大声程时,其灵敏度余量应10dB。 b 衰减器精度:80 dB 以上连续可调,步进级每档 不大于2dB 精度为任意相邻 12 dB 误差在1dB 以内,最大累计误差不大于 1dB。 c 水平线性:水平线性误差不大于1%。 d 垂直线性:在荧光屏满刻度的80%范围内呈线性显示,垂直线性误差不大于5%。 e
4、探头 (1)晶片面积一般不应大于 5002mm 且任一 边长原则上不大于 25 mm。 (2)单斜探头声束轴线水平偏离角不应大于2。,主声束垂直方向不应有明显的双峰。 f 超声探伤仪和探头的系统性能 (1)在达到所探工件的最大检测声程时,其有效灵敏度余量应不小于10dB (2)仪器和探头的组合频率与公称频率误差 不得大于 10%。 (3)仪器和直探头组合的始脉冲宽度(在基 准灵敏度下)对于频率为5MHz的探头,宽度不大于10 mm。对于频率为 2.5MHz的探头,宽度不大于15mm 。 (4)直探头的远场分辨力应不小于30dB斜探头的远场分辨力应不小于6dB。 1.4.2 试块 a 试块应采用
5、与被检工件相同或近似声学性能的材料制成,该材料用直探头检测时,不得有大于2mm平底孔当量直径的缺陷。 b 标准试块的其他制造要求应符合JB/T10063和JB/T7913-1995 的规定 。 c 现场检测时,也可采用其他形式的等效试块。 1.5 检测的一般方法 1.5.1 检测复盖率 检测时,探头的每次扫查复盖率应大于探头直径的15%。 1.5.2探头的移动速度 探头的扫查速度不应超过150mm/s。当采用自动报警装置扫查时,不受此限。 1.5.3扫查灵敏度 扫查灵敏度通常不低于基准灵敏度。 1.5.4耦合剂 采用机油、浆糊、甘油和水等透声性好,且不损伤检测表面的耦合剂。 1.5.5检测面
6、a检测面和检测范围的确定原则上应保证检查到工件被检部分的整个体积。对于钢板和锻件应检查到整个工件;而对熔接焊缝则应检查到整条焊缝。 b检测面应经外观检查合格,所有影响超声检测的锈蚀、飞溅和污物都应予以清除,其表面粗糙度应符合检测要求。 1.6校准 校准应在基准试块上进行,校准中应使超声主声束垂直对准反射体的轴线,以获得稳定的和最大的反射信号。 1.6.1仪器校准 在仪器开始使用时,应对仪器的水平线进行测定,测定方法按JB/T10061的规定进行。在使用过程中,每隔三个月至少应对仪器的水平线和垂直线性进行一次测定。 1.6.2探头校准 在探头开始使用时,应对探头进行一次全面的校准。测定方法按JB
7、/T10062的有关规定进行。 a斜探头校准 使用前,斜探头至少应进行前沿距离、K值、主声束偏离、灵敏度余量和分和辨力等的校准。使用过程中,每个工作日应校准前沿距离、K值和主声束偏离。 b直探头校准 直探头的灵敏度余量和分辨力应每隔一个月检查一次。 1.6.3仪器和探头系统的复核 a复核时机 每次检测前均应对扫描线,灵敏度进行复核,遇有下述情况应随时对其进行重新核查: (1)校准后的探头,耦合剂和仪器调节旋纽发生改变时: (2)开路电压波动或者检测者怀疑灵敏度有变化时; (3)连续工作h以上时; (4)工作结束时; b 扫描量程的复核 如果距离波幅曲线上任意一点在扫描线上的偏移超过扫描读数的,
8、则扫描量程应予以修正,并在检测记录中加以说明。 c 距离波幅曲线的复核 复核时,校核应不少于点。如曲线上任何一点幅度下降2dB则应对上一次以来所有的检测结果进行复验;如幅度上升2dB,则应对所有的记录信号进行重新评定。 1.7报告存档 按统一表样由级以上人员填写报告,经责任工程师认可。钢板,锻件报告送委托人转技术质量部存档;压力容器焊缝检测报告,与其它检测报告一起交技术质量部存档。资料存档不少于七年。 2 压力容器钢板超声检测 2.1检测范围和一般要求 本条适用于板厚为6250mm的钢制压力容器用板的超声检测和缺陷等级评定。奥氏体钢板材的超声检测也可以参照本条执行。 2.2探头选用 探头的选用
9、应按JB4730-2005表1的规定执行。 2.3标准试块 2.3.1用双晶直探头检测壁厚小于或等于20mm的钢板时,采用标准试块如JB4730-2005图1所示CBI标准试块。 2.3.2用单直探头检测板厚大与20mm的钢板时,标准试块应符合JB4730-2005图2和表2规定的CBII试块。试块厚度应与被检钢板厚度相近。 2.4检测灵敏度 2.4.1板厚小于或等于20mm时,用CBI试块将工件等厚部位第一次底波高度调整到满刻度的50,再提高10dB作为检测灵敏度。 2.4.2板厚大于20mm时,应将CBII试块5平底孔第一次反射波高调整到满刻度的50作为检测灵敏度。 2.4.3板厚不小于探
10、头的3倍近场区时,也可取钢板无缺陷的完好部位的第一次底波来校准灵敏度。其结果应与2.4.2条的要求一致。 2.5检测方法 2.5.1检测面 JB4730-2005表2 试块编号被检钢板厚度检测面平底孔的距离 S试块厚度 T CBII-1 CBII-2 CBII-3 CBII-4 CBII-5 CBII-620-40 40-60 60-100 100-160 160-200 200-25015 30 50 90 140 19020 40 65 110 170 220 可选钢板的任一扎制平面进行检测。若检测人员认为需要或设计上有要求时,也可对钢板的上下两扎制平面分别进行检测。 2.5.2扫查方式
11、a探头沿垂直于钢板压延方向,间距为100mm的平行线进行扫查。在钢板坡口预定线两侧各50mm(当板厚超过100mm,以板厚的一半为准)内应作100%扫查,扫查示意图如JB4730-2005图3所示。 b根据合同,技术协议书或图样的要求,也可进行其它形式的扫查。 2.6缺陷记录 2.6.1在检测过程中,发现下列三种情况之一者即作为缺陷: a 缺陷第一次反射波(F1)波高大于或等于波刻度的50%,即F150%者。 b 当底面第一次反射波(B1)波高未达到满刻度,此时,缺陷第一次反射波(F1)波高与底面第一次反射波(B1)波高之比大于或等于50%,即B1100%,而F1/ B150%者。 c 当底面
12、第一次反射波(B1)波高低于满刻度的50%,即B150%者。 2.6.2缺陷的边界或指示长度的测定方法 a检出缺陷后,应在它的周围继续进行检测,以确定缺陷的延伸。 b用双晶直探头确定缺陷的边界或指示长度时,探头的移动方向应与探头的声波分割面相垂直,并使缺陷波下降到检测灵敏度条件下荧光屏满刻度的25%或使缺陷第一次反射波高与底面第一次反射波高之比为50%。此时,探头中心的移动距离即为缺陷的指示长度,探头中心点即为缺陷的边界点。两种方法测得的结果以较严重者为准。 c用单直探头确定缺陷的边界或指示长度,移动探头,使缺陷波第一次反射波高下降到检测灵敏度条件下荧光屏满刻度的25%或使缺陷第一次反射波与底
13、面第一次反射波高之比为50%。此时,探头中心移动距离即为缺陷的指示长度,探头中心即为缺陷的边界点,两种方法测得的结果以较严重者为准。 d确定2.6.1c条缺陷的边界或指示长度时,移动探头,使底面第一次反射波升高到荧光屏满刻度的50%。此时,探头中心移动距离即为缺陷的指示长度,探头中心点即为缺陷的边界点。 e当采用第二次缺陷波和第二次底波来评定缺陷时,检测灵敏度应以相应的第二次反射波来校准。 2.7缺陷的评定方法 2.7.1缺陷指示长度的评定方法 一个缺陷按其指示的最大长度作为该缺陷的指示长度。 2.7.2单个缺陷指示面积的评定规则 a一个缺陷按其指示的最大面积作为该缺陷的单个指示面积,当其小于
14、JB4730-2005表3的规定时,可不作记录。 b多个缺陷其相邻间距小于100mm或间距小于相邻小缺陷的指示长度(取其较大值)时,其各块缺陷面积之和作为单个缺陷指示面积。 2.7.3缺陷面积占有率的评定规则 在任一1m1m检测面积内,按缺陷面积所占的百分比来确定。 2.8钢板缺陷等级评定 2.8.1钢板缺陷等级划分见JB4730-2005表3。 2.8.2在坡口预定线两侧各50mm(板厚大于100mm时,以板厚的一半为准)内,缺陷的指示长度大于或等于50mm时,则应评为V级。 2.9.3在检测过程中,检测人员如确认钢板中有白点、裂纹等危害性缺陷存在时,应评为V级。 JB4730-2005表3
15、 等级单个缺陷指示长度 mm单个缺陷指示面积cm2在任一1mX1m检测面积内存在的缺陷面积百分比%以下单个缺陷指示面积不计cm2 I II III IV80 100 120 15025 50 100 1003 5 10 109 15 25 25 V超过 IV级者 3.压力容器锻件超声检测 本条适用于压力容器用碳素钢和低合金钢锻件的超声检测和缺陷等级评定。 本条不适用于奥氏体钢等粗晶材料的超声检测,也不适用于内外半径之比小于80%的环形和筒形锻件的周向横波检测。 3.2 试块 应符合1.4.2.条的规定。 3.2.1 纵横直探头标准试块 试块应采用CS1试块,也可自行加工,其形状和尺寸应按JB4
16、730-2005表4和JB4730-2005图4的规定。 JB4730-2005表4 纵横直探头采用的标准试块尺寸 L56100150200 D50608080 3.2.2纵波双晶直探头标准试块 a.工件检测距离小于45mm时,应采用纵波双晶直探头标准试块。 b.纵波双晶直探头标准试块的形状和尺寸按JB4730-2005图5和表5的规定。 3.2.3检测面是曲面时,应采用CSIII对比试块来测定由于曲率不同而引起的声能损失,其形状和尺寸按JB4730-2005图6所示。 3.3检测时机 原则上应安排在热处理后,槽、孔、台阶加工前进行。若热处理后锻件形状不适合超声检测时,也可在热处理前进行,但在
17、热处理后仍应对锻件进行尽可能完全的检测。检测面的表面粗糙度Ra为6.3m。 3.4检测方法 锻件一般应进行纵波检测。对筒形锻件还应增加横波检测,但扫查部位和验收标准应由供需双方商定。 3.4.1横波检测应按JB4730-2005附录(补充件)的要求进行。 3.4.2纵波检测 a.原则上应从两个相互垂直的方向进行检测,尽可能地检测到锻件的全体积。主要检测方向如JB4730-2005图7所示。其它形状的锻件也可参照进行。 b.锻件厚度超过400mm时,应从相对两端面进行100%的扫查。3.5检测灵敏度的确定 3.5.1纵波直探头检测灵敏度的确定 当被检测部位的厚度大于或等于探头的三倍近场区时,原则
18、上可选用底波计算法确定检测灵敏度。对由于几何形状所限,不能获得底波或壁厚小于探头的三倍近场区时,可直接采用CSI标准试块确定基准灵敏度。 3.5.2纵波双晶直探头检测灵敏度的确定 根据需要选择CSII试块,并依次测试一组不同检测距离的3mm平底孔(至少三个)。调节衰减器,使其中最高的回波幅度达到满刻度的80%。不改变仪器的参数,测出其它平底孔回波的最高点,将其标在荧光屏上,连接这些点,即是对应于不同直径平底孔的纵波双晶直探头的距离波幅曲线,并以此作为检测灵敏度。 3.5.3检测灵敏度一般不得低于最大检测距离处的2mm平底孔当量直径. 3.6工件材质衰减系数的测定 3.6.1在工件无缺陷完好区域
19、,选取三处检测面与底面平行且有代表性的部位,调节仪器使第一次底面回波幅度(B1)为满刻度的50%,记录此时衰减器的读数,再调节衰减器,使第二次底面回波幅度(B2)为满刻度的50%,两次衰减器读数之差即为(B1-B2)的dB差值。 3.6.2 衰减系数的计算公式为; (1)衰减系数计算公式 (T3N,且满足n3N/T,m=2n) =(Bn-Bm)-6/2(m-n)T (2)衰减系数计算公式(T3N) =(B1-B2)-6/2T 式中:衰减系数,dB/m(单程); (Bn-Bm)、(B1-B2) 两次衰减器的读数之差, dB ; T工件检测厚度,mm。 N 单直探头近场区长度, mm m、n底波反
20、射次数。 3.6.3 工件上三处衰减系数的平均值即作为该工件的衰减系数。 3.7 缺陷当量的确定 3.7.1 采用AVG曲线及计算法确定缺陷当量。对于三倍近场区内的缺陷,可采用单直探头或双晶直探头的距离波幅曲线来确定缺陷当量。也可采用其它等效方法来确定。 计算缺陷当量时,当材质衰减系数超过4dB /m,应考虑修正。 3.8 缺陷记录 3.8.1 记录当量直径超过4mm的单个缺陷的波幅和位置。 3.8.2密集性缺陷:记录密集性缺陷中最大当量缺陷的位置和分布。饼形锻件应记录大于或等于4mm当量直径的缺陷密集区,其它锻件应记录大于或等于3mm当量直径的缺陷密集区。缺陷密集区面积以50mm50mm的方
21、块作为最小量度单位,其边界可由6dB法决定。应按JB4730-2005表6要求记录底波降低量。 3.8.3 衰减系数:若供需双方有规定时,应记录衰减系数。 3.9 缺陷等级评定 3.9.1 单个缺陷的等级评定见JB4730-2005表7。 3.9.2 底波降低量的等级评定见JB4730-2005表6。 3.9.3 密集区缺陷等级评定见JB4730-2005表8。 3.9.4 JB4730-2008表6、表7和表8的等级应作为独立的等级分别使用。 3.9.5如果被检测人员判定为危险性缺陷时,锻件质量等级应评定为V级。 3.9.7 锻件修补后,应按本标准的要求进行检测和评定。 4. 钢制压力容器焊
22、缝超声检测 4.1 检测范围和一般要求 本条规定了焊缝缺陷的超声检测方法及检验结果的等级评定。 本条适用于母材厚度为8-400mm全焊透熔化焊对接焊缝和管座角焊缝的超声检测。本条不适用于铸钢及奥氏体钢焊缝,外径小于159mm的钢管对接焊缝,内径小于或等于200mm的管座角焊缝,也不适用于外径小于250mm或内外径之比小于80%的纵向焊缝检测。 4.2超声检测技术等级 超声检测技术等级分为A、B、C三个检测级别。根据压力容器产品的重要程度进行选用。 (1)原则上A级检测适用于承压设备有关的支承件和结构件焊缝检测;A级用1种K值探头;A级适用于母材厚度8mm46mm;A级为单面单侧;对横向缺陷的检
23、测,A级一般不需检测横向缺陷; (2)B级检测适用于一般承压设备对接焊缝检测;B级用1种或2 种K值探头;B级适用于母材厚度8mm400mm;B级为单面双侧或双面双侧;B级应检测横向缺陷。 (3)C级检测适用于重要承压设备对接焊缝检测;C级用2种K值探头;C级适用于母材厚度8mm400mm;C级为单面双侧或双面双侧;C级应检测横向缺陷 (4)对焊接接头余高的要求,A级、B级不要求将焊接接 头的余高磨平,而C级要求磨平。 (5)对扫查区母材的检测,C级要求用直探头对斜探头扫查经过的母材区域进行检测。A级和B级则不需要。 4.3 试块 4.3.1 应符合1.4.2条的规定。 4.3.2采用的标准试
24、块为CSK-A,CSK-A、CSK-A和CSK-IVA。其形状和尺寸应分别符合JB4730-2005图14图15、图16、图17和表17的规定。 4.3.3 CSK-A,CSK-A和CSK-A试块适用壁厚范围为6-120mm的焊缝,CSK-A和CSK-IVA系列试块适用于壁厚范围大于120-400mm的焊缝。在满足灵敏度要求时,也可采用其它形式的等效试块。 4.3.4检测曲面工件时,如检测面曲率半径R小于等于W2/4(W为探头接触面宽度,环缝检测时为探头宽度,纵缝检测时为探头长度),应采用与检测面曲率相同的对比试块。 4.4 检测准备 4.4.1检测面 a 压力容器检测一般采用K值探头,利用一
25、次反射法在焊缝的单面双侧对整个焊接接头进行检测。当母材厚度大于46mm时,采用双面双侧直射波检测。对于要求比较高的焊缝,根据实际需要也可将焊缝余高磨平,直接在焊缝上进行检测。 b 检测区的宽度应是焊缝本身,再加上焊缝两侧各相当于母材厚度 30% 的一段区域,这个区域最小5mm最大为10 mm,见JB4730-2005图18。 c 探头移动区应清除焊接飞溅、铁屑、油垢及其它杂质。检测表面应平整光滑,便于探头的自由扫查,起表面粗糙度Ra应为6.3m,一般应进行打磨。 (1)采用一次反射法或串列式扫查检测时,探头移动区应不小于1.25P: P=2TK 或 P=2Ttg 式中:P跨距,mm T母材厚度
26、,mm K探头K值 (2)采用直射法检测时,探头移动区应不小于0.75P。 d去除余高的焊缝,应将余高打磨到与邻近母材平齐。保留余高的焊缝,如果焊缝表面有咬边,较大的隆起和凹陷等也应进行适当的修磨,并作圆滑过渡,以免影响检验结果的评定. 4.4.2 探头K值(角度) 斜探头的K值(角度)选取可参照JB4730-2005表18的规定。条件允许时,应尽量采用较大K值探头。 4.4.3 母材的效验 a 方法:接触式脉冲反射法,采用频率2-5MHz的直探头,晶片直径10-25mm; b 灵敏度:将无缺陷处第二次底波调节为荧光屏满刻度的100%。 c 记录:凡缺陷信号幅度超过荧光屏满刻度20%的部位,应
27、在工件表面上作出标记,并予以记录。 4.5 距离-波幅曲线的绘制 4.5.1 距离-波幅曲线按所用探头和仪器在试块上实测的数据绘制而成,该曲线族由评定线、定量线和判废线组成,评定线和定量线之间(包括评定线)为I区,定量线与判废线之间(包括定量线)为II区,判废线及其以上为III区。如JB4730-2005图19所示。 4.5.2距离-波幅曲线的灵敏度选择 a 壁厚为6-120mm的焊缝,其距离-波幅曲线的灵敏度按JB4730-2005表19的规定。 b 壁厚大于120-400mm的焊缝,其距离波幅曲线灵敏度按JB4730-2005表20的规定。 c检测横向缺陷时,应将各线灵敏度均提高6dB.
28、d检测面曲率半径R小于或等于W2/4时,距离-波幅曲线的绘制应在曲面对比试块上进行。 e 工件的表面耦合损失和材质衰减应与试块相同。 f扫查灵敏度不低于最大声程处的评定线灵敏度。 4.6 检测方法 4.6.1 平板对接焊缝的检测 a为检测纵向缺陷,斜探头应垂直于焊缝中心线放置在检测面上,做锯齿型扫查,见JB4730-2005图20。探头前后移动的范围应保证扫查到全部焊缝截面,在保持探头垂直焊缝做前后移动的同时,还应作10-15的左右转动。不同检测技术等级对纵向缺陷检测技术的要求见4.2。 b不同检测技术等级对横向缺陷检测技术的要求见4.2。 c对电渣焊缝还应增加与焊缝中心线成45的斜向扫查。
29、d为确定缺陷的位置、方向和形状,观察缺陷动态波形和区分缺陷信号或伪缺陷信号,可采用前后、左右、转角、环绕等四种探头基本扫查方式,见JB4730-2005图21。 4.6.2曲面工件对接焊缝的检测 a 检测面为曲面时,可尽量按平板对接焊缝的检测方法进行检测。对于受几何形状限制,无法检测部分应予以记录。 b 纵缝检测时,对比试块的曲率半径与检测面曲率半径之差小于10。 (1)根据工件的曲率和材料的厚度选择探头K值,并考虑几何临界角的限制,确保声束能扫查到整个焊缝。 (2)探头接触面修磨后,应注意探头入射点和K值的变化,并用曲率试块做实际测定。 (3)当检测面曲率半径R大于W2/4且采用平面对比试块
30、调节仪器时,应注意到荧光屏指示的缺陷深度和水平距离与缺陷实际的径向埋藏深度或水平距离弧长的差异,必要时应进行修正。 c 环缝检测时,对比试块的曲率半径应为检测面曲率半径的0.9-1.5倍。 4.6.3管座角焊缝的检测 a 一般原则 在选择检测面和探头时应考虑到各种类型缺陷的可能性,并使声束尽可能垂直于焊缝结构中的主要缺陷。 b 检测方式 根据焊缝结构形式,管座焊缝的检测有如下五种探测方式,可选择其中一种或几种方式组合实施检测。检测方式的选择应由合同双方商定,并考虑主要检测对象和几何条件的限制。(JB4730-2005图22、图23) (1)在接管内壁采用直探头检测,见JB4730-2005图2
31、2位置1。 (2)在容器内壁采用直探头检测,见JB4730-2005图23位置1。在容器内壁采用斜探头检测,见JB4730-2005图22位置4。 (3)在接管外壁采用斜探头检测,见JB4730-2005图23位置2。 (4)在接管内壁采用斜探头检测,见JB4730-2005图22位置3和JB4730-2005图23位置3。 (5)在容器外壁采用斜探头检测,JB4730-2005图22位置2。 c 管座角焊缝以直探头检测为主,探头频率、尺寸及扫查方法应按3.3.3条的规定执行。对直探头扫查不到的区域,可采用斜探头检测。 4.7 缺陷定量检测 4.7.1 灵敏度应调到定量线灵敏度。 4.7.2
32、对所有反射波幅超过定量线的缺陷,均应确定其位置、最大反射波幅和缺陷当量。 4.7.3 缺陷定量 应根据缺陷最大反射波幅确定缺陷当量直径或缺陷指示长度L。 a 缺陷当量直径,用当量平底孔直径表示,主要用于直探头检测,可采用公式计算,距离-波幅曲线和试块对比来确定缺陷当量尺寸。 b 缺陷指示长度L的测定采用以下方法: (1)当缺陷反射波只有一个高点,且位于II区时,用6dB法测其指示长度 (2)当缺陷反射波峰值起伏变化,有多个高点,且位于II区或II区以上时,使波幅降到荧光屏满刻度的80%后,应以端点6dB法测其指示长度。 (3)当缺陷反射波峰位于I区,如认为有必要记录时,将探头左右移动,使波幅降
33、到评定线,以此测定缺陷指示长度。 4.8缺陷评定 4.8.1超过评定线的信号应注意其是否具有裂纹等危害性缺陷特征,如有怀疑时,应采取改变探头K值、增加检测面、观察动态波型并结合结构工艺特征作判断。 4.8.2缺陷指示长度小于10mm时按5mm计。 4.8.3相邻两缺陷在一直线上,其间距小于其中较小的缺陷长度时,应作为一条缺陷处理,以两缺陷长度之和作为其指示长度(不考虑间距) 4.8缺陷等级评定 焊接接头质量分级应根据JB4730-2005表23的规定予以评定。 5 .记录和报告 51检测过程记录的格式由技术质量部负责编制,经技术负责人审核批准后执行。 52检测过程记录由检测工程部检测人员参照工艺卡或者按照报告内容按统一要求填写,技术负责人审核。 53检测过程记录应包括足够的信息,必要时试验复现,应做到准确、全面、清晰、及时。 5.4检测过程记录不允许重抄,记录要“原始”,不能追记,不应直接记录计算的结果。 55超声波检测纪录及报告的内容和格式必须符合有关规程和标准的规定要求,填写必须正确、完整、齐全。 56检测报告由检测人员按统一格式填发并编号,无损检测责任师审核。 57 检测结果必须准确、清晰、完整、客观地在报告中表述。 58检测报告应包括为说明检测结果所必须的各种信息以及检测方法所要求的全部信息。 59 检测资料和底片由检查科存查,至少保存七年.